本实用新型应用于一种用于离子迁移谱热解析进样的样品存放装置组件，与热解析进样器配合使用，适用于固体或液体样品的进样分析。
背景技术：
离子迁移谱(Ion Mobility Spectrometry，IMS)技术20世纪70年代出现的一种分离检测技术，与传统的质谱、色谱仪器相比，具有结构简单，灵敏度高，分析速度快，结果可靠的特点。
热解析进样器是用于多功能离子迁移谱快速检测仪中的必备部件，它的性能好坏，直接决定了进样效率和离子迁移谱的整体性能。其加热都是通过加热棒温控加热，加热温度属于恒温控制模式，加热时间依据加热棒功率不同，目前使用时间范围5-30min。加热比较慢，而且对于仪器而言能耗比较高。
用于热解析进样器的进样装置目前没有商品化仪器，各研究单位都是根据不同仪器的使用要求，进行相应设计改进进样装置。对液体样品进行分析，例如已有专利发明了一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片(专利号：ZL201320577522.9)。本实用新型中的装置是专门配用于像滤纸这样的不易手持的小进样片设计的。
技术实现要素：
一种用于热解析进样的进样装置，包括一圆形平板，于圆形平板上表面开设有一用于放置”o”圈的环形凹槽，于环形凹槽内、圆形平板上表面开设有一用于平铺样品的第一凹槽；于圆形平板下表面中部设有一圆形凸起，于圆形凸起下表面开设有一用于与电机装置组件连接的第二凹槽。
圆形凸起与圆形平板同轴。圆形平板直径大于圆形凸起直径；直径之差大于2mm。圆形平板下表面、圆形凸起侧表面均为光滑面，其为固定用面。环形凹槽内和第一凹槽均为圆形，且它们均与圆形平板同轴。
圆形平板与圆形凸起为一体结构，材料为聚四氟乙烯材料或是皮克材料,圆形平板与圆形凸起同轴；圆形平板高度1-3mm，圆形凸起高度2-5mm；第一凹槽腔体盛放待测样品，构成热解析腔体一部分；环形凹槽内放置“o”圈，用于保证热解析腔体密封。
第一凹槽设计与热源进样器位置匹配，深度为0.5-2mm、直径0.5-1cm。第一凹槽内平铺一圆形薄片，材料为滤纸、铝或不锈钢，用于集中热源，使待分析目标物迅速热解析。
第二凹槽用于与电机组件相连接，完成进样装置密封动作。
附图说明
下面结合附图进一步详细描述。
图1(1)为一种用于热解析进样的进样装置纵向刨面图；
图1(2)为一种用于热解析进样的进样装置上圆台内凹槽底部平铺薄片；
图1(3)为一种用于热解析进样的进样装置环形凹槽内“o”圈；
图1(4)为一种用于热解析进样的进样装置第二凹槽与进样器电机相连的组件；
图中，1为第一凹槽；2为环形凹槽；3为第二凹槽。
具体实施方式
一种用于热解析进样的进样装置，包括一圆形平板，于圆形平板上表面开设有一用于放置”o”圈的环形凹槽2，于环形凹槽内、圆形平板上表面开设有一用于平铺样品的第一凹槽1，圆形平板与环形凹槽和第一凹槽均同轴，第一凹槽1直径20mm，环形凹槽2与第一凹槽1直径之差为4mm，环形凹槽2与第一凹槽1深度均为1mm；
于圆形平板下表面中部设有一圆形凸起，圆形凸起与圆形平板同轴。于圆形凸起下表面开设有一用于与电机装置组件连接的第二凹槽(3)。第二凹槽深度2mm，直径16mm。且电机相连的组件上平面也设计为是圆行平板，刚好尺寸可以内嵌于第二凹槽内。
圆形平板下表面、圆形凸起侧表面均为光滑面，其为固定用面。
实施例1：
圆形平板高度3mm，直径25mm；内设第一凹槽1，直径20mm；第一凹槽腔体盛放待测样品，构成热解析腔体一部分；第一凹槽与圆形平板同轴，内平铺一圆形薄片，材料为滤纸、铝或不锈钢4。凹槽底部材料可以有效集中热源，使得目标成分集中热解析，提高采样效率。
实施例2：
圆形平板高度3mm，直径25mm；，于圆形平板上表面开设有一用于放置”o”圈的环形凹槽2。环形凹槽2与第一凹槽1间隔1mm，环形凹槽2与第一凹槽1深度均为1mm；环形凹槽2内放置“o”圈5，用于保证热解析腔体密封，提高采样效率，进而提高检测灵敏度。
实施例3：
于圆形平板下表面中部设有一圆形凸起，圆形平板与圆形凸起为一体结构，材料为聚四氟乙烯材料或是皮克材料；圆形平板高度3mm，圆形凸起高度4mm；圆形凸起内设第二凹槽3，第二凹槽用于与电机组件相连接，完成进样装置密封动作。第二凹槽深度2mm，直径16mm。且电机相连的组件上平面是圆台6，刚好尺寸直径为15mm可以内嵌于第二凹槽。电机推动圆台组件，将作用力传到到进样装置第二凹槽，进而使第一凹槽内样品收到一个“推动”作用力，可以改善解析效率，提高检测灵敏度。