本发明涉及通信技术领域，更具体地，涉及一种基于lte终端测试仪测试eicic的方法和装置。
背景技术：
目前，针对长期演进(lte)无线接入网(ran)，频域上的同频多小区间干扰协调称之为小区间干扰协调(icic)，时域上的同频多小区间干扰协调称之为增强的小区间干扰协调(eicic)。eicic是通过时域和频域以及功率控制的方式，对业务和控制信道的小区间干扰进行协调。
几乎空白子帧(almostblanksubframe，abs)技术是eicic的一项关键技术，主要用于解决控制信道的干扰，通过配置abs子帧的方式，使得干扰源小区在这些abs子帧的某些物理信道上降低功率发射或者不发射，从而可以避免对被干扰小区ue的pdcch以及pdsch的干扰。被干扰小区ue只在干扰源小区配置abs的子帧上译码pdcch和进行数据传输，可以有效地规避干扰。
一般来说，协议标准是使用自然语言描述的，实现人员对于协议的不同理解会导致不同的协议实现，甚至出现错误的实现。因此需要一种有效的方法来对协议进行判断，以验证协议实现和协议标准的等价性，这就是协议测试。协议测试是一种黑盒测试，主要包括四种类型：互操作性测试、性能测试、强健性测试和一致性测试。其中，一致性测试是一种功能测试，通过比较被测协议实现的实际输出与预期输出的异同来判定待测协议在多大程度上与标准描述相一致，确立通过一致性测试的被测协议实现在互联时成功率的高低。
现有国外厂商的终端协议一致性测试仪可以提供整套技术解决方案，该解决方案用于在单台仪表上实现2个单独小区，但实现逻辑复杂，实现功能单一，通用性较差，并且单台仪表成本高，极大增加终端厂商的研发支出。
技术实现要素：
本发明提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的基于lte终端测试仪测试eicic的方法和装置。
根据本发明的一个方面，提供一种基于lte终端综测仪来实现eicic测试的装置，包括第一综测仪、第二综测仪、二功分器和终端；
所述第一综测仪和所述第二综测仪的射频口分别连接所述二功分器；所述二功分器用于将第一lte小区和第二lte小区的射频信号进行合并后发送给终端；
所述第一lte小区和第二lte小区的同步控制端口和信令控制端口分别直接连接。
其中，第一lte小区建立在所述第一综测仪上；第二lte小区建立在所述第二综测仪上。
其中，所述第一综测仪通过其同步控制端口向所述第二综测仪发送同步信号；所述第二综测仪从其同步控制端口接收所述第一综测仪的同步信号，并用其进行时间与sfn同步。
其中，所述第一综测仪通过其信令控制端口对第二综测仪的第二lte小区进行信令控制；第二综测仪通过其信令控制端口接受第一综测仪的控制信令。
其中，所述终端用于执行小区接入过程，并根据接收到的小区信号发送a4测量报告。
一种根据上述其中一个基于lte终端综测仪来实现eicic测试的装置进行测试的方法，所述方法包括：
步骤1，配置所述第一和第二综测仪的时间和sfn同步，第一综测仪对第二综测仪进行信令控制，将第一lte小区和第二lte小区的射频输出端口连接到终端；
步骤2，终端在第一lte小区进行接入，第一lte小区向终端发送配置要求，指示终端对第二lte小区执行a4事件的测量；
步骤3，第一lte小区在预定时间内接收到a4事件测量报告，通过和预期结果比对，完成测试，释放终端连接。
其中，步骤2进一步包括：
第一综测仪打开第一lte小区的信号输出，发送下行信号；第二lte小区关闭信号输出，停止发送下行信号。
其中，步骤2进一步包括：
终端在第一lte小区接入成功，第一lte小区给终端发送配置要求，指示终端对第二lte小区执行a4事件的测量；
所述配置要求包括a4事件门限值、滞后值、偏移量和a4事件触发时间；所述测量内容包括参考信号接收功率rsrp和lte参考信号接收质量rsrq。
其中，步骤3进一步包括：
第二lte小区打开信号输出，发送下行信号；
第一lte小区启动a4事件测量定时器，预定时间内等待终端发送的测量报告；
终端基于第二lte小区的信号强度变化，触发a4事件测量，上报a4事件测量报告给第一lte小区。
其中，步骤3进一步包括：
第一lte小区在预定时间内收到a4事件测量报告后，确定其包含的r10扩展信息及相应abs字段符合预期，所述第一综测仪确认通过测试。
本申请提供一种针对终端进行eicic测试的测试方法和装置，通过终端在测试中上报a4事件测量报告，该测试报告包含r10扩展信息和abs相关字段，从而可以快速方便地对终端进行eicic全包围测试。
本申请通过采用两台低成本的终端综测仪来构成一个测试装置，实现对于终端的eicic全包围测试，实现逻辑简单清晰，可以极大简化测试流程，有效降低终端厂商的研发成本。
附图说明
图1为根据本发明实施例的eicic测试装置的组成框图；
图2为根据本发明实施例的eicic测试方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
可以理解，系统内的测量事件能够采用ax来标识，系统内事件报告种类包括a1、a2、a3、a4等，其中a4事件报告表示邻小区好于绝对门限。
在本申请的一个实施例中，提供一种基于lte终端综测仪来实现eicic测试的装置，图1示出根据本申请实施例的基于lte终端综测仪来实现eicic测试装置的结构框图，如图1所示，该装置包括第一综测仪1、第二综测仪2、二功分器9和终端设备ue10。
其中，第一lte小区建立在第一综测仪上；第二lte小区建立在第二综测仪上。
其中，第一综测仪的射频口3连接到二功分器，用于将第一lte小区的信号通过射频线发送给终端。
其中，第二综测仪的射频口4连接到二功分器，用于将第二lte小区的信号通过射频线发送给终端。
其中，第一综测仪的同步控制端口5连接到第二综测仪的同步控制端口6，第一综测仪通过其同步控制端口向第二综测仪发送同步信号；第二综测仪从其同步控制端口接收第一综测仪的同步信号，并用其进行本仪表的时间与sfn同步。
其中，第一综测仪的信令控制端口7连接到第二综测仪的信令控制端口8；其中，第一综测仪通过其信令控制端口对第二综测仪的第二lte小区进行信令控制；第二综测仪通过其信令控制端口接受第一综测仪的控制信令。
其中，二功分器用于将第一lte小区和第二lte小区的射频信号进行合并后发给终端。
其中，终端设备，用于执行小区接入过程，并根据接收到的小区信号发送测量报告。
图2为根据本发明实施例的用于实现eicic测试方法的流程图，如图2所示，
s1，开始，此时配置两台综测仪表的时间和sfn同步，第一综测仪实现对第二综测仪的信令控制，使用二功分器将第一lte小区、第二lte小区的射频输出端口连接到终端，且对于第一lte小区/第二lte小区的各种参数配置已经通过配置界面配置完成，下面的操作都由控制界面自动完成；
s2，第一综测仪上打开第一lte小区的信号输出，发送下行信号，使其能够发射和接收信号；第二lte小区关闭信号输出，停止发送下行信号；
s3，终端执行第一lte小区的附着和接入流程，接入失败后直接两个小区关闭下行信号，结束流程；
s4，终端在第一lte小区接入成功后，第一lte小区给终端发送配置要求，包括a4事件门限值、滞后值、偏移量、a4事件触发时间等，要求终端对第二lte小区执行a4事件的测量，包括参考信号接收功率rsrp和lte参考信号接收质量rsrq；
s5，第二lte小区打开信号输出，使其能够发射和接收信号，从而可以发送下行信号；
s6，第一lte小区启动a4事件测量定时器，等待终端发送的测量报告；
s7，终端上一旦检测到第二lte小区的信号强度变化，满足a4事件触发条件，会上报a4事件测量报告给第一lte小区；第一lte小区未收到测量报告转s10，收到测量报告转s8；
s8，第一lte小区收到测量报告后，将其与预期结果进行比对，确定其是否包含r10扩展信息及是否包含相应abs字段，以确定其是否符合预期；如果符合预期转s9，如果不符合预期转s10；
s9，如果测量报告符合预期，在第一综测仪的测试结果输出界面上会显示“用例通过”，表示通过测试；
s10，如果测量报告不符合预期，在第一综测仪的测试结果输出界面上会显示“用例失败”，表示未通过测试；
s11，第一lte小区发起释放终端的过程，释放掉终端的连接；
s12，第一综测仪的第一lte小区和第二lte小区关闭下行信号，结束测试流程。
最后，本申请的方法仅为较佳的实施方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。