本发明涉及半导体碳化硅衬底微管检测，尤其涉及一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置。
背景技术：
1、半导体碳化硅衬底微管在生产加工中，为了保障产品品质，通常要进行检测，检测包括外观检测等等，目前外观检测多采用ccd拍摄，对拍摄的图像进行分析，来判断外观的优劣；但是传统的拍摄方式，仅仅将产品置于相应的位置直接拍摄，虽能够满足一定的使用需求，但是，由于产品尺寸较小，拍摄时，对于光照的要求较高，若光照条件不稳定，则容易出现特征抓取错误等情况，因此，还有待改进。
2、经检索，中国专利申请号为cn201721524415.4的专利，公开了一种用于出料检测的ccd检测装置，包括：ccd检测支架及设于ccd检测支架上的ccd检测部、检测遮光部；ccd检测支架包括检测固定座、ccd检测固定板和第一检测滑板；ccd检测部包括第二检测滑板、ccd固定支架和ccd检测摄像头；检测遮光部包括检测遮光固定板和检测遮光块；检测遮光固定板固定于ccd检测支架，检测遮光块与检测遮光固定板，检测遮光块具有一检测通孔。上述专利中的ccd检测装置存在以下不足：该ccd检测装置，虽能满足一定的使用需求，但是容易受到外界光照的干扰，影响检测结构，还有待改进。
技术实现思路
1、本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置。
2、为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
3、一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，包括：
4、第一安装架，所述第一安装架上通过安装轴安装有传送链组件，第一安装架一侧安装有用于驱动传送链组件的驱动组件；
5、安装框，安装框等距安装于传送链组件上；
6、容纳座，容纳座用于容纳微管，容纳座可拆卸的安装于安装框内；
7、检测机构，检测机构包括安装罩，安装罩的位置与安装框适配，安装罩内部安装有ccd检测组件；
8、吸附机构，吸附机构用于吸附搬运装有微管的容纳座。
9、作为本发明一种优选的：所述安装罩的底部通过环形弹性折皱部连接有压板，压板的位置与安装框适配；压板侧面固定有导向柱，导向柱上下滑动连接于安装罩内壁。
10、作为本发明一种优选的：所述检测机构还包括电动调节缸，电动调节缸的输出端固定于安装罩顶部外壁，所述导向柱外壁滑动连接有限位块，限位块一侧内壁通过螺纹连接有用于固定限位块的顶丝。
11、作为本发明一种优选的：所述安装罩顶部内壁设置有多个安装座，安装座上可拆卸的安装有补光灯。
12、作为本发明一种优选的：所述驱动组件包括：
13、驱动电机，驱动电机通过支架安装于第一安装架上；
14、同步轮传动组件，驱动电机的输出端通过同步轮传动组件与安装轴传动连接。
15、作为本发明一种优选的：所述安装轴上均安装有第一链轮，传送链组件的一侧设置有第二安装架，第二安装架上可转动的安装有联动轮和第二链轮，第一链轮、第二链轮和联动轮通过同一个传动链传动连接；
16、所述联动轮一侧设置有十字状肋条，十字状肋条的拐角处平滑过渡；所述第二安装架上固定有升降导架，升降导架外壁上下滑动连接有联动架，联动架与升降导架之间通过弹簧连接；联动架一端安装有滚轮，滚轮滚动于十字状肋条外壁；电动调节缸固定于联动架上。
17、作为本发明一种优选的：所述联动架内侧固定有两个导电片，升降导架上固定有与导电片相适配的导电条，两个导电片接入驱动电机的控制电路。
18、作为本发明一种优选的：所述容纳座顶部外壁设置有多个滑球。
19、作为本发明一种优选的：所述吸附机构包括：
20、吸附组件，吸附组件包括电动伸缩缸，电动伸缩缸的输出端固定有升降架，升降架底部安装有多个与容纳座相适配的吸盘；
21、平移组件，平移组件用于控制电动伸缩缸平移。
22、作为本发明一种优选的：所述平移组件包括：
23、横向滑轨，横向滑轨设置于传送链组件一侧，横向滑轨一侧安装有平移电机；
24、螺杆，螺杆可转动的安装于横向滑轨内部，螺杆的一端与平移电机的输出端传动连接；
25、平移座，电动伸缩缸固定于平移座内部，平移座滑动连接于横向滑轨内壁，平移座通过螺纹连接于螺杆外壁。
26、本发明的有益效果为：
27、本发明通过设置传送链组件、检测机构等结构，能够利用传送链组件工作，对装有微管的容纳座进行输送，输送至检测机构下方时，能够利用ccd检测组件对微管进行检测，安装罩能够防止外界光照干扰，提升了实用性，保障了检测的可靠性。
28、本发明通过设置压板、环形弹性折皱部等结构，能够进一步提升遮光效果；通过设置限位块等结构，能够根据需求，调整限位块的位置，并通过顶丝固定，从而达到对压板进行限位的目的，提升了实用性。
29、本发明通过设置联动轮、十字状肋条等等，能够基于传送链组件的运行，通过安装轴带动第一链轮转动，进而通过传动链带动联动轮转动，十字状肋条转动，基于十字状肋条的形状，从而使联动架周期性升降，联动架下降至底部时，压板刚好压合于容纳座顶面，从而达到遮蔽的目的，以满足检测需求。
30、本发明通过设置导电片和导电条等结构，在联动架下降到工作位时，导电片与导电条接触，导电条导通两个导电片电路，基于电信号，系统控制驱动电机暂定工作若干秒，以便于ccd检测组件进行检测，提升了可靠性。
1.一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，所述安装罩（19）的底部通过环形弹性折皱部（25）连接有压板（24），压板（24）的位置与安装框（35）适配；压板（24）侧面固定有导向柱（22），导向柱（22）上下滑动连接于安装罩（19）内壁。
3.根据权利要求2所述的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，所述检测机构还包括电动调节缸（18），电动调节缸（18）的输出端固定于安装罩（19）顶部外壁，所述导向柱（22）外壁滑动连接有限位块（23），限位块（23）一侧内壁通过螺纹连接有用于固定限位块（23）的顶丝（26）。
4.根据权利要求3所述的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，所述安装罩（19）顶部内壁设置有多个安装座（34），安装座（34）上可拆卸的安装有补光灯（33）。
5.根据权利要求4所述的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，所述驱动组件包括：
6.根据权利要求5所述的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，所述安装轴（6）上均安装有第一链轮（7），传送链组件（2）的一侧设置有第二安装架（17），第二安装架（17）上可转动的安装有联动轮（10）和第二链轮（9），第一链轮（7）、第二链轮（9）和联动轮（10）通过同一个传动链（8）传动连接；
7.根据权利要求6所述的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，所述联动架（30）内侧固定有两个导电片（29），升降导架（16）上固定有与导电片（29）相适配的导电条（27），两个导电片（29）接入驱动电机（4）的控制电路。
8.根据权利要求1所述的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，所述容纳座（3）顶部外壁设置有多个滑球（36）。
9.根据权利要求1-8任一项所述的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，所述吸附机构包括：
10.根据权利要求9所述的一种半导体碳化硅衬底中大尺寸微管检测吸附装置，其特征在于，所述平移组件包括：