技术特征：
技术总结
本发明公开了一种光收发芯片的自动测试装置及方法，装置包括上位机测试模块、USB转I2C模块、MCU控制模块、继电器开关、EEPROM模块、稳压电源模块和信号发生器；MCU控制模块与光收发芯片相连；USB转I2C模块连接于上位机测试模块和MCU控制模块之间；上位机测试模块用于通过MCU控制模块控制继电器开关实现高低电平切换，对寄存器地址进行检测判断，完成参数测试和存储测试结果；EEPROM模块与光收发芯片相连用于将EEPROM的数据导入光收发芯片；稳压电源模块与光收发芯片和继电器开关分别相连用于提供直流电源。本发明通过将硬件电路与上位机测试软件进行结合，能快速、准确地对光收发芯片进行自动化测试，并对测试结果进行存储。
技术研发人员：黄秋伟
受保护的技术使用者：厦门优迅高速芯片有限公司
技术研发日：2017.03.23
技术公布日：2017.07.07