一种测试模式选择电路的制作方法

1.本实用新型属于信号处理技术领域，尤其是涉及一种测试模式选择电路。


背景技术：

2.航空产品的综合测试系统需要进行三种测试模式，包含产品前舱的测试、产品制导舱的测试、产品引信的测试，其中前舱是由制导舱加引信组成，其相应的测试方法也形成包含关系，即前舱测试包含制导舱测试和引信测试的所有项目。一般情况下，通过人工确认在测试系统上的产品是哪种状态，从而选择相对应的测试模式。但是，由于三种测试模式下的测试项目和测试信号均有不同之处，易于出现人为差错，故障率较高，容易损坏产品。


技术实现要素：

3.为解决上述问题，本实用新型的目的是提供一种测试模式选择电路，其能够进行产品前舱的测试、产品制导舱的测试和产品引信的测试，保障三种测试模式选择正确，保证在选错测试模式后，产品加不上电，从而保护产品。
4.为实现上述发明目的，本实用新型采用如下技术方案：
5.一种测试模式选择电路，其包括四2输入与门u1、三极管v1、三极管v2、三极管v3、光电耦合器件u2和二极管d1，第一待测试线缆的输出端通过电阻r1与四2输入与门u1的第一与门的两个输入端、第二与门的第一输入端连接，第一与门的两个输入端通过电阻r2接第一电源，输出端通过电阻r3与三极管v1的基极连接；三极管v1的集电极与光电耦合器件u2的第一光耦的输入端正极连接，且通过电阻r4接第一电源，发射极接地；光电耦合器件u2的第一光耦的输入端负极接地，输出端正极通过电阻r5接第二电源，且输出端正极输出第一测试控制信号，输出端负极接地；第二待测试线缆的输出端通过电阻r7与四2输入与门u1的第二与门的第二输入端、第三与门的两个输入端连接，第二与门的输出端经电阻r6输出第二测试控制信号，第三与门的两个输入端通过电阻r8接第一电源，输出端通过电阻r9与三极管v2的基极连接；三极管v2的集电极与光电耦合器件u2的第二光耦的输入端正极连接，且通过电阻r10接第一电源，发射极接地；光电耦合器件u2的第二光耦的输入端负极接地，输出端正极通过电阻r11接第二电源，且输出端正极输出第三测试控制信号，输出端负极接地；第三待测试线缆的输出端与二极管d1的阳极连接，二极管d1的阴极与第四与门的两个输入端连接，第四与门的两个输入端通过电阻r12接第一电源，输出端通过电阻r13与三极管v3的基极连接；三极管v3的集电极与光电耦合器件u2的第三光耦的输入端正极连接，且通过电阻r14接第一电源，发射极接地；光电耦合器件u2的第三光耦的输入端负极接地，输出端正极通过电阻r15接第二电源，且输出端正极输出第四测试控制信号，输出端负极接地。
6.由于采用如上所述的技术方案，本实用新型具有如下优越性：
7.该测试模式选择电路，其结构设计合理，使用元器件较少，制造成本低，通过四2输入与门控制三个三极管的开关，同时控制光电耦合器件，有效确保输出的控制信号规则、干
净、无杂波，减少误启动，良好地保证了测试系统的工作安全性、可靠性，满足使用要求，具有良好的推广应用价值。
附图说明
8.图1是本实用新型测试模式选择电路一实施例的原理图。
具体实施方式
9.下面结合附图和实施例对本实用新型的技术方案作进一步详细说明。
10.如图1所示，该测试模式选择电路，其包括四2输入与门u1、三极管v1、三极管v2、三极管v3、光电耦合器件u2和二极管d1，四2输入与门u1输出有缓冲，提高噪声抗扰度和减小输出阻抗变化的影响，光电耦合器件u2能够使前端与负载完全隔离，增加安全性，减小电路干扰，简化电路设计；第一待测试线缆的输出端通过电阻r1与四2输入与门u1的第一与门u1a的两个输入端、第二与门u1b的第一输入端连接，第一与门u1a的两个输入端通过电阻r2接第一电源11.5v，输出端通过电阻r3与三极管v1的基极连接；三极管v1的集电极与光电耦合器件u2的第一光耦u2a的输入端正极连接，且通过电阻r4接第一电源11.5v，发射极接地；光电耦合器件u2的第一光耦u2a的输入端负极接地，输出端正极通过电阻r5接第二电源5v，且输出端正极输出第一测试控制信号，输出端负极接地；第二待测试线缆的输出端通过电阻r7与四2输入与门u1的第二与门u1b的第二输入端、第三与门u1c的两个输入端连接，第二与门u1b的输出端经电阻r6输出第二测试控制信号，第三与门u1c的两个输入端通过电阻r8接第一电源11.5v，输出端通过电阻r9与三极管v2的基极连接；三极管v2的集电极与光电耦合器件u2的第二光耦u2b的输入端正极连接，且通过电阻r10接第一电源11.5v，发射极接地；光电耦合器件u2的第二光耦u2b的输入端负极接地，输出端正极通过电阻r11接第二电源5v，且输出端正极输出第三测试控制信号，输出端负极接地；第三待测试线缆的输出端与二极管d1的阴极连接，二极管d1的阳极与第四与门u1d的两个输入端连接，第四与门u1d的两个输入端通过电阻r12接第一电源11.5v，输出端通过电阻r13与三极管v3的基极连接；三极管v3的集电极与光电耦合器件u2的第三光耦u2c的输入端正极连接，且通过电阻r14接第一电源11.5v，发射极接地；光电耦合器件u2的第三光耦u2c的输入端负极接地，输出端正极通过电阻r15接第二电源5v，且输出端正极输出第四测试控制信号，输出端负极接地。
11.上述的四2输入与门u1的型号为cd4081。
12.上述的三极管v1、三极管v2、三极管v3均为npn型三极管；三极管v1、三极管v2、三极管v3的型号均为2n2222a。
13.上述的光电耦合器件u2的型号为tlp521-4。
14.根据测试时所测试的产品舱段不同，其使用的测试电缆也不同，其中，产品前舱的测试，使用脐带电缆插头、遥测插头、战斗部插头；产品制导舱的测试，使用脐带电缆插头、伺服插头；产品引信的测试，使用伺服插座、遥测插头、战斗部插头。根据使用插头的不同，插头中的地线也存在差异，选择将插头中的地线作为待测试线缆接入本实用新型测试模式选择电路，根据地线的差异判断产品测试状态。
15.下面以仅控制舱测试为例详细说明本实用新型测试模式选择电路的工作原理。
16.从第一待测试线缆，即控制舱使用的插头中的地线，输出的地信号经电阻r1传输
至四2输入与门u1的第一与门u1a的两个输入端，输出的逻辑高电平信号经电阻r3输送至三极管v1的基极，使三极管v1导通，使11.5v电源经电阻r4向光电耦合器件u2的第一光耦u2a的输入端供电，第一光耦u2a导通，5v电源经电阻r5接地，输出低电平逻辑信号（only un11）。
17.以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，而非对本实用新型的限制，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，凡依本实用新型申请专利范围所作的均等变化与修饰，皆应属本实用新型的专利保护范围之内。


技术特征：
1.一种测试模式选择电路，其特征是：其包括四2输入与门u1、三极管v1、三极管v2、三极管v3、光电耦合器件u2和二极管d1，第一待测试线缆的输出端通过电阻r1与四2输入与门u1的第一与门的两个输入端、第二与门的第一输入端连接，第一与门的两个输入端通过电阻r2接第一电源，输出端通过电阻r3与三极管v1的基极连接；三极管v1的集电极与光电耦合器件u2的第一光耦的输入端正极连接，且通过电阻r4接第一电源，发射极接地；光电耦合器件u2的第一光耦的输入端负极接地，输出端正极通过电阻r5接第二电源，且输出端正极输出第一测试控制信号，输出端负极接地；第二待测试线缆的输出端通过电阻r7与四2输入与门u1的第二与门的第二输入端、第三与门的两个输入端连接，第二与门的输出端经电阻r6输出第二测试控制信号，第三与门的两个输入端通过电阻r8接第一电源，输出端通过电阻r9与三极管v2的基极连接；三极管v2的集电极与光电耦合器件u2的第二光耦的输入端正极连接，且通过电阻r10接第一电源，发射极接地；光电耦合器件u2的第二光耦的输入端负极接地，输出端正极通过电阻r11接第二电源，且输出端正极输出第三测试控制信号，输出端负极接地；第三待测试线缆的输出端与二极管d1的阳极连接，二极管d1的阴极与第四与门的两个输入端连接，第四与门的两个输入端通过电阻r12接第一电源，输出端通过电阻r13与三极管v3的基极连接；三极管v3的集电极与光电耦合器件u2的第三光耦的输入端正极连接，且通过电阻r14接第一电源，发射极接地；光电耦合器件u2的第三光耦的输入端负极接地，输出端正极通过电阻r15接第二电源，且输出端正极输出第四测试控制信号，输出端负极接地。2.根据权利要求1所述的测试模式选择电路，其特征是：其四2输入与门u1的型号为cd4081。3.根据权利要求1所述的测试模式选择电路，其特征是：其三极管v1、三极管v2、三极管v3均为npn型三极管。4.根据权利要求3所述的测试模式选择电路，其特征是：其三极管v1、三极管v2、三极管v3的型号均为2n2222a。5.根据权利要求1所述的测试模式选择电路，其特征是：其光电耦合器件u2的型号为tlp521-4。

技术总结
本实用新型公开一种测试模式选择电路，其包括四2输入与门U1、三极管V1、三极管V2、三极管V3、光电耦合器件U2，第一待测试线缆的输出端经电阻R1与四2输入与门U1的第一与门的两个输入端、第二与门的第一输入端连接，第一与门的两个输入端经电阻R2接第一电源，输出端经电阻R3与三极管V1的基极连接；三极管V1的集电极与光电耦合器件U2的第一光耦的输入端正极连接，且经电阻R4接第一电源，发射极接地；光电耦合器件U2的第一光耦的输入端负极接地，输出端正极经电阻R5接第二电源，且输出端正极输出第一测试控制信号，输出端负极接地。本实用新型有效确保输出的控制信号规则、干净、无杂波，减少误启动，良好地保证了测试系统的工作安全性、可靠性。可靠性。可靠性。


技术研发人员：张育 程丰 方武震 刘永微 闫晓光 李宏顺
受保护的技术使用者：国营洛阳丹城无线电厂
技术研发日：2022.08.31
技术公布日：2023/2/9