一种低内阻MOS封装结构的制作方法

文档序号:19721420发布日期:2020-01-17 21:00阅读:632来源:国知局
一种低内阻MOS封装结构的制作方法

本实用新型涉及集成电路封装领域,特别涉及一种低内阻mos封装结构。



背景技术:

mos管的英文全称叫mosfet(metaloxidesemiconductorfieldeffecttransistor),即金属氧化物半导体型场效应管,属于场效应晶体管中的绝缘栅型。因此,mos管有时被称为场效应管。在一般电子电路中,mos管通常被用于放大电路或开关电路。

mosfet芯片在制作完成之后,需要给mosfet芯片加上一个外壳,即mos管封装。mosfet芯片的外壳具有支撑、保护、冷却的作用,同时还为芯片提供电气连接和隔离,以便mosfet器件与其它元件构成完整的电路。按照安装在pcb方式来区分,mos管封装主要有两大类:插入式(throughhole)和表面贴装式(surfacemount)。插入式就是mosfet的管脚穿过pcb的安装孔焊接在pcb上。表面贴装则是mosfet的管脚及散热法兰焊接在pcb表面的焊盘上。

当今大多数电子产品设计都要求高能源效率,包括非消费型电子设备在内,例如工业马达驱动器和电信网络基础设施。对于电源而言,同样需要高功率密度和可靠性,同时需要低的功率损耗。设计人员需要设法通过芯片极创新和改进封装来不断提升功率mosfet的导通和开关性能。



技术实现要素:

针对现有技术的不足,本实用新型公开了一种低内阻mos封装结构。

本实用新型所采用的技术方案如下:

一种低内阻mos封装结构,包括塑封体、引线框架和clip铜片;塑封体包裹在引线框架和铜片的外侧;引线框架包括载片岛、载片岛一侧的第一引线脚、第二引线脚、第三引线脚和第四引线脚;引线框架还包括载片岛另一侧的第五引线脚、第六引线脚、第七引线脚和第八引线脚;第一引线脚、第二引线脚和第三引线脚相连;载片岛的另一侧和单排的第五引线脚、第六引线脚、第七引线脚和第八引线脚相连;mos管芯片通过焊料安装在所述载片岛之上;clip铜片通过焊料和mos管芯片的源极相连接,且通过焊料依次和所述第一引线脚、第二引线脚和第三引线脚相连;所述第四引线脚通过键合线或clip铜片夹扣的方式与所述mos管芯片的栅极相连;所述第一引线脚、第二引线脚、第三引线脚和第四引线脚均开设圆孔。

其进一步的技术特征为:所述塑封体为扁平无引脚的矩形。

其进一步的技术特征为:所述clip铜片沿其长度方向的一边开设圆弧形缺口。

其进一步的技术特征为:所述第一引线脚、第二引线脚、第三引线脚、第四引线脚、第五引线脚、第六引线脚、第七引线脚和第八引线脚的厚度均为0.5mm。

其进一步的技术特征为:所述栅极键合线的材质为金线、铜线或铝线。

本实用新型的有益效果如下:

1、clip铜片通过焊料和mos管芯片的源极相连,同时通过焊料和第一引线脚至第三引线脚相连,从而将mos管芯片的源极端引出。

2、第四引线脚可以通过各连接方式与mos管芯片的栅极相连,从而将mos管芯片的栅极端引出。

3、引线框架第一至第四引线脚上开设圆孔,圆孔的开设,有利于增加引线脚和塑封体的结合强度,避免后续产品分离后引线脚从塑封体剥离。

4、本实用新型可以增加clip铜片和mos管芯片的接触面积,从而降低接触电阻;因为clip铜片面积比较大,mos管芯片具备非常大的电流能力;另外,因为mos管芯片的源极和漏极均暴露在塑封体外面,mos管芯片具备优异的散热性能。

附图说明

图1为本实用新型的示意图。

图2为本实用新型的局部剖视图。

图中:1、塑封体;2、引线框架;3、clip铜片;4、载片岛;51、第一引线脚;52、第二引线脚;53、第三引线脚;54、第四引线脚;61、第五引线脚;62、第六引线脚;63、第七引线脚;64、第八引线脚;7、mos管芯片;8、圆孔。

具体实施方式

关本实用新型的前述及其他技术内容、特点与功效,在以下配合参考附图对实施例的详细说明中,将可清楚的呈现。以下实施例中所提到的方向用语,例如:上、下、左、右、前或后等,仅是参考附图的方向。因此,使用的方向用语是用来说明并非用来限制本发明,此外,在全部实施例中,相同的附图标号表示相同的元件。

下面结合附图,说明本实施例的具体实施方式。

图1为本实用新型的示意图,图2为本实用新型的局部剖视图。结合图1和图2,一种低内阻mos封装结构,包括塑封体1、引线框架2和clip铜片3。塑封体1为扁平无引脚的矩形。塑封体1包裹在引线框架2和clip铜片3的外侧。引线框架2包括载片岛4、载片岛4一侧的第一引线脚51、第二引线脚52、第三引线脚53和第四引线脚54。引线框架2还包括载片岛4另一侧的第五引线脚61、第六引线脚62、第七引线脚63和第八引线脚64。第一引线脚51、第二引线脚52和第三引线脚53相连。载片岛4的另一侧和单排的第五引线脚61、第六引线脚62、第七引线脚63和第八引线脚64相连。mos管芯片7通过焊料安装在载片岛4之上。clip铜片3沿其长度方向的一边开设圆弧形缺口。clip铜片3通过焊料和mos管芯片7的源极(source)相连接,且通过焊料依次和第一引线脚51、第二引线脚52和第三引线脚53相连,从而将mos管芯片7的源极端引出。第四引线脚54通过键合线或clip铜片3夹扣的方式与mos管芯片7的栅极(gate)相连,从而将mos管芯片7的栅极端引出。优选地,栅极键合线的材质为金线、铜线或铝线。

第一引线脚51、第二引线脚52、第三引线脚53和第四引线脚54均开设圆孔8,圆孔8有利于增加引线脚和塑封体1的结合强度,避免后续产品分离后引线脚从塑封体1剥离。

优选地,第一引线脚51、第二引线脚52、第三引线脚53、第四引线脚54、第五引线脚61、第六引线脚62、第七引线脚63和第八引线脚64的厚度均为0.5mm。

本实用新型的封装流程如下:引线框架2点焊料→mos管芯片7的上管芯片贴装→mos管芯片7上点焊料→clip铜片3贴装→回流焊接→助焊剂清洗→ic芯片贴装→键合→塑封。

本实用新型可以增加clip铜片3和mos管芯片7的接触面积,从而降低接触电阻;因为clip铜片3的面积比较大,mos管芯片7具备非常大的电流能力;另外,因为mos管芯片7的源极(source)和漏极(drain)均暴露在塑封体1的外面,mos管芯片7具备优异的散热性能。

以上描述是对本实用新型的解释,不是对实用新型的限定,本实用新型所限定的范围参见权利要求,在不违背本实用新型的基本结构的情况下,本实用新型可以作任何形式的修改。

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