技术特征：
1.一种onu突发发光检测数据处理方法，其特征在于，包括如下步骤：漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元onu的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对ton时序、tx_sd时序和pa&er稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断onu突发发光检测结果。2.根据权利要求1所述的onu突发发光检测数据处理方法，其特征在于，所述漏光测试数据处理步骤具体实现为：获取驱动芯片普通设置下的漏光数据；所述普通设置包括：上电、掉电、突发使能信号开启、供电电压拉偏。突发使能信号ben不同电平情况下的漏光数据；ben不同电平情况包括：高电平使能、低电平使能及关断情况；以及，当onu的驱动芯片tx的寄存器在多种工作参数设定时的漏光数据。3.根据权利要求1所述的onu突发发光检测数据处理方法，其特征在于，针对ton时序测试步骤中，通过在常温下增大偏置电流和调制电流，以模拟高温下ton时序测试。4.根据权利要求1或3所述的onu突发发光检测数据处理方法，其特征在于，针对ton时序测试步骤中，还包括：对ben信号与光信号的光电延时校准。5.根据权利要求1所述的onu突发发光检测数据处理方法，其特征在于，针对tx_sd时序测试步骤中，具体实现为：调节onu的光功率，及光模块模式切换，并改变的tx serdes信号的码型，以获取tx_sd时序测试数据。6.根据权利要求5所述的onu突发发光检测数据处理方法，其特征在于，调节onu的光功率具体实现为：调节onu的光功率，测试tx_sd信号与ben信号的延时；调小光功率，同步减小mod电流，保证bias为闭环状态，测试md电流在下限时对应的tx_sd时序；增大光功率，使光功率达到指标的上限，测试tx_sd时序。7.根据权利要求2所述的onu突发发光检测数据处理方法，其特征在于，pa&er稳定时间测试具体实现为：断开onu中ben信号与mac的连接，所述ben信号引出由函数信号发生器控制；设置函数信号器发生器的ben信号的周期和占空比，以缩短第一次发光与第二次发光，及之后发光包之间的间隔时间将输出光信号接入实时示波器，查看tx输出光信号的实时波形及变化趋势。8.一种onu突发发光检测数据处理电路，其特征在于，包括：onu突发发光检测的驱动芯片的第一管脚连接第一磁珠；onu突发发光检测的驱动芯片的第二管脚连接第二磁珠；第一磁珠和第二磁珠连接到激光器两端。9.如权利要求8所述onu突发发光检测数据处理电路，其特征在于，包括：所述第一管脚为bias+端，所述第二管脚为bias-端；
所述bias+端连接到激光器正极；所述第一磁珠及所述第二磁珠可以选择串联磁珠实现。10.一种计算设备，其特征在于，至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1-7中任一项所述的方法。
技术总结
本发明提出的ONU突发发光检测数据处理方法和相关设备，通过漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元ONU的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对Ton时序、TX_SD时序和Pa&ER稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断ONU突发发光检测结果。以及，配合ONU突发发光检测电路。不仅能够全面的覆盖导致ONU突发发光的检测情况，并能够提供测试系统校准，从而达到可靠的检测效果。从而达到可靠的检测效果。从而达到可靠的检测效果。
技术研发人员：郑海江 陈哲 高泉川 黄秋伟
受保护的技术使用者：厦门优迅高速芯片有限公司
技术研发日：2022.11.16
技术公布日：2023/1/19