Led测试流程和为此的修正方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种生成用于LED测试流程的修正因子分布图（map)的方法和装置， 以及涉及一种LED测试流程。
【背景技术】
[0002] LED制造流程通常包括PCB(printed circuit board)衬底上的阵列式LED单元构 造。该构造方法包括晶粒安装、导线键合、突光粉应用（phosphor application)和透镜安 装，接着是分割以将PCB切割成单个的LED单元。分割后的LED单元被单独地测试，并在封 装以前根据光学和电学特性被分类进入料仓。
[0003] LED单元的光学测试通常通过将LED设置在集成球（integrating sphere)的输入 端口内部而得以完成，该集成球被耦接至检测器(如通过光纤至光谱计)，测量LED单元的光 学参数，并通过相对于之前已经完成绝对校准的参考LED的光学参数比较被测量的光学参 数而校准LED单元。
[0004] 这种后分割一个单元一个单元测试的流程的缺点是每个LED所需的分选处理量， 它增大了测试的复杂性和成本，以及LED污染或损坏的风险。
[0005] 以前建议的一种方法是在衬底上直接测试LED，即在分割以前，例如使用 Gigahertz-Optik GmbH(德国普赫海姆（Puchheim))的BTS256-LED测试机。这种方法存在 的问题是：除了由测试中的器件（DUT:device under test)所发出的光线直接检测以外， 用作为测试流程一部分的集成球能够检测来自相邻于DUT的非激活LED的间接光线。来 自DUT的光从集成球处反射，被相邻的LED的荧光粉所吸收，并接着重新发出进入检测器孔 洞。为了消除这个问题，BTS256-LED，其为便携式测试机，包括位于集成球输入口的锥形适 配器（conical adapter)，该锥形适配器设置在DUT的上方，以遮挡任何重新发出的光线。 但是，这个设备通常不适合于高产能的测试应用，因为它需要在水平方向和垂直方向上的 精确的人工定位，以便于锥形适配器有效。
[0006] 对于LED测试而言，需要一种更为简单、更为低成本和更高产能的处理流程。
【发明内容】
[0007] 本发明的某些实施例是关于一种生成用于LED (light-emitting diode)测试流程 的修正函数（correction function)的方法，该方法包含有以下步骤：
[0008] 在检测器的视场内，检测参考LED发出的光和从位于板体（panel)上的一个或多 个非激活（inactive) LED反射的光；视场内所述非激活LED的数目被如此改变以致于至少 一个光学参数的错误值作为视场内非激活LED的数目的函数得以获得；
[0009] 检测在没有任何其他LED的情形下参考LED或者激活（active) LED发出的光，以 确定该或每个所述光学参数的至少一个参考值，该激活LED和参考LED具有相同的光学属 性；以及
[0010] 计算该错误值和该或每个参考值之间的差值，以生成修正函数，该修正函数是依 赖于检测器检测处于测试条件下LED发出的光时检测器的视场内所设置的非激活LED的数 目。
[0011] 本发明的另外一些实施例是关于一种在LED板（a panel of LEDs)上进行的LED 测试流程，该流程包含有以下步骤：
[0012] 测量位于该LED板上处于测试条件下的LED的至少一个光学参数，来自所述LED 的光福射在光学检测器的视场以内；
[0013] 确定位于该LED板上处于视场以内的非激活LED的数目；
[0014] 提取或否则获得修正因子（correction factor)，所述修正因子从依赖于非激活 LED的数目的修正函数中获取，当光学检测器检测处于测试条件下的LED发出的光时该非 激活LED设置在检测器的视场内；以及
[0015] 将修正因子应用在被测量的光学参数上。
[0016] 本发明再有一些实施例是关于一种生成用于LED板的LED测试流程的修正函数的 系统，该系统包含有：
[0017] 光学检测器，其具有视场；
[0018] 参考LED，其具有公知的光学属性；
[0019] 驱动机构（actuator)，其用于将光学检测器定位以检测参考LED发出的光或者激 活LED发出的光，和从LED板的一个或多个位于视场内的非激活LED反射的光，该激活LED 和参考LED具有相同的光学属性；
[0020] 面模(mask)，其用于改变位于视场内的非激活LED的数目，以致于被检测光的至 少一个光学参数的错误值作为视场内非激活LED的数目的函数而得以获得；
[0021] 至少一个处理器，其用于计算该错误值和参考值之间的差值，以生成修正函数，该 参考值通过检测在没有任何其他LED的情形下参考LED或者激活LED发出的光而得以确 定，该修正函数是依赖于光学检测器检测处于测试条件下的LED发出的光时视场内所设置 的非激活LED的数目。
[0022] 本发明还有一些实施例是关于一种生成用于LED板的LED测试流程的修正函数的 系统，该系统包含有：
[0023] 光学检测器，其具有反射性的内表面（reflective internal surface)和定义视 场的输入端口（input port)，该光学检测器被配置来测量由光学检测器所检测的光的至少 一个光学参数；
[0024] 参考LED，其具有公知的光学属性，并被设置来照射该光学检测器的内表面；
[0025] 漫反射参考表面（diffusely-reflecting reference surface)，其上设置有输入 端口，以检测从该参考表面处所反射的光；以及
[0026] 驱动机构，其用于在多个位置处将输入端口定位于LED板的上方，藉此改变位于 视场内的LED的数目，以使用从检测器的内表面处所反射的光照射所述的LED，并检测从所 述的LED所反射的光；
[0027] 其中：
[0028] 输入端口设置在漫反射参考表面的上方，以测量该至少一个光学参数，和藉此获 得该至少一个光学参数的参考值；以及
[0029] 输入端口设置在该多个位置的上方，以获得该至少一个光学参数的多个错误值。
[0030] 本发明更有一些实施例是关于一种生成用于LED测试流程的修正因子分布图（a map of correction factors)的方法，该方法包含有以下步骤：
[0031] 检测参考LED发出的光和从与LED板上一位置相邻的一个或多个非激活LED反射 的光；该位置被如此改变以致于至少一个光学参数的错误值作为位置的函数得以获得；
[0032] 检测在没有任何其他LED的情形下参考LED或者激活LED发出的光，以确定该或 每个所述光学参数的至少一个参考值，该激活LED和参考LED具有相同的光学属性；以及
[0033] 计算该错误值和该或每个参考值之间的差值，以生成修正因子的分布图，该修正 因子的分布图是依赖于检测器检测处于测试条件下LED发出的光时检测器的视场内所设 置的非激活LED的数目。
【附图说明】
[0034] 现在将参考附图，仅仅以非限制性实例的方式，描述本发明实施例，其中：
[0035] 图1所示为表明在光学测试流程中光学检测器和LED板之间的空间关系的示意 图。
[0036] 图2所示为LED板的俯视正视示意图。
[0037] 图3所示为根据本发明实施例所述的生成修正函数的方法的流程示意图。
[0038] 图4所示表明了用于图3流程的一系列面模位置（mask position)。
[0039] 图5至图7所示为根据本发明实施例所述的生成修正函数的系统的立体示意图。
[0040] 图8所示示意地表明了在根据另一实施例所述的方法过程中使用中的LED板。
[0041] 图9(a)和图9(b)所示表明了在根据又一实施例所述的方法过程中使用中的光学 检测器和LED板。
[0042] 图10更为详细地表明了图9中的光学检测器；以及
[0043] 图11和图12表明了应用根据本发明再一实施例所述的方法的装置。
【具体实施方式】
[0044] 本发明实施例提供了一种直接测试位于衬底上的LED单元阵