技术特征：
技术总结
本发明公开了一种双层带通型频率选择结构的透射率上限预测方法及系统。该方法包括：获取电磁波参数和介质参数；电磁波参数包括入射平面电磁波的频率和真空中波矢量，介质参数包括各层覆盖介质的介电常数和磁导率、各层中间介质的介电常数和磁导率以及各层衬底介质的介电常数和磁导率；根据电磁波参数和介质参数确定波矢法向分量和模导纳；根据波矢法向分量和模导纳生成目标函数；计算目标函数的极小值；根据目标函数的极小值确定双层带通型频率选择结构的透射率上限。采用本发明的方法及系统，具有能够利用双层带通型频率选择结构的透射率上限快速选择介质加载方式，从而确定最容易实现设计性能要求的介质布置形式的优点。
技术研发人员：黄敏杰;刘虎;武哲
受保护的技术使用者：北京航空航天大学
技术研发日：2019.06.14
技术公布日：2019.09.17