正压偏置发光单元、同轴半导体激光器和光模块的制作方法

文档序号:21870607发布日期:2020-08-14 19:45阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种正压偏置发光单元,其特征在于,包括:

衬底(30),其包括顶面及作为地的底面;

第一焊盘,其设置于顶面,其与底面电气连接;

半导体激光二极管(32),其阴极焊接于第一焊盘,其阳极金属焊接面(33)用于与正压偏置电路的正极电气连接。

2.根据权利要求1所述正压偏置发光单元,其特征在于,还包括:

第三焊盘(35),其设置于顶面;

第四焊盘(36),其设置于顶面;

内匹配电路,其设置于顶面,其包括与阳极金属焊接面(33)电气连接的输出端、与第三焊盘(35)电气连接的射频输入端和与第四焊盘(36)电气连接的供电输入端;

其中,供电输入端通过内匹配电路向阳极金属焊接面(33)提供正压。

3.根据权利要求2所述正压偏置发光单元,其特征在于,所述内匹配电路还包括:

第二焊盘(31),其设置于顶面;

第四金丝(44),其设置于顶面,其一端作为所述输出端,其另一端与第二焊盘(31)电气连接;

匹配电阻(34),其设置于顶面,其一端作为所述射频输入端;

匹配电感(37),其设置于顶面,其一端作为所述供电输入端;

其中,匹配电阻(34)、匹配电感(37)的另一端分别与第二焊盘(31)电气连接。

4.根据权利要求3所述正压偏置发光单元,其特征在于,所述匹配电阻(34)的阻值范围为30ω~50ω。

5.根据权利要求3所述正压偏置发光单元,其特征在于,所述匹配电感(37)的感值范围为2nh~10nh。

6.根据权利要求3所述正压偏置发光单元,其特征在于,所述匹配电阻(34)的另一端通过设置于顶面的第一微带线与第二焊盘(31)电气连接,所述匹配电感(37)的另一端通过设置于顶面的第二微带线与第二焊盘(31)电气连接,所述射频输入端通过设置于顶面的第三微带线与第三焊盘(35)电气连接,所述供电输入端通过设置于顶面的第四微带线与第四焊盘(36)电气连接。

7.根据权利要求3所述正压偏置发光单元,其特征在于,所述第四金丝(44)的长度为0.2mm~0.8mm。

8.一种同轴半导体激光器,其特征在于,包括:

金属晶体管座(20);

权利要求2-7任一项所述正压偏置发光单元,其设置于金属晶体管座(20)内,其衬底(30)的底面通过导电银胶焊接于金属晶体管座(20)的壳体;

第一引脚(21),其设置于金属晶体管座(20),其通过第三金丝(43)与第四焊盘(36)电气连接;

第二引脚(22),其设置于金属晶体管座(20),其与金属晶体管座(20)的壳体电气连接;

第三引脚(23),其设置于金属晶体管座(20),其通过第一金丝(40)与第三焊盘(35)电气连接。

9.根据权利要求8所述同轴半导体激光器,其特征在于,还包括:

探测光电二极管(41),其设置于金属晶体管座(20)内,其用于探测半导体激光二极管(32)光功率大小,其阳极与金属晶体管座(20)壳体电气连接;

第四引脚(24),其设置于金属晶体管座(20),其通过第二金丝(42)与探测光电二极管(41)的阴极电气连接。

10.一种光模块,其特征在于,包括:

金属安装结构(56);

印刷电路板(54),其安装于金属安装结构(56)内;

权利要求9所述同轴半导体激光器(50),其固定于金属安装结构(56);

检测电路(55),其安装于印刷电路板(54),其用于对同轴半导体激光器(50)的工作状态进行实时监控并输出所监控到的同轴半导体激光器(50)的工作状态的信号;

射频连接器(53),其固定于金属安装结构(56),其通过印刷电路板(54)上的微带线与同轴半导体激光器(50)的第三引脚(23)电气连接;

控制电路(51),其安装于印刷电路板(54),其用于将同轴半导体激光器(50)的输出光功率实时控制在设定的范围内;

正压电源电路(52),其安装于印刷电路板(54),其用于通过控制电路(51)给同轴半导体激光器(50)的第一引脚(21)提供正偏置电压,其用于给控制电路(51)、检测电路(55)供电。


技术总结
本实用新型公开一种正压偏置发光单元,包括衬底,其包括顶面及作为地的底面;第一焊盘,其设置于顶面,其与底面电气连接;半导体激光二极管,其阴极焊接于第一焊盘,其阳极金属焊接面用于与正压偏置电路的正极电气连接。它采用正压偏置。本实用新型还公开一种采用正压偏置、射频带宽宽的同轴半导体激光器和光模块。

技术研发人员:廖清华;何迟光;吴喜平;付敏;陈建国
受保护的技术使用者:珠海思开达技术有限公司
技术研发日:2020.02.07
技术公布日:2020.08.14
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