一种光模块的检测方法、装置、设备及存储介质与流程

本发明涉及光模块技术领域，特别是涉及一种光模块的检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

sfp(smallform-factorpluggable，小型可插拔)光模块作为gbic(gigabitinterfaceconverter，千兆比特接口转换器)的升级版本，压缩了尺寸和功耗，在光通信中有着广泛的应用。在此基础上，sfp+光模块实现了尺寸相同的条件下的传输万兆信号的功能，具有高密度、低功耗、更低系统构造成本等显著优点，已经逐渐成为万兆市场的主流。

现有的sfp+光模块千差万别，在不同场合中用于满足用户的不同业务需求，设计有不同的信号传输通道的模型。由于信号通道的不同，因此目前没有固定的定义对sfp+光模块进行管控。在验证具体的某个sfp+光模块的信号性能时，通常的方案是直接对其进行实验。即需要对sfp+光模块施加某一频率的检测信号，同时获取输出信号，进而再利用相关软件分析出当前信号频率下的插入损耗和/或回波损耗，检测插入损耗和/或回波损耗是否符合规范，从而确定当前信号频率下，该sfp+光模块是否合格。并且sfp+光模块可能需要工作在不同的信号频率下，因此，还需要在多个不同的信号频率下重复上述检测步骤，以确定spf+光模块在不同频率下是否合格。这样的方式较为费时费力，特别是当待检测的光模块数量较多的场合中，挨个实验需要大量人力以及检测时间。

综上所述，如何更加有效地对光模块进行检测，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种光模块的检测方法、装置、设备及存储介质，以有效地对光模块进行检测。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种光模块的检测方法，包括：

构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；

获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；

将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的插入损耗曲线；

当判断出所述插入损耗曲线存在超出所述目标插入损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。

优选的，还包括：

构建在所述信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合回损规范的回波损耗范围，作为构建出的目标回波损耗区域；

将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第二模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的回波损耗曲线；

当判断出所述回波损耗曲线存在超出所述目标回波损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。

优选的，所述第一模型为通过以下步骤构建的模型：

构建初始模型：il＝k1(f)·l1+k2(f)·l2+k3(f)·n1+k4(f)·n2；

其中，il为插入损耗，l1为所述微带差分线长度，l2为所述带状差分线长度，n1为所述过孔数量，n2为所述连接器数量，k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)为受信号频率f影响的，有着各自的待定系数的表达式；

采集多个样本光模块各自的所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量，并检测各个所述样本光模块在所述信号频率范围内的不同频率时的插入损耗，代入所述初始模型中，通过拟合的方式确定出k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)这四个表达式中各自的待定系数的取值；

将确定了k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)这四个表达式中的待定系数的取值之后的所述初始模型作为构建出的所述第一模型。

优选的，在所述当判断出所述插入损耗曲线存在超出所述目标插入损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块之后，还包括：

输出表示所述待测光模块插入损耗不合格的提示信息。

优选的，在所述输出表示所述待测光模块插入损耗不合格的提示信息之后，还包括：

将所述待测光模块插入损耗不合格的事件进行记录。

一种光模块的检测装置，包括：

第一目标区域构建模块，用于构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；

参数获取模块，用于获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；

插入损耗确定模块，用于将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的插入损耗曲线；

插损不合格确定模块，用于当判断出所述插入损耗曲线存在超出所述目标插入损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。

优选的，还包括：

第二目标区域构建模块，用于构建在所述信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合回损规范的回波损耗范围，作为构建出的目标回波损耗区域；

回波损耗确定模块，用于将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第二模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的回波损耗曲线；

回损不合格确定模块，用于当判断出所述回波损耗曲线存在超出所述目标回波损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。

优选的，还包括：

提示信息输出模块，用于在所述插损不合格确定模块确定所述待测光模块为不合格的光模块之后，输出表示所述待测光模块插入损耗不合格的提示信息。

一种光模块的检测设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序以实现上述任一项所述的光模块的检测方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项所述的光模块的检测方法的步骤。

应用本发明实施例所提供的技术方案，包括：构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；将微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出待测光模块在信号频率范围内的插入损耗曲线；当判断出插入损耗曲线存在超出目标插入损耗区域的部分时，确定待测光模块为不合格的光模块。

本申请的方案中，预先构建了第一模型以及目标插入损耗区域，在检测待测光模块时，只需要获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量这4个参数数据，代入第一模型中，即可得出该待测光模块的在预设的信号频率范围内的插入损耗曲线。目标插入损耗区域表示的是符合插损规范的区域，因此，当第一模型中确定出的插入损耗曲线存在超出目标插入损耗区域的部分时，说明待测光模块的插入损耗不合格，因此可以确定待测光模块为不合格的光模块。由于本申请方案中，并不需要通过实验对待测光模块的插入损耗进行检测，而是只需要获取4个参数数据，通过预先构建的第一模型以及目标插入损耗区域便可以完成光模块的检测，并且这4个参数数据均是待测光模块的硬件数据，可以方便地获取，使得本申请可以有效地提高检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明中一种光模块的检测方法的实施流程图；

图2为本发明一种具体实施方式中构建出的目标插入损耗区域的示意图；

图3为本发明一种具体实施方式中的待测光模块的插入损耗曲线的示意图；

图4为本发明一种具体实施方式中构建出的目标回波损耗区域的示意图；

图5为本发明一种具体实施方式中的待测光模块的回波损耗曲线的示意图；

图6为本发明中一种光模块的检测装置的结构示意图；

图7为本发明中一种光模块的检测设备的结构示意图。

具体实施方式

本发明的核心是提供一种光模块的检测方法，可以有效地提高光模块的检测效率。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图1，图1为本发明中一种光模块的检测方法的实施流程图，该方法包括以下步骤：

步骤s101：构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域。

对于同一光模块，传输信号的信号频率不同时，其插入损耗会相应地变化。因此，需要对于不同的信号频率设定不同的插入损耗参考标准，该标准即为与当前的信号频率对应的，符合插损规范的插入损耗范围。插损规范可以预先进行设定，例如根据实际应用中对于光模块的插入损耗的要求进行插损规范的定义。当确定出不同信号频率各自对应的插入损耗范围时，便可以确定出在预设的信号频率内的目标插入损耗区域，该目标插入损耗区域表示的便是符合预设的插损规范的要求的插入损耗区域。

可参见图2，图2为一种具体实施方式中，参照工业规范确定出插损规范，进而构建出的目标插入损耗区域，用非阴影区域进行表示。考虑到现今的光模块的信号频率通常最高支持万兆级别，因此图2中，预设的信号频率范围为0至11ghz。当然，预设的信号频率范围也可以根据实际需要进行调整。图2中还示出了一种符合插损规范的波形示例，即该示例曲线不存在超出构建的目标插入损耗区域的部分。

步骤s102：获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量。

影响光模块的插入损耗的因素有多种，但本申请方案考虑到主要的影响因素是微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量。因此，便通过这4个参数进行后续的插入损耗曲线的确定，以简化插入损耗曲线的确定过程，使得本申请方案可以简单方便地对光模块进行检测。而微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量这4个参数的获取也较为方便，例如具体实施方式中可以直接从产品说明中进行获取，又如可以获取待测光模块传输信号的通道模型，进而读取通道模型中的相关数据，从而确定出待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量。

需要说明的是，本申请方案中，微带差分线长度指的是待测光模块的某一路信号传输通道中的微带差分线的总长度，相应的，带状差分线长度指的是某一路信号传输通道中的带状差分线的总长度，过孔数量指的是某一路信号传输通道中的过孔总数量，连接器数量为某一路信号传输通道中的总连接器数量，通常为1。

步骤s103：将微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出待测光模块在信号频率范围内的插入损耗曲线。

第一模型为预先构建的模型，将微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量，连接器数量以及信号频率作为输入量输入至第一模型中，第一模型便可以计算出对应的插入损耗。因此，设定了信号频率范围后，通过第一模型便可以确定出在该信号频率范围内的插入损耗曲线。

可以通过实验数据以及理论分析进行第一模型的构建，例如一种具体实施方式中，可以通过常用的回归拟合的方式构建第一模型。即可以分析微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量，连接器数量以及信号频率对插入损耗的影响，建立带有拟合系数的初始模型，再通过将样本数据代入初始模型中，便可以求出初始模型中的各个拟合系数，例如通过最小二乘法确定各拟合系数。

在本发明的一种具体实施方式中，第一模型为通过以下步骤构建的模型：

步骤一：构建初始模型：il＝k1(f)·l1+k2(f)·l2+k3(f)·n1+k4(f)·n2；

其中，il为插入损耗，l1为微带差分线长度，l2为带状差分线长度，n1为过孔数量，n2为连接器数量，k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)为受信号频率f影响的，有着各自的待定系数的表达式；

步骤二：采集多个样本光模块各自的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量，并检测各个样本光模块在信号频率范围内的不同频率时的插入损耗，代入初始模型中，通过拟合的方式确定出k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)这四个表达式中各自的待定系数的取值；

步骤三：将确定了k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)这四个表达式中的待定系数的取值之后的初始模型作为构建出的第一模型。

k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)均可以为以信号频率f作为变量的多项式，以降低第一模型的构建难度，例如k1(f)＝af²+bf，k2(f)＝cf，当然，在其他实施方式中，k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)均可以为更复杂的形式，而不仅仅是简单的多项式的形式，以使得通过第一模型确定出的插入损耗曲线更为符合待测光模块实际的插入损耗曲线。求出k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)中的待定系数之后，第一模型便构建完毕。例如在一种具体实施方式中，当信号频率f为4ghz时，确定了待定系数后的第一模型中的k1(f)＝0.65，k2(f)＝0.6，k3(f)＝0.25，k4(f)＝0.3。即可以通过：il＝0.65·l1+0.6·l2+0.25·n1+0.3·n2，计算4ghz的信号频率时的插入损耗。

步骤s104：当判断出插入损耗曲线存在超出目标插入损耗区域的部分时，确定待测光模块为不合格的光模块。

当步骤s103中确定出的插入损耗曲线存在超出目标插入损耗区域的部分时，便说明待测光模块的插入损耗不符合预设的插损规范，因此便可以确定待测光模块为不合格的光模块。相应的，当待测光模块的插入损耗曲线不存在超出目标插入损耗区域的部分时，便说明待测光模块的插入损耗合格，例如图3的实施方式中，待测光模块的插入损耗曲线均在目标插入损耗区域内。

应用本发明实施例所提供的方法，包括：构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；将微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出待测光模块在信号频率范围内的插入损耗曲线；当判断出插入损耗曲线存在超出目标插入损耗区域的部分时，确定待测光模块为不合格的光模块。

本申请的方案中，预先构建了第一模型以及目标插入损耗区域，在检测待测光模块时，只需要获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量这4个参数数据，代入第一模型中，即可得出该待测光模块的在预设的信号频率范围内的插入损耗曲线。目标插入损耗区域表示的是符合插损规范的区域，因此，当第一模型中确定出的插入损耗曲线存在超出目标插入损耗区域的部分时，说明待测光模块的插入损耗不合格，因此可以确定待测光模块为不合格的光模块。由于本申请方案中，并不需要通过实验对待测光模块的插入损耗进行检测，而是只需要获取4个参数数据，通过预先构建的第一模型以及目标插入损耗区域便可以完成光模块的检测，并且这4个参数数据均是待测光模块的硬件数据，可以方便地获取，使得本申请可以有效地提高检测效率。

在本发明的一种具体实施方式中，还包括：

构建在信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合回损规范的回波损耗范围，作为构建出的目标回波损耗区域；

将微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量代入预先构建的第二模型中，确定出待测光模块在信号频率范围内的回波损耗曲线；

当判断出回波损耗曲线存在超出目标回波损耗区域的部分时，确定待测光模块为不合格的光模块。

考虑到回波损耗也是光模块的一个重要指标，当回波损耗不合格时，可以确定待测光模块为不合格的光模块，因此该种实施方式中，也对待测光模块的回波损耗曲线进行确定。在验证回波损耗是否合格时，相关操作可参照上文的验证插入损耗的描述，预设的信号频率范围可以与步骤s101中的相同，预设的回损规范也可以根据实际需要进行设定，例如4为参照工业规范构建出的目标回波损耗区域，用非阴影区域进行表示。

并且需要说明的是，由于微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量这4个参数指的都是某一路信号通道的硬件参数，当光模块采用差分信号的形式时，便需要分别验证两路的回波损耗曲线是否符合目标回波损耗区域，即对于这两路信号通道可以分别进行相关参数的确定，从而分别确定出回波损耗曲线。例如图5的实施方式中，该待测光模块的两路信号通道的回波损耗均合格。

在本发明的一种具体实施方式中，在步骤s104之后，还可以包括：

输出表示待测光模块插入损耗不合格的提示信息。

提示信息可以为显示器上的文字提示信息，也可以是声光等提示信息，以使得工作人员可以及时注意到待测光模块的插入损耗不合格。此外，还可以进行提示信息的远程传输，使得工作人员远程获知该情况。当然，但确定待测光模块的回波损耗不合格时，也可以输出表示待测光模块回波损耗不合格的提示信息。

在具体实施时，还可以在输出表示待测光模块插入损耗不合格的提示信息之后，将待测光模块插入损耗不合格的事件进行记录。由于进行了待测光模块插入损耗不合格的事件记录，可以便于工作人员进行历史数据的查询，例如可以统计出哪一批次的光模块出现插入损耗不合格的事件较多，以便进行后续的处理。

相应于上面的方法实施例，本发明实施例还提供了一种光模块的检测装置，下文描述的光模块的检测装置与上文描述的光模块的检测方法可相互对应参照。

参见图6所示，为本发明中一种光模块的检测装置的结构示意图，该装置可以包括：

第一目标区域构建模块601，用于构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；

参数获取模块602，用于获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；

插入损耗确定模块603，用于将微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出待测光模块在信号频率范围内的插入损耗曲线；

插损不合格确定模块604，用于当判断出插入损耗曲线存在超出目标插入损耗区域的部分时，确定待测光模块为不合格的光模块。

在本发明的一种具体实施方式中，还包括：

第二目标区域构建模块，用于构建在信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合回损规范的回波损耗范围，作为构建出的目标回波损耗区域；

回波损耗确定模块，用于将微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量代入预先构建的第二模型中，确定出待测光模块在信号频率范围内的回波损耗曲线；

回损不合格确定模块，用于当判断出回波损耗曲线存在超出目标回波损耗区域的部分时，确定待测光模块为不合格的光模块。

在本发明的一种具体实施方式中，还包括：

提示信息输出模块，用于在插损不合格确定模块604确定待测光模块为不合格的光模块之后，输出表示待测光模块插入损耗不合格的提示信息。

在本发明的一种具体实施方式中，还包括：

记录模块，用于将待测光模块插入损耗不合格的事件进行记录。

相应于上面的方法和装置实施例，本发明实施例还提供了一种光模块的检测设备以及一种计算机可读存储介质，可以与上文相互对应参照。

参见图7所示，为本发明中一种光模块的检测设备的结构示意图，包括：

存储器701，用于存储计算机程序；

处理器702，用于执行计算机程序以实现上述任一实施例中的光模块的检测方法的步骤。

该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任一实施例中的光模块的检测方法的步骤。这里所说的计算机可读存储介质包括随机存储器(ram)、内存、只读存储器(rom)、电可编程rom、电可擦除可编程rom、寄存器、硬盘、可移动磁盘、cd-rom、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质。

还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。