pct国内申请，说明书已公开。
技术特征：技术总结本发明实施例公开了一种测量天线姿态的方法和装置，涉及天线姿态测量技术领域，用以解决现有技术中，因需要在生产天线的过程中为每根天线加装测量设备，从而导致的生产天线的过程较复杂的问题。本发明实施例提供的方法包括：获取电子设备从I个视点对应采集的I个图像；其中，每个图像包含待测量天线子图像，I≥2，I为整数；获取该I个图像中的每个图像的待测量集合中的各点在电子设备坐标系下的二维坐标；其中，待测量集合为待测量天线子图像的至少两个点构成的集合；获取该各点在天线坐标系下的三维坐标；根据该各点在电子设备坐标系下的二维坐标与该各点在天线坐标系下的三维坐标，确定待测量天线的姿态信息。
技术研发人员：李明凡;李颖哲;耿卫东
受保护的技术使用者：华为技术有限公司
技术研发日：2015.05.22
技术公布日：2018.01.02