技术特征：
技术总结
本公开涉及具有动态位试验设置的SAR ADC性能优化。模数转换器(ADC)电路包括数模转换(DAC)电路，其包括至少N+n个加权电路元件，其中，N和n是大于零的正整数，n是ADC电路的至少显著位(LSB)的重复位数；采样电路，被配置在ADC电路的输入采样输入，和加权电路元件应用采样电压；比较器，被配置为在位试验期间比较DAC的输出电压和指定的阈值电压；和逻辑电路，被配置以执行至少N+n加权电路部件的位试验，并根据n个LSB重复位的值调整一个或多个N位试验的一个或多个参数。
技术研发人员：沈军华;E·C·古塞瑞
受保护的技术使用者：美国亚德诺半导体公司
技术研发日：2017.02.09
技术公布日：2017.08.15