专利名称：记忆卡测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是一种测试工具，特别是指一种记忆卡测试装置，其不 仅可以提升效率，而且能降低组件损坏机率、加强测试人员的操作准确 性。
背景技术：
现今各种记忆卡在数字设备及各式产品之中的使用愈来愈广泛，但 是在数字设备及产品中的记忆卡系统却存在各自无法兼容的问题(比较
普遍的规格标准包括SD、 MS、 XD、 MicroSD、 miniSD等)，也造成若 干设备使用上的困扰-
如第l图图例中所示是一种市场上的数字相框系统，特别指一种利 用记忆卡IO提供数字相框本体11内部数据，且在数字相框本体11的屏 幕上不断变化显示照片内容的设计，以往数字相框本体11会在侧面制作 出记忆卡10的插槽12，并且仅能适用于其中一种标准的记忆卡10，如 此，不但使用者更换数字相机时会造成不同记忆卡传输连接标准间的冲 突，且会连带造成数字相框本体11的不再适用。
为了突破前述问题，厂商研发出一种可以同时安装不同标准记忆卡 IO的插槽，有效突破以往受限于记忆卡传输连接标准的问题；但是此种 设计却会在生产测试时产生以下困扰
其一，由于一个插槽必须适用数种标准的记忆卡，所以测试人员就 必须不断拔插不同测试用记忆卡，在插拔次数频繁的动作之下，测试工 作没有效率；
其二，插拔次数频繁的动作之下，不仅数字产品的插槽容易损坏， 而且各个用来测试的记忆卡也十分容易减损寿命，造成无谓的成本浪费；
其三，由于测试种类至少有二种，又在插拔次数频繁的动作之下， 测试人员十分容易混淆，造成认错已经测试过了记忆卡或尚未测试的记 忆卡。
为了能够有效解决前述相关议题，本创作人基于过去在数字相框产 品、记忆卡组件领域所累积的研发技术与经验，从有效测试、避免混淆 的实用角度下手，终于研发出一种创新的记忆卡测试装置。
本实用新型的记忆卡测试装置可以应用在各类型的数字设备或是产
品上，例如数字相机、计算机设备、随身数字产品或手机等等，说明 书中提出的数字相框仅是举例说明之用，并非局限本实用新型可以应用 的范围。
实用新型内容
本实用新型的目的，是在提供一种记忆卡测试装置，其可以大幅减 少在数字产品上拔插记忆卡的动作及次数，有效提升测试人员的工作效 率。
本实用新型是一种记忆卡测试装置包含有一本体、 一测试端、至少 二记忆卡插座及至少一控制开关，该控制开关切换记忆卡插座与该测试
端之间的连接； 一本体，为一PCB电路板，且其上设有印刷电路，而该 测试端凸出于本体，该测试端系供插入预设数字设备之插槽；二记忆卡 插座，二记忆卡插座皆与该本体的PCB电路连接；以及二控制开关分别 连接控制二切换记忆卡插座，且前述二控制开关采用单刀双掷型设计； 二记忆卡插座分别制作有9个接点以符合SD记忆卡及MMC记忆卡标准， 且该本体的测试端制作有9个接点。
因此，本实用新型使用者可以利用上述控制开关切换记忆卡插座与 该测试端之间的连接，大幅减少在数字产品上拔插记忆卡的动作及次数， 不仅能降低组件损坏机率，并且提升测试人员的工作效率。
本实用新型的另一目的，是在提供一种记忆卡测试装置，其能加强 测试人员的操作准确性。
本实用新型记忆卡测试装置的控制开关切换记忆卡插座与该测试端 之间的连接，且控制开关可以使用单一确认工作时其余无法工作的设计； 因此，本实用新型使用者可以大幅减少工作人员操作混淆的机会，且能 加强测试人员的操作准确性。
此外，由于记忆卡测试装置的测试端可以同时连接至少二个以上的 记忆卡插座，且控制开关设计方向有多种现有技术设计可供选择，所以 申请人:在此不特别限定数量及控制开关的模式，但若采二组记忆卡插座 时，其一为SD记忆卡标准、另一为醒C记忆卡标准，且二者皆为9接触 点的系统，而前述控制开关则可以采用单刀双掷型控制开关，并且利用 PCB本体上的印刷电路来进行切换及测试；但是有关组件数量、控制开 关型态的变化仅是一般现有技术的变化，在此不多作赘述。
有关本案新型为达成上述目的、所采用的高度技术思想、手段，现
举较佳可实施例并配合其它图式详细说明如下，相信本实用新型的目的、
特征及其它优点，当可由此得一深入而具体的了解。
图l 现有技术产品示意图； 图2 本实用新型外观侧视图； 图3 本实用新型另一侧视图； 图4 本实用新型实施示意图； 图5本实用新型PCB电路示意图。
主要组件符号说明
记忆卡IO 数字相框本体ll
记忆卡插座30、 40 控制开关50、 60具体实施方式
首先请配合参阅第2至5图所示，本新型所提供的一种记忆卡测试 装置，是包括有一本体20、 一测试端21、 二记忆卡插座30、 40及二控 制开关50、 60，上述组件的特征是在于
该本体20，为一 PCB电路板，且其上设计有如第5图图中所示的 PCB印刷电路D(仅供参考)，而该测试端21凸出于本体20，且于测试端 21上制作有9个接点与该PCB印刷电路D相连接，而该测试端21是供 插入该数字相框A的插槽Al;
该记忆卡插座30、 40，该记忆卡插座30是符合SD记忆卡B标准， 且记忆卡插座30与该PCB电路相连接，该记忆卡插座40是符合MMC 记忆卡C标准，且此记忆卡插座40同样与该本体20的PCB印刷电路D 相连接；以及
该控制开关50、 60，该控制开关50、 60分别连接控制该切换记忆 卡插座30、 40，且控制开关50、 60采用单刀双掷型设计(其一开启、另 一关闭)，利用上述控制开关50、 60配合控制该记忆卡插座30、 40两者
插槽12
数位相框A SD记忆卡B 印刷电路D 本体20
插槽A1
MMC记忆卡C
测试端21
的切换；
以上所述，即为本新型的各个组件关系位置及相对关系，且逐一说 明各个组件的结构、形状及配置。
为求清楚说明本新型的实施，以下说明本新型的实施方式，并且请
一并参阅各图所示
本实用新型测试人员进行该数字相框A的出厂前测试时，首先将该
本体20的测试端21插入该插槽Al,并且分别将SD记忆卡B插入该记 忆卡插座30、该MMC记忆卡C插入该记忆卡插座40; 此时，利用单刀双掷型的控制开关50、 60配合控制该记忆卡插座30、 40两者的切换，测试人员测试过程无需拔插前述的SD记忆卡B及MMC 记忆卡C，该测试端21则在全部测试完成立后才需要自该插槽Al取出， 所以本实用新型使用者可以大幅减少在数字产品上拔插记忆卡的动作及 次数，不仅可以提升效率，而且能降低组件损坏机率、加强测试人员的 操作确认性。
最后，由于本实用新型是一种专用用于测试的装置，若是测试人员 大量测试相同类型的产品时，上述记忆卡完全无需取下，测试人员可以 直接运用该本体20的测试端21拔插于不同产品的插槽之内，有效避免 测试用设备及被测试设备的拔插损害。
权利要求1. 一种记忆卡测试装置，其特征在于，包括有一本体、一测试端、至少二记忆卡插座及至少一控制开关，该各记忆卡插座分别符合相异的标准，且该本体设有电路供测试端连接各记忆卡插座，而该控制开关切换各个记忆卡插座与该测试端之间的连接。
2. 根据权利要求1所述的记忆卡测试装置，其特征在于包括有一本体，为一PCB电路板，且其上设有印刷电路，而该测试端凸出于本体，该测试端系供插入预设数字设备之插槽；二记忆卡插座，二记忆卡插座皆与该本体的PCB电路连接；以及二控制开关分别连接控制二切换记忆卡插座，且前述二控制开关采 用单刀双掷型设计。
3. 根据权利要求2所述的记忆卡测试装置，其特征在于，二记忆卡插座分别制作有9个接点以符合SD记忆卡及醒C记忆卡标准，且该本体的测 试端制作有9个接点。
专利摘要本实用新型是一种记忆卡测试装置，是供数字产品测试记忆卡读取功能之用；该记忆卡测试装置包含有一本体、一测试端、至少二记忆卡插座及至少一控制开关，该控制开关切换记忆卡插座与该测试端之间的连接；因此，本实用新型使用者可以大幅减少在数字产品上拔插记忆卡的动作及次数，不仅可以提升效率，而且能降低组件损坏几率、加强测试人员的操作准确性。
文档编号H01R12/00GK201207295SQ200820114780
公开日2009年3月11日 申请日期2008年5月15日 优先权日2008年5月15日
发明者庞国梁, 徐家祥 申请人:昆山致嘉电子科技有限公司