一种ONU突发发光检测数据处理方法及相关设备与流程

一种onu突发发光检测数据处理方法及相关设备
技术领域
1.本发明涉及光模块测试技术,特别涉及一种onu突发发光检测数据处理方法及相关设备。


背景技术：

2.onu(光网络单元)是gepon(千兆以太网无源光网络)系统的用户端设备，olt(光线路终端)是局端设备，onu与olt通过pon(无源光纤网络)技术传输业务。onu与olt合作，可以向联网用户提供各种宽带服务。例如上网、网络电话、高清电视、视频会议等。
3.olt到onu的数据传输(简称下行)是广播的方式，因此onu的接收处于连续模式；而onu到olt的数据传输采用时分复用技术(tdma)，因此onu的发射是突发模式。
4.目前，多数onu盒子厂商、onu光模块厂商并没有一套完整的测试onu突发发光的方法。有的只能测试部分项目或对某些重要项目忽略不测；有的由于测试方法不当导致数据不准确。


技术实现要素：

5.本发明的目的在于，通过本发明onu突发发光检测数据处理方法，不仅能够全面的覆盖导致onu突发发光的检测情况，并能够提供测试系统校准，从而达到可靠的检测效果。
6.一种onu突发发光检测数据处理方法，包括如下步骤：
7.漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元onu的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；
8.时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对ton时序、tx_sd时序和pa&er稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；
9.评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断onu突发发光检测结果。
10.优选地，所述漏光测试数据处理步骤具体实现为：
11.获取驱动芯片普通设置下的漏光数据；所述普通设置包括：上电、掉电、突发使能信号开启、供电电压拉偏。
12.突发使能信号ben不同电平情况下的漏光数据；ben不同电平情况包括：高电平使能、低电平使能及关断情况；
13.以及，
14.当onu的驱动芯片tx的寄存器在多种工作参数设定时的漏光数据。
15.优选地，针对ton时序测试步骤中，通过在常温下增大偏置电流和调制电流，以模拟高温下ton时序测试。
16.优选地，针对ton时序测试步骤中，还包括：对ben信号与光信号的光电延时校准。
17.优选地，针对tx_sd时序测试步骤中，具体实现为：调节onu的光功率，及光模块模式切换，并改变的tx serdes信号的码型，以获取tx_sd时序测试数据。
18.优选地，调节onu的光功率具体实现为：
19.调节onu的光功率，测试tx_sd信号与ben信号的延时；
20.调小光功率，同步减小mod电流，保证bias为闭环状态，测试md电流在下限时对应的tx_sd时序；
21.增大光功率，使光功率达到指标的上限，测试tx_sd时序。
22.优选地，pa&er稳定时间测试具体实现为：
23.断开onu中ben信号与mac的连接，所述ben信号引出由函数信号发生器控制；
24.设置函数信号器发生器的ben信号的周期和占空比，以缩短第一次发光与第二次发光，及之后发光包之间的间隔时间；
25.将输出光信号接入实时示波器，查看tx输出光信号的实时波形及变化趋势。
26.一种onu突发发光检测数据处理电路，
27.onu突发发光检测的驱动芯片的第一管脚连接第一磁珠；
28.onu突发发光检测的驱动芯片的第二管脚连接第二磁珠；
29.第一磁珠和第二磁珠连接到激光器两端。
30.优选地，所述第一管脚为bias+端，所述第二管脚为bias-端；
31.所述bias+端连接到激光器正极；
32.所述第一磁珠及所述第二磁珠可以选择串联磁珠实现。
33.一种计算设备，至少一个处理器；以及
34.与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
35.所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上述任一项所述的方法。
36.一种可读介质，存储有计算机可执行指令，可执行指令用于执行以上所述的onu突发发光检测数据处理方法。
37.本发明提出的onu突发发光检测数据处理方法和相关设备，通过漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元onu的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对ton时序、tx_sd时序和pa&er稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断onu突发发光检测结果。以及，配合onu突发发光检测电路。不仅能够全面的覆盖导致onu突发发光的检测情况，并能够提供测试系统校准，从而达到可靠的检测效果。
附图说明
38.此处所说明的附图用来提供对发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
39.图1a为本发明一实施例的onu突发发光检测系统的示意图；
40.图1b本发明实施例的onu突发发光检测数据处理方法的流程步骤图；
41.图1c本发明实施例的onu上电后到ben使能前漏光问题的电路示意图；
42.图2为本发明另一实施例的onu突发发光检测数据处理方法的流程步骤图；
43.图3a为本发明另一实施例的onu突发发光检测数据处理方法的流程步骤图；
44.图3b为本发明另一实施例的onu突发发光检测数据处理方法的pa&er稳定时间测试波形图；
45.图4a为本发明另一实施例的onu突发发光检测数据处理电路的示意图；
46.图4b为本发明另一实施例的onu突发发光检测数据处理电路的示意图；
47.图5为本发明实施例中的计算设备的结构示意图；
48.图6为本技术实施例中的可读介质结构示意图。
具体实施方式
49.为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
50.目前，多数onu盒子厂商、onu光模块厂商并没有一套完整的测试onu突发发光的方法。有的只能测试部分项目或对某些重要项目忽略不测；有的由于测试方法不当导致数据不准确；还有的未关注到某些项目的重要性，而忽略了该项目。比如漏光测试，只测试ben off情况下是否漏光，而忽略其他情况；比如ton时序，由于ton时间要求很短(gpon要求12.8ns以内,xg xgs要求25.6ns以内)，因此对测试系统的校准就尤其重要，校准数据不准确，将直接影响测试数据的准确性等。
51.本发明实施例提供了一种onu突发发光检测数据处理方法及相关设备，通过本发明onu突发发光检测数据处理方法，不仅能够全面的覆盖导致onu突发发光的检测情况，并能够提供测试系统校准，从而达到可靠的检测效果。
52.需要说明几类重要的测试项目：
53.对于漏光测试：olt对接多个onu，要求每个onu在规定时间内才能发光，不能乱发光；若是乱发光，olt端将同时接收到多个onu发送信息，将导致误码。
54.对于ton时序测试：onu处于突发发光状态，要求在极短的时间内发光光功率稳定到目标值，否则可能导致误码甚至onu掉线的问题。
55.对于tx_sd时序测试：onu突发发光，驱动芯片提供对突发发光的检测(tx_sd信号)，tx_sd信号接到onu主控芯片(mac)，从而监控onu的突发发光状态。
56.对于pa&er稳定时间测试：onu突发发光，从首个发光包及之后的几个发光包，发光的光功率和消光比，并不是稳定发光时的光功率和消光比。需要测试onu在多长时间内能稳定到目标光功率和消光比。若稳定时间过长，需要的突发包个数很多(在onu实际应用中，onu上电后，需要在olt注册上，才能有设定的带宽。未注册上时onu的每个发光包时间是很短的，并且每个发光包的间隔时间也较长)，这样将影响onu的正常注册，甚至导致不注册的问题。
57.在本实施例中的技术词列举如下：
58.onu指代onu中的关键模块，光模块(由于光器件bosa直接焊到板上也称为bob)；
59.所述漏光，即onu在不允许发光的时候有光输出到olt，简称漏光；
60.所述的ben为onu的突发使能信号，onu应用中该信号连接到光猫的主控芯片(mac)，受mac控制，控制onu发光；
61.所述的tx_sd信号，为onu驱动芯片的突发发光检测信号，连接到mac，使mac能检测onu的发光状态；
62.所述的偏置电流(bias电流)和调制电流(mod电流)，与光功率和消光比直接相关；
63.所述的ton时序是指稳定发光后ben信号与光信号的延时，所述pa&er稳定时间是指首次发光到光功率和消光比稳定的时间，两者对应两个不同的时序。
64.所述的pa&er稳定时间测试，pa指onu的平均光功率，er指onu的消光比，平均光功率和消光比均为onu光模块部分的重要参数。
65.为了说明的方便和清楚，本发明实施例的测试电路采用图1a所示的结构下进行，本发明实施例中的onu突发发光检测方法，适应于onu bob方案(bosa on board)也适应于光模块方案；适用于epon\gpon onu,也适应于xgpon、xgspon、10gepon onu。然而并不局限于此。
66.图1b示出了一种onu突发发光检测数据处理方法，包括如下步骤：
67.s11:漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元onu的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；
68.优选地，所述漏光测试数据处理步骤具体实现为：
69.获取驱动芯片普通设置下的漏光数据；所述普通设置包括：上电、掉电、突发使能信号开启、供电电压拉偏。
70.突发使能信号ben不同电平情况下的漏光数据；ben不同电平情况包括：高电平使能、低电平使能及关断情况；
71.以及，当onu的驱动芯片tx的寄存器在多种工作参数设定时的漏光数据。
72.具体的，获取tx电源、rx电源、激光器电源，不同上电及掉电顺序时的漏光数据。
73.而对于漏光的情况，漏光时间可能很短(极短的发光时间，即使使用突发光功率计也不能保证读取到漏光光功率)，也可能漏光时间很长(出现onu长发光，“流氓”onu的情况)。因此将tx输出光接经过一分二的光分路器，一路接到光功率计；一路接到实时示波器，用实时示波器触发，查看是否有光信号。误码仪需要设置提供prbs码型，以方便示波器触发信号；若不提供码型，tx serdes无数据输入，漏光状态下也是漏直流光(无交流成分)，不利于示波器抓取漏光信号。
74.以上设置及检测过程可按照以下步骤进行，但不局限于此：
75.①
驱动芯片tx部分正常设置，ben off时tx输出是否漏光；
76.②
驱动芯片tx部分预加重功能开启，ben off时tx输出是否漏光；
77.③
模块上电过程中，tx输出是否漏光，各电源不同上电顺序均需覆盖；
78.④
模块掉电过程中，tx输出是否漏光，各电源不同掉电顺序均需覆盖；
79.⑤
模块上电后到ben信号使能前，tx输出是否漏光；
80.⑥
若激光器供电电源是单独供电的，需测试ld电源单独供电情况下，ben off状态tx输出是否漏光；
81.⑦
ben使能信号为高电平有效及低电平有效情况下，分别测试是否漏光。
82.针对图1a所示的测试系统电路，参考1c,为解决onu上电后到ben使能前漏光问题的电路。通过第一电阻(对应图1c原理图的r1)连接mac到驱动芯片，电阻的阻尼通常采用200欧以下的小电阻，以防止ben电平经过电阻的延时过长。第一电阻连接mac与驱动芯片ben信号的通道，必须连接；第二电阻(对应图1c的r2)，上拉到vcct；第三电阻(对应图1c的r3)，下拉到地。所述的第二电阻和第三电阻，往往出现设计未预留，有预留未上件的情况。当要求ben高电平有效果时，第二电阻不上件(nc)，第三电阻下拉10k，以保证默认状态下，
ben为低电平不发光，当ben信号翻转后才发光；当要求ben低电平有效时，第二电阻上拉10k，第三电阻nc，以保证默认状态下，ben电平为高不发光，mac给低使能信号时才发光。因此图1c所示电路能有效的防止上电后初始化完成前主控芯片(mac)管脚处于不定态，导致ben管脚电平错误引起的onu漏光。
83.s12:时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对ton时序、tx_sd时序和pa&er稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；
84.优选地，针对ton时序测试步骤中，通过在常温下增大偏置电流和调制电流，以模拟高温下ton时序测试。
85.ton时序包括突发开启时间和关断时间。具体指:ben使能信号开始，到tx输出光功率稳定到90％的时间(简称ton)；ben使能信号关断到tx输出光功率关断的时间(简称toff)。因此需要比较ben电信号和tx光信号的延时。
86.具体的，以上设置及检测过程可按照以下步骤进行，但不局限于此：
87.①
ben信号与光信号的光电延时校准；
88.②
常温下增大偏置电流(bias电流)和调制电流(mod电流)；
89.③
测试较大电流(极限)情况下的ton时序。
90.优选地，针对ton时序测试步骤中，还包括：对ben信号与光信号的光电延时校准。
91.由于测试时ben的电信号和tx输出光信号的通路不是完全一样的，这样就会造成测试引入的延时。并且发射突发时序的指标要求时间很短，比如gpon要求《12.8ns,xg、xgs要求《25.6ns。这就要求测试的数据一定要准确。所以测试ton时序，首先要做的就是进行光信号与电信号的延时校准。
92.作为优选，本发明实施例披露的校准方法如下：因为onu发光时，在激光器管脚两端，ld+端和ld-端都会有高频信号，测试ld+端的电信号与光信号。认为ld+端的电压信号开始变化时(开始出现高频信号)，激光器也相应的开始发光。因此ld+端的电压信号和光信号的时间差，就是需要校准的延时，认为是测试系统造成的测试延时。选用ld-端的电信号与光信号并不直接进行比较，因为在发光时ld-端电压会被拉低，不利于准备的判断ld-端开始发光的时间点。而ld+端是接到电源的，直流电平是稳定的，当发光时能明显的测到ld+端交流信号的变化，能够准确判断发光。
93.延时校准好后，就可以测试ben信号与tx输出光信号了，然后再扣除校准的延时数据，就能得到准确的时序时间。
94.对光模块寄存器进行操作，常温下增大bias电流和mod电流，一般要求mod电流增大到70ma，bias电流增大到50ma，以模拟高温极限条件下大偏置电流和大调制电流的情况。在大电流情况下验证ton时序是否仍能满足要求。
95.优选地，针对tx_sd时序测试步骤中，具体实现为：调节onu的光功率，及光模块模式切换，并改变的tx serdes信号的码型，以获取tx_sd时序测试数据。
96.参考图2，调节onu的光功率具体实现为：
97.s21:调节onu的光功率，测试tx_sd信号与ben信号的延时；
98.s22:调小光功率，同步减小mod电流，保证bias为闭环状态，测试md电流在下限时对应的tx_sd时序；
99.s23:增大光功率，使光功率达到指标的上限，测试tx_sd时序。
100.光模块处于突发发光状态，将ben信号与tx_sd信号接入示波器，比较两个信号的延时。需要说明的是，tx_sd信号通常是通过判断mpd电流的大小，来判断tx是否法光。而不同的器件、不同的光功率下，mpd电流会有较大差异，因此需要测试不同mpd电流下的tx_sd时序。另外，对于不同码型，如prbs31码最长的连“0”达到30个，gpon应用，对应30个“0”时间达到240ns。在长连“0”的情况下，需验证tx_sd不会误触发(防止长连“0”的时候，tx_sd不指示)，因此需要验证不同码型的情况。验证tx_sd是否出现误触发的方法为：将光模块由突发模式切换到长发光模式，改变tx serdes信号的码型，测试不同码型下tx_sd不会误触发(即由正常指示的高电平变成低电平)。
101.参考图3a，pa&er稳定时间测试具体实现为：
102.pa&er稳定时间是指：onu上电后，一次发光，到光功率和消光比稳定的时间。由于onu在第一个发光包及之后的几个包，onu可能还没有注册上，发光包的间隔时间较长；另外，onu不能保证在第一个发光包就能稳定到目标光功率和消光比。因此从第一次开始发光，到光稳定的时间间隔较长，示波器无法准确的抓到光信号的从开始到稳定的过程及所需要的时间。而将onu设置成长发光模式，则只能反应onu长发光下的状态，不能反应onu实际业务在突发发光状态下，光信号的变化趋势。因此，pa&er稳定时间测试的思路为：缩短第一次发光与第二次发光，及之后发光包之间的间隔时间。由于onu中ben信号受mac控制，更改onu的ben信号比较困难，因此需要将ben信号引出由其他设备来控制。由此提出一种onu突发发光状态下，测试pa&er稳定时间的方法：断开onu中ben信号与mac的连接；ben信号引出由函数信号发生器或者误码仪控制；设置好函数信号器发生器ben信号的周期和占空比；将输出光信号接入实时示波器，查看tx输出光信号的实时波形及变化趋势。
103.具体实现步骤，可优选如下方案：
104.s31:断开onu中ben信号与mac的连接，所述ben信号引出由函数信号发生器控制；
105.s32:设置函数信号器发生器的ben信号的周期和占空比，以缩短第一次发光与第二次发光，及之后发光包之间的间隔时间；
106.s33:将输出光信号接入实时示波器，查看tx输出光信号的实时波形及变化趋势。
107.如图3b所示，为一具体实施例的pa&er稳定时间测试波形。如图3b所示，通道2(红色信号线)为误码仪提供的ben信号(ben周期约500ns，占空比50％)，通道3(绿色信号信号线)为tx输出光信号。开始首次发光时(可以用软件soft tx disable进行复位，为重新开始的第一次发光)，由于bias电流有快速启动的过程(在这个过程中交流通道是关闭的，因此只有直流光)。bias快速启动过程完成后，开始有交流信号，并且很快稳定(光幅度稳定，对应绿色信号线测试的交流幅度)。由此可见，ben每个包使能时间250ns的情况下，需要在第五个突发包，光功率和消光比达到稳定，从开始发光到光功率和消光比稳定的时间约1us。同样的，调整ben信号的周期可占空比，可以测试不同周期和占空比下pa&er的稳定时间。
108.s13:评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断onu突发发光检测结果。
109.在本发明中，为了全面地进行onu突发发光检测，包括：onu的漏光测试，验证onu不会乱发光；ton时序测试，验证onu的ton时序是否满足要求；tx_sd时序测试，验证tx_sd时序是否满足要求；pa&er稳定时间测试，验证首次发光到光功率和消光比稳定的时间。
110.参考图4a，一种onu突发发光检测数据处理电路，包括：
111.onu突发发光检测的驱动芯片的第一管脚连接第一磁珠；
112.onu突发发光检测的驱动芯片的第二管脚连接第二磁珠；
113.第一磁珠和第二磁珠连接到激光器两端。
114.所述的onu的ton时序不仅与bias电流和mod电流有关，还受硬件电路使用的元器件参数及连接方式的影响，而硬件电路的连接方式和元器件对发射眼图也有直接的影响。本发明实施例提供一种发射眼图好，ton时间快的电路。主要是在bias端选用合适的磁珠替代传统电阻，达到发射眼图好，兼容ton时间快的目的。
115.具体地：
116.①
磁珠能更好的隔离高频分量，由于bias端需要的稳定直流，交流分量对驱动芯片的bias端会产生不利影响，而劣化眼图。
117.②
使用磁珠能提升bias管脚的电压，优化高温较大电流情况下的眼图；若使用电阻，高温电流增大的情况下电阻上的压降增大，导致bisa管脚电压降低，不利于输出眼图。
118.③
使用小阻抗的磁珠(通常要求对应阻抗小于220欧)，以保证ton时间能满足12.8ns的要求。若选用阻抗大的磁珠，ton时间可以会出现超出指标的情况。另需要说明的是，第二磁珠作为ben off时bias电流和mod电流的通路。
119.参考图4b，所述第一管脚为bias+端，所述第二管脚为bias-端；
120.所述bias+端连接到激光器正极；
121.所述第一磁珠及所述第二磁珠可以选择串联磁珠实现。
122.本实施例特别适用于在xgpon和xgspon型号光模块的测试，bias+到ld-端、bias-到ld+端、ld+端到vcct端，采用磁珠串联磁珠(或者用几十nh的小电感并联电阻的形式)的两极网络，选用两极网络能够起到更好的隔离效果。同样的对两极网络中的磁珠也需选用小阻抗的，以满足ton时序的要求。
123.综上所述：本发明提出的onu突发发光检测数据处理方法和相关设备，通过漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元onu的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对ton时序、tx_sd时序和pa&er稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断onu突发发光检测结果。以及，配合onu突发发光检测电路。不仅能够全面的覆盖导致onu突发发光的检测情况，并能够提供测试系统校准，从而达到可靠的检测效果。
124.图5示出的是匹配图1-4b方法的计算设备50，包括：
125.需要说明的是，图5显示的计算设备50仅仅是一个示例，不应对本技术实施例的功能和使用范围带来任何限制。
126.如图5所示，服务器以通用计算设备50的形式表现。计算设备50的组件可以包括但不限于：上述至少一个处理器51、上述至少一个存储器52、连接不同系统组件(包括存储器52和处理器51)的总线53。
127.总线53表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器、外围总线、处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
128.存储器52可以包括易失性存储器形式的可读介质，例如随机存取存储器(ram)521和/或高速缓存存储器522，还可以进一步包括只读存储器(rom)523。
129.存储器52还可以包括具有一组(至少一个)程序模块524的程序/实用工具525，这样的程序模块524包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程
序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
130.计算设备50也可以与一个或多个外部设备54(例如键盘、指向设备等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与计算设备50交互的设备通信，和/或与使得该计算设备50能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(i/o)接口55进行。并且，计算设备50还可以通过网络适配器56与一个或者多个网络(例如局域网(lan)，广域网(wan)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图所示，网络适配器56通过总线53与用于计算设备50的其它模块通信。应当理解，尽管图中未示出，可以结合计算设备50使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理器、外部磁盘驱动阵列、raid系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
131.在一些可能的实施方式中，根据本技术的计算设备可以包括至少一个处理器、以及至少一个存储器(如第一服务器)。其中，存储器存储有程序代码，当程序代码被处理器执行时，使得处理器执行本说明书上述描述的根据本技术各种示例性实施方式的系统权限开启方法中的步骤。
132.参考图6，图1-4b图示及对应实施例的立体分拣方法还可通过计算机可读介质61来实现，参考图6，存储有计算机可执行指令，即本发明方法所需执行的程序指令，所述计算机或者高速芯片可执行指令用于执行以上实施例所述的验证数据处理方法。
133.可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括——但不限于——电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
134.可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括——但不限于——无线、有线、光缆、rf等等，或者上述的任意合适的组合。
135.可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本技术操作的程序代码，程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如java、c++等，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“c”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络——包括局域网(lan)或广域网(wan)—连接到用户计算设备，或者，可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
136.程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、控制装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
137.本技术的实施方式的用于系统权限开启的程序产品可以采用便携式紧凑盘只读存储器(cd-rom)并包括程序代码，并可以在计算设备上运行。然而，本技术的程序产品不限
于此，在本文件中，可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、控制装置或者器件使用或者与其结合使用。
138.本技术是参照根据本技术实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
139.这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
140.这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
141.尽管已描述了本技术的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本技术范围的所有变更和修改。
142.显然，本领域的技术人员可以对本技术进行各种改动和变型而不脱离本技术的精神和范围。这样，倘若本技术的这些修改和变型属于本技术权利要求及其等同技术的范围之内，则本技术也意图包含这些改动和变型在内。