1.一种半导体生产用成品检测台，其特征在于：包括底板（1）、平台（2）、升降机构和收纳机构；
所述底板（1）的顶端套接有平台（2）；所述升降机构包括有通槽（9）；所述通槽（9）的内壁套接有内螺纹套筒（12），所述内螺纹套筒（12）的内部螺纹连接有螺纹柱（13），所述螺纹柱（13）的底端套接有摇把（14），所述内螺纹套筒（12）的顶端套接有固定架（11），所述固定架（11）的顶端套接至轴承（10）的两端，所述轴承（10）的内部套接有套柱（8），所述套柱（8）的顶端固接有固定块（7），所述固定块（7）的顶端套接有盛放台（6）；
所述收纳机构包括支柱（3）；所述支柱（3）的顶端套接有盛放板（4），所述盛放板（4）的内部开有若干个卡槽（5）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体生产用成品检测台，其特征在于：所述底板（1）的数量为两个，且两个底板（1）套接至平台（2）的底端，且两个底板（1）的表面结构为长方体，平台（2）为长方体结构。
3.根据权利要求1所述的一种半导体生产用成品检测台，其特征在于：所述通槽（9）贯通平台（2）的上下端面，且通槽（9）的表面结构为倒凸字型结构，且内螺纹套筒（12）的左右端面与通槽（9）的间隙各为为0.5cm。
4.根据权利要求1所述的一种半导体生产用成品检测台，其特征在于：所述支柱（3）的数量为四个，且四个支柱（3）的为圆筒型结构，且四个支柱（3）平放在平台（2）的上端面。
5.根据权利要求1所述的一种半导体生产用成品检测台，其特征在于：所述卡槽（5）包括收废槽（501）、水杯槽（502）、治具槽（503）和钻头槽（504）。
6.根据权利要求1所述的一种半导体生产用成品检测台，其特征在于：所述盛放台（6）的表面结构呈u字型，且盛放台（6）的左右内外壁厚度相同，且盛放台（6）的左右内外壁厚度小于盛放台（6）后内外壁的厚度，且固定架（11）的表面结构呈u字型，左右两侧的固定架（11）的底端套接至螺纹柱（13）的顶端。
7.根据权利要求5所述的一种半导体生产用成品检测台，其特征在于：所述收废槽（501）的表面结构为长方形，所述水杯槽（502）的表面结构为圆形，所述治具槽（503）的数量为若干个，且各个尺寸大小不同，所述钻头槽（504）的表面结构为圆形，且钻头槽（504）的数量为若干个，若干个钻头槽（504）的尺寸相同。