专利名称：超短光纤中布里渊散射高精度测量系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，具体是涉及的一种基于受激布里渊散射的探测系统。
背景技术：
受激布里渊散射(StimulatedBrillouin Scattering)可以描述为两束光在介质中(如石英光纤)产生的非线性作用。当两束相向光束(泵浦光
^与探测光1、)在光纤中相遇，并且两束光的频率满足布里渊频移，就会发生能量交换。受激布里渊散射的过程如
图1，两束光泵浦光&、探测光巧在光纤中相向相遇，当巧的频率减去&的频率满足布里渊频移的时候，即1— = %时，由于受激布里渊散射效应，巧的能量
转移到V2 , V2光产生布里渊散射的增益，即’ 2光被放大，A被衰减。布里渊频移由以下公式来衡量
权利要求
1.一种超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于该系统的构成包括激光器 (2)，在该激光器(2)的输出方向接光纤耦合器(3)的输入端，该光纤耦合器(3)的一个输出端依次经第一偏振控制器(4)、光纤隔离器(5)、探测光纤(6)接环形器(9)的一端；所述的光纤耦合器(3)的另一个输出端依次经第二偏振控制器(13)接单边带调制器(7)的一个输入端，该单边带调制器(7)的输出端经光纤放大器(8)接所述的环形器(9)的另一输入端，该环形器(9)的输出端经光电探测器(10)接锁相放大器(11)的第一输入端，该锁相放大器(11)的输出端接数据采集处理系统(12)，一个方波信号发生器(14)分别与所述的单边带调制器(7)的第二输入端和所述的锁相放大器(11)的第二输入端相连。
2.根据权利要求1所述的超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于，所述的单边带调制器(7)为双Mach—khnder型单边带调制器，通过所述的方波信号发生器 (14)，使泵浦光进行上下边频周期交替变换，使得探测光前半个周期处于布里渊增益过程， 后半个周期处于布里渊损耗过程。
3.根据权利要求1所述的超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于所述的光纤放大器(8)是两级放大的掺铒光纤放大器(EDFA)，第一级放大器是小信号放大器，第二级放大器是大信号放大器。
4.根据权利要求1所述的超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于所述的激光器(2)为保偏光纤输出激光器，所述的光纤耦合器(3)为保偏光纤耦合器，所述的光纤隔离器(5)为保偏光纤隔离器，所述的环形器(9)为保偏环形器。
5.根据权利要求1所述的超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于所述的激光器(2)为1550nm的半导体激光器。
全文摘要
一种超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，包括激光器,在激光器的输出方向接光纤耦合器的输入端，光纤耦合器的一个输出端依次经第一偏振控制器、光纤隔离器、探测光纤接环形器的一端；光纤耦合器的另一个输出端依次经第二偏振控制器接单边带调制器的一个输入端，单边带调制器的输出端经光纤放大器接环形器的另一输入端，环形器的输出端经光电探测器接锁相放大器的第一输入端，锁相放大器的输出端接数据采集处理系统，一个方波信号发生器分别与单边带调制器的第二输入端和锁相放大器的第二输入端相连。同时利用受激布里渊散射增益和受激布里渊散射损耗两个过程，提高了整段传感光纤上探测的灵敏度，避免了端面反射等干扰信号的影响，降低了成本。
文档编号H04B10/08GK102307061SQ20111024733
公开日2012年1月4日 申请日期2011年8月26日 优先权日2011年8月26日
发明者吴龟灵, 沈建国, 邹卫文, 金重九, 陈建平 申请人:上海交通大学