专利名称：一种快速测试转接头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及通信领域，尤其涉及一种快速测试转接头。
背景技术：
目前现有的产品中测试接头与对公接头是两个分开的产品，在测试过程中会有较大程度的衰减，影响测试的准确性。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是针对以上弊端提供一种将测试接头与对公接头整合成一体的快速测试转接头。为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是:一种快速测试转接头，由测试接头外壳、对公接头外壳、罗套、绝缘介质、内导体组成，其中，所述的测试接头外壳与对公接头外壳通过罗套连接成一体。上述一种快速测试转接头，其中，所述的罗套一端设有一圈突出的帽沿用于固定测试接头外壳，另一端压进对公接头外壳中，测试接头与对公接头即形成了一个整体，又可相互旋转，减少了磨损，增加了灵活性。上述 一种快速测试转接头，其中，所述的对公接头外壳延外周轴向均匀设有若干纵向槽，增加了弹性和使用寿命，并能够适用于各种不同规格的产品，节约了成本。上述一种快速测试转接头，其中，所述的对公接头外壳延外周设有一未封口的圆形固定环，增强了弹性和回弹功能，增加了使用寿命。本实用新型的有益效果为:1.测试接头外壳与对公接头外壳通过罗套连接成一体，降低了成本，减少了测试中的衰减。2.测试接头与对公接头即形成了一个整体，又可相互旋转，减少了磨损，增加了灵活性。3.增加了弹性和使用寿命，并能够适用于各种不同规格的产品，节约了成本，增加了使用寿命。
图1为本实用新型的主视图图2为本实用新型的剖视图
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步说明。如图2所示，一种快速测试转接头，由测试接头外壳1、对公接头外壳2、罗套3、绝缘介质4、内导体5组成，其中，所述的测试接头外壳I与对公接头外壳2通过罗套3连接成一体。罗套3 —端设有一圈突出的帽沿6用于固定测试接头外壳1，另一端压进对公接头外壳2中，测试接头I与对公接头2即形成了一个整体，又可相互旋转，减少了磨损，增加了灵活性。如图1所示，对公接头外壳I延外周纵向均匀设有若干纵向槽7，设有一未封口的圆形固定环8，增加了弹性和使用寿命，并能够适用于各种不同规格的产品，节约了成本，增加了使用寿 命。
权利要求1.一种快速测试转接头，由测试接头外壳、对公接头外壳、罗套、绝缘介质、内导体组成，其特征为，所述的测试接头外壳与对公接头外壳通过罗套连接成一体。
2.如权利要求1所述的一种快速测试转接头，其特征为，所述的罗套一端设有一圈突出的帽沿用于固定测试接头外壳，另一端压进对公接头外壳中。
3.如权利要求1所述的一种快速测试转接头，其特征为，所述的对公接头外壳延外周轴向均匀设有若干纵向槽。
4.如权利要求1所述的一种快速测试转接头，其特征为，所述的对公接头外壳延外周设有一未封 口的圆形固定环
专利摘要本实用新型涉及一种将测试接头与对公接头整合成一体的快速测试转接头，由测试接头外壳、对公接头外壳、罗套、绝缘介质、内导体组成，其中，所述的测试接头外壳与对公接头外壳通过罗套连接成一体，降低了成本，减少了测试中的衰减。
文档编号H01R13/512GK203135078SQ20132002400
公开日2013年8月14日 申请日期2013年1月17日 优先权日2013年1月17日
发明者李金林, 李龙 申请人:镇江市丹徒区佳兴电子有限公司