技术总结
本发明提出一种OTDR内部光路检测方法及系统，在OTDR产品的光路制作过程中进行光路检测，在光路各模块熔接之后，控制光路发光可进行光路通断性的测试，对熔接形成的散状光路进行损耗检测，可以得到光纤熔接的熔接损耗检测，如果损耗值与理想值相差太大，则说明熔接步骤便出现了问题，如果没有问题再对散状光路进行盘光路，对盘状光路进行损耗检测，可以得到盘状光路的光纤弯曲损耗，可能光纤弯曲角度不合适，便可及时调整盘光路，分析检测的时间更快，并且返修光路的周期也缩短了，提高工厂生产效率，降低人工成本，降低批量生产盘光路及OTDR整个产品的不良率。
技术研发人员：李楚元
受保护的技术使用者：一诺仪器（中国）有限公司
技术研发日：2016.09.08
技术公布日：2019.04.23