专利名称：155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪的制作方法
技术领域：
155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪
技术领域：
本实用新型涉及光通信技术领域，尤其是涉及一种155Mb/S-300Mb/S光模块专用 误码测试仪。
背景技术：
近年来，通信和计算机网络技术发展迅猛，其中，光电子器件与微处理器和高速电 子器件同时起到了至关重要的推动作用。光器件的先进性、可靠性和经济性会直接影响到 系统设备乃至整个网络的生命力和市场竞争力。目前，生产光通信测试设备的厂家主要集中在国外，例如美国Agilent公司、美国 泰克公司、日本Aritsu公司、德国WG公司等，这些公司的产品技术先进、功能齐全，但上述 设备的许多功能并非为光模块生产测试而设计，对中国的光模块生产厂家而言，其价格高、 体积大，操作复杂；另外，现在也出现了专门的光模块测试系统，但它是将多台昂贵的仪表 (仪表上必须带有GPIB系统)，其通过GPIB系统结合计算机自动控制技术以整合成一个完 整的系统，故同样价格较高，不适合量化推广应用。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的155Mb/s-300Mb/s光模块专 用误码测试仪的体积大、价格高的缺陷，提供一种体积较小、价格较低的155Mb/s-300Mb/s 光模块专用误码测试仪。为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码 测试仪，所述装置包括用于产生测试码型信号的码流发生器；连接于所述码流发生器且用于误码检测的误码检测模块。进一步，在上述155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪中，所述装置还包括用 于测试光模块的光功率及接收灵敏度的光衰减器及光功率计。本实用新型155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪提高了生产效率，减小了工 位面积，降低了生产成本。
下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中图1是本实用新型155Mb/S-300Mb/S光模块专用误码测试仪较佳实施例的结构示 意图。
具体实施方式请参阅图1，图1是本实用新型的155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪较佳 实施例的结构示意图。155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪1用于测试光模块20的接收和发送信号的功能，所述装置包括码流发生器3、误码检测模块4、光衰减器5及功率计 6。其中，码流发生器3用于产生测试的码型信号；误码检测模块4连接于码流发生器3，其 用于误码检测。光衰减器5及光功率计6用于测试光模块的光功率及接收灵敏度的。本实用新型的光模块专用误码测试仪为155Mb/s-300Mb/s光模块的生产测试而 设计，体积小、价格低，该产品能完成300Mb/s及以下速率的各种速率、各种电平接口的光 模块测试，实现多个仪表的功能。本实用新型的155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪 可集成为一种放在桌面上操作的测试台，这样将大大提高了生产效率，减小了工位面积，从 而大幅降低了生产成本。以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细， 但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通 技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属 于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
权利要求1.一种155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪，其特征在于，所述装置包括用于产 生测试码型信号的码流发生器；连接于所述码流发生器且用于误码检测的误码检测模块。
2.根据权利要求1所述的光模块专用误码测试仪，其特征在于所述装置还包括用于 测试光模块的光功率及接收灵敏度的光衰减器及光功率计。
专利摘要本实用新型提供一种155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪，其包括用于产生测试码型信号的码流发生器；连接于所述码流发生器且用于误码检测的误码检测模块。本实用新型一种155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪提高了生产效率，减小了工位面积，降低了生产成本。
文档编号H04B10/08GK201898511SQ20102069328
公开日2011年7月13日 申请日期2010年12月20日 优先权日2010年12月20日
发明者田明雄, 郑本军 申请人:武汉元创光电科技有限公司