技术总结
本实用新型公开了一种元件脚测量机，包括上层料带、机架下测量机构、上测量机构、产品搬运机构、出料带、治具升降机构及下层料带，其中，上层料带及下层料带分别设置于机架的上方及下方；治具升降机构包括前治具升降机构及后治具升降机构，治具带动产品经上层料带向后运输至下测量机构及上测量机构处进行元件脚及元件测量；产品搬运机构设置于上层料带的后端上方，产品搬运机构将测量后的产品搬运至设置于上层料带侧部的出料带上，经出料带运出，空治具流入后升降机构内，后升降机构带动治具下降，并推入下层料带内，治具随下层料带回流至前升降机构，经前升降机构带动上升，并滑入上层料带内，循环流动，以将产品连续自动输送。
技术研发人员：宾兴;覃凤瑞;谢深君
受保护的技术使用者：宾兴
文档号码：201620747322
技术研发日：2016.07.16
技术公布日：2016.12.07