半导体集成电路装置的设计方法、半导体集成电路装置以及程序与流程

文档序号:34889100发布日期:2023-07-25 17:18阅读:22来源:国知局
半导体集成电路装置的设计方法、半导体集成电路装置以及程序与流程

本发明涉及半导体集成电路装置的设计方法、半导体集成电路装置以及程序。


背景技术:

1、用于实现半导体集成电路装置的低耗电化的技术之一存在一种电源切断技术。所谓的电源切断技术是将半导体集成电路装置的内部分割为多个电源域(电路块),通过切断未动作的电源域的电源来抑制成为耗电的原因的漏电流的技术。在电源切断技术中,使用将对配置于芯片的电路整体设置的全局电源布线和对电源域的电路设置的局部电源布线的连接/切断进行切换控制的电源开关电路。

2、在专利文献1中,如图9a所示,公开了在半导体集成电路装置901中对进行电源控制的电源域阶梯状配置多个电源开关电路(psw)902的结构。以横向上隔开恒定的间隔,纵向上与邻接的电源开关电路902的列错开位置的方式配置多个电源开关电路902。

3、以图9a所示那样的规则的配置图案配置多个电源开关电路902的情况下,有如下的问题点:若在半导体集成电路装置中配置实现规定的功能的宏(功能电路),则由于宏的配置,电源开关电路有时不能以相同的配置图案来配置。例如,如图9a所示,若在半导体集成电路装置901配置宏903,则配置位置不与宏903重叠的电源开关电路902a能够按照规定的配置图案来配置,但配置位置与宏903重叠的电源开关电路902b无法配置。若电源开关电路902b成为未配置,则该电路区域中的动作时的电源电压变动(ir-drop)变大而不能满足制约(准则),或不能进行对该电路区域的电源供给。这样的电源电压变动(ir-drop)的违反制约(违反准则)等的产生导致在半导体集成电路装置的设计工序中产生返工作业。

4、作为避免该问题点的方法,考虑如图9b所示,在遵循规定的配置图案的情况下使成为未配置的电源开关电路902的配置位置错开来配置电源开关电路902的方法。在图9b中,在由虚线包围的部分中,滑动配置电源开关电路902,使得配置位置不与宏903重叠。这样一来,也许能够抑制动作时的电源电压变动(ir-drop)而满足制约(准则),但在宏903之间的狭窄的区域中设置电源开关电路902和与其对应的全局电源布线911及局部电源布线912。因此,可使用的标准单元区域变少,另外,在标准单元、宏中输入输出的信号布线、通过的信号布线等中可使用的布线资源变少。可使用的标准单元区域、布线资源的降低提高了在半导体集成电路装置的设计工序中产生返工作业的可能性。

5、专利文献1:国际公开第2017/208888号。


技术实现思路

1、本发明的目的在于提供能够进行电源开关电路的适当的配置的半导体集成电路装置的设计方法。

2、在半导体集成电路装置的设计方法的一个方式中,在按照第一规则配置多个电源开关电路的半导体集成电路装置的电路配置区域内配置多个宏,从电路配置区域内的未配置有宏的第一区域检测宽度小于第一值的狭小区域,在所检测到的狭小区域中按照与第一规则不同的第二规则配置电源开关电路,在狭小区域以外的第一区域按照第一规则配置电源开关电路。

3、公开的半导体集成电路装置的设计方法能够适当地配置电源开关电路。



技术特征:

1.一种半导体集成电路装置的设计方法,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的半导体集成电路装置的设计方法,其特征在于,

3.根据权利要求1或2所述的半导体集成电路装置的设计方法,其特征在于,

4.根据权利要求1~3中任一项所述的半导体集成电路装置的设计方法,其特征在于,

5.根据权利要求1~4中任一项所述的半导体集成电路装置的设计方法,其特征在于,

6.根据权利要求1~5中任一项所述的半导体集成电路装置的设计方法,其特征在于,

7.根据权利要求1、2、5以及6中任一项所述的半导体集成电路装置的设计方法,其特征在于,

8.根据权利要求1~5中任一项所述的半导体集成电路装置的设计方法,其特征在于,

9.一种半导体集成电路装置,具有电路配置区域,其特征在于,

10.根据权利要求9所述的半导体集成电路装置,其特征在于,

11.根据权利要求9或10所述的半导体集成电路装置,其特征在于,

12.根据权利要求9或10所述的半导体集成电路装置,其特征在于,

13.一种程序,用于使计算机执行如下处理:

14.根据权利要求13所述的程序,其特征在于,

15.根据权利要求13或14所述的程序,其特征在于,

16.根据权利要求13~15中任一项所述的程序,其特征在于,

17.根据权利要求13~16中任一项所述的程序,其特征在于,

18.根据权利要求13~17中任一项所述的程序,其特征在于,

19.根据权利要求13、14、17以及18中任一项所述的程序,其特征在于,

20.根据权利要求13~17中任一项所述的程序,其特征在于,


技术总结
在半导体集成电路装置的设计方法中,在按照第一规则配置多个电源开关电路的半导体集成电路装置的电路配置区域内配置多个宏,从电路配置区域内的未配置有宏的第一区域检测宽度小于第一值的狭小区域,在所检测出的狭小区域中,按照与第一规则不同的第二规则配置电源开关电路,在狭小区域以外的第一区域中按照第一规则配置电源开关电路。

技术研发人员:高桥贤吾,高桥祐二
受保护的技术使用者:株式会社索思未来
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
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