除胶效果评估方法与流程

本发明涉及印刷电路板技术领域，尤其涉及一种除胶效果评估方法。

背景技术：

印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气连接的载体。由于它是采用电子印刷术制作的，故被称为印刷电路板。

导电性阳极丝(Conductive Anodic Filasentation，CAF)是可以导致电气短路或开路的电化学腐蚀过程的副产物。通常表现为从电路中的阳极发散出来，沿着玻纤与环氧之间的界面表面朝着阴极方向迁移，形成导电性细丝物。CAF的产生会导致两个相邻的导体之间绝缘性能下降甚至造成短路，最终使PCB产品失效。PCB抵制CAF产生的性能叫做PCB的耐CAF性。

除胶工序是PCB制造过程中去除孔壁胶渣的一道工序，除胶工序主要采用除胶药水将PCB上的树脂胶渣除去。除胶工序除了会除去PCB上的胶渣，还会在PCB上留下狭长的晕圈，破坏PCB的内部结构。经过除胶的PCB，其耐CAF性往往会降低。目前行业中评价除胶效果的主要指标是除胶咬蚀量，即药水除去的树脂胶渣的质量。除胶前后PCB的质量差值就是该药水的除胶咬蚀量。一般认为，除胶咬蚀量大除胶效果就好，其耐CAF性就差。

但是在实际生产过程中，经常发现除胶咬蚀量相同的两块PCB的耐CAF性不同，有时甚至出现除胶咬蚀量小的PCB比除胶咬蚀量大的PCB的耐CAF性差。因此，需要重新寻求一种评价除胶效果的方法，以体现出除胶效果与耐CAF性的关联性。

技术实现要素：

本发明的一个目的在于：提供一种除胶效果评估方法，其可以有效的评估除胶效果，体现除胶效果与PCB的耐CAF性的关联性。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种除胶效果评估方法，在对PCB进行除胶后，使用PCB上的晕圈长度评估除胶效果。

具体地，除胶工序在除去胶渣的同时，药水还会沿着玻璃纱浸满到PCB的板材上，损伤板材并在板材上形成晕圈。在生产过程中，发现晕圈的大小与PCB产品的耐CAF性直接相关，可以成为PCB出货前评估PCB品质的重要指标。按照目前对除胶咬蚀量的评估方法，只能评估药水除去胶水量的多少，无法准确评估除胶后PCB的耐CAF性的强弱。因此，在传统的除胶效果评估方法中，仅以除胶咬蚀量作为除胶效果的评估指标，这是有失偏颇的，因为除胶咬蚀量只能体现除去胶水或者胶渣的质量多少，并不能体现除胶后PCB的耐CAF性能。所以本技术方案通过晕圈长度来评价除胶工序的除胶效果，简单直接，还能评估PCB除胶后的耐CAF性的强弱，充分体现除胶效果与PCB的耐CAF性的关联性。

作为一种优选的实施方式，测量除胶后的晕圈长度；所述晕圈长度越长，其除胶效果越差；所述晕圈长度越短，其除胶效果越好。

具体地，包括以下步骤：

测量除胶后的晕圈长度；

判断所述晕圈长度是否小于预先设计的极限长度：

若是，则判定除胶效果合格；

若否，则判定除胶效果不合格。

其中，极限长度是PCB处于其耐CAF性能的下限值状态下对应的PCB晕圈长度的长度值。

作为一种优选的实施方式，还包括测量除胶后的除胶咬蚀量；所述除胶咬蚀量越小，其除胶效果越差，所述除胶咬蚀量越大，其除胶效果越好。

通过分别测量晕圈长度和除胶咬蚀量，就可以分别得到评估除胶效果的两个最重要指标：耐CAF性和除胶量。晕圈长度越短、除胶咬蚀量越大，其耐CAF性就越好、除胶量就越大，总体除胶效果就越好。晕圈长度越长、除胶咬蚀量越小，其耐CAF性就越差、除胶量就越少，总体除胶效果就越差。

作为一种优选的实施方式，使用相同的标准药水对不同的待测PCB进行除胶，根据每块待测PCB上的晕圈长度评价各块待测PCB对所述标准药水的除胶适应性；

进一步地，将除胶后的待测PCB按照晕圈长度从长到短进行排序，排序在前的待测PCB的除胶适应性差，排序在后的待测PCB的除胶适应性好；

或者，将除胶后的待测PCB按照晕圈长度从短到长进行排序，排序在前的待测PCB的除胶适应性好，排序在后的待测PCB的除胶适应性差。

使用相同的标准药水对多块不同的待测PCB进行除胶，根据每块待测PCB上的晕圈长度来给各块待测PCB进行除胶适应性排序，有利于快速的从多块待测PCB中挑选出除胶适应性最好或者最差的待测PCB。

作为一种优选的实施方式，使用标准药水对第一标准PCB进行除胶，测量第一标准PCB上的晕圈长度，记为标准长度；使用标准药水对待检PCB进行除胶，测量待检PCB上的晕圈长度，记为第一待检长度；比较标准长度和第一待检长度的长短，若第一待检长度比标准长度长，则待检PCB的除胶适应性比第一标准PCB差；若第一待检长度比标准长度短，则待检PCB的除胶适应性比第一标准PCB强。

先测量标准药水对标准PCB进行除胶得到的晕圈长度，将此作为标准长度。然后将后续生产或者抽样出来的待检PCB与标准药水作用进行除胶，测量其晕圈长度，得到第一待检长度，将第一待检长度与标准长度比较，快速判断待检PCB是否为合格产品。

作为一种优选的实施方式，使用不同的待测药水对相同的标准PCB进行除胶，根据每块标准PCB上的晕圈长度评价各待测药水对所述标准PCB的除胶性能。

进一步地，将除胶后的标准PCB按照晕圈长度从长到短进行排序，排序在前的标准PCB对应的待测药水的除胶性能差，排序在后的标准PCB对应的待测药水的除胶性能好；

或者，将除胶后的标准PCB按照晕圈长度从短到长进行排序，排序在前的标准PCB对应的待测药水的除胶性能好，排序在后的标准PCB对应的待测药水的除胶性能差。

使用不同的待测药水对多块相同的标准PCB进行除胶，每种待测药水均与一块标准PCB作用。根据每块标准PCB上的晕圈长度来给各待测药水进行除胶性能排序，有利于快速的从多种待测药水中挑选出除胶性能最好或者最差的待测药水。

作为一种优选的实施方式，使用标准药水对第一标准PCB进行除胶，测量第一标准PCB上的晕圈长度，记为标准长度；使用待检药水对与第一标准PCB相同的第二标准PCB进行除胶，测量第二标准PCB上的晕圈长度，记为第二待检长度；比较标准长度和第二待检长度的长短，若第二待检长度比标准长度长，则待检药水的除胶性能比标准药水差；若第二待检长度比标准长度短，则待检药水的除胶性能比标准药水强。

先测量标准药水对标准PCB进行除胶得到的晕圈长度，将此作为标准长度。然后将后续生产或者抽样出来的待检药水与标准PCB作用进行除胶，测量其晕圈长度，得到第二待检长度，将第二待检长度与标准长度比较，快速判断待检药水是否为合格产品。

作为一种优选的实施方式，通过第一除胶工艺，使用标准药水对第一标准PCB进行除胶，测量第一标准PCB上的晕圈长度，记为标准长度；通过第二除胶工艺，使用标准药水对与第一标准PCB相同的第二标准PCB进行除胶，测量第二标准PCB上的晕圈长度，记为第三待检长度；比较标准长度和第三待检长度的长短，若第三待检长度比标准长度长，则第二除胶工艺的除胶效果比第一除胶工艺差；若第三待检长度比标准长度短，则第二除胶工艺的除胶效果比第一除胶工艺强。

先测量通过第一除胶工艺，用标准药水对标准PCB进行除胶得到的晕圈长度，将此作为标准长度。然后测量通过第二除胶工艺，用标准药水对标准PCB进行除胶得到的晕圈长度，将此作为第三待检长度，将第三待检长度与标准长度比较，快速判断第一除胶工艺与第二除胶工艺的优劣。

本发明的有益效果为：提供一种除胶效果的评估方法，通过使用晕圈长度评估除胶效果，测量除胶后的晕圈长度，所述晕圈长度越长，其除胶效果越差，所述晕圈长度越短，其除胶效果越好，有效评估除胶效果，体现PCB除胶后的耐CAF性。

附图说明

下面根据附图和实施例对本发明作进一步详细说明。

图1为实施例一所述的评估方法框图；

图2为实施例二所述的评估方法框图；

图3为实施例三所述的评估方法框图；

图4为实施例四所述的评估方法框图；

图5为实施例五所述的评估方法框图。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

实施例一

本实施例中，有三块待测PCB，分别为第一待测PCB、第二待测PCB和第三待测PCB，现有一种标准药水，需要考量三块待测PCB对该标准药水的除胶适应性强弱。

分别将第一待测PCB、第二待测PCB和第三待测PCB与标准药水作用进行除胶，除胶后，通过切片法观察测量第一待测PCB、第二待测PCB和第三待测PCB上的晕圈长度，分别记为第一PCB晕圈长度、第二PCB晕圈长度和第三PCB晕圈长度。比较第一PCB晕圈长度、第二PCB晕圈长度和第三PCB晕圈长度的长短，得到第一PCB晕圈长度大于第二PCB晕圈长度，第二PCB晕圈长度大于第三PCB晕圈长度，则可以得到结论：第一待测PCB对该标准药水的适应性最差，耐CAF性最差；第二待测PCB对该标准药水的适应性中等，耐CAF性中等；第三待测PCB对该标准药水的适应性最好，耐CAF性最好。应该选择第三待测PCB作为所需产品。

可以理解，本方法还可以适用于比较两块、四块甚至更多的待测PCB的除胶适应性强弱和耐CAF性强弱。

通过以上评估方法，可以快速对多个待测PCB的除胶适应性和耐CAF性进行对比评估排序，快捷高效。

实施例二

有三块待检PCB，现需要对每块待检PCB的除胶适应性进行评估，考察每块待检PCB是否合格。先取标准药水作用于合格的标准PCB上，进行除胶工序。除胶后，测量标准PCB上的晕圈长度，记为标准长度。

然后从待检PCB中取第一待检PCB，将标准药水作用于该第一待检PCB上，进行除胶工序。除胶后，测量该第一待检PCB的晕圈长度，记为第一待检长度。

如果第一待检长度比标准长度长，则第一待检PCB的除胶适应性达不到标准，为不合格的PCB；如果第一待检长度比标准长度短，则第一待检的PCB的除胶适应性能达到标准，为合格的PCB。

接着，从待检PCB中取第二待检PCB，重复以上对第一待检PCB的操作与评估方法，直至把三块待检PCB评估完毕。

通过以上评估方法，可以依次对每一个PCB产品进行是否合格产品或者是否为达标产品进行判断，简单方便快捷。

实施例三

本实施例中，有三种待测药水，分别为第一待测药水、第二待测药水和第三待测药水，现有一种标准PCB，需要考量对比三种待测药水对该标准PCB的除胶性能强弱。

分别将第一待测药水、第二待测药水和第三待测药水各与一块标准PCB作用进行除胶。除胶后，通过切片法观察测量第一待测药水、第二待测药水和第三待测药水对应的标准PCB上的晕圈长度，分别记为第一药水晕圈长度、第二药水晕圈长度和第三药水晕圈长度。比较第一药水晕圈长度、第二药水晕圈长度和第三药水晕圈长度的长短，得到第一药水晕圈长度大于第二药水晕圈长度，第二药水晕圈长度大于第三药水晕圈长度，则可以得到结论：第一待测药水对该标准PCB的除胶性能最差，除胶后得到的PCB的耐CAF性最差；第二待测药水对该标准PCB的除胶性能中等，除胶后得到的PCB的耐CAF性中等；第三待测药水对该标准PCB的除胶性能最好，除胶后得到的PCB的耐CAF性最好。应该选择第三待测药水作为所需产品。

可以理解，本方法还可以适用于比较两种、四种甚至更多的待测药水相互间的除胶性能强弱。

此外，本实施例还可以在对比第一待测药水、第二待测药水和第三待测药水对应的标准PCB的晕圈长度后，继续对比三种胶水对应的标准PCB在除胶前后的除胶咬蚀量，记为第一除胶咬蚀量、第二除胶咬蚀量和第三除胶咬蚀量。比较得到第三除胶咬蚀量大于第二除胶咬蚀量，第二除胶咬蚀量大于第一除胶咬蚀量，则说明第三待测药水的除胶量大于第二待测药水的除胶量，第二待测药水的除胶量大于第一待测药水的除胶量。结合以上对第一晕圈长度、第二晕圈长度和第三晕圈长度的比较，应该选择第三待测药水作为所需产品。

通过本实施例的评估方法，可以快速对多种待测药水的除胶性能进行对比评估和排序，快捷高效。

实施例四

有三种待检药水，现需要对每种待检药水的除胶效果进行评估，看各种待检药水是否合格。先取合格的标准药水作用于标准PCB上，进行除胶工序。除胶后，测量标准PCB上的晕圈长度，记为标准长度。

然后取第一待检药水作用于另一块标准PCB上，进行除胶工序。除胶后，测量该标准PCB的晕圈长度，记为第二待检长度。

如果第二待检长度比标准长度长，则第一待检药水的除胶效果达不到标准，为不合格药水；如果第二待检长度比标准长度短，则第一待检药水的除胶效果能达到标准，为合格药水。

接着，取第二待检药水，重复以上对第一待检药水的操作与评估方法，直至把三种待检药水评估完毕。

通过以上评估方法，可以依次对每一种待检药水进行是否合格产品或者是否为达标产品进行判断，简单方便快捷。

实施例五

现有第一除胶工艺与第二除胶工艺，需要对两工艺的除胶效果优劣进行对比。

先通过第一除胶工艺，使用标准药水对第一标准PCB进行除胶，测量第一标准PCB上的晕圈长度，记为标准长度；然后通过第二除胶工艺，使用标准药水对与第一标准PCB相同的第二标准PCB进行除胶，测量第二标准PCB上的晕圈长度，记为第三待检长度；

比较标准长度和第三待检长度的长短，若第三待检长度比标准长度长，则第二除胶工艺的除胶效果比第一除胶工艺差；若第三待检长度比标准长度短，则第二除胶工艺的除胶效果比第一除胶工艺强。

可以理解，这样的评估方法也可以适用于三种、四种甚至更多的除胶工艺之间进行除胶效果的对比评估。

通过本实施例的评估对比方法，可以快速对比多种除胶工艺的优劣和除胶后各种除胶工艺对应的PCB的耐CAF性强弱。

本文中的“第一”、“第二”、“第三”仅仅是为了在描述上加以区分，并没有特殊的含义。

需要声明的是，上述具体实施方式仅仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理，在本发明所公开的技术范围内，任何熟悉本技术领域的技术人员所容易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围内。