一种验证数据保持能力的系统及方法
【专利摘要】本发明提供了一种验证数据保持能力的系统及方法，利用了可变电压参数设置接口，实现对同一测试程序中的测试器件施加不同电压的设置，利用等待时间参数设置接口，来实现对等待时间的直接设置，本发明可以实现工作电压的直接转换，以及等待时间的直接设置，而无需再额外增加测试项来改变工作电压和等待时间，本发明简化了工艺程序，节约了时间和成本，提高了验证效率。
【专利说明】
一种验证数据保持能力的系统及方法
技术领域
[0001]本发明涉及半导体工艺技术领域，具体涉及一种验证数据保持能力的系统及方法。
【背景技术】
[0002]目前，在芯片功能测试中，验证数据保持能力是测试芯片的一项重要指标。数据保持能力的测试目的是确保器件能保持存储单元(memory cel I)里的资料。因此，其测试原理是:在电压Vcc是芯片正常工作电压Vnormal时，向存储单元写入数据，然后逐渐降低工作电压至最小工作电压Vmin，等待一段时间，再将电压逐渐增加至正常工作电压Vnormal，此时读取存储单元的存储信息，判断存储信息是否相同。
[0003]但是，基于常规测试平台的标准方法，如果要更改机台设定的测试参数，只能拆分为多个测试程序来分步完成，当一个测试程序完成之后，需要停止该测试程序，并且开启另一个测试程序，例如，验证数据保持能力的测试需要三个测试项来完成，测试时，测试器件在这三个测试程序之间依次进行，也即是，首先开启测试程序，利用测试器件，正常工作电压下向测试器件写入原始数据;然后开启测试程序，测试器件在最小工作电压下且等待一段时间；其次开启测试程序，将测试器件的工作电压增加至正常工作电压;然后，读取测试器件中的的数据并判断原始数据和所读取的数据是否相同。其中，第二个测试程序102是通过执行矢量的方式实现等待时间，再加上在三个测试程序之间的转换，大大增加了程序开发的复杂性，不利于量产产品的测试程序开发。鉴于以上诸多问题，需优化测试方法，从而简化程序开发以及提高测试程序的开发效率。
【发明内容】
[0004]为了克服以上问题，本发明旨在提供一种验证数据保持能力的系统及方法，采用一个测试程序来实现对测试参数更改的要求，还能够更加灵活的设定等待时间。
[0005]为了达到上述目的，本发明提供了一种验证数据保持能力的系统，用于对测试器件进行检测;其包括:
[0006]可变电压参数设置接口，用于设置施加于测试器件的工作电压为正常电压或最小电压；
[0007]电压控制模块，与可变电压参数设置接口相连接，用于将所设置的正常电压或最小电压施加于所述测试器件上；
[0008]写入模块，用于向测试器件中输入原始数据；
[0009]等待时间参数设置接口，用于设置在最小电压下的测试器件的等待时间；
[0010]读取模块，读取将经等待时间后工作电压增加至正常电压的测试器件中所存储的数据；
[0011 ]比较模块，判断所存储的数据与原始数据是否相同；
[0012]判断模块，根据比较模块的比较结果来判断测试器件的数据保持能力。
[0013]优选地，所述等待时间为100?1000ms。
[0014]优选地，所述测试器件为存储器。
[0015]为了达到上述目的，本发明还提供了一种验证数据保持能力的方法，其包括:
[0016]步骤01:提供一个测试器件；
[0017]步骤02:将施加于测试器件的工作电压设置成正常电压，将正常电压施加于测试器件上;然后向测试器件中输入原始数据；
[0018]步骤03:将施加于测试器件的工作电压由正常电压设置为最小电压，将最小电压施加于测试器件上；
[0019]步骤04:在最小电压下，执行一等待时间；
[0020]步骤05:等待时间结束后，将施加于测试器件的工作电压由最小电压设置为正常电压，将正常电压施加于测试器件上；
[0021]步骤06:读取测试器件中所存储的数据；
[0022]步骤07:比较所存储的数据与原始数据是否相同；
[0023]步骤08:根据比较结果来判测试器件的数据保持能力。
[0024]优选地，所述等待时间为100?1000ms。
[0025]优选地，所述测试器件为存储器。
[0026]本发明的验证数据保持能力的系统及方法，利用了可变电压参数设置接口，实现对同一测试程序中对测试器件施加不同电压的设置，利用等待时间参数设置接口，来实现对等待时间的直接设置，本发明可以实现工作电压的直接转换，以及等待时间的直接设置，而无需再额外增加测试项来改变工作电压和等待时间，本发明简化了工艺程序，节约了时间和成本，提高了验证效率。
【附图说明】
[0027]图1为本发明的一个较佳实施例的验证数据保持能力的系统的方块图
[0028]图2为本发明的一个较佳实施例的验证数据保持能力的方法的流程示意图
【具体实施方式】
[0029]为使本发明的内容更加清楚易懂，以下结合说明书附图，对本发明的内容作进一步说明。当然本发明并不局限于该具体实施例，本领域内的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本发明的保护范围内。
[0030]以下结合附图1-2和具体实施例对本发明作进一步详细说明。需说明的是，附图均采用非常简化的形式、使用非精准的比例，且仅用以方便、清晰地达到辅助说明本实施例的目的。
[0031]本实施例中，请参阅图1，验证数据保持能力的系统，测试器件可以为任何具有数据存储能力的器件，例如存储芯片等;具体包括:
[0032]可变电压参数设置接口，用于设置施加于测试器件的工作电压为正常电压或最小电压;这里，通过可变电压参数设置接口，可以首先设置施加于测试器件的工作电压为正常电压，然后，向测试器件中输入原始数据;接着，将施加于测试器件的工作电压设置为最小电压;等待一段时间后，再将施加于测试器件的工作电压设置为正常电压。也就是，可变电压参数设置接口的参数为一变量，该变量可以任意改变。
[0033]电压控制模块，与可变电压参数设置接口相连接，用于将所设置的正常电压或最小电压施加于所述测试器件上；
[0034]写入模块，用于向测试器件中输入原始数据；
[0035]等待时间参数设置接口，用于设置在最小电压下的测试器件的等待时间;这里，等待时间可以为100?1000ms;
[0036]读取模块，读取将经等待时间后工作电压增加至正常电压的测试器件中所存储的数据；
[0037]比较模块，判断所存储的数据与原始数据是否相同；
[0038]判断模块，根据比较模块的比较结果来判断测试器件的数据保持能力。这里，如果所存储的数据与原始数据基本相同或接近，表明该测试器件的数据保持能力较好，如果所存储的数据小于原始数据的1/2，表明该测试器件的数据表示能力较差。
[0039]本实施例中，采用上述系统进行验证数据保持能力的方法，请参阅图2，包括:
[0040]步骤01:提供一个测试器件;这里测试器件可以为任何具有存储能力的器件。
[0041]步骤02:将施加于测试器件的工作电压设置成正常电压，将正常电压施加于测试器件上；向测试器件中输入原始数据；
[0042]步骤03:将施加于测试器件的工作电压由正常电压设置为最小电压，将最小电压施加于测试器件上；
[0043]步骤04:在最小电压下，执行一等待时间；这里，等待时间可以为100?100ms;
[0044]步骤05:等待时间结束后，将施加于测试器件的工作电压由最小电压设置为正常电压，将正常电压设置于测试器件上；
[0045]步骤06:读取测试器件中所存储的数据；
[0046]步骤07:比较所存储的数据与原始数据是否相同；
[0047]步骤08:根据比较结果来判测试器件的数据保持能力。这里，如果所存储的数据与原始数据基本相同或接近，表明该测试器件的数据保持能力较好，如果所存储的数据小于原始数据的1/2，表明该测试器件的数据表示能力较差。
[0048]虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然所述实施例仅为了便于说明而举例而已，并非用以限定本发明，本领域的技术人员在不脱离本发明精神和范围的前提下可作若干的更动与润饰，本发明所主张的保护范围应以权利要求书所述为准。
【主权项】
1.一种验证数据保持能力的系统，用于对测试器件进行检测;其特征在于，包括: 可变电压参数设置接口，用于设置施加于测试器件的工作电压为正常电压或最小电压； 电压控制模块，与可变电压参数设置接口相连接，用于将所设置的正常电压或最小电压施加于所述测试器件上； 写入模块，用于向测试器件中输入原始数据； 等待时间参数设置接口，用于设置在最小电压下的测试器件的等待时间； 读取模块，读取将经等待时间后工作电压增加至正常电压的测试器件中所存储的数据； 比较模块，判断所存储的数据与原始数据是否相同； 判断模块，根据比较模块的比较结果来判断测试器件的数据保持能力。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述等待时间为10?100ms。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试器件为存储器。4.一种验证数据保持能力的方法，其特征在于，包括: 步骤O 1:提供一个测试器件； 步骤02:将施加于测试器件的工作电压设置成正常电压，将正常电压施加于测试器件上;然后向测试器件中输入原始数据； 步骤03:将施加于测试器件的工作电压由正常电压设置为最小电压，将最小电压施加于测试器件上； 步骤04:在最小电压下，执彳丁一等待时间； 步骤05:等待时间结束后，将施加于测试器件的工作电压由最小电压设置为正常电压，将正常电压施加于测试器件上； 步骤06:读取测试器件中所存储的数据； 步骤07:比较所存储的数据与原始数据是否相同； 步骤08:根据比较结果来判测试器件的数据保持能力。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述等待时间为100?100ms。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述测试器件为存储器。
【文档编号】G11C29/12GK106057248SQ201610370044
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年5月30日
【发明人】代瑞娟, 席与凌, 李强
【申请人】上海华力微电子有限公司