倾斜检查装置及其方法
【专利摘要】提供一种倾斜检查装置和倾斜检查方法。所述倾斜检查装置检查包括传感器和透镜的透镜模块，并且该倾斜检查装置包括：发光部件，其扩散并输出光以检查透镜模块的倾斜；反射器，其反射扩散的光；接口，如果反射的光由透镜模块的传感器检测到，则该接口从传感器接收检测的结果；以及检测器，其通过使用通过接口接收到的检测结果来检测深度信息，并且基于深度信息检测透镜和传感器之间的倾斜状态。因此，提高了倾斜检查处理的效率。
【专利说明】倾斜检查装置及其方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]此申请要求于2012年9月17日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2012-102987号的优先权，其公开通过引用全部包括于此。
【技术领域】
[0003]本发明总构思一般涉及一种倾斜检查装置及其方法，更具体地，涉及一种当组装透镜和传感器时用于估计倾斜过程的倾斜检查装置及其方法。
【背景技术】
[0004]数字照相机是通过透镜接收外界光并且使用接收到的光通过传感器提取图像数据的装置。因此，透镜和传感器是数字照相机的重要元件。
[0005]如果当数字照相机生产时透镜和传感器没有组装好，则透镜和传感器之间的水平(level)被倾斜。倾斜影响图像品质。因此，估计倾斜度以确定透镜和传感器是否正常地组装。
[0006]检验器在即时显示模式(live view mode)中操作并估计透镜和传感器组装在其中的透镜模块。换句话说，在即时显示模式中，检验器在角区域和中心区域测量自动聚焦(AF)数据，并且测量AF数据的峰值的位置来估计倾斜度。根据此方法，如果传感器在即时显示模式中操作，则分辨度更低，并且该AF数据与真实AF数据有差别。此外，即使通过使用AF数据的峰值调整了倾斜，也会发生误差。此外，在全尺寸静止捕捉模式中，很难通过连续地驱动传感器来精确地找到AF数据的峰值的位置。因此，不存在通过使用AF数据的峰值来校正误差的方法。
[0007]因此，需要容易地检查倾斜并获得精确的倾斜校正值的技术。
【发明内容】
[0008]示范性实施例解决至少上述问题和/或缺点及上面没有描述的其它缺点。此外，示范性实施例不局限于克服上述缺点，并且示范性实施例可以提供除克服上面描述的任一问题以外的其他用途。
[0009]本发明总构思的附加特征和/或用途将在下面的描述中被部分地阐明，以及从该描述中将部分地明显，或者可以通过实践本发明总构思而学习到。
[0010]示范性实施例提供一种用于容易地检查倾斜并获得精确的倾斜校正值的倾斜检查装置及其方法。
[0011]本发明构思的示范性实施例提供一种检查包括传感器和透镜的透镜模块的倾斜检查装置。所述倾斜检查装置可以包括:发光部件，其扩散并输出光以检查透镜模块的倾斜；反射器，其反射扩散的光；接口，如果反射的光由透镜模块的传感器感测，则该接口从传感器接收检测的结果；以及检测器，其通过使用通过接口接收到的检测结果来检测深度信息，并且基于深度信息检测透镜和传感器之间的倾斜状态。[0012]所述检测器可以检测深度信息当中的传感器的中心区域的深度和传感器的角区域的深度。
[0013]所述检测器可以计算检测到的深度的平均值、计算平均值和深度之间的差、以及比较所计算的值以检测倾斜状态。
[0014]所述倾斜检查装置还可以包括:存储器，其存储深度信息和倾斜状态；以及输出部件，其输出深度信息和倾斜状态。
[0015]所述发光部件可以多次输出具有90°的相位差的光。
[0016]本发明构思的示范性实施例还提供一种检查包括传感器和透镜的透镜模块的倾斜检查方法。所述倾斜检查方法可以包括:扩散并输出光以检查透镜模块的倾斜；反射扩散的光；如果反射的光由透镜模块的传感器感测到，则从传感器接收检测的结果；以及通过使用接收到的检测结果来检测深度信息，并且基于深度信息检测透镜和传感器之间的倾斜状态。
[0017]可以检测深度信息当中的传感器的中心区域的深度和传感器的角区域的深度。
[0018]可以计算检测到的深度的平均值、可以计算平均值和深度之间的差、以及可以比较所计算的值以检测倾斜状态。
[0019]所述倾斜检查方法还可以包括:存储深度信息和倾斜状态；以及显示深度信息和倾斜状态。
[0020]可以多次输出具有90°的相位差的光。
[0021]如上所述，根据本发明总构思的多个示范性实施例，可以在组合透镜和传感器的过程中容易地检查倾斜。此外，可以获得精确的校正值以提高组合透镜和传感器的过程的效率。
[0022]本发明构思的示范性实施例还提供一种倾斜检查装置，包括:发光部件，用于输出扩散的光以检查透镜模块的倾斜；反射器，用于反射扩散的光；透镜模块，用于接收反射的光并确定反射光的光线的深度差；以及检测器，用于计算确定的深度差的平均值，计算深度差的平均值和深度差之间的差，以及比较所计算的值以检测倾斜状态。
[0023]在示范性实施例中，确定用于反射光的中心区域的深度差和反射光的角区域的深度差的光线。
[0024]在示范性实施例中，所述透镜模块包括:透镜，用于接收反射光；以及传感器，用于感测穿过透镜的反射光的中心区域和角区域。
[0025]在示范性实施例中，所述倾斜检查装置还包括:存储器，其存储深度差信息和倾斜状态；以及输出部件，其输出深度差信息和倾斜状态。
[0026]本发明构思的示范性实施例还提供一种检查透镜模块的倾斜的方法，包括:输出扩散的光；反射扩散的光；接收反射的光并确定反射的光的光线的深度差；以及计算确定的深度差的平均值，计算深度差的平均值和深度差之间的差，以及比较所计算的值以检测倾斜状态。
[0027]在示范性实施例中，利用透镜和传感器执行确定反射光的光线的深度差。
[0028]在示范性实施例中，确定用于反射光的中心区域中的深度差和反射光的角区域的深度差的光线。【专利附图】
【附图说明】
[0029]通过下面结合附图对该实施例的描述，本发明总构思的这些和/或其它特征和用途将变得明显且更易理解，其中:
[0030]图1和图2是示出根据本发明总构思的示范性实施例的倾斜检查装置的结构的框图；
[0031]图3是示出根据本发明总构思的示范性实施例的倾斜检查装置的结构的视图；
[0032]图4是示出根据本发明总构思的示范性实施例的、通过使用光的相位计算深度的方法的视图；
[0033]图5是示出根据本发明总构思的示范性实施例的倾斜检查方法的流程图；以及
[0034]图6是示出根据本发明总构思的示范性实施例的检测深度的方法的流程图。
【具体实施方式】
[0035]参考附图更详细地描述示范性实施例。
[0036]在下面的描述中，相同的附图标记即使在不同的附图中也用于相同的元件。在描述中定义的事项，诸如详细结构和元件，是为了帮助全面理解示范性实施例而提供的。因而，显然示范性实施例可以在没有那些具体定义的事项的情况下执行。此外，由于公知的功能或结构将以不必要的细节混淆示范性实施例，因此不会详细描述公知的功能或结构。
[0037]图1和图2是示出根据本发明总构思的示范性实施例的倾斜检查装置100的结构的框图。
[0038]参照图1，倾斜检查装置100包括发光部件110、反射器120、接口 130和检测器140。发光部件110扩散并输出光以检查包括透镜和传感器的透镜模块10的倾斜。发光部件110可以包括输出光的光源，以及收集和扩散光的透镜与扩散器。反射器120将扩散光反射在透镜模块10上。透镜模块10被连接到倾斜检查装置100的接口 130。
[0039]从反射器120反射的光被输入到透镜模块10中。透镜模块10的深度传感器感测输入的光并向倾斜检查装置100发送感测结果。接口 130接收透镜模块10的深度传感器的感测结果并向检测器140发送感测结果。
[0040]检测器140使用通过接口接收到的感测结果来检测深度信息。检测器140还基于深度信息检测透镜和传感器之间的倾斜状态。检测器140还可以从五个区域，S卩，从传感器的中心区域和角区域检测深度信息的深度。检测器140可以计算从五个区域检测到的深度的平均值，以计算所计算的平均值和检测到的深度之间的差，以及比较所计算的值以检测倾斜状态。从其检测深度的区域不局限于上述区域。因此，可以从其他区域检测深度，并且其他区域可以添加到所述五个区域以从六个或更多区域检测深度。参照图2，倾斜检查装置100还可以包括存储器150和输出部件160。
[0041]存储器150存储检测到的深度信息和倾斜状态。存储器150还可以存储用于驱动倾斜检查装置100的程序。例如，存储器150可以包括只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)或可从倾斜检查装置100移除的存储卡(例如，安全数字(SD)卡或记忆棒)。存储器150还可以包括非易失性存储器、易失性存储器、硬盘驱动器(HDD)、或者固态存储器(SSD)。
[0042]输出部件160输出检测到的深度信息和倾斜状态。显示的深度信息可以是传感器的中心区域和角区域与反射器120之间的距离。倾斜状态可以是中心区域和角区域的深度的平均值与中心区域和角区域的深度之间的差。输出部件160可以实现为各种类型的显示单元，诸如液晶显示器(IXD)面板、等离子体显示板(PDP)、有机发光二极管(OLED)、真空荧光显示(VFD)、场致发射显示器(FED)、电致发光显示器(ELD)等等。可替换地，输出部件160可以是打印机。
[0043]现在将详细描述透镜模块10的倾斜检查装置100的结构。
[0044]图3是示出根据本发明总构思的示范性实施例的倾斜检查装置的结构的视图。
[0045]参照图3的图示⑴，发光部件110包括扩散器111、透镜112和光源113。光源113可以是发光二极管。发光二极管也被称为光电二极管并且可以输出具有红外范围的特定频率的光。透镜112积聚从发光二极管输出的光。扩散器111扩散通过透镜112积聚的光。例如，扩散器111可以是由玻璃纤维或金属网构成的板的形式。相对于反射器120，发光部件110布置在与透镜模块10相同侧以被倾斜检查装置100检查，即，布置在反射器120的相对侧，以用于向反射器120输出光。
[0046]与发光部件110和透镜模块10相反地布置反射器120以将从发光部件110输出的光反射到透镜模块10。例如，反射器120可以是白墙(white wall)。从反射器120反射的光可以均匀地入射在透镜模块10上。
[0047]将要检查的透镜模块10包括透镜11和传感器12并且可以被连接到将被安装在检查板(未示出)上的照相机主板20。照相机主板20提供用于控制透镜模块10的控制模式并驱动透镜模块10。照相机主板20还可以包括连接到倾斜检查装置100的接口 130的端子或连接器，以向倾斜检查装置100发送感测的数据。
[0048]透镜模块10可以仅包括深度传感器或者可以包括感测深度和颜色的传感器。深度传感器可以感测具有特定频率的光，例如，具有红外范围的850nm的波长的光。从反射器120反射的光穿过透镜11然后由传感器12感测到。
[0049]如图3的图示(I)所示，如果传感器12相对于透镜11倾斜，则在传感器12的区域a和e感测的光的量和相位不同。
[0050]将首先描述使用光的量来检测深度和倾斜状态的过程，然后将描述使用相位来检测深度和倾斜状态的过程。图3的图示(2)示出传感器12的正面。参照图3的图示(2)，区域a和b相距反射器120最远，因此从区域a和b感测的光的量最小。区域d和e最接近反射器120，因此从区域d和e感测的光的量最大。由传感器120感测的结果通过接口130被发送到检测器140。检测器140通过使用从预定区域感测的光的量检测深度信息来检测区域a、b、d和e的深度信息，并检测传感器12是否倾斜。检测器140检测区域a、b、d和e的深度信息并计算区域a、b、d和e的深度的平均值。检测器140可以计算平均值和深度之间的差以检测倾斜状态。
[0051]例如，区域a和b的深度是每个1002mm (毫米)，区域c的深度是1000mm，并且区域d和e的深度是每个998mm。五个区域的深度的平均值是1000mm。因此，区域a和b的倾斜状态是每个+2mm，区域c的倾斜状态是0mm，并且区域d和e的倾斜状态是每个_2mm。检测到的倾斜状态是倾斜校正。因此，根据本发明总构思的示范性实施例，可以定量地检测到倾斜校正。可以基于检测到的倾斜校正调整透镜模块10的调整装置(例如，调整螺旋)以校正倾斜。例如，工作人员知道如何对调整装置进行调整以调整1_的倾斜，因此可以提高倾斜调整工作的效率。
[0052]图3中示出当透镜11垂直于地面时检查传感器12的倾斜状态的方法。通常，透镜模块10的透镜11与镜筒(barrel)组合。镜筒可以放置在倾斜检查装置100的检查板上。
[0053]当开发成像设备时，执行若干处理以组合模块或调整设置值。因此，可以检测镜筒和透镜之间是否发生组合误差并在另一过程中进行调整。此外，如果镜筒放置在检查板上，则倾斜检查装置100可以在检查板上包括定平设备(level device)，并且检查员可以调整检查板的水平状态以保持镜筒或透镜模块10的水平状态。
[0054]因为当镜筒和透镜11之间不发生组合误差时可以调整检查板以保证水平状态，所以透镜11可以保持垂直于地面。透镜11可以保持垂直于地面，因此可以检测传感器12的倾斜状态。因此，可以通过使用检测到的倾斜校正来调整透镜11和传感器12的倾斜状态。
[0055]现在将描述通过使用光的相位来检测深度和倾斜状态的过程。
[0056]图4是示出根据本发明总构思示范性实施例的、通过使用光的相位计算深度的方法的视图。
[0057]光源113在每个预定时段输出光。光源113输出光的时段与传感器112执行感测的时段同步。在图4中示出从光源113输出的光的波形以及被反射并由传感器12感测的光的波形。由于距离，输出光与反射光有时间T的相位差。例如,光源113输出具有相位变化0°、90°、180°和270°的光。在图4中，当从光源113输出的光具有0°的相位时，光具有波形31。当光具有180°的相位时，光具有波形32。当光具有90°的相位时，光具有波形33。当光具有270°的相位时，光具有波形34。如果计算以所述相位输出的光的波形的区域并且使用区域之间的关系，则可以计算由于相位差而发生的延迟时间T。可以计算反射器120和传感器12之间的距离和时间，因此可以检测深度。换句话说，发光部件110可以四次输出具有90°的相位差的光以检测深度。
[0058]输出光的90°相位差仅是示范性实施例。因此，可以根据用于计算深度的算法、检查方法、检查装置等等不同地设置光的相位。输出光的次数不局限于四次，因此可以根据光的相位差适当地设置。
[0059]在以上描述的处理中，透镜12或扩散器111的效果可以被预先测量和预先计算以计算校正值，并且所计算的校正值可以存储在检测器140中。检测器140可以应用存储的校正值以检测深度。以上描述的通过使用相位检测深度的方法仅是示范性实施例，因此可以根据不同方法通过使用相位来检测深度。
[0060]此外，如上所述，检测深度的方法被分类为使用光量的方法和使用相位的方法。然而，当检测器140实际上检测深度时，两个方法都可以应用于检测深度。
[0061]图5是示出根据本发明总构思示范性实施例的倾斜检查方法的流程图。
[0062]包括透镜11和传感器12的透镜模块10被安装在检查板20上，并且传感器12被设置为接收深度信息。在操作S510中，发光部件110扩散并输出光以检测透镜模块10的倾斜。从发光部件Iio输出的光具有红外范围的特定频率。在操作S520中，反射器120反射扩散的光。
[0063]从反射器120反射的光入射在透镜模块10的传感器12上，并且传感器12感测光并输出感测结果。在操作S530中，如果通过透镜模块10的传感器12感测反射的光，则接口 130 (图1)接收感测的结果。
[0064]在操作S540中，检测器140通过使用包括接收到的光的量和光的相位信息的感测结果来检测深度信息，并且基于深度信息检测透镜11和传感器12之间的倾斜状态。上面描述了详细的倾斜检查方法，因此此处将省略。
[0065]图6是示出根据本发明总构思示范性实施例的检测深度的方法的流程图。
[0066]参照图6，在操作S610中，检测器140检测传感器12的中心区域的深度和传感器12的角区域的深度。例如，可以以毫米为单位检测深度信息。
[0067]在操作S620中，检测器140计算检测到的深度的平均值，计算平均值和深度之间的差，以及比较所计算的值以检测倾斜状态。例如，可以通过使用从区域计算的平均值与从区域计算的深度之间的毫米差值来检测倾斜状态。检测到的差值可以是倾斜校正。倾斜校正可以存储在存储器150中或可以输出到输出部件160。
[0068]根据以上描述的多个示范性实施例的倾斜检查方法可以具体实现为程序并且提供到倾斜检查装置。
[0069]例如，提供一种存储执行以下操作的程序的非临时的计算机可读介质:如果通过透镜模块的传感器感测到反射光，则从传感器接收感测的结果；通过使用接收到的感测结果检测深度信息，并且基于深度信息检测透镜和传感器之间的倾斜状态或执行操作:检测深度信息当中的、传感器的中心区域的深度与传感器的角区域的深度；以及计算深度的平均值以计算平均值与深度之间的差并比较所计算的值以检测倾斜状态。
[0070]非临时的计算机可读介质是指这样的介质，其不仅短时存储数据(诸如寄存器、高速缓存存储器、存储器等等)而且还半永久地存储数据，而且该介质可由设备读取。详细地，以上描述的应用或程序可以存储并提供在诸如CD、DVD、硬盘、蓝光盘、通用串行总线(USB)、存储器卡、ROM等等之类的非临时的计算机可读介质上。
[0071]前述示范性实施例和优点仅仅是示范性的，并且不应被理解为限制。本教导可以容易地应用于其它类型的装置。此外，示范性实施例的描述预期是说明性的，而不是限制权利要求的范围，并且许多替换、修改和变化将对本领域技术人员是显而易见的。
【权利要求】
1.一种检查包括传感器和透镜的透镜模块的倾斜检查装置，所述倾斜检查装置包括: 发光部件，其扩散并输出光以检查透镜模块的倾斜； 反射器，其反射扩散的光； 接口，如果由透镜模块的传感器感测到反射的光，则该接口从传感器接收感测结果；以及 检测器，其使用通过接口接收到的感测结果来检测深度信息，并且基于深度信息检测透镜和传感器之间的倾斜状态。
2.如权利要求1所述的倾斜检查装置，其中所述检测器检测深度信息当中的、传感器的中心区域的深度和传感器的角区域的深度。
3.如权利要求2所述的倾斜检查装置，其中所述检测器计算检测到的深度的平均值，计算平均值和深度之间的差值，以及比较所计算的差值以检测倾斜状态。
4.如权利要求1所述的倾斜检查装置，还包括: 存储器，其存储深度信息和倾斜状态；以及 输出部件，其输出深度信息和倾斜状态。
5.如权利要求1所述的倾斜检查装置，其中所述发光部件多次输出具有预置相位差的光。
6.一种检查包括传感器和透镜的透镜模块的倾斜检查方法,所述倾斜检查方法包括: 扩散并输出光以检查透镜模块的倾斜； 反射扩散的光； 如果由透镜模块的传感器感测到反射的光，则从传感器接收感测结果；以及使用接收到的感测结果来检测深度信息，并且基于深度信息检测透镜和传感器之间的倾斜状态。
7.如权利要求6所述的倾斜检查方法，其中检测深度信息当中的、传感器的中心区域的深度和传感器的角区域的深度。
8.如权利要求7所述的倾斜检查方法，其中计算检测到的深度的平均值，计算平均值和深度之间的差值，以及比较所计算的差值以检测倾斜状态。
9.如权利要求6所述的倾斜检查方法，还包括: 存储深度信息和倾斜状态；以及 显示深度信息和倾斜状态。
10.如权利要求6所述的倾斜检查方法，其中多次输出具有预置相位差的光。
【文档编号】H04N5/225GK103685873SQ201310291246
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年7月11日 优先权日:2012年9月17日
【发明者】全真阿 申请人:三星电子株式会社