本发明涉及摄像头领域,尤其涉及一种摄像头芯片清理检测装置。
背景技术:
目前在制造摄像头时,会使用芯片对摄像头进行控制,而目前在制造芯片时,需要对芯片表面进行清理,并检测芯片上的元件的位置,以保证芯片质量良好,目前对摄像头芯片进行清理并检测元件位置,通常是人工进行,但是人工进行工作效率不高且容易漏检,导致芯片表面污染进入下一道工序,影响芯片的使用寿命。因此,解决摄像头芯片表面清理及元件位置检测工作效率不足的问题就显得尤为重要了。
技术实现要素:
针对上述现有技术存在的问题,本发明的目的是提供一种摄像头芯片清理检测装置,通过放置台对芯片进行放置,并且由检测头对芯片元件位置进行检测,并通过清理装置上的吸尘装置对芯片进行清理,避免人工清理带来的弊端,解决了摄像头芯片表面清理及元件位置检测工作效率不足的问题。
本发明提供一种摄像头芯片清理检测装置,包括放置台,所述放置台上设置有位置固定装置,所述放置台上方设置有检测板,所述检测板上设置有检测头,通过检测头对芯片元件位置进行检测,所述放置台上一侧设置有清理装置,所述清理装置上设置有吸尘装置,所述清理装置一端设置有位移装置,通过位移装置将清理装置移动至放置台上方。
进一步改进在于:所述清理装置上设置有卡置装置,通过卡置装置对放置台上的芯片位置进行卡置,进而固定清理装置的位置。
进一步改进在于:所述放置台上还设置有热风发生装置,所述热风发生装置下端设置有转向装置。
进一步改进在于:所述检测板上设置有自动调整装置,通过自动调整装置对芯片元件位置进行调整。
本发明的有益效果是:通过放置台对芯片进行放置,并且由检测头对芯片元件位置进行检测,并通过清理装置上的吸尘装置对芯片进行清理,避免人工清理带来的弊端,并且设置热风发生装置对芯片进行辅助清理,提高工作效率,避免漏检错检。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
其中:1-放置台,2-位置固定装置,3-检测板,4-检测头,5-清理装置,6-吸尘装置,7-位移装置,8-卡置装置,9-热风发生装置,10-转向装置,11-自动调整装置。
具体实施方式
为了加深对本发明的理解,下面将结合实施例对本发明作进一步详述,该实施例仅用于解释本发明,并不构成对本发明保护范围的限定。
如图1所示,本实施例提供了一种摄像头芯片清理检测装置,包括放置台1,所述放置台1上设置有位置固定装置2,所述放置台1上方设置有检测板3,所述检测板3上设置有检测头4,通过检测头4对芯片元件位置进行检测,所述放置台1上一侧设置有清理装置5,所述清理装置5上设置有吸尘装置6,所述清理装置5一端设置有位移装置7,通过位移装置7将清理装置5移动至放置台1上方。所述清理装置5上设置有卡置装置8,通过卡置装置8对放置台1上的芯片位置进行卡置,进而固定清理装置5的位置。所述放置台1上还设置有热风发生装置9,所述热风发生装置9下端设置有转向装置10。所述检测板3上设置有自动调整装置11,通过自动调整装置11对芯片元件位置进行调整。通过放置台1对芯片进行放置,并且由检测头4对芯片元件位置进行检测,并通过清理装置5上的吸尘装置6对芯片进行清理,避免人工清理带来的弊端,并且设置热风发生装置9对芯片进行辅助清理,提高工作效率,避免漏检错检。