专利名称：平板天线的自动检测修正调整方法及其系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种天线，尤其涉及一种具有自动检测平板天线的电气特性，并自动修正调整平板天线电气特性的方法及其系统。
背景技术：
目前的陶瓷平板天线上具有一基体，该基体的表面上具有一辐射金属面，该基体的背面具有一接地金属面，该基体上具有一信号馈入端穿过该基体与该辐射金属面电性连接。在陶瓷平板天线制作完成后，首要工作就是检测该陶瓷平板天线的电气特性是符合制作规范，因为陶瓷平板天线在制作时会因辐射金属片印刷的尺寸不一致，而产生不同的电气特性，所以制作完成的陶瓷平板天线就必需进行电气特性的检测。在陶瓷平板天线进行检测时，将该陶瓷平板天线电性连接于该无线频率(RF)元件测试同轴电缆的接头上，以供仪器读取该陶瓷平板天线的电气特性，该仪器同时显示该电气特性的史密斯曲线图。在史密斯曲线图显示后，检测者将以目视的方式看仪器所显示的史密斯曲线图与制作规范是否相同，若是不相同时，检测者就必须以人工的方式手持修正专置对陶瓷平板天线的辐射金属面进行修正调整，修正到该仪器所显示的史密斯曲线图与制作规范相同，就停止修整动作。由于上述陶瓷平板天线的电气特性在修正调整时，需要有经验的检测者来检测修正调整，而且以人工方式修正调 整时导致后续加工速度慢，无法提升良品的生产量，也无法降低制作成本。
发明内容
因此，本发明的主要目的，在于解决传统缺失，本发明利用一种自动检测修正调整方法及其系统，在陶瓷平板天线制作完成后，可以自动检测及修正该陶瓷平板天线的电气特性，以符合制作规范，使陶瓷平板天线在制作生产生更加容易简单，同时可以减少人力，降低制作成本，提高升产量，使制作完成的该陶瓷平板天线的电性特性更加的精确。为达上述的目的，本发明所提供一种平板天线的自动检测修正调整方法，是对具有辐射金面的陶瓷平板天线进行自动检测修正调整，该方法包括:备有一检测装置，该检测装置电连接有一无线电频率元件测试工具，且于检测装置设定陶瓷平板天线的电气特性的参数值；将该陶瓷平板天线置放于无线电频率元件测试工具上；由检测装置读取该陶瓷平板天线的电气特性并判断与该设定的参数值是否相同；在判断该陶瓷平板天线的电气特性与设定的参数值不相同，该检测装置驱动修整装置，对该陶瓷平板天线的辐射金属片进行修正调整。其中，该陶瓷平板天线的电气特性的参数值为中心频率、频宽及反射损失。其中，该检测装置还具有一微处理单元、一储存单元、一操作界面及一显示单元；该显示单元显示该陶瓷平板天线的电气特性的史密斯曲线与S参数曲线。其中，该陶瓷平板天线的电气特性的史密斯曲线中间折点的位置，必须位于该设定参数值所产生的史密斯曲线中间折点在设定的格区间内，以显示单元的显示视窗格的上下左右的三分之一的格区间内及曲线的折点中心限制在1〈电压驻波比(VSWR)〈无线大。其中，该无线电频率元件测试工具为无线电频率同轴电缆线接头，是与该陶瓷平板天线的一信号馈入端电性连接。其中，该检测装置所读取的陶瓷平板天线的电气特性判断与设定的参数值相同，即结束检测。其中，在判断检测的陶瓷平板天线的电气特性与设定的参数值不相同时，该检测装置显示该陶瓷平板天线需修整的辐射金属面的影像及位置。其中，该修整装置为激光雕刻机。其中，还具有以影像读取装置读取修整装置在修正该辐射金属面的位置后，再由该检测装置判断修正位置是否正确，若位置不正确，立刻校正修正位置，使修整装置依据检测装置所输出的信号精确对该辐射金属面的修正位置进行修整处理。其中，影像读取装置为CXD或CMOS镜头。其中，在该辐射金属面修整后，该检测装置检测陶瓷平板天线的电气特性符合所设定的参数值时，即结束检测及修整该陶瓷平板天线的动作。为达上述的目的，本发明提供一种平板天线的自动检测修正调整系统，是对具有辐射金面的陶瓷平板天线进行自动检测修正调整，该系统包括:一检测装置，其上具有一置放陶瓷平板天线的无线电频率元件测试工具，该检测装置设定有一比对的参数值；一修整装置，是与该检测装置电性连接；其中，在该陶瓷平板天线置放于无线电频率元件测试工具后，由该检测装置读取该陶瓷平板天线的电气特性与参数值比对不相同，该检测装置输出信号驱动该修整装置对该陶瓷平板天线的辐射金属面进行修整处理。其中，该检测装置至少包括有:一微处理单元、一储存单元、一操作界面及一显示单元。其中，该微处理单元载入有检测该陶瓷平板天线电气特性的固件程序。其中，该储存单元是与该微处理单元电性连接，用以储存该陶瓷平板天线的电气特性的参数值。其中，该操作界面是与该微处理单元电性连接，用以输入各项操作指令及参数值。其中，该显示单元是与该微处理单元电性连接，以显示该微处理单元所检测结果的史密斯曲线与s参数曲线。其中，该陶瓷平板天线的电气特性的史密斯曲线中间折点的位置，必须位于该设定参数值所产生的史密斯曲线中间折点在设定的格区间内，以显示单元的显示视窗格的上下左右的三分之一的格区间内及曲线的折点中心限制在1〈电压驻波比(VSWR)〈无线大。其中，该无线电频率元件测试工具为无线电频率同轴电缆线接头，该陶瓷平板天线的一信号馈入端电性连接于该无线电频率元件测试工具上。其中， 该陶瓷平板天线的电气特性的参数值为中心频率、频宽及反射损失。
其中，该修整装置为研磨雕刻机、激光加工机。其中，该检测装置所读取的陶瓷平板天线的电气特性与设定的参数值相同，结束检测。其中，还具有一影像读取装置，该影像读取装置系与该检测装置电性连接，用以读取修整装置该陶瓷平板天线的辐射金属面修正位置，使该修整装置能精确对该陶瓷平板天线的辐射金属面进行修整。其中，该影像读取装置为CXD或CMOS镜头。以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
图1本发明的平板天线自动检测修正调整方法的流程示意图；图2本发明的史密斯曲线示意图；图3本发明的陶瓷平板天线的辐射金属面的正视示意图；图4本发明的另一史 密斯曲线示意图；图5本发明的另一陶瓷平板天线的辐射金属面的正视示意图；图6本发明的自动检测修正调整系统示意图。其特征在于，步骤100 120史密斯曲线10中间折点101辐射金属面20右下边201左上边201a右上边202左下边202a左侧上边203右侧下边203a右侧上边204左侧下边204a缺口 205底边2Ofe缺口206底边2Ofe缺口207底边207a缺口208底边2OSa角边209角边209a
角边210角边210a史密斯曲线30中间折点301辐射金属面40右侧上边401左侧下边401a右侧下边402左侧上边402a左上边403右下边403a右上边404 左下边 404a缺口 405底边405a缺口 406底边406a缺口 407底边407a缺口 408底边408a角边409检测装置I微处理单元11储存单元12操作界面13显示单元14无线电频率工具2修整装置3影像读取装置4陶瓷平板天线5信号馈入端5具体实施例方式兹有关本发明的技术内容及详细说明，现配合
如下:请参阅图1，本发明的平板天线自动检测修正调整方法的流程示意图。如图所示:本发明的平板天线自动检测修正调整方法，首先，如步骤100，备有一制作完成的陶瓷平板天线。步骤102，于检测装置设定该陶瓷平板天线的电气特性(如中心频率、频宽及反射损失return loss)的参数值，同时在检测装置上的显示单元将显示史密斯曲线图与s参数曲线图。在本附图中，该检测装置至少包括有:一微处理单元、一储存单元、一操作界面及一显示单元。步骤104,将陶瓷平板天线置放于检测装置的无线电频率(RF, Radio Frequency)元件测试工具(下称为RF元件测试工具)上，使该陶瓷平板天线的信号馈入端与RF元件测试工具电性连接。在本附图中，该RF元件测试工具为无线电频率同轴电缆线接头，是与该陶瓷平板天线的信号馈入端电性连接。步骤106，在检测装置读取陶瓷平板天线的电气特性，并判断是否符合史密斯曲线与s参数规格要求。若是判断符合史密斯曲线与s参数规格要求，进入步骤108，结束陶瓷平板天线检测。再进入到步骤110中，取下检测合格的该陶瓷平板天线。在步骤106判断该陶瓷平板天线的电性特性不符合史密斯曲线与s参数规格要求时，进入步骤112中。步骤112，检测装置显示陶瓷平板天线需修整的辐射金属面的影像及位置。步骤114,检测装置驱动修整装置(Trimming Machine)对该福射金属面需修整的位置进行修正处理。在本附图中，该修整装置为激光雕刻机。步骤116，由影像读取装置读取修整装置在修正该辐射金属面的修正位置是否正确。若是不正确，立刻校正修正位置，使修整装置能精确的在指定的辐射金属面的修正位置上进行修整处理。在本附图中，影像读取装置为CXD或CMOS镜头。步骤118，在该辐射金属面修整后，该检测装置检测陶瓷平板天线的电气特性符合所设定的史密斯曲线(即表示符合设定的参数值)时，即结束检测及修整该陶瓷平板天线的动作。步骤120，将修整检测合格的陶瓷平板天线，由该检测装置的RF元件测试工具上取下。请参阅图2、图3，本发明的史密斯曲线示意图及陶瓷平板天线的辐射金属面的正视示意图。如图所示:在检测装置检测及修整陶瓷平板天线的电器特性时，先输入陶瓷平板天线的电气特性的参数值于该检测装置I中，于检测装置I的显示单元14上将显示出史密斯曲线10，该陶瓷平板天线的电气特性的史密斯曲线10中间折点101的位置，必须位于该设定参数值所产生的史密斯曲线10中间折点101在设定的格区间内，以显示单元14的显示视窗格的上下左右的三分之一的格区间内为最佳及曲线的折点中心限制在1〈电压驻波比(VSWR)〈无线大，例如电压驻波比(VSWR)〈1.5半径的范围内。例1:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变小、史密斯曲线10的中间折点101的位置往上移动，或者频率会上升、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置往上移动，则修整该辐射金属面20的右下边201及左上边201a。例2:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变小、史密斯曲线10的中间折点101的位置往下移动，或者频率会上升、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置往下移动，则修整该辐射金属面20的右上边202及左下边202a。例3:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置往上移动，或者频率会上升、频宽变小、史密斯曲线10的中间折点101的位置往上移动，则修整该辐射金属面20的左侧上边203及右侧下边203a。例4:当检测的陶瓷平板天线时， 频率会上升、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置往下移动，或者频率会上升、频宽变小、史密斯曲线10的中间折点101的位置往下移动，则修整该辐射金属面20的右侧上边204及左侧下边204a。例5:当检测的陶瓷平板天线时，频率会下降、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置不动，或者频率会下降、频宽变小、史密斯曲线10的中间折点101的位置不动，则修整该辐射金属面20的右侧上边204与右侧下边203a之间的缺口 205的底边205a，及左侧上边203与左侧下边204a之间的缺口 206的底边206a。例6:当检测的陶瓷平板天线时，频率会下降、频宽变小、史密斯曲线10的中间折点101的位置不动，或者频率会下降、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置不动，则修整该辐射金属面20的左上边201与右上边202之间的缺口 207的底边207a，及左下边202a与右下边201之间的缺口 208的底边208a。例7:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置往下移动，或者频率会上升、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置往上移动，则修整该辐射金属面20的左上边201a与左侧上边203之间所形成的角边209，及右侧下边203a与右下边201之间所形成的角边209a。例8:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置往上移动，或者频率会上升、频宽变大、史密斯曲线10的中间折点101的位置往下移动，则修整该辐射金属面20的右上边202与右侧上边204之间所形成的角边210，及左侧下边204a与左下边202a之间所形成的角边210a。请参阅图4、图5，本发 明的另一史密斯曲线示意图及另一陶瓷平板天线的辐射金属面的正视示意图。如图所示:在检测装置检测及修整陶瓷平板天线的电器特性时，先输入陶瓷平板天线的电气特性的参数值于该检测装置I中，于检测装置I的显示单元14上将显示出史密斯曲线30，该陶瓷平板天线的电气特性的史密斯曲线30中间折点301的位置，必须位于该设定参数值所产生的史密斯曲线30中间折点301在设定的格区间内，以显示单元14显示视窗格的上下左右的三分之一的格区间内为最佳及曲线的折点中心限制在1〈电压驻波比(VSWR) <无线大，例如电压驻波比(VSWR)〈1.5半径的范围内。例1:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变大、史密斯曲线30的中间折点301的位置往下移动，则修整该辐射金属面40的右侧上边401及左侧下边401a。例2:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变小、史密斯曲线30的中间折点301的位置往下移动，则修整该辐射金属面40的右侧下边402及左侧上边402a。例3:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变小、史密斯曲线30的中间折点301的位置往上移动，则修整该辐射金属面40的左上边403及右下边403a。例4:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变大、史密斯曲线30的中间折点301的位置往上移动，则修整该辐射金属面40的右上边404及左下边404a。例5:当检测的陶瓷平板天线时，频率会下降、频宽变小、史密斯曲线30的中间折点301的位置往下移动，则修整该辐射金属面40的右上边404与左上边403之间的缺口405的底边405a，及右下边403a与左下边404a之间的缺口 406的底边406a。例6:当检测的陶瓷平板天线时，频率会下降、频宽变大、史密斯曲线30的中间折点301的位置往上移动，则修整该辐射金属面40的左侧上边402a与左侧下边401a之间的缺口 407的底边407a，及右侧上边401与左侧下边402之间的缺口 408的底边408a。
例7:当检测的陶瓷平板天线时，频率会上升、频宽变小、史密斯曲线30的中间折点301的位置不动，则修整该辐射金属面40的右侧下边402与右下边403a之间所形成的角边409。请参阅图6,本发明的自动检测修正调整系统示意图。如图所示:本发明的自动检测修正调整系统，包括有:一检测装置1、一无线频率(RF)元件测试工具2、一修整装置3及
一影像读取装置4。该检测装置1，为计算机装置，其上至少包括有:一微处理单元11、一储存单元12、一操作界面13及一显示单元14。该微处理单元11载入有检测陶瓷平板天线5电气特性的固件程序。该储存单元12是与该微处理单元11电性连接，在操作界面13输入该陶瓷平板天线5的电气特性的参数值后，由该微处理单元11储存于该储存单元12中。该操作界面13是与该微处理单元11电性连接，用以输入各项操作指令及参数值。该显示单元14是与该微处理单元11电性连接，以显示微处理单元11所检测结果的史密斯曲线图与s参数曲线图。在本附图中，该储存单元12为记忆体。该无线电频率(RF, Radio Frequency)元件测试工具2,为无线电频率同轴电缆线接头，是与该检测装置I电性连接，在陶瓷平板天线5电性连接于该无线电频率元件测试工具2上，该无线电频率元件测试工具2将陶瓷平板天线5的电气特性传至于该检测装置I中，由该检测装置I进行读取及判断。该修整装置3，是与该检测装置I电性连接，在该检测装置I检测该陶瓷平板天线5的电气特性需要修正时，该检测装置I输出信号驱动该修整装置3对该陶瓷平板天线5的辐射金属面20(40)进行修正。在本附图中，该修整装置3为激光雕刻机。该影像读取装置4，是与该检测装置I电性连接，用以读取修整装置3该陶瓷平板天线5的辐射金属面20 (40)修正位置，使该修整装置3能精确位移置该陶瓷平板天线5的辐射金属面20(40)上，对该辐射金属面20(40)进行修正。在本附图中，该影像读取装置4为CCD或CMOS镜头。在检测时，先通过操作介面13输入该陶瓷平板天线5的电气特性的参数值，在参数值输入后，将制作完成的陶瓷平板天线5置放该无线电频率元件测试工具2，使该陶瓷平板天线5的信号馈入端51与该无线电频率元件测试工具2电性连接后，并将该陶瓷平板天线5的电器特性输入于该检测装置I中，由检测装置I判断该陶瓷平板天线5的电性特性符合设定的参数值时，可直接将该陶瓷平板天线5由无线电频率元件测试工具2上取下。若是该陶瓷平板天线5的电性特性不符合设定的参数值时，该检测装置I将驱动修整装置3移动到该陶瓷平板天线5的辐射金属面20(40)上，该修整装置3再根据检测装置I检测结果(如图2、图3或图4、图5的范例所示)对该陶瓷平板天线5的辐射金属面20 (40)予以修正位置进行修整。在修正的过程中，由该影像读取装置4读取修整装置3该陶瓷平板天线5的辐射金属面20(40)修正位置， 使该修整装置3能精确位移置该陶瓷平板天线5的辐射金属面20(40)上，对该辐射金属面20(40)进行修整。在该陶瓷平板天线5的辐射金属面20 (40)修整后，该检测装置I判断修整后的该陶瓷平板天线5的辐射金属面20(40)的电气特性符合设定的参数值时，即完成该陶瓷平板天线5的检测。
利用上述的自动化检测及修正该陶瓷平板天线5的方法及其系统，使该陶瓷平板天线5在制作生产生还加容易简单，同时可以减少人力，降低制作成本，提高升产量，使制作完成的该陶瓷平板天线5的电性特性还加的精确。当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据 本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种平板天线的自动检测修正调整方法，是对具有辐射金面的陶瓷平板天线进行自动检测修正调整，其特征在于，该方法包括: a)、备有一检测装置，该检测装置电连接有一无线电频率工具，且于检测装置设定陶瓷平板天线的电气特性的参数值； b)、将该陶瓷平板天线置放于无线电频率元件测试工具上； c)、由检测装置读取该陶瓷平板天线的电气特性并判断与该设定的参数值是否相同； d)、判断该陶瓷平板天线的电气特性与设定的参数值不相同，该检测装置驱动修整装置，对该陶瓷平板天线的辐射金属片进行修正调整。
2.根据权利要求1所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，步骤a的该陶瓷平板天线的电气特性的参数值为中心频率、频宽及反射损失。
3.根据权利要求2所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，该检测装置还具有一微处理单元、一储存单元、一操作界面及一显示单元；该显示单元显示该陶瓷平板天线的电气特性的史密斯曲线与s参数曲线。
4.根据权利要求3所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，该陶瓷平板天线的电气特性的史密斯曲线中间折点的位置，位于该设定参数值所产生的史密斯曲线中间折点在设定的格区间内及曲线的折点中心限制在1〈电压驻波比〈无线大。
5.根据权利要求4所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，在显示单元的显示视窗格的上下左右的三分之一的格区间内。
6.根据权利要求5所述 的自动检测修正调整方法，其特征在于，步骤b的无线电频率元件测试工具为无线电频率同轴电缆线接头，是与该陶瓷平板天线的一信号馈入端电性连接。
7.根据权利要求6所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，在步骤c中检测装置所读取的陶瓷平板天线的电气特性判断与设定的参数值相同，即结束检测。
8.根据权利要求7所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，在步骤c中判断检测的陶瓷平板天线的电气特性与设定的参数值不相同时，该检测装置显示该陶瓷平板天线需修整的辐射金属面的影像及位置。
9.根据权利要求8所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，在步骤d中的修整装置为激光雕刻机。
10.根据权利要求9所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，在步骤d后还具有步骤e由影像读取装置读取修整装置在修正该辐射金属面的位置后，再由该检测装置判断修正位置是否正确，若位置不正确，立刻校正修正位置，使修整装置依据检测装置所输出的信号精确对该辐射金属面的修正位置进行修整处理。
11.根据权利要求10所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，影像读取装置为CXD或CMOS镜头。
12.根据权利要求11所述的自动检测修正调整方法，其特征在于，在该辐射金属面修整后，该检测装置检测陶瓷平板天线的电气特性符合所设定的参数值时，即结束检测及修整该陶瓷平板天线的动作。
13.一种平板天线的自动检测修正调整系统，是对具有辐射金面的陶瓷平板天线进行自动检测修正调整，其特征在于，该系统包括:一检测装置，其上具有一置放陶瓷平板天线的无线电频率元件测试工具，该检测装置设定有一比对的参数值； 一修整装置，是与该检测装置电性连接； 其中，在该陶瓷平板天线置放于无线电频率元件测试工具后，由该检测装置读取该平板天线的电气特性与参数值比对不相同，该检测装置输出信号驱动该修整装置对该陶瓷平板天线的辐射金属面进行修整处理。
14.根据权利要求13所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该检测装置至少包括有:一微处理单元、一储存单元、一操作界面及一显示单元。
15.根据权利要求14所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该微处理单元载入有检测该陶瓷平板天线电气特性的固件程序。
16.根据权利要求15所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该储存单元是与该微处理单元电性连接，用以储存该陶瓷平板天线的电气特性的参数值。
17.根据权利要求16所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该操作界面是与该微处理单元电性连接，用以输入各项操作指令及参数值。
18.根据权利要求17所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该显示单元是与该微处理单元电性连接，以显示该微处理单元所检测结果的史密斯曲线与s参数曲线。
19.根据权利要求18所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该陶瓷平板天线的电气特性的史密斯曲线中间折点的位置，必须位于该设定参数值所产生的史密斯曲线中间折点在在设定的格区间内及曲线的折点中心限制在1〈电压驻波比〈无线大。
20.根据权利要求19所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，在显示单元的显示视窗格的上下左右的三分之一的格区间内。
21.根据权利要求20所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该无线电频率元件测试工具为无线电频率同轴电缆线接头，该陶瓷平板天线的一信号馈入端电性连接于该无线电频率元件测试工具上。
22.根据权利要求21所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该陶瓷平板天线的电气特性的参数值为中心频率、频宽及反射损失。
23.根据权利要求22所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该修整装置为激光雕刻机。
24.根据权利要求23所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该检测装置所读取的陶瓷平板天线的电气特性与设定的参数值相同，结束检测。
25.根据权利要求24所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，还具有一影像读取装置，该影像读取装置是与该检测装置电性连接，用以读取修整装置该陶瓷平板天线的辐射金属面修正位置，使该修整装置能精确对该陶瓷平板天线的辐射金属面进行修整。
26.根据权利要求25所述的自动检测修正调整系统，其特征在于，该影像读取装置为CCD或CMOS镜头。
全文摘要
一种平板天线的自动检测修正调整方法及其系统，包括备有一检测装置，该检测装置电连接有一无线电频率(RF)元件测试工具，且于检测装置设定陶瓷平板天线的电气特性的参数值。将该陶瓷平板天线置放于无线电频率元件测试工具上。接着，由检测装置读取该陶瓷平板天线的电气特性并判断与该设定的参数值是否相同，在判断该陶瓷平板天线的电气特性与设定的参数值不相同。最后，由该检测装置驱动修整装置，对该陶瓷平板天线的辐射金属片进行修正调整。
文档编号H01Q1/38GK103219586SQ20121034820
公开日2013年7月24日 申请日期2012年9月18日 优先权日2012年1月18日
发明者邓岳生, 杨才毅, 陈世伟, 陈福盛 申请人:太盟光电科技股份有限公司