本发明涉及通信
技术领域：
：，尤其涉及一种功率测试系统、功率补偿方法及装置。
背景技术：
：：终端在生产时候，由于在pcba(printedcircuitboardassembly,印刷电路板装配)过程中，各个元器件之间的硬件偏差容易导致射频接收发射参数的偏差，为了保证每一部终端内的主板性能的一致性，都会对每一片装配后的主板进行校准。通常情况下，在对主板进行校准过程中，需要使用金机和综合测试仪(多通道无源器件测试仪、多通道无源器件损耗分析仪等)，金机是指在生产的时候为了校准生产线的rf(radiofrequency,射频)测试仪器的射频线缆的损耗值的标准手机，金机的射频功率值是固定的；综合测试仪是用来分析多通道无源光器件的损耗性能。由于综合测试仪有多台，因为经常使用或者使用程度不一致，每台综合测试仪之间容易出现不同的测试误差，因此，在对主板进行校准过程之前，首先通过金机固定的射频功率值分别为每一台综合测试仪进行校准。由于在校准完成后金机就不会继续使用，由此造成资源的浪费，并且金机的生产成本较高。技术实现要素：本发明实施例提供一种功率测试系统、功率补偿方法及装置，通过使用测试夹具、射频线缆等来代替金机对综合测试仪进行功率补偿，降低生产成本。第一方面，本发明实施例提供一种功率测试系统，所述功率测试系统包括：综合测试仪、屏蔽盒、测试夹具、功率计、主集测试线缆、分集测试线缆以及射频线缆；所述综合测试仪包括主集接口、分集接口以及发射端；所述测试夹具设置在所述屏蔽盒内，所述测试夹具包括主集测试座和分集测试座。第二方面，本发明实施例还提供一种功率补偿方法，应用于前述方面的功率测试系统，所述方法包括：获取射频线缆自身的射频功率损耗值；根据所述射频功率损耗值确定主集接口功率补偿值；根据所述射频功率损耗值确定分集接口功率补偿值。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述获取射频线缆自身的射频功率损耗值，包括：连接所述功率计与所述发射端，通过所述综合测试仪采集第一功率损耗值；依次连接所述功率计、所述射频线缆与所述发射端，通过所述综合测试仪采集第二功率损耗值；根据所述第二功率损耗值与所述第一功率损耗值之差，确定所述射频线缆自身的射频功率损耗值。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述根据所述射频功率损耗值确定主集接口功率补偿值，包括：依次连接所述发射端、所述主机测试座与所述主集接口，通过所述综合测试仪获取第三功率损耗值；根据所述第三功率损耗值与所述射频功率损耗值之差，确定所述主集接口功率损耗值。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述根据所述射频功率损耗值确定分集接口功率补偿值，包括：依次连接所述发射端、所述主机测试座与所述分集接口，通过所述综合测试仪获取第四功率损耗值；根据所述第四功率损耗值与所述射频功率损耗值之差，确定所述分集接口功率损耗值。第三方面，本发明实施例还提供一种功率补偿装置，所述装置包括：获取单元，用于获取射频线缆自身的射频功率损耗值；第一确定单元，用于根据所述射频功率损耗值确定主集接口功率补偿值；第二确定单元，用于根据所述射频功率损耗值确定分集接口功率补偿值。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述获取单元，具体用于：连接所述功率计与所述发射端，通过所述综合测试仪采集第一功率损耗值；依次连接所述功率计、所述射频线缆与所述发射端，通过所述综合测试仪采集第二功率损耗值；根据所述第二功率损耗值与所述第一功率损耗值之差，确定所述射频线缆自身的射频功率损耗值。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述第一确定单元，具体用于：依次连接所述发射端、所述主机测试座与所述主集接口，通过所述综合测试仪获取第三功率损耗值；根据所述第三功率损耗值与所述射频功率损耗值之差，确定所述主集接口功率损耗值。如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述第二确定单元，具体用于：依次连接所述发射端、所述主机测试座与所述分集接口，通过所述综合测试仪获取第四功率损耗值；根据所述第四功率损耗值与所述射频功率损耗值之差，确定所述分集接口功率损耗值。本发明实施例提供的功率测试系统、功率补偿方法及装置，使用包括测试夹具、综合测试仪、射频线缆等在内的功率测试系统来对综合测试仪的功率进行补偿，首先通过射频线缆获取自身的射频功率损耗值，然后根据射频功率损耗值分别确定综合测试仪的主集接口功率补偿值和分集接口功率补偿值，因此，本发明实施例提供的技术方案使用射频线缆、测试夹具等代替金机来对综合测试仪进行测试，确定相应的功率补偿值，进而对综合测试仪进行补偿，操作简单，精确度高，器件成本较低，解决了现有技术中使用金机对综合测试仪进行功率补偿的方式造成资源浪费，生产成本较高的问题。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本发明实施例提供的功率测试系统实施例的结构示意图；图2为本发明实施例提供的功率补偿方法实施例的流程图；图3为本发明实施例提供的功率补偿装置实施例的结构示意图。具体实施方式为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。生产终端的产线上，每一个工位都会有一台综合测试仪，用于对终端的印刷电路板的各种性能进行测试。由于每台综合测试仪会因为使用程度不一致，校准时间不同等，会出现不同的测试误差，所以每一台综合测试仪都需要单独进行测试，以对误差进行补偿，使得产线上每一台综合测试仪的参数保持一致，进而保障整批次的印刷电路板的参数保持一致。现有技术中使用金机对综合测试仪进行测试，以对误差进行补偿，由于金机不是量产的机器，并且，在某一个批次的终端生产完成后，金机就会失去利用价值，由于金机的生产成本较高，因此本发明实施例提供一种功率测试系统以及功率补偿方法，用于解决该问题，具体的，图1为本发明实施例提供的功率测试系统实施例的结构示意图，如图1所示，本发明实施例提供的功率测试系统中包括综合测试仪1、屏蔽盒2、测试夹具3、功率计、主集测试线缆4(cablemain)、分集测试线缆5(cablesecond)以及射频线缆6(refcable)。其中，综合测试仪1包括主集接口、分集接口以及发射端。测试夹具3设置在屏蔽盒2内，测试夹具3包括主集测试座31和分集测试座32。在本发明实施例中，屏蔽盒2的作用为防止信号干扰，保证测试数据的正确性与准确性。测试夹具3用于夹住测试板33，测试板33与生产终端内的印刷电路板时使用的基板相同。主集测试线缆4用于连接主集测试座31和主集接口，分集测试线缆5用于连接分集测试座32和分集接口。功率计用于测试电功率。下面将介绍一种功率补偿方法，利用图1中的功率测试系统来实现对综合测试仪中主集接口与分集接口的功率的补偿，具体的，图2为本发明实施例提供的功率补偿方法实施例的流程图，如图2所示，本实施例的功率补偿方法，具体可以包括如下步骤：201、获取射频线缆自身的射频功率损耗值。在本发明实施例中，通过射频线缆和主集测试线缆来测试主集接口的功率补偿值，通过射频线缆和分集测试线缆来测试分集接口的功率补偿值，由于二者都使用到了射频线缆，因此，需要获取射频线缆自身的射频功率损耗值。首先，连接功率计与发射端，通过综合测试仪采集第一功率损耗值，具体的，功率计有两端，第一端连接综合测试仪的功率计端口，第二端连接发射端，则通过综合测试仪采集到的第一功率损耗值为功率计自身的功率损耗值，标记为a；然后，连接功率计、射频线缆与发射端，通过综合测试仪采集第二功率损耗值，第二功率损耗值为功率计自身的功率损耗值与射频线缆自身的功率损耗值的和，标记为b；最后，根据第二功率损耗值与第一功率损耗值之差，确定射频线缆自身的射频功率损耗值，标记为c，则c＝b-a。202、根据射频功率损耗值确定主集接口功率补偿值。在本发明实施例中，确定主集接口功率补偿值通过依次连接发射端、主机测试座与主集接口，其中，发射端与主集测试座之间通过射频线缆连接，主集测试座与主集接口之间通过主集测试线缆连接，通过综合测试仪获取第三功率损耗值，则第三功率损耗值为射频功率损耗值、测试板的功率损耗值、主集测试线缆自身的功率损耗值以及综合测试仪自身的功率损耗值之和，标记为d，其中，射频功率损耗值是经步骤201中计算得到，而其他三个部分的功率损耗值即为主集接口功率损耗值，因此，根据第三功率损耗值与射频功率损耗值之差，确定主集接口功率损耗值，标记为e，则e＝d-c。203、根据射频功率损耗值确定分集接口功率补偿值。在本发明实施例中，确定主集接口功率补偿值通过依次连接发射端、主机测试座与分集接口，其中，发射端与分集测试座之间通过射频线缆连接，分集测试座与分集接口之间通过分集测试线缆连接，通过综合测试仪获取第四功率损耗值，则第四功率损耗值为射频功率损耗值、测试板的功率损耗值、分集测试线缆自身的功率损耗值以及综合测试仪自身的功率损耗值之和，标记为f，其中，射频功率损耗值是经步骤201中计算得到，而其他三个部分的功率损耗值即为分集接口功率损耗值，因此，根据第四功率损耗值与射频功率损耗值之差，确定分集接口功率损耗值，标记为g，则g＝f-c。在获得了主集接口功率补偿值与分集接口功率补偿值后，根据主集接口功率补偿值对主集接口的功率进行补偿，根据分集接口功率补偿值对分集接口的功率进行补偿。需要说明的是，本发明实施例中所涉及的终端可以包括但不限于个人计算机(personalcomputer，pc)、个人数字助理(personaldigitalassistant，pda)、无线手持设备、平板电脑(tabletcomputer)、手机、mp3播放器、mp4播放器等。本发明实施例提供的功率测试系统以及功率补偿方法，使用包括测试夹具、综合测试仪、射频线缆等在内的功率测试系统来对综合测试仪的功率进行补偿，首先通过射频线缆获取自身的射频功率损耗值，然后根据射频功率损耗值分别确定综合测试仪的主集接口功率补偿值和分集接口功率补偿值，因此，本发明实施例提供的技术方案使用射频线缆、测试夹具等代替金机来对综合测试仪进行测试，确定相应的功率补偿值，进而对综合测试仪进行补偿，操作简单，精确度高，器件成本较低，解决了现有技术中使用金机对综合测试仪进行功率补偿的方式造成资源浪费，生产成本较高的问题。本发明实施例还提供一种功率补偿装置，具体地，图3为本发明实施例提供的功率补偿装置实施例的结构示意图，如图3所示，本发明实施例提供的功率补偿装置，具体可以包括：获取单元11、第一确定单元12、第二确定单元13。获取单元11，用于获取射频线缆自身的射频功率损耗值。第一确定单元12，用于根据射频功率损耗值确定主集接口功率补偿值。第二确定单元13，用于根据射频功率损耗值确定分集接口功率补偿值。在一个具体的实现过程中，获取单元11，具体用于：连接功率计与发射端，通过综合测试仪采集第一功率损耗值；依次连接功率计、射频线缆与发射端，通过综合测试仪采集第二功率损耗值；根据第二功率损耗值与第一功率损耗值之差，确定射频线缆自身的射频功率损耗值。在一个具体的实现过程中，第一确定单元12，具体用于：依次连接发射端、主机测试座与主集接口，通过综合测试仪获取第三功率损耗值；根据第三功率损耗值与射频功率损耗值之差，确定主集接口功率损耗值。在一个具体的实现过程中，第二确定单元13，具体用于：依次连接发射端、主机测试座与分集接口，通过综合测试仪获取第四功率损耗值；根据第四功率损耗值与射频功率损耗值之差，确定分集接口功率损耗值。本实施例的装置，可以用于执行图2所示方法实施例的技术方案，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机装置(可以是个人计算机，服务器，或者网络装置等)或处理器(processor)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(read-onlymemory，rom)、随机存取存储器(randomaccessmemory，ram)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。当前第1页12当前第1页12