本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种封框胶、显示面板、显示装置及显示面板的检测方法。
背景技术：
目前的显示类型主要包括液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)、有机发光二极管显示(Organic Light-Emitting Diode，OLED)、等离子显示(Plasma Display Panel，PDP)和电子墨水显示等多种。其中，OLED显示器以其轻薄、主动发光、快响应速度、广视角、色彩丰富及高亮度、低功耗、耐高低温等众多优点而被业界公认为是继LCD显示器之后的第三代显示技术，可以广泛用于智能手机、平板电脑、电视等终端产品。
OLED显示器常使用玻璃胶(Frit胶)和UV胶进行封装，但是在存储过程中或高温高湿信赖性测试中，OLED显示器会出现封装漏汽的现象。而且，Frit胶微漏汽时，肉眼和显微镜无法观察，进而在对不良进行解析时，较为困难。
技术实现要素：
本发明提供一种封框胶、显示面板、显示装置及显示面板的检测方法，以在对显示面板存储或高温高湿信赖性测试时，可以实时发现漏汽现象，容易地检测出漏水汽的位置，简化环境信赖性不良的解析流程。
本发明实施例提供一种封框胶，用于封装显示面板，所述封框胶中混合有发光体，其中，所述发光体在受预设光照射时发光，而与水汽接触的所述发光体在受所述预设光照射时不发光。
可选的，所述发光体为荧光共轭聚合物，所述荧光共轭聚合物在受紫外光照射时发光，而与水汽接触的所述荧光共轭聚合物在受所述紫外光照射时不发光。
可选的，所述荧光共轭聚合物的材质包括：聚苯撑乙炔撑、聚苯撑乙烯撑或聚噻吩。
可选的，所述发光体在所述封框胶中均匀分布。
可选的，所述封框胶为玻璃胶。
可选的，所述发光体为脂溶性荧光共轭聚合物。
本发明实施例还提供一种显示面板，包括基板以及位于所述基板之上的封装盖板，所述显示面板还包括如本发明实施例提供的所述封框胶，其中，所述封框胶位于所述显示面板的非显示区，所述基板与所述封装盖板通过所述封框胶密封。
可选的，所述显示面板为有机发光显示面板。
本发明实施例还提供一种显示装置，包括如本发明实施例提供的所述的显示面板。
本发明实施例还提供一种检测如本发明实施例所述的显示面板的检测方法，所述检测方法包括：
提供所述显示面板；
采用预设光对所述显示面板的所述封框胶照射，以检测所述显示面板发生漏水汽的位置。
本发明实施例有益效果如下：本发明实施例提供的封框胶，其混合有发光体，而该发光体在受预设光照射时发光，而与水汽接触的所述发光体在受所述预设光照射时不发光，进而在将该封框胶封装显示面板时，由于发光体在未受水汽侵蚀时会进行发光，而受水汽侵蚀后的发光体在受预设光照射时不进行发光，则对于没有发生漏水汽的位置，发光体在该位置会进行发光，而对于有发生漏水汽的位置，发光体在该位置不进行发光，进而可以根据不发光的位置确定被水汽侵蚀的位置，实现在对显示面板存储或高温高湿信赖性测试时，实时发现漏水汽现象，很容易地将漏水汽位置检测出来，简化了环境信赖性不良的解析流程。
附图说明
图1为本发明实施例提供的封框胶未混合发光体受光照射时的示意图；
图2为本发明实施例提供的封框胶混合有发光体但未受水汽侵蚀时受光照射时的示意图；
图3为本发明实施例提供的封框胶混合有发光体且受水汽侵蚀时受光照射时的示意图；
图4为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法流程的示意图。
具体实施方式
为了使得本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
为了保持本公开实施例的以下说明清楚且简明，本公开省略了已知功能和已知部件的详细说明。
本发明实施例提供一种封框胶，用于封装显示面板，封框胶中混合有发光体，发光体在受预设光照射时发光，而与水汽接触的发光体在受预设光照射时不发光。
本发明实施例提供的封框胶，其混合有发光体，而该发光体在受预设光照射时发光，而与水汽接触的所述发光体在受所述预设光照射时不发光，进而在将该封框胶封装显示面板时，由于发光体在未受水汽侵蚀时会进行发光，而受水汽侵蚀后的发光体在受预设光照射时不进行发光，则对于没有发生漏水汽的位置，发光体在该位置会进行发光，而对于有发生漏水汽的位置，发光体在该位置不进行发光，进而可以根据不发光的位置确定被水汽侵蚀的位置，实现在对显示面板存储或高温高湿信赖性测试时，实时发现漏水汽现象，很容易地将漏水汽位置检测出来，简化了环境信赖性不良的解析流程。
在具体实施时，发光体可以为荧光共轭聚合物，荧光共轭聚合物在受紫外光照射时发光，而与水汽接触的荧光共轭聚合物在受紫外光照射时不发光。本发明实施例中，发光体为荧光共轭聚合物时，该材料化学性质稳定，热稳定性好。并且如果出现水汽侵蚀，水汽会导致共轭聚合物发生聚集，荧光共轭聚合物的自聚集导致激子跃迁受阻，导致荧光材料发生荧光淬灭。因此，可以借助紫外灯，很容易判断出漏水点，能够实时发现漏汽气现象。
可选的，荧光共轭聚合物的材质具体包括：聚苯撑乙炔撑、聚苯撑乙烯撑或聚噻吩。
在具体实施时，发光体在封框胶中均匀分布。本发明实施例中，发光体在封框胶中均匀分布，可以更好地实现对显示面板的各个位置的封框胶是否发生漏水汽进行检测，避免由于发光体分布的不均匀，导致封框胶发生漏水汽时而无法检测出来的缺陷。
在具体实施时，本发明实施例提供的封框胶为玻璃胶。在具体实施时，由于在具体封装时，主要依赖玻璃胶(Frit胶)进行封装，但该种Frit胶发生漏水汽时，又难于通过肉眼和显微镜观察发现，因此，在该种Frit胶中混合入发光体时，检测发生漏水汽位置点的效果较为明显。
在具体实施时，发光体为脂溶性荧光共轭聚合物。本发明实施例中，发光体为脂溶性荧光共轭聚合物，由于脂溶性的荧光共轭聚合物(如聚苯撑乙炔撑，聚苯撑乙烯撑，聚噻吩等)与Frit胶的溶剂具有很好的溶解性，可以实现均匀分散在Frit胶中。
以下以封框胶为Frit胶，Frit胶掺入的发光体为脂溶性的荧光共轭聚合物为例，结合图1-图3对本发明实施例提供的进行漏水汽检测时的检测原理进行进一步说明，其中，图1-图3为显示面板设置封框胶的区域的部分俯视结构示意图。
参见图1所示，在显示面板封框胶区的Frit胶1未掺入荧光共轭聚合物时，采用紫外灯2照射时，显示面板的Frit胶1在照射的区域S并不发光。
参见图2所示，在显示面板封框胶区的Frit胶1掺入荧光共轭聚合物且Frit胶1未被水汽侵入时，采用紫外灯2照射时，显示面板Frit胶1在照射的区域S均发光。
参见图3，在显示面板封框胶区的Frit胶1掺入荧光共轭聚合物且Frit胶1部分位置被水汽侵入时，采用紫外灯2照射时，显示面板的Frit胶1在照射的区域S的部分位置不发光(如图中3中的区域A)，而其余位置均发光，则可以确定不发光的位置A即为被水汽侵入的区域。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种显示面板，参见图4所示，显示面板包括基板3以及位于基板3之上的封装盖板4，显示面板还包括如本发明实施例提供的封框胶，封框胶例如为Frit胶1，其中，Frit胶1位于显示面板的非显示区，基板3与封装盖板4通过封框胶(即Frit胶1)密封。具体的，分布在显示面板中的封框胶为包围显示区的环状，以将基板与封装盖板在显示区外围的非显示区进行在边框处的上下封接。
在具体实施时，显示面板为有机发光显示面板。具体的，可以为有源矩阵有机发光二极体(Active-matrix organic light emitting diode，AMOLED)。
本发明实施例还提供一种显示装置，包括如本发明实施例提供的显示面板。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种检测如本发明实施例的显示面板的检测方法，参见图5所示，检测方法包括：
步骤S101、提供一显示面板；
步骤S10,2、采用预设光对显示面板的封框胶照射，以检测显示面板发生漏水汽的位置点。
具体的，封框胶可以为混入聚苯撑乙炔撑、聚苯撑乙烯撑或聚噻吩的Frit胶，则关于步骤S102、采用预设光对显示面板的封框胶照射，以检测显示面板发生漏水汽的位置点，具体可以包括：采用紫外光对显示面板的封框胶照射，以检测显示面板发生漏水汽的位置点。
本发明实施例有益效果如下：本发明实施例提供的封框胶，其混合有发光体，而该发光体在受预设光照射时发光，而与水汽接触的所述发光体在受所述预设光照射时不发光，进而在将该封框胶封装显示面板时，由于发光体在未受水汽侵蚀时会进行发光，而受水汽侵蚀后的发光体在受预设光照射时不进行发光，则对于没有发生漏水汽的位置，发光体在该位置会进行发光，而对于有发生漏水汽的位置，发光体在该位置不进行发光，进而可以根据不发光的位置确定被水汽侵蚀的位置，实现在对显示面板存储或高温高湿信赖性测试时，实时发现漏水汽现象，很容易地将漏水汽位置检测出来，简化了环境信赖性不良的解析流程。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。