一种线损校准方法及系统与流程

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种线损校准方法及系统、射频参数测试方法及系统。

背景技术：

在手机生产过程中，需要对手机射频参数，如发射功率、频率误差、相位误差、接收灵敏度等进行测试。在通过综合测试仪对手机射频信号进行检测时需要通过射频线连接手机，其中，夹具的插损和测试仪器的不确定度称为路径的系统损耗，简称线损，可以通过校准来消除。为了提高手机射频参数测试的准确性，需要对测试座到测试仪器之间的线损进行校准。

现有技术中进行线损校准的方法，一种是利用金机校准线损，即校准射频线、测试夹具、测试仪器等的损耗。金机是将各项指标和参数调到固定的最佳值，在测试时金机通过射频线连接综合测试仪，以金机的指标对射频线和综合测试仪同时进行校准。这种方法有一定的缺陷，随着放置时间的变长和温度的变化，金机的功率可能会有变化，易损坏。第二种是定期用矢量网络分析仪校准线损，这种方法精度高但是只能测试两端都是sma接口的射频线的线损，而夹具一般接口是顶针，线损无法测试。且这种方式无法对测试仪器的偏差进行一致性校准。

因此，需要一种线损校准方法，能够准确校准射频测试过程中的路径损耗，以便对移动终端的射频参数进行测试。

技术实现要素：

为此，本发明提供了一种线损校准方法及系统、射频参数测试方法及系统，以力图解决或者至少缓解上面存在的至少一个问题。

根据本发明的一个方面，提供了一种线损校准方法，在该方法中，首先通过测试仪器测量接口板的线损值，其中接口板包括测试座和与测试座连接的sma接头。接着通过测试仪器和已知线损值的射频线测量测试仪器的端口误差。最后基于接口板的线损值、射频线的线损值和测试仪器的的端口误差，确定测试座与测试仪器端口之间的线损值。

可选地，在上述方法中，射频线的两端具有sma接头。

可选地，在上述方法中，测试座可以包括主集测试座和分集测试座，sma接头可以包括主集sma接头和分集sma接头，主集sma接头和分集sma接头分别通过衰减网络与主集测试座和分集测试座连接。

可选地，在上述方法中，可以使测试仪器的一端通过扣线连接主集测试座，另一端通过射频线连接主集sma接头，从而测得二端口网络的主集线损值。然后基于二端口网络的主集线损值、扣线的线损值和射频线的线损值，计算接口板的主集线损值。同样地，可以使测试仪器的一端通过扣线连接分集测试座，另一端通过射频线连接分集sma接头，测得二端口网络的分集线损值。然后基于二端口网络的分集线损值、接扣线的线损值和射频线的线损值，计算接口板的分集线损值。

可选地，在上述方法中，测试仪器可以包括主集发射端口、分集发射端口和接收端口。可以通过射频线连接主集发射端口和接收端口，使主集发射端口发射第一预定功率，测量接收端口的第一接收功率。并通过射频线连接分集发射端口和接收端口，使分集发射端口发射第一预定功率，测量接收端口的第二接收功率。然后基于第一预定功率、第一接收功率和射频线的线损值，计算测试仪器的主集端口误差。基于第一预定功率、第二接收功率和射频线的线损值，计算测试仪器的分集端口误差。

可选地，在上述方法中，可以通过射频线连接主集sma接头和接收端口，使主集发射端口发射第二预定功率，测量接收端口的第三接收功率。并通过射频线连接分集sma接头和接收端口，使分集发射端口发射第二预定功率，测量接收端口的第四接收功率。然后可以基于第三接收功率、主集端口误差、射频线的线损值、接口板的主集线损值以及第二预定功率，计算测试座与测试仪器端口之间的主集线损值。可以基于第四接收功率、分集端口误差、射频线的线损值、接口板的分集线损值以及第二预定功率，计算测试座与测试仪器端口之间的分集线损值。

可选地，在上述方法中，主集端口误差为第一接收功率与第一预定功率、射频线的线损值的差值。分集端口误差为第二接收功率与第一预定功率、射频线的线损值的差值。

可选地，在上述方法中，测试座与测试仪器端口之间的主集线损值为第三接收功率与第二预定功率、接口板的主集线损值、射频线的线损值、主集端口误差的差值。测试座与测试仪器端口之间的分集线损值为第四接收功率与第二预定功率、接口板的分集线损值、射频线的线损值、分集端口误差的差值。

可选地，当第一预定功率等于第二预定功率，并且所述射频线的线损值相同，测试座与测试仪器端口之间的主集线损值为第三接收功率与第一接收功率、接口板的主集线损值的差值。测试座与测试仪器端口之间的分集线损值为第四接收功率与第二接收功率、接口板的分集线损值的差值。

可选地，在上述方法中，测试仪器为矢量网络分析仪。

根据本发明的另一个方面，提供一种线损校准系统，包括：测试仪器、夹具、接口板、射频线。

其中，测试仪器可以包括主集发射端口、分集发射端口和接收端口，适于通过主集发射端口和分集发射端口发射功率，并测试接收端口的接收功率。接口板可以包括主集测试座和主集sma接头、分集测试座和分集sma接头。夹具的一端通过射频顶针连接接口板的主集测试座和分集测试座，另一端通过射频线连接测试仪器的主集发射端口和分集发射端口。射频线可以连接主集sma接头与接收端口以及/或者连接分集sma接头与接收端口。

根据本发明的又一个方面，提供一种射频参数测试方法，首先使用上述的线损校准方法，确定测试座与测试仪器端口之间的线损值，再基于确定的线损值，测试移动终端的射频参数。

根据本发明另一个方面，提供一种射频参数测试系统，包括：移动终端主板、综合测试仪器、夹具、电源和计算设备。

其中，移动终端主板，包括射频测试座。综合测试仪器可以测试移动终端主板的射频参数并将测试结果返回给计算设备。夹具可以通过射频线连接综合测试仪器，通过射频顶针连接射频测试座，通过连接电源为移动终端主板提供电源以及通过连接计算设备向所述移动终端主板传输控制信号。电源可以为夹具提供电源。计算设备可以向夹具传输控制信号，接收综合测试仪器返回的测试结果，并可以基于测试结果调整移动终端的射频参数。

通过上述方案，提高了射频测试的准确性和效率。由于无源器件的属性较稳定，不会出现功率波动的情况。使用已知线损的射频线和接口板代替金机，对移动终端射频测试系统的拓扑线损进行校准，不需频繁拆拓扑。能够减小测试误差，为终端产品的品质提供保障。

附图说明

为了实现上述以及相关目的，本文结合下面的描述和附图来描述某些说明性方面，这些方面指示了可以实践本文所公开的原理的各种方式，并且所有方面及其等效方面旨在落入所要求保护的主题的范围内。通过结合附图阅读下面的详细描述，本公开的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。遍及本公开，相同的附图标记通常指代相同的部件或元素。

图1示出了根据本发明的一个实施例的射频参数测试系统100的示意性结构图；

图2示出了根据本发明的一个实施例的线损校准系统200的示意性结构图；

图3示出了根据本发明的一个实施例的接口板220的示意图；

图4示出了根据本发明的一个实施例的测试座与sma接口连接的电路结构示意图；

图5示出了根据本发明的一个实施例的线损校准方法的示意性流程图；

图6示出了根据本发明的一个实施例的射频参数测试方法的示意性流程图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

手机等移动终端在生产过程中一般包括主板测试和校准、整机终测等，其中主板校准是手机生产测试的核心，主要包括发射机和接收机的射频指标校准。射频参数指标一般包括接收电平、发射功率、频率误差等。由于印制电路板元器件之间的硬件偏差导致射频接收发射参数的偏差。对射频参数的校准一般利用软件参数的方法补偿硬件一致性偏差带来的射频参数偏差。手机在实际网络工作时会调用已经校准的参数来优化射频的性能。为了提高射频参数测试的准确性，本方案提供了一种线损校准方法及系统。

图1示出了根据本发明的一个实施例的射频参数测试系统100的示意性结构图。如图1所示，射频参数测试系统100包括：移动终端主板110、综合测试仪器120、夹具130、电源140和计算设备150、射频线160。

其中，移动终端主板110包括射频测试座111。一般移动终端的印刷电路板上安装有射频测试座，测试设备可以通过射频测试座来测试移动终端的射频性能。射频测试座包括基座和设置于基座上的探头插孔，用于与测试夹具的顶针连接综合测试仪器120可以测试移动终端主板110的射频参数并将测试结果返回给计算设备150。夹具130可以通过射频线160连接综合测试仪器120，通过射频顶针112连接射频测试座111，通过连接电源140为移动终端主板110提供电源以及通过连接计算设备150向移动终端主板110传输控制信号。电源140可以通过夹具为移动终端主板供电。计算设备150可以向夹具130传输控制信号，接收综合测试仪器120返回的测试结果，并可以基于测试结果调整移动终端的射频参数。

其中，综合测试仪器120可以包括多个端口，图1中示出了第一端口rfcom1和第二rfout1。在测试手机接收机性能时，综合测试仪器120输出射频信号供手机接收。在测试手机发射机性能时，综合测试仪器120接收并解调手机发射的信号。计算设备150可以通过夹具130将usb控制信号传输给移动终端，以便移动终端根据控制信号发射和接收功率。综合测试仪器120可以通过usb总线将测试结果返回给计算设备，若测试结果存在偏差，计算设备150可以控制射频参数调整指标，最终把调整后的指标写入移动终端的存储器中。

一般手机天线采用分集接收技术，即在每个频道上用两根天线，主集天线连接在射频模块的主集接口上，分集天线连接在射频模块的分集接收接口上。主集负责射频信号的发射和接收，分集是只接收不发送，基站会把从两个接口收到的信号进行合并处理，从而获得接收增益。一般来说2g没有分集，3g可有可无，4g必须要分集。因此可以测试手机天线的主集线损和分集线损。一般来说，特性阻抗50欧或75欧的线缆就可作为射频线。也就是说能够传输rf射频信号且基本不影响射频信号质量的电缆就是射频线。在手机射频测试时需要通过射频线160连接综合测试仪器120和夹具130。

射频顶针112顶入射频测试座111内，就可以和移动终端主板信号连接，将移动终端发射信号传到综合测试仪器120上，以及接收综合测试仪器120发射的信号。综合测试仪器120内部有信号源和信号分析仪两个模块，外部通过端口连接夹具130。发射和接收测试这两种场景下信号传输路径不同，为了获得精确测量结果，需要分别校准信号源、信号分析仪、夹具的损耗。

图2示出了根据本发明的一个实施例的线损校准系统200的示意性结构图。如图2所示，线损校准系统200可以包括：测试仪器210、接口板220、夹具、射频线。

根据本发明的一个实施例，测试仪器210为矢量网络分析仪。矢量网络分析仪是一种电磁波能量的测试设备。既能测量单端口网络或双端口网络的各种参数幅值，又能测相位。矢量网络分析仪可以也包括多个端口，本方案中使用三个端口com1、out1和com2，可以通过com1或out1作为主集发射端口和分集发射端口用于发射功率，com2作为接收端口用于接收功率。接口板220可以包括射频测试座、主集sma接头、分集sma接头。主集sma接头与主集测试座连接，分集sma接头与分集测试座连接。夹具130的一端通过射频顶针111连接接口板220的射频测试座，另一端通过两条射频线连接测试仪器210的主集发射端口com1和分集发射端口out1。可以使用已知线损值的射频线连接主集sma接头与com2来测试整个拓扑的主集线损以及/或者连接分集sma接头与com2来测试整个拓扑的分集线损。

其中，接口板220按照与移动终端主板的大小、射频测试座位置、安装孔的位置、电路拓扑的结构等一致来制作。图3示出了根据本发明的一个实施例的接口板220的示意图。如图3所示，接口板220可以包括三个sma接头，包括用于测试天线线损的主集sma接头、分集sma接头和用于测试wifi通路线损的wifisma接头(本方案中未涉及)。sma无线电天线接口是sub-miniature-a的简称，是天线接头是内部有螺纹的里面触点是针(无线设备一端是外部有螺纹里面触点是管)。这种接口的无线设备是最最普及的，其中射频测试座的位置和移动终端主板完全一致，这样可以使得接口板220完全放置在夹具中。夹具的射频顶针可以插入射频测试座中。为了使接口板不与夹具干涉，可以将sma接头向外延伸一段距离，同时其他和夹具干涉的地方，如供电顶针、usb传输顶针及一些支撑的物理结构处，进行挖空处理，以保证接口板220能和夹具适配，保证夹具的射频顶针与射频测试座良好接触。另外，为了保证与移动终端主板的高度一致，还可以在接口板上焊接屏蔽罩支架。

根据本发明的一个实施例，测试座通过π型衰减网络与sma接头连接，也可以使用t型衰减网络实现信号衰减并保持输入阻抗不变，此处不做限定。图4示出了根据本发明的一个实施例的测试座与sma接口连接的电路示意图。如图4所示，左边为测试座，右边为sma接头，中间为π型衰减网络。在射频发射测试中涉及的功率等级一般较高，大功率的信号必须经过衰减才可以连接到测试设备中，否则会造成对测试设备的损害。π型衰减网络是一个无源二端口网络，π型衰减网络的目的是减小端口之间的失配，要保证从信号源端看进去的阻抗和信号源阻抗匹配，从负载端看过去的阻抗与负载的阻抗匹配。此外sma接头的附近需要净空处理，这样可以改善驻波，减少反射。

根据上述的方法完成接口板的制作后，就可以使用接口板和已知线损值的射频线对测试座与测试仪器之间的线损值进行校准，以便基于测试座到测试仪器之间的线损值，测试移动终端的射频参数，从而基于测试结果调整移动终端的射频指标。

图5示出了根据本发明的一个实施例的线损校准方法的示意性流程图。如图5所示，首先在步骤s510中，可以通过测试仪器测量接口板的线损值，接口板至少包括测试座和与测试座连接的无线电天线接头sma接头。

接口板也叫转接卡，接口板与待测试的移动终端主板的内部电气特性一样，还可以提供频率调整和电压调整。接口板主要是对不同结构的接口进行转换，例如本方案中将顶针接口转换为sma接口。其中，sma接口有两种形式，标准的sma接头是一端“外螺纹+孔”，另一端“内螺纹+针”；反极性rp-sma是一端“外螺纹+针”。sma连接器适用于微波设备和数字通信系统的射频回路中连接射频电缆或微带线。一般夹具的接口为顶针，这样将夹具通过顶针连接接口板的射频测试座，再通过sma接口与测试仪器连接，能够测试夹具的线损。先测试线损，有了线损值以后才能校准样机。

如图2所示，在生产线上对射频参数校准时一般使用测试仪器的com1及out1端口，其中主集使用com1，分集使用out1。com2端口是空闲的，本方案中采用com1及out1发功率，使用com2接收的办法，主集测试线损是通过com1发功率，com2接收功率，分集测试线损是通过out1发功率，com2接收功率。通过计算发射及接收信号的功率差值来计算从射频座到测试仪器端口之间的线损。

其中测试座可以包括主集测试座和分集测试座，相应地，sma接头可以包括主集sma接头和分集sma接头，主集sma接头和分集sma接头分别通过衰减网络与主集测试座和分集测试座连接。

可以使用矢量网络分析仪测量接口板主分集各频段的线损。由于在无线产品中，发射或接收无线信号的频率和产品支持的频段一一对应，这里指的各频段和产品支持的频率一一对应，比如手机支持lteb1(发射频率1920-1980mhz，接收频率2110-2170mhz)由于支持此频率，所以需要测试该频率下的线损。

根据本发明的一个实施例，可以使矢量网络分析仪(以下简称矢网)的一端通过扣线连接主集测试座，另一端通过射频线连接主集sma接头，测得端口网络的主集线损值。其中扣线的一端是可以和测试座配套的接头，另一端是sma接头。对于二端口网络，有四个s参数，也就是散射参数。是微波传输中的一个重要参数。s12为反向传输系数，也就是隔离。s21为正向传输系数，也就是增益。s11为输入反射系数，也就是输入回波损耗，s22为输出反射系数，也就是输出回波损耗。二端口网络的线损值即测试s21时1端口和2端口之间的线损值，即矢网上的s21。s21是2端口网络的s矩阵参数，表征整个二端口网络的线损值，代表矢网两个端口之间连接部分的线损值。通常使用矢量网络分析仪(vna)测量射频元器件的s参数。

然后就可以基于二端口网络的主集线损值、扣线的线损值和射频线的线损值，计算所述接口板的主集线损值。接口板的主集线损值等于s21测试值减去扣线的线损值和两端sma接头的射频线的线损值，可以记为c1。

同样地，可以使矢网的一端通过扣线连接分集测试座，另一端通过射频线连接分集sma接头，测得二端口网络的分集线损值。基于网络的分集线损值、接扣线的线损值和射频线的线损值，计算所述接口板的分集线损值，可以记为c2。其中，c1和c2均为负值。

然后在步骤s520中，可以通过测试仪器和的已知线损值的射频线测量测试仪器的端口误差。

由于com1及out1发射的功率与com2实际接收的到功率存在误差，故需要通过校准端口误差。根据本发明的一个实施例，可以通过射频线连接主集发射端口com1和接收端口com2，使所述主集发射端口发射第一预定功率，测量接收端口的第一接收功率。通过射频线连接分集发射端口out1和接收端口com2，使分集发射端口发射第一预定功率，测量接收端口的第二接收功率。

就可以基于第一预定功率、第一接收功率和射频线的线损值，计算测试仪器的主集端口误差。基于第一预定功率、第二接收功率和射频线的线损值，计算测试仪器的分集端口误差。

例如，可以控制矢网发出-5dbm的cw波，cw波为连续波射频信号，实际上是正弦波做载波。实际过程中可以选用其他值，一是不能选取过低的功率值，这样容易受到环境波动影响测试准确度，二是由于矢网信号发生器最大发射功率有限制，不能无限制的选取大功率。综上，可以在矢网允许范围能尽量选取较大的功率。设射频线的线损值为c，c为负值，设接收到的第一接收功率和第二接收功率分别为a1和a2，设主集端口误差(com1到com2)为c3，分集端口误差(out1到com2)为c4，那么c3＝a1+5-c；c4＝a2+5-c。

随后在步骤s530中，可以基于接口板的线损值、射频线的线损值和测试仪器的的端口误差，确定测试座与测试仪器端口之间的线损值。

根据本发明的一个实施例，可以通过射频线连接主集sma接头和接收端口，使主集发射端口发射第二预定功率，测量接收端口的第三接收功率。通过射频线连接分集sma接头和接收端口，使分集发射端口发射第二预定功率，测量接收端口的第四接收功率。

如图2所示，测试主集线损时将射频线的一端连接仪表com2端口，一端与接口板主集sma接头相连。控制矢网分别从com1和out1发出-5dbm的cw波，并记录仪表从com2接收到的功率，第三接收功率和第四接收功率可以分别记为b1，b2。也可以是其他数值的功率，只是与上述测试仪器端口误差时发射同一功率方便计算，如果发同一功率，这样最后可以将发射功率-5dbm抵消掉，实际得出的线损和仪器发的功率并没有关系。

就可以基于第三接收功率、主集端口误差、射频线的线损值、接口板的主集线损值以及第二预定功率，计算测试座与测试仪器端口之间的主集线损值；基于第四接收功率、分集端口误差、射频线的线损值、接口板的分集线损值以及第二预定功率，计算测试座与测试仪器端口之间的分集线损值。

可以计算获得主集整个通路线损l1＝b1+5-c1-c-c3，分集通路线损l2＝b2+5-c2-c-c4。当第一预定功率等于第二预定功率，即步骤s510和s520中测线损时发射功率一致，则主集发射端口测试座与测试仪器端口之间的主集线损值为第三接收功率与第一接收功率、接口板的主集线损值的差值；测试座与测试仪器端口之间的分集线损值为第四接收功率与第二接收功率、接口板的分集线损值的差值。

由于前面计算得到的c3＝a1+5-c；c4＝a2+5-c。所以l1＝b1-a1-c1，l2＝b2-a2-c2；其中b1，b2，a1，a2都是实测的功率值，c1，c2为测量得到的接口板板上的线损值。在本方案中使用的射频线都是已知线损值相同的射频线。这样就可以获得实际使用夹具测试时移动终端主板时主集测试座到仪器端口com1和分集测试座到仪器端口out1的线损。由上面的计算结果可知，射频线的线损会抵消掉，只要在线损测试过程中(即保证在仪器端口误差校准时用的线和最后线损校准时用的线是同一根)使用同一线损值的射频线进行校准，就可以不需要知道射频线的线损值。

接口板只是测量线损用的，测量线损结束后，就取下接口板，放入手机主板，利用测试得到的线损进行手机校准。图6示出了根据本发明的一个实施例的射频参数测试方法的示意性流程图。如图6所示，在步骤s600中基于上述线损校准方法获得的测试座与测试仪器端口之间的线损值，测试移动终端的射频参数。可以按照生产线测试的正常操作流程构建测试系统。如图1所示，夹具的射频顶针插入移动终端主板的测试座内，就可以和手机信号连接，将手机发射信号连接到顶针传到测试仪器上，完成手机射频参数的测试。

本方案操作简单，使用接口板替代金机，避免了金机功率波动或长期使用后损坏的情况，不需要频繁拆卸测试拓扑，只需利用测试仪器的空闲端口连接一条射频线进行线损校准。

a10、如a1-9任一项中所述的方法，其中，所述测试仪器为矢量网络分析仪。

a12、一种射频参数测试方法，其中，包括：使用如a1-10任一项中所述的线损校准方法，获得测试座与测试仪器端口之间的线损值；基于获得的线损值，测试所述移动终端的射频参数。

a13、一种射频参数测试系统，其中，包括：移动终端主板，包括射频测试座；综合测试仪器，适于测试所述移动终端主板的射频参数并将测试结果返回给计算设备；夹具，适于通过射频线连接所述综合测试仪器，通过射频顶针连接所述射频测试座，通过连接电源为所述移动终端主板提供电源以及通过连接计算设备向所述移动终端主板传输控制信号；电源，适于为所述夹具提供电源；计算设备，适于向所述夹具传输控制信号，接收综合测试仪器返回的测试结果。

应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域那些技术人员应当理解在本文所公开的示例中的设备的模块或单元或组件可以布置在如该实施例中所描述的设备中，或者可替换地可以定位在与该示例中的设备不同的一个或多个设备中。前述示例中的模块可以组合为一个模块或者此外可以分成多个子模块。

本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在下面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

这里描述的各种技术可结合硬件或软件，或者它们的组合一起实现。从而，本发明的方法和设备，或者本发明的方法和设备的某些方面或部分可采取嵌入有形媒介，例如软盘、cd-rom、硬盘驱动器或者其它任意机器可读的存储介质中的程序代码(即指令)的形式，其中当程序被载入诸如计算机之类的机器，并被所述机器执行时，所述机器变成实践本发明的设备。

在程序代码在可编程计算机上执行的情况下，计算设备一般包括处理器、处理器可读的存储介质(包括易失性和非易失性存储器和/或存储元件)，至少一个输入装置，和至少一个输出装置。其中，存储器被配置用于存储程序代码；处理器被配置用于根据该存储器中存储的所述程序代码中的指令，执行本发明所述的方法。

以示例而非限制的方式，计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质。计算机存储介质存储诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其它数据等信息。通信介质一般以诸如载波或其它传输机制等已调制数据信号来体现计算机可读指令、数据结构、程序模块或其它数据，并且包括任何信息传递介质。以上的任一种的组合也包括在计算机可读介质的范围之内。

此外，所述实施例中的一些在此被描述成可以由计算机系统的处理器或者由执行所述功能的其它装置实施的方法或方法元素的组合。因此，具有用于实施所述方法或方法元素的必要指令的处理器形成用于实施该方法或方法元素的装置。此外，装置实施例的在此所述的元素是如下装置的例子：该装置用于实施由为了实施该发明的目的的元素所执行的功能。

除非另行规定，使用序数词“第一”、“第二”、“第三”等等来描述普通对象仅仅表示涉及类似对象的不同实例，并且并不意图暗示这样被描述的对象必须具有时间上、空间上、排序方面或者以任意其它方式的给定顺序。

尽管根据有限数量的实施例描述了本发明，但是受益于上面的描述，本技术领域内的技术人员明白，在由此描述的本发明的范围内，可以设想其它实施例。此外，应当注意，本说明书中使用的语言主要是为了可读性和教导的目的而选择的，而不是为了解释或者限定本发明的主题而选择的。因此，在不偏离所附权利要求书的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。对于本发明的范围，对本发明所做的公开是说明性的，而非限制性的，本发明的范围由所附权利要求书限定。