本发明涉及红外探测器,特别是涉及一种铟柱的制备方法以及一种红外探测器阵列互连电路。
背景技术:
1、碲镉汞是一种制备红外探测器的重要材料,由于其禁带宽度可调,探测光谱范围由短波波段一直延伸到甚长波波段,其具有光电探测效率高等优势,广泛应用于预警探测、红外侦察、成像制导等军事和民事领域。随着红外探测器技术的不断进步,碲镉汞红外探测器阵列规模不断提高,从1k×1k的百万像素扩展到4k×4k的千万像素;而像元中心距由15μm逐渐减小到5μm,这导致小像元大规格的红外探测器阵列的铟柱制备较为困难,制备的铟柱高度均匀性变差,导致读出电路与探测器芯片互连后连通率下降、盲元增加,进而影响红外探测器组件的探测性能,甚至于失效。
2、所以如何提供一种在开窗面积较小时,仍能保持铟柱形貌的制备方法是本领域技术人员急需解决的问题。
技术实现思路
1、本发明的目的是提供一种铟柱的制备方法,可以在开窗面积较小时,仍能保持铟柱的形貌;本发明的另一目的在于提供一种红外探测器阵列互连电路,其铟柱具有良好的形貌。
2、为解决上述技术问题,本发明提供一种铟柱的制备方法,包括:
3、在读出电路表面对应焊盘的位置设置ubm层;
4、在所述读出电路的表面设置光刻胶,并在所述光刻胶中对应所述ubm层的位置形成通孔暴露所述ubm层;
5、在所述通孔内依次设置多层铟层,并在相邻两层铟层之间设置铟合金层,形成复合铟层;
6、剥离所述光刻胶,制成复合铟柱。
7、可选的,在所述通孔内依次设置多层铟层,并在相邻两层铟层之间设置铟合金层,形成复合铟层包括:
8、在所述ubm层表面设置铟合金层;
9、在所述铟合金层表面沿厚度方向依次堆叠设置多层所述铟层,并在相邻两层所述铟层之间设置铟合金层,形成复合铟层。
10、可选的,所述铟合金层中与铟形成合金的材料,与所述ubm层背向所述读出电路一侧表面的材料相同。
11、可选的,所述ubm层为在所述焊盘表面沿厚度方向依次堆叠两层材料所形成的复合ubm层,形成所述ubm层的材料组合为以下任意一项:
12、al/ti、cr/pt、cr/au。
13、可选的,所述铟合金层为以下任意一项合金:
14、铟钛合金、铟铂合金、铟金合金。
15、可选的,所述复合铟层中背向所述读出电路一侧的最外侧膜层,为所述铟层。
16、可选的,一所述铟层厚度的取值范围为1200nm至1500nm,包括端点值;一所述铟合金层厚度的取值范围为80nm至100nm,包括端点值。
17、可选的,在读出电路表面对应焊盘的位置设置ubm层包括:
18、在所述读出电路的表面设置光刻胶并进行曝光显影,暴露出所述读出电路中对应焊盘的位置;
19、基于曝光显影后的光刻胶,在所述焊盘表面设置ubm层;
20、在设置ubm层后,剥离所述光刻胶。
21、可选的,在所述通孔内依次设置多层铟层,并在相邻两层铟层之间设置铟合金层,形成复合铟层包括:
22、采用电子束蒸发设备,在所述通孔内依次沉积多层铟层,并在相邻两层铟层之间沉积铟合金层,形成复合铟层。
23、本发明还提供了一种红外探测器阵列互连电路,包括:
24、读出电路;
25、位于所述读出电路表面对应焊盘位置的ubm层;
26、位于所述ubm层背向所述读出电路一侧表面的复合铟柱,所述复合铟柱包括沿厚度方向依次设置的多层铟层,并在相邻两层铟层之间设置有铟合金层。
27、本发明所提供的一种铟柱的制备方法,包括:在读出电路表面对应焊盘的位置设置ubm层;在读出电路的表面设置光刻胶,并在光刻胶中对应ubm层的位置形成通孔暴露ubm层;在通孔内依次设置多层铟层,并在相邻两层铟层之间设置铟合金层,形成复合铟层;剥离光刻胶,制成复合铟柱。
28、在形成复合铟柱时,通过交替设置铟层以及铟合金层的方式生成,由于铟合金层相比于铟层具有更高的强度,可以作为后续铟层设置的平台,保证各个铟层设置的形貌;同时分多次设置铟层,可以减小单层铟层的体积,避免较大铟颗粒的形成,保证最终形成符合要求的铟柱,使得最终形成的复合铟柱具有良好统一的形貌,进而可以提升红外探测器阵列的性能。
29、本发明还提供了一种红外探测器阵列互连电路,同样具有上述有益效果,在此不再进行赘述。
1.一种铟柱的制备方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述通孔内依次设置多层铟层,并在相邻两层铟层之间设置铟合金层,形成复合铟层包括:
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述铟合金层中与铟形成合金的材料,与所述ubm层背向所述读出电路一侧表面的材料相同。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述ubm层为在所述焊盘表面沿厚度方向依次堆叠两层材料所形成的复合ubm层,形成所述ubm层的材料组合为以下任意一项:
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述铟合金层为以下任意一项合金:
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述复合铟层中背向所述读出电路一侧的最外侧膜层,为所述铟层。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,一所述铟层厚度的取值范围为1200nm至1500nm,包括端点值;一所述铟合金层厚度的取值范围为80nm至100nm,包括端点值。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在读出电路表面对应焊盘的位置设置ubm层包括:
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述通孔内依次设置多层铟层,并在相邻两层铟层之间设置铟合金层,形成复合铟层包括:
10.一种红外探测器阵列互连电路,其特征在于,包括: