专利名称：电子装置、电子装置的驱动方法、光电装置及电子设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电子电路、电子装置、电子电路的驱动方法、光电装置及电子设备。
在有源矩阵驱动方式的光电装置中，为了控制有机EL元件的辉度，对各有机EL元件分别设置像素电路。通过向像素电路的保持电容提供对应于辉度梯度的数据信号(电压值或电流值)来控制各像素电路中有机EL元件的辉度梯度。即，向保持电容充电对应于设定发光辉度梯度的电荷。
另外，对应于保持电容中保持的电荷量来设定驱动用TFT(ThinFilm Transistro)的导通状态，向有机EL元件提供对应于所述导通状态的电流(例如参照国际公开第WO98/36406号公报)。
但是，虽然像素电路由至少一个晶体管等有源元件构成，但难以严格均匀化全部有源元件的特性。尤其是构成显示器等像素电路的薄膜晶体管(TFT)的特性差异大。因此，在输入规定的数据信号时，难以得到期望的辉度。
另外，存在特性随着构成像素电路的有源元件或光电元件的经时恶化而变化的问题。
为了消除所述问题，本发明的目的在于提供一种可以高精度检测电子电路工作特性的电子电路、电子装置、电子电路的驱动方法、光电装置及电子设备。
本发明的第1电子装置具备多个单元电路，其特征在于所述多个单元电路的每一个都包含第1晶体管；保持元件，将经所述第1晶体管提供的电信号保持为电量；第2晶体管，根据所述保持元件中保持的电量来控制导通状态；被驱动元件，提供相对于所述导通状态的电流量；和第3晶体管，与所述第2晶体管串联连接，所述多个单元电路的每一个都可经所述第3晶体管连接于检测电流量用的检查部。
据此，通过使第3晶体管导通，可经该第3晶体管得到应提供给被驱动元件的相对于来自第2晶体管的电荷量的电流量。另外，既可在各单元电路内设置所述第3晶体管，也可对所述多个单元电路中的几个单元电路来共同设置所述第3晶体管。
本发明的第2电子装置具备多个单元电路，其特征在于所述多个单元电路的每一个都包含第1晶体管；保持元件，将经所述第1晶体管提供的电信号保持为电量；第2晶体管，根据所述保持元件中保持的电量被控制成为导通状态；和提供相对于所述导通状态的电流量的被驱动元件，所述第2晶体管与所述第1晶体管串联连接，所述多个单元电路的每一个可经所述第1晶体管连接于检测电流量用的检查部上。
作为该第2电子装置的对应实施例，例如后述实施例4的具有将电流信号作为电信号来提供的电路构成的电子装置。
在所述电子装置中，在所述被驱动元件与所述第2晶体管之间连接第4晶体管。
据此，使第4晶体管为截止状态，在停止向所述被驱动元件提供电流的状态下，通过使所述第3晶体管或所述第1晶体管为导通状态，可经所述第3晶体管或所述第1晶体管检测应提供给所述被驱动元件的通过第2晶体管的电流的电流量。即，在所述检查部进行检测期间，至少所述第4晶体管是截止状态。
在所述电子装置中，所述被驱动元件也可以是例如有机EL元件等电流驱动元件。有机EL元件的发光层由有机材料构成。
在所述电子装置中，最好在所述多个单元电路的每一个中都设置所述第3晶体管。由此可检测所述多个单元电路每一个的电流特性。
在所述电子装置中，所述保持元件也可以是例如将提供给所述多个单元电路每一个的电信号保持为电荷量的电容元件。
在所述电子装置中，所述保持元件也可以是SRAM等存储元件。
在所述电子装置中，具备存储电路，存储对由所述检查部求出的、经所述第1晶体管提供的电信号的补偿值。
据此，可使用存储电路中存储的补偿值来补偿电子装置的工作特性，调整被驱动元件的动作。
本发明的电子装置的驱动方法中，该电子装置具备第1晶体管；将由所述第1晶体管提供的电信号作为电量而保持的保持元件；根据所述保持元件中保持的电量被设定为导通状态的第2晶体管；提供相对于所述导通状态的电流量的被驱动元件；和与所述第2晶体管串联连接的第3晶体管，其特征在于具备使所述第1晶体管导通，将基于所述电信号的电量保持在所述保持元件中的第1步骤；和使所述第3晶体管为导通状态，经所述第3晶体管电连接所述第2晶体管和检测电流量的检查部的第2步骤，检测通过包含所述第2晶体管和所述第3晶体管的电流路径电流的电流量。
据此，所述检查部可检测检查部应提供给被驱动元件的电流量。
在所述电子装置驱动方法中，所述电流路径最好不包含所述被驱动元件。
在所述电子装置驱动方法中，所述被驱动元件也可以是有机EL元件等电流驱动元件。
本发明的第1光电装置具备对应于多个扫描线和多个数据线的交叉部配置的多个像素电路，其特征在于所述多个像素电路的每一个都包含由通过所述多个扫描线中对应扫描线提供的扫描信号被控制成为导通状态的第1晶体管；将经所述多个数据线中对应数据线及所述第1晶体管提供的数据信号作为电量而保持的保持元件；根据所述保持元件中保持的电量被控制成为导通状态的第2晶体管；提供相对于所述导通状态的电流量的光电元件；和与所述第2晶体管串联连接的第3晶体管，所述多个像素电路的每一个都可经所述第3晶体管连接于检测电流量的检查部。
在所述光电装置中，既可在所述多个像素电路的每一个中设置所述第3晶体管，也可在所述多个像素电路中的几个像素电路中共同设置所述第3晶体管。
在所述光电装置中，所述第3晶体管也可经所述多个晶体管中对应数据线连接于所述检查部。据此，即使不设置检查用布线，也可将数据线用作检查用布线。
本发明的第2光电装置具备对应于多个扫描线和多个数据线的交叉部配置的多个像素电路，其特征在于所述多个像素电路的每一个都包含由通过所述多个扫描线中对应扫描线提供的扫描信号被控制成为导通状态的第1晶体管；将经所述多个数据线中对应数据线及所述第1晶体管提供的数据信号作为电量而保持的保持元件；根据所述保持元件中保持的电量被控制为导通状态并与所述第1晶体管串联连接的第2晶体管；和提供相对于所述导通状态的电流量的光电元件，所述多个像素电路的每一个都可经所述第1晶体管连接于检测电流量的检查部。
在所述光电装置中，所述检查部包含电流检测电路，检测所述电流量；补偿值计算电路，根据所述电流检测电路检测到的电流量，求出对所述电信号的补偿值；和存储电路，存储对所述像素电路的所述补偿值，在设定所述电信号时，用所述补偿值来补偿所述电信号。
据此，通过补偿值计算电路来求出用于调整像素电路工作特性差异的补偿值，将对像素电路的所述补偿值存储在存储电路中。因此，可使用存储电路中存储的电子电路补偿值来补偿像素电路的工作特性，调整被驱动元件的动作。
本发明的电子设备安装所述的光电装置。
图2是表示显示屏板部和数据线驱动电路的内部电路构成的电路框图。
图3是表示像素电路的内部电路构成的电路图。
图4是通常模式中的各信号的时序图。
图5是检验模式中的各信号的时序图。
图6是说明实施例2的主要部分电路框图。
图7是表示说明实施例3的移动型个人计算机构成的立体图。
图8是表示说明实施例3的移动电话的构成的立体图。
图9是表示实施例4的像素电路内部电路构成的电路图。
图中C1-作为电容元件的保持电容，Q11-作为第2晶体管的驱动用晶体管，Q12-作为第1晶体管的开关用晶体管，Q13-作为第4晶体管的发光控制用晶体管，Q14-作为第3晶体管的检测用晶体管，Y1～Yn-扫描线，Va-第1副扫描线，Vb-第2副扫描线，X1～Xm-数据线，10-作为电光学装置的有机EL显示器，11-显示屏板部，17-构成修正值运算电路的控制电路，17a-作为记忆电路的存储器，19-构成修正值运算电路的检查装置，19a-电路检测电路，20-作为电子电路的像素电路，21-作为被驱动元件的有机EL元件，31a-电流检测电路。
图1表示作为光电装置的有机EL显示器10的电路构成的电路框图。图2表示显示屏板部和数据线驱动电路的内部电路构成的电路框图。图3表示像素电路的内部电路构成的电路图。
图1中，有机EL显示器10具备显示屏板部11、数据线驱动电路12、扫描线驱动电路13、存储器14、振荡电路15、选择电路16及控制电路17。
有机EL显示器10的各要素11-17也可由分别独立的电子部件构成。例如，各要素12-17也可由1个芯片的半导体集成电路装置构成。另外，各要素11-17的全部或部分也可构成为一体的电子部件。例如，也可在显示屏板部11中一体形成数据线驱动电路12和扫描线驱动电路13。各构成要素12-16的全部或部分也由可编程IC芯片构成，其功能也由写入IC芯片中的程序来软件地实现。
如图2所示，显示屏板部11具有排列成矩阵状的多个像素电路20。即，通过在沿列方向的多个数据线X1-Xm(m为整数)与沿行方向的多个扫描线Y1-Yn(n为整数)之间分别连接各像素电路20，将各像素电路20排列成矩阵状。在各像素电路20中具有由有机材料构成发光层的有机EL元件21来作为被驱动元件。另外，形成于像素电路20内的后述晶体管虽然可以是硅衬底的晶体管，但在本实施例中由薄膜晶体管(TFT)构成。
数据线驱动电路12对所述各数据线X1-Xm分别设置数据电压生成电路12a。各数据电压生成电路12a经各自对应的数据线X1-Xm，向像素电路20提供电信号、即在本实施例中为数据信号(数据电压Vdata)。若像素电路20对应于该数据电压Vdata来设定该像素电路20的内部状态，则与之对应的控制有机EL元件21中流过的电流值，控制该有机EL元件21的辉度。
扫描线驱动电路13选择驱动所述多个扫描线Yn中的一条，选择一行像素电路组。扫描线Y1-Yn分别由第1副扫描线Va和第2副扫描线Vb构成。扫描线驱动电路13向第1副扫描线Va输出第1选择信号SL1，向第2副扫描线Vb输出第2选择信号SL2。存储器14存储从计算机18提供的显示数据。另外，存储器14存储从构成补偿值计算电路的检查装置19提供的检验用显示数据。振荡电路15向有机EL显示器10的其它构成要素提供基准动作信号。
选择电路16设置于显示屏板部11与数据线驱动电路12之间。各选择电路16在每个数据线X1-Xm中具备切换电路16a。各切换电路16a如图3所示，分别由第1选通晶体管Q1和第2选通晶体管Q2构成。另外，各选择电路16的第1选通晶体管Q1分别连接对应的数据线X1-Xm和对应的数据电压生成电路30。各选择电路16的第2选通晶体管Q2分别连接对应的数据线X1-Xm和设置在作为检查部的检查装置19中的每个对应数据线X1-Xm中设置的电流检测电路19a。根据来自控制电路17的第1及第2选通信号G1、G2来分别导通、截止控制第1及第2选通晶体管Q1、Q2。
控制电路17统一控制所述各要素11-16。控制电路17将表示显示屏盘11显示状态的、所述存储器14中存储的、来自计算机18的显示数据(图像数据)变换为表示各有机EL元件21的发光辉度的矩阵数据。矩阵数据包含用于依次选择一行像素电路组的扫描线驱动信号、和决定设定选择像素电路组中有机EL元件21辉度的数据电压Vdata电平的数据线驱动信号。另外，将扫描线驱动信号提供给扫描线驱动电路13。将数据线驱动信号提供给数据线驱动电路12。
控制电路17在有机EL显示器10使用检查装置9来对显示屏盘11的各像素电路20进行检查时，变为检验模式。一旦变为检验模式，则控制电路17将所述存储器14中存储的来自检查装置19的检验用显示数据(图像数据)变换为表示各有机EL元件21的发光辉度的矩阵数据(检验用矩阵数据)。
该检验用矩阵数据包含用于依次选择一行像素电路组的检验用扫描线驱动信号、和决定设定选择像素电路组中有机EL元件21检验用辉度的检验用数据电压Vdata电平的检验用数据线驱动信号。另外，将检验用扫描线驱动信号提供给扫描线驱动电路13。将检验用数据线驱动信号提供给数据线驱动电路12。在检验模式下，控制电路17将对显示屏盘11的各像素电路20进行检查用的第1及第2选通信号G1、G2提供给所述选择电路16。因此，在不是检验模式的正常模式时，控制电路17仅输出第1选通信号G1，并保持第1选通晶体管Q1导通、第2选通晶体管Q2截止的状态。
下面，参照图3来说明像素电路20的内部电路构成。为了方便说明，说明配置在第m个数据线Xm与第n个扫描线Yn的交点上、连接于两数据线Xm和扫描线Yn之间的像素电路20。
像素电路20在本实施例中是电压驱动型像素电路，具备作为被驱动元件的有机EL元件21。具备作为第2晶体管的驱动用晶体管Q11、作为第1晶体管的开关用晶体管Q12、作为第4晶体管的发光控制用晶体管Q13、作为第3晶体管的检测用晶体管Q14、作为保持元件的保持电容C1。
开关用晶体管Q12和发光控制用晶体管Q13由N沟道TFT构成。驱动用晶体管Q11和检测用晶体管Q14由P沟道TFT构成。
驱动用晶体管Q11的漏极经开关用晶体管Q13连接于所述有机EL元件21的阳极，源极连接于电源线L1。在驱动用晶体管Q11的栅极与电源线L1之间连接保持电容C1。另外，驱动用晶体管Q11的栅极经开关用晶体管Q12连接于所述数据线Xm。驱动用晶体管Q11的漏极经所述检测用晶体管Q14连接于所述数据线Xm。
开关用晶体管Q12的栅极连接第1副扫描线Va。所述检测用晶体管Q14的源极连接于所述第1副扫描线Va。另外，发光控制用晶体管Q13和检测用晶体管Q14的栅极都连接于第2副扫描线Vb。
下面，根据像素电路20的动作来说明所述构成的有机EL显示器10的作用。
(通常模式)首先，根据图4中示出的各信号SL1、SL2、G1、G2的时序图来说明通常模式。
当前，当选择第n行扫描线Yn，连接于扫描线Yn的各像素电路20进行发光动作时，从扫描线驱动电路12经扫描线Yn的第1副扫描线Va输出使开关用晶体管Q12为导通状态的第1选择信号SL1，使开关用晶体管Q12变为导通状态。与此同时，从控制电路17向选择电路16的各切换电路16a输出使第1选通晶体管Q1为导通状态的第1选通信号G1，使第1选通晶体管Q1变为导通状态。此时，根据开关用晶体管Q12及第1选通晶体管Q1的导通，分别从各数据电压生成电路12a向对应的各像素电路20的保持电容C1提供数据电压Vdata。经过时间t1后，提供使开关用晶体管Q12和第1选通晶体管Q1为截止状态的第1选择信号SL1和第1选通信号G1，数据写入期间结束。
在经处于导通状态的开关用晶体管Q12向像素电路20提供数据电压Vdata期间，检测用晶体管Q14及发光控制用晶体管Q13分别为导通状态。
在时间t1途中或经过时间t1后，开始向有机EL元件提供对应于驱动用晶体管Q11的导通状态的电流。
接着，发光控制用晶体管Q13为截止状态，停止向有机EL元件提供电流，等待下一数据写入期间的开始。
在经开关用晶体管Q12向像素电路20提供数据电压Vdata的期间中，检测用晶体管Q14可以是导通状态和截止状态的任意一种状态。
但是，因为经处于导通状态的检测用晶体管Q14而在像素电路20与数据线Xm之间流动的微小电流可能会扰动数据电压Vdata，所以最好如本实施例那样，在经开关用晶体管Q12向像素电路20提供数据电压Vdata期间，使检测用晶体管Q14为截止状态。
并且，在通常模式的整体期间中，即使检测用晶体管Q14为截止状态也无妨。
在本实施例中，虽然发光控制用晶体管Q13和检测用晶体管Q14为进行互补动作的电路构成，但不用说也可分别独立控制。
通过反复该动作，以对应于数据电压Vdata的辉度来分别控制位于各扫描线Y1-Yn上的各像素电路20的有机EL元件21，有机EL显示器10显示基于来自计算机18的显示数据的图像。
(检验模式)下面，说明作为驱动方法一形态的检验模式。有机EL显示器10通过连接于检查装置19而变为检验模式。一旦从检查装置19向有机EL显示器10输出检验用显示数据，则控制电路17变为检验模式，将检验用显示数据变换为表示各有机EL元件21的发光辉度梯度的矩阵数据(检验用矩阵数据)。另外，控制电路17向扫描线驱动电路13及数据线驱动电路12输出检验用扫描线驱动信号及检验用数据线驱动信号。
图5使表示检验模式中各信号SL1、SL2、G1、G2的时序图。当前，例如从扫描线驱动电路13向扫描线Yn的第1副扫描线Va输出使开关用晶体管Q12为导通状态的第1选择信号SL1，位于扫描线Yn上的各像素电路20的开关用晶体管Q12变为导通状态。与此同时，从控制电路17向选择电路16的各切换电路16a输出使第1选通晶体管Q1为导通状态的第1选通信号G1，各切换电路16a的第1选通晶体管Q1变为导通状态。
由此，经位于导通状态的开关用晶体管Q12和第1选通晶体管Q1，从数据电压生成电路12a向保持电容C1提供检验用数据电压Vdata。另一方面，在提供检验用数据电压Vdata的期间中，提供使检测用晶体管Q14为截止状态的第2选择信号SL2，使检测用晶体管Q14成为截止状态。
经过时间t1后，提供使开关用晶体管Q12和第1选通晶体管Q1为截止状态的第1选择信号SL1和第1选通信号G1，像素电路20的数据写入期间结束。此时，提供使检测用晶体管Q14和发光控制用晶体管Q13分别为导通状态和截止状态的第2选择信号SL2。
接着，从控制电路17向选择电路16的各切换电路16a提供使第2选通晶体管Q2为导通状态的第2选通信号G2，第2选通晶体管Q2变为导通状态。在像素电路20中，根据该第2选通晶体管Q2的导通，流过电流值相对于基于驱动用晶体管Q11动作的检验用数据电压Vdata的驱动电流。此时，来自驱动用晶体管Q11的驱动电流经检测用晶体管Q14和第2选通晶体管Q2，分别输出到检查装置19中对位于扫描线Xn上的各像素电路20设置的各电流检测电路19a。
另外，依次对各扫描线Y1-Yn的各像素电路20进行该动作，分别输出到对各扫描线Y1-Yn的各像素电路20设置的各电流检测电路19a。
在检查装置19中，对各扫描线Y1-Yn的各像素电路20设置的电流检测电路19蒋输入的输出电流进行数字变换后，分别求出输出电流值，作为检测电流值。另外，检查装置19分别比较各电流检测电路19a求出的像素电路20的检测电流值和对检验用数据电压Vdata的设定电流值。另外，检查装置19暂时存储该比较结果。设定电流值必须以检验用数据电压Vdata从像素电路20标准输出的电流值，是事先经试验或理论得到的值。
在暂时存储该比较结果后，重新使用不同值的检验用数据电压Vdata，对有机EL显示器10进行同样的检验。检查装置19与所述一样，分别比较各电流检测电路19a求出的像素电路20的检测电流值和对检验用数据电压Vdata的设定电流值，存储该比较结果。
检查装置19根据对两种不同检验用数据电压Vdata的比较结果，检查驱动用晶体管Q11相对各像素电路20的数据电压Vdata的输出电流特性。检查装置19求出每个像素电路20的补偿值，使各像素电路20的特性变炎目标(标准)特性。即，对每个像素电路20求出对于相对设定辉度的数据电压Vdata的补偿值ΔVd。
检查装置19向有机EL显示器10输出对每个像素电路20求出的补偿值ΔVd。对每个像素电路20求出的补偿值ΔVd存储在内置于控制电路17中的由非易失性存储器等构成的存储器17a中，检验模式结束。另外，在本实施例中，虽存储在存储器17a中，但也可形成设定补偿值的熔丝，根据检查装置19的检查结果来切断对应熔丝。
控制电路17在将来自计算机18的显示数据(图像数据)变换为表示各有机EL元件21的发光梯度的矩阵数据时，使用补偿值ΔVd。具体而言，控制电路17将分别由对应补偿值ΔVd补偿根据显示数据求出的设定各像素电路20的有机EL元件21辉度的数据电压Vdata后的值设为新的数据电压Vdata。控制电路17将各像素电路20的新的数据电压Vdata作为数据线驱动信号输出到数据线驱动电路12。
因此，可检测因制造差异产生的各像素电路(各晶体管；尤其是驱动用晶体管Q11)r工作特性差异。因此，可在补偿各像素电路20的工作特性差异后，使各像素电路20的有机EL元件21相对数据电压Vdata的辉度一定。
另外，检查装置19在检测电流值不在基准范围内的情况下，若判断像素电路20不能工作，则可以把其作为可否出厂的判断材料。
下面说明所述构成的有机EL显示器10的特征。
(1)在本实施例中，在像素电路20中设置开关用晶体管Q13和检测用晶体管Q14。在检验模式下，经检测用晶体管Q14向检测装置19的电流检测电路19a提供电流值相对于来自驱动用晶体管Q11的检验用数据电流Vdata的驱动电流。
因此，可简单检测制造差异产生的各像素电路20的工作特性。结果，可在出厂前检查有机EL显示器10的次品。
(2)在本实施例中，在内置于控制电路17中的存储器17a中，存储检查装置19对每个像素电路20求出的、补偿基于制造差异的工作特性误差的补偿值、即对于相对设定辉度的数据电压Vdata的补偿值ΔVd。另外，控制电路17分别用对应的补偿值ΔVd来补偿设定基于显示数据求出的各像素电路20的有机EL元件21辉度的数据电压Vdata。
因此，各像素电路20可向有机EL元件20提供电流值相对基于显示数据的数据电压Vdata一样的驱动电流，使该有机EL元件以同样的辉度发光。因此，因为各像素电路20可由补偿值ΔVd来补偿制造差异引起的工作特性，所以可将以前作为次品废弃的有机EL显示器改良为制品，故可提高有机显示器的制造合格率。
(3)在本实施例中，利用现有的数据线X1-Xm来向电流检测电路19a提供检测用驱动电流。因此，可抑制为了检测电流而增大电路规模。
另外，在本实施例中，虽串联连接所述驱动用晶体管(第2晶体管)Q11和检测用晶体管(第3晶体管)Q14，但也可在驱动用晶体管Q11与检测用晶体管Q14之间插入其它元件。此时，也可相对驱动用晶体管Q11来串联连接检测用晶体管Q14。
(实施例2)下面说明实施例2。在所述实施例1中，检查装置19是外部装置，但在本实施例中，构成检查装置19，作为与所述实施例1的有机EL显示器10的各要素11-17相同的要素。因此，检查装置19与有机EL显示器10一起内置于安装有机EL显示器10的移动电话、PDA、个人计算机等移动电子设备内。
另外，因为特征在于内置于移动电子设备内，所以为了方便说明，省略与实施例1相同的部分，说明特征部分。
图6表示本实施例的检查装置19的电路。
在图6中，电流检测电路部31由数量对应于数据线X1-Xm的电流检测电路31a构成。各电流检测电路31a分别模拟检测相对分别经切换电路16a从数据线X1-Xm提供的来自驱动用晶体管Q11的检验用数据电压Vdata的驱动电流。另外，将检验用显示数据事先存储在控制电路17的存储器17a中。
各电流检测电路31a连接于AD变换电路部32的对应AD变换器32a上。各AD变换器32a将从数据线X1-Xm提供的驱动电流的电流值变换为数字值后，输出到控制电路17。
控制电路17分别比较来自各AD变换器32的由数据线X1-Xm提供的驱动电流电流值与相对检验用数据电压Vdata的设定电流值。另外，控制电路17暂时存储该比较结果。即，在本实施例中，控制电路17进行与所述实施例1的检查装置19相同的检查处理。另外，在本实施例的情况下，当对连接于一条扫描线上的每个像素电路20进行检查后，进行下一扫描线上的各像素电路的检查。
暂时存储该比较结果后，重新使用不同值的检验用数据电压Vdata来对有机EL显示器10进行同样的检验。另外，控制电路17与所述一样，分别比较来自各AD变换器32a的由数据线X1-Xm提供的驱动电流电流值和相对检验用数据电压Vdata的设定电流值，存储比较结果。
控制电路17根据相对两种不同检验用数据电压Vdata的比较结果，检查驱动用晶体管Q11相对各像素电路20的数据电压Vdata的输出电流特性。控制电路17对每个像素电路20求出补偿值，使各像素电路20的特性变为目标(标准)特性。即，对每个像素电路20求出对于相对设定辉度的数据电压Vdata的补偿值ΔVd。控制电路17将求出的补偿值ΔVd存储在作为存储电路的存储器17a中后，检验模式结束。另外，控制电路17定期进行检验模式，或在接通电流后执行检验模式。控制电路17使用该补偿值ΔVd，与所述实施例1一样，根据显示数据来驱动控制各像素电路20。
下面，说明所述构成的有机EL显示器10的特征。
(1)在本实施例中，在像素电路20中设置开关用晶体管Q13和检测用晶体管Q14。在检验模式下，经检测用晶体管Q14向控制电路17提供相对于来自驱动用晶体管Q11的检验用数据电流Vdata的驱动电流电流值。
另外，控制电路17检测各像素电路20的工作特性。因此，不使用大的检查装置就可简单检测制造差异引起的各像素电路20的工作特性。因此，即使控制电路17定期或在电源接通后执行检验模式，也可检测经年变化、环境温度变化引起的各像素电路20的工作特性。
(2)在本实施例中，在内置于控制电路17中的存储器17a中，存储该控制电路17对每个像素电路20求出的、补偿基于制造差异、经年变化、环境温度变化引起的工作特性误差的补偿值、即对于相对设定辉度的数据电压Vdata的补偿值ΔVd。另外，控制电路17分别用对应的补偿值ΔVd来补偿设定基于显示数据求出的各像素电路20的有机EL元件21辉度的数据电压Vdata。
因此，各像素电路20即使经年变化、环境温度变化，也可向有机EL元件21提供电流值相对基于显示数据的数据电压Vdata一样的驱动电流，使该有机EL元件以同样的辉度发光。
(3)在本实施例中，利用现有的数据线X1-Xm来向电流检测电路19a提供检测用驱动电流。因此，可抑制为了检测电流而增大电路规模。
(实施例3)下面，根据图7及图8来说明作为实施例1和2中说明的光电装置的有机EL显示器10的电子设备适用。有机EL显示器10可适用于移动型个人计算机、移动电话、数字式照相机等各种电子设备。
图7是表示移动型个人计算机构成的立体图。在图7中，个人计算机50具备配置键盘5的主体部52、使用所述有机EL显示器10的显示单元53。此时，使用有机EL显示器10的显示单元53发挥与所述实施例一样的效果。结果，个人计算机50可实现缺陷少的图像显示。
图8是表示移动电话构成的立体图。在图8中，移动电话60具备多个操作键61、受话口62、送话口63、使用所述有机EL显示器10的显示单元64。此时，使用有机EL显示器10的显示单元64发挥与所述实施例一样的效果。结果，移动电话60可实现缺陷少的图像显示。
(实施例4)在本实施例中，对于兼用开关用晶体管和检测用晶体管的实施例，说明图9示出的像素电路。
图9中，各像素电路20具有作为第2晶体管的驱动用晶体管Q20、第1Q21及第2开关用晶体管Q22、发光控制用晶体管Q23、及作为保持元件的保持电容C1。驱动用晶体管Q20由P沟道TFT构成。第1及第2开关用晶体管Q21、Q22及发光控制用晶体管Q23由N沟道TFT构成。
驱动用晶体管Q20的漏极经发光控制用晶体管Q23连接于所述有机EL元件21的阳极，源极连接于电源线L1。向电源线L1提供驱动所述有机EL元件2用的驱动电压Vdd。在所述驱动用晶体管Q20的栅极与电源线VL之间连接保持电容C1。
另外，驱动用晶体管Q20的栅极经所述第1开关用晶体管Q2 1的漏极上。第1开关用晶体管Q21的源极连接在第2开关用晶体管Q22的漏极上。另外，第2开关用晶体管Q22的漏极与所述驱动用晶体管Q20的漏极连接。
第2驱动用晶体管Q22的源极经数据线Xm连接于数据线驱动电路12的单一线驱动电路30上。该单一线驱动电路30设置数据电流生成电路40a。数据电流生成电路40a向像素电路20输出数据信号I。数据线Xm经第1开关Q11连接于数据电流生成电路40a，同时，经第2开关Q12连接于电流检测电路30b。
在第1及第2开关用晶体管Q21、Q22的栅极上分别连接第1副扫描线Va及第2副扫描线Vb。由来自第1副扫描线Va及第2副扫描线Vb的第1扫描信号SL1及第2扫描信号SL2来导通第1及第2开关用晶体管Q21、Q22。并且，由发光控制信号Gp第2来控制发光控制用晶体管Q23的栅极。
在第1开关Q11、第1开关用晶体管Q21及第2开关用晶体管Q22导通状态期间，若数据电流生成电路40a经数据线Xm输出数据信号I，则向像素电路20提供数据信号I，在保持电容C1中积累对应于数据信号I的电荷量，设定驱动晶体管的导通状态。这是写入动作。
接着，若发光控制用晶体管Q23响应使发光控制用晶体管Q23变为导通状态的发光控制信号Gp而变为导通状态，则向有机EL元件21提供对应于驱动用晶体管Q20导通状态的电流量。
相反，在检验模式下，虽然所述写入动作基本相同，但保持电容中保持对应于检验用信号的电荷量，代替通常的数据信号。其次，第1开关用晶体管Q21、第1开关Q11及发光控制用晶体管Q23为截止状态不变，第2开关用晶体管Q22和第2开关Q12为导通状态，由电流检测电路30b来检测通过驱动晶体管Q20的电流量。
在实施例4中，与实施例1不同，将两个开关晶体管中的一个(第2开关晶体管Q22)兼用作检测用晶体管，代替重新设置检测用晶体管。
另外，发明实施例不限于所述实施例，也可如下来实施。
在所述实施例1中，使用检查出厂前的有机EL显示器的检查装置19来检测显示器。对于移动电话、PDA、笔记本电脑等移动电子设备而言，当由充电器充电移动电子设备的电池时，也可在充电中由检查装置19检查装载在移动电子设备上的有机EL显示器。此时，该充电器中必需内置检查装置。另外，一旦开始充电，则变为检验模式，进行电流检测，检查各像素电路20。从而，对于装载于移动电子设备上的有机EL显示器而言，可在每次充电时补偿各像素电路20经年变化引起的工作特性。
在所述实施例中，检查装置19对显示屏板部11的全部像素电路20设置电流检测电路19a，但也可如实施例2那样，以与数据线X1-Xm数量相同的数量来实施。此时，如实施例2那样，在对连接于一条扫描线上的各像素电路20进行检查后，进行下一扫描线上各像素电路的检查。
在所述实施例1中，将检查装置19求出的补偿值Vd存储在控制电路17中内置的存储器17a中，使用存储器17a中存储器补偿值Vd，形成新的数据电压Vdata。
在所述实施例中，作为电子电路，具体化为像素电路20，得到最佳效果，但也可具体化成驱动有机EL元件21以外的例如LED或FED等发光元件等被驱动元件的电子电路。另外，作为被驱动元件，有磁性RAM。因此，也可应用于利用该磁性RAM的存储器装置。
在所述实施例中，在求补偿值ΔVd时，用两个不同的检验用数据电压Vdata来进行检验求出。也可使用一个检验用数据电压Vdata进行检验、或使用3个以上的检验用数据电压Vdata进行检验求出来实施。
在所述实施例中，经数据线X1-Xm向电流检测电路提供电流，但也可在检测用晶体管Q13中设置检测专用布线、经这些布线来提供给电流检测电路来实施。
在所述实施例中，具体化有机EL元件21来作为像素电路的被驱动元件，但也可具体化为无机EL元件。即，也可应用于由无机EL元件构成的无机EL显示器。
在所述实施例中，像素电路20具体化为电压驱动型像素电路，但也可应用于电流驱动型像素电路的有机EL显示器。另外，也可将时分、面积梯度等数字驱动的像素电路应用于有机EL显示器。
权利要求
1.一种电子装置，具备多个单元电路，其特征在于所述多个单元电路的每一个都包含第1晶体管；将由所述第1晶体管提供的电信号作为电量而保持的保持元件；根据所述保持元件所保持的电量被控制为导通状态的第2晶体管；提供相对于所述导通状态的电流量的被驱动元件；和与所述第2晶体管串联连接的第3晶体管，所述多个单元电路的每一个都可通过所述第3晶体管连接于用于检测电流量的检查部。
2.一种电子装置，具备多个单元电路，其特征在于所述多个单元电路的每一个都包含第1晶体管；将由所述第1晶体管提供的电信号作为电量而保持的保持元件；根据所述保持元件中保持的电量被控制为导通状态的第2晶体管；和提供相对于所述导通状态的电流量的被驱动元件，所述第2晶体管与所述第1晶体管串联连接，所述多个单元电路的每一个可通过所述第1晶体管连接于用于检测电流量的检查部上。
3.根据权利要求1或2所述的电子装置，其特征在于在所述被驱动元件与所述第2晶体管之间连接第4晶体管。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的电子装置，其特征在于所述被驱动元件是电流驱动元件。
5.根据权利要求3所述的电子装置，其特征在于在所述检查部进行检测期间，至少所述第4晶体管是截止状态。
6.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于在所述多个单元电路的每一个中都设置所述第3晶体管。
7.根据权利要求1至6中任意一项所述的电子装置，其特征在于具备存储电路，存储对由所述检查部求出的，由所述第1晶体管提供的电信号的补偿值。
8.根据权利要求1至7中任意一项所述的电子装置，其特征在于所述检查部检测流过包含所述第2晶体管的电流路径的电流，所述电流路径不包含所述被驱动元件。
9.一种电子装置的驱动方法，该电子装置具备第1晶体管；将由所述第1晶体管提供的电信号作为电量而保持的保持元件；根据所述保持元件中保持的电量被设定为导通状态的第2晶体管；提供相对于所述导通状态的电流量的被驱动元件；和与所述第2晶体管串联连接的第3晶体管，其特征在于具备使所述第1晶体管导通，将基于所述电信号的电量保持在所述保持元件中的第1步骤；和使所述第3晶体管为导通状态，经所述第3晶体管电连接所述第2晶体管和检测电流量的检查部，检测流过包含所述第2晶体管和所述第3晶体管的电流路径电流的电流量的第2步骤。
10.根据权利要求9所述的电子装置驱动方法，其特征在于所述电流路径不包含所述被驱动元件。
11.一种光电装置，具备对应于多个扫描线和多个数据线的交叉部配置的多个像素电路，其特征在于所述多个像素电路的每一个都包含由通过所述多个扫描线中对应扫描线提供的扫描信号被控制为导通状态的第1晶体管；将由对应所述多个数据线的数据线及通过所述第1晶体管提供的数据信号作为电量而保持的保持元件；根据所述保持元件中保持的电量被控制为导通状态的第2晶体管；提供相对于所述导通状态的电流量的光电元件；和与所述第2晶体管串联连接的第3晶体管，所述多个像素电路的每一个都可经所述第3晶体管连接于检测电流量的检查部。
12.一种光电装置，具备对应于多个扫描线和多个数据线的交叉部配置的多个像素电路，其特征在于所述多个像素电路的每一个都包含由通过所述多个扫描线中对应扫描线提供的扫描信号被控制为导通状态的第1晶体管；将通过所述多个数据线中对应数据线及所述第1晶体管提供的数据信号作为电量而保持的保持元件；根据所述保持元件中保持的电量被控制为导通状态的与所述第1晶体管串联连接的第2晶体管；和提供相对于所述导通状态的电流量的光电元件，所述多个像素电路的每一个都可通过所述第1晶体管连接于用于检测电流量的检查部。
13.根据权利要求11所述的光电装置，其特征在于所述第3晶体管可通过所述多个数据线中的对应数据线连接于所述检查部。
14.根据权利要求11至13中任意一项所述的光电装置，其特征在于所述检查部包含检测所述电流量的电流检测电路；根据所述电流检测电路检测到的电流量，求出对所述电信号的补偿值的补偿值计算电路；和存储对所述像素电路的所述补偿值的存储电路，用所述补偿值来补偿所述电信号。
15.一种电子设备，安装权利要求11至14中的任意一项所述的光电装置。
全文摘要
一种能够以高精度来检测电子电路工作特性的电子电路、电子装置、电子电路的驱动方法、光电装置及电子设备。在像素电路(20)中设置连接于驱动用晶体管(Q11)与有机EL元件(21)之间的开关用晶体管(Q13)、和将驱动用晶体管(Q11)输出的驱动电流提供给电流检测电路(19a)的检测用晶体管(Q14)。在开关用晶体管(Q13)截止的状态下，使开关用晶体管(Q12)导通，向保持电容(C1)提供检验用数据电流(Vdata)，并使检测用晶体管(Q14)导通，经检测用晶体管(Q14)向电流检测电路(19a)提供来自驱动用晶体管的驱动电流。电流检测电路(19a)可检测对检验用数据电流(Vdata)的驱动电流。
文档编号H01L51/50GK1448908SQ0310759
公开日2003年10月15日 申请日期2003年3月28日 优先权日2002年3月29日
发明者城宏明 申请人:精工爱普生株式会社