专利名称：用数字信号和射频信号发射/识别电路测试rfid芯片的方法
技术领域：
本发明属集成电路测试技术领域，具体涉及一种用数字信号和射频信号发射/识别电路测试RFID芯片的方法。
背景技术：
RFID是射频识别系统的简称，与其它类型的识别系统相比，有识别速度快，保密性好，不易受到外界污染，数据密度大，可读性好等优势，广泛地应用于公交，银行，医疗等行业，在欧美等地已经十分普及，典型的例子就是非接触式IC卡。在我国，非接触式IC卡芯片的生产和使用还处于起步阶段，目前只有少数几个经济发达城市，在公交，医疗保险等行业进行了试点，取得了良好的效果。随着国家“金卡工程”的不断深入，以及即将推出的中国居民身份证使用非接触式IC卡，必将大大推动非接触式IC卡在中国的普及。
目前，影响非接触式IC卡广泛使用的因素主要有两条一是芯片的生产工艺，二是成本。对于成本的降低来说，主要有两个方面的途径，一是显著地改进生产工艺；第二就是降低其它方面的耗费，其中比较重要的就是关系到最终成品质量的芯片测试。对于非接触式IC卡的芯片来说，由于有射频电路的存在，它就不可能是纯数字电路测试。人们可以使用混合信号的测试仪来测试，但是无论从测试本身的硬件损耗还是测试时间来说，都是不经济的。
发明内容
本发明的目的在于提出一种对RFID芯片进行低成本测试的方法。
本发明提出的对RFID芯片进行测试的方法，是一种利用集成电路测试系统的数字信号测试部分和射频信号发射/识别电路相结合的方法，对符合ISO国际标准设计的RFID芯片进行测试。
具体步骤如下由集成电路测试系统的数字信号测试部分产生一数字信号，通过射频发生/识别电路产生(发射)符合ISO国际标准的射频信号，待测试RFID芯片收到该信号后，在正常情况下会产生一个返回信号，此时射频信号发射/识别电路的识别部分(即接收部分)即捕获该信号，并将其转换成为相应的数字信号(即解码)，最后通过测试系统与事先保存的期待值进行比较，判别芯片的通讯功能是否实现。
由于测试过程和信号处理几乎都是通过射频信号发射/识别电路来进行而不必过多占用测试仪的其它测试资源，因而大大节约了测试成本和测试时间。
本发明的测试方法的相应电路包括两个部分，即集成电路测试系统的数字信号测试部分1与射频信号发射/识别电路2，见图1所示。集成电路测试系统的数字信号测试部分1由数字信号驱动器9、精度矫正和诊断回路10、数字信号比较器11组成；射频信号发射/识别电路2由发射器和接收器组成；其中，发射器由滤波器4、放大器5、监控器6依次电路连接构成，接收器由探测器7与解调器8电路连接构成，发射器中的放大器5与接收器的探测器7电路连接；滤波器4、监控器6、解调器8分别与集成电路测试系统数字信号测试部分的数字信号驱动器9、精度矫正和诊断回路10、数字信号比较器11电路连接，待测芯片3连接于发射器的放大器5。
利用上述电路，测试的RFID芯片的具体过程如下通过集成电路测试系统的数字信号测试部分1的数字信号驱动器9产生一个数字信号(如图所示)，通过滤波器4的滤波作用将该数字信号转换成相同频率和幅值的正弦波信号；再通过放大器5放大成为所需要幅值的正弦波信号(如图所示)，给待测芯3，与此同时放大器5的前端(未放大信号)连接到监控器6，它的作用是将未放大的正弦波信号反馈给集成电路测试系统数字信号测试部分1的精度矫正和诊断回路10，实时调整数字信号驱动器9产生的数字信号；正常情况下，芯片的返回信号通过放大器5的信号传输送到探测器7。返回信号通常有一个初始的高或低电平表示其起始帧位置，探测器7探测到该电平信号，并进一步送给解调器8，其作用是将芯片的返回信号由模拟信号转换成数字信号(解码)，最后解调器8将解调出的数字码返回数字信号测试部分的数字信号比较器11，与事先保存好的标准码比较是否相同，以此来确定芯片的返回信号是否正确。
本发明电路中的各个模块，包括滤波器4、放大器5、监控器6、探测器7、解调器8、数字信号驱动器9、精度矫正和诊断回路10、数字信号比较器11等，均为常规的电路模块。
图1为本发明的测试电路结构框图。
图中标号1为集成电路测试系统的数字信号测试部分，2为射频信号发射/识别电路，3为待测芯片，4为滤波器，5为放大器，6为监控器，7为探测器，8为解调器，9为数字信号驱动器，10为精度矫正和诊断回路，11为数字信号比较器。
具体实施例方式
将射频信号发射/识别电路(图1)模块搭载在测试用电路板上，使用集成电路测试系统的数字通道和射频信号发射/识别电路，产生一个符合ISO14443标准的正弦波信号，例如电压峰-峰值15V，ASK调制系数10％，载波频率13.56MHz，所带数据串为ALOHA(0x05，0x00，0x00+CRC)。此时，监控器部分开始实时检测该衰减后的的正弦波信号的稳定性。
等待测试芯片有了响应，探测器部分开始工作，比如针对上面的符合ISO14443标准的正弦波信号，返回信号就是电压峰-峰值15V，BPSK负载调制，副载波频率为847KHz的正弦波信号，所带数据串为0x50XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX+CRC通过解调器解码，将模拟信号转成数字信号供测试系统做进一步测试分析。
另外，也可以将射频信号发射/识别电路集成到测试系统内部的电路板上去，使之成为集成电路测试系统的一个选件。测试步骤同前。
权利要求
1.一种对RFID芯片进行测试的方法，其特征在于将集成电路测试系统的数字部分和射频信号发射/识别电路相结合，对符合ISO国际标准设计的RFID芯片进行测试。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于由集成电路测试系统的数字信号发生器产生一数字信号，通过射频发生/识别电路产生符合ISO国际标准的射频信号，待测试RFID芯片收到该信号后，在正常情况下会产生一个返回信号，此时射频信号发射/识别电路的识别部分即捕获该信号，并将其转换成为相应的数字信号，最后通过测试系统与事先保存的期待值进行比较，判别芯片的通讯功能是否实现。
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于相应测试电路包括集成电路测试系统中的数字信号发生器(1)和射频信号发生/识别电路(2)，数字信号发生器(1)由数据传送器(9)、自矫正器(10)、接受器(11)组成；射频信号发射/识别电路(2)由发射器和接收器组成；其中，发射器由滤波器(4)、放大器(5)、监控器(6)依次电路连接构成，接收器由探测器(7)与解调器(8)电路连接构成，发射器中的放大器(5)与接收器的探测器电路连接；滤波器(4)、监控器(6)、解调器(8)分别与数字信号发生器的数据传送器(9)、自矫正器(10)、接受器(11)电路连接，待测芯片(3)连接于发射器的放大器(5)。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于射频信号发射识别电路直接搭载在测试板上。
5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于射频信号发射识别电路集成在测试系统内部的电路板上，成为集成电路测试系统的一个测试选件。
全文摘要
本发明为一种用数字信号和射频信号发射/识别电路测试RFID芯片的方法。具体步骤是由测试系统的数字信号发生器产生一数字信号，通过射频信号发射/识别电路产生符合ISO国际标准的射频信号，待芯片收到该信号后，产生一个返回信号，射频信号发射/识别电路的识别部分捕获该信号，并转换成数字信号，最后送测试系统判别比较。本发明可降低测试成本，节约测试时间。
文档编号H01L21/66GK1542937SQ20031010850
公开日2004年11月3日 申请日期2003年11月7日 优先权日2003年11月7日
发明者浜岛明, 刘旸 申请人:爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司, 爱德万测试(苏州)有限公司上海分公