图像传感器的测试位置校准方法、装置、设备及存储介质与流程

文档序号:32347995发布日期:2022-11-26 11:59阅读:92来源:国知局
图像传感器的测试位置校准方法、装置、设备及存储介质与流程

1.本发明涉及图像处理技术领域,特别涉及一种图像传感器的测试位置校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质。


背景技术:

2.随着ar(augmented reality,增强现实)和vr(virtual reality,虚拟现实)技术不断的更新,如ar设备和vr设备等头戴显示设备中的图像传感器(如摄像头camera)的数量和种类越来越多,如6dof camera(六自由度摄像头)、rgb camera(rgb摄像头)、eyetracking camera(眼动追踪摄像头)和facetracking camera(人脸捕捉摄像头)等,对这些图像传感器的测试精度的要求也越来越高,其中达成测试精度的关键技术是图像传感器测试位置的校准技术,图像传感器测试位置需要校准测试的距离和方向。
3.因此,如何能够解决现有图像传感器测试位置校准难的问题,实现高校准精度的图像传感器测试位置的自动校准,从而方便后续的图像传感器测试,是现今急需解决的问题。


技术实现要素:

4.本发明的目的是提供一种图像传感器的测试位置校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质,以实现高校准精度的图像传感器测试位置的自动校准,从而方便后续的图像传感器测试。
5.为解决上述技术问题,本发明提供一种图像传感器的测试位置校准方法,包括:
6.获取图像传感器在各预设位置采集的测试图卡图像;其中,所述预设位置包括所述图像传感器或测试图卡的初始位置、从所述初始位置沿第一移动轴平移第一预设距离后的第一移动位置、从所述初始位置沿第二移动轴平移第二预设距离后的第二移动位置,所述第一移动轴与所述第二移动轴垂直;
7.根据所述第一预设距离、所述第二预设距离和所述测试图卡图像,计算所述图像传感器的校准位置信息;其中,所述校准位置信息包括所述图像传感器或所述测试图卡在所述第一移动轴平移的第一距离信息和在所述第二移动轴平移的第二距离信息;
8.控制所述图像传感器或所述测试图卡移动到所述校准位置信息对应的位置,以使所述图像传感器校准到测试位置。
9.可选的,所述根据所述测试图卡图像,计算所述图像传感器的校准位置信息,包括:
10.根据所述第一预设距离、所述第二预设距离和各所述测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,计算所述校准位置信息。
11.可选的,所述根据所述第一预设距离、所述第二预设距离和各所述测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,计算所述校准位置信息,包括:
12.通过计算所述第一距离信息;其中,所述第一距离信息为所述图像传感器从所述初始位置沿所述第一移动轴平移的距离信息,a为所述第一预设距离,(x0,y0)为所述图像传感器的光轴中心点在拍摄图像中的坐标,(x1,y1)为所述初始位置的测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,(x2,y2)为所述第一移动位置的测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,(x3,y3)为所述第二移动位置的测试图卡图像中的图卡中心点的坐标;
13.通过计算所述第二距离信息;其中,所述第二距离信息为所述图像传感器从所述初始位置沿所述第二移动轴平移的距离信息,b为所述第二预设距离。
14.可选的,所述根据所述第一预设距离、所述第二预设距离和各所述测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,计算所述校准位置信息之前,还包括:
15.对所述图像传感器进行标定,得到所述图像传感器的光轴中心点在拍摄图像中的坐标。
16.可选的,所述控制所述图像传感器或所述测试图卡移动到所述校准位置信息对应的位置,包括:
17.控制所述图像传感器从所述初始位置沿所述第一移动轴平移所述第一距离信息,并沿所述第二移动轴平移所述第二距离信息。
18.可选的,所述获取图像传感器在各预设位置采集的测试图卡图像,包括:
19.控制所述图像传感器拍摄所述初始位置的测试图卡图像;
20.控制所述图像传感器沿所述第一移动轴平移所述第一预设距离后,控制所述图像传感器拍摄所述第一移动位置的测试图卡图像;
21.控制所述图像传感器恢复到所述初始位置并沿所述第二移动轴平移所述第二预设距离后,控制所述图像传感器拍摄所述第二移动位置的测试图卡图像。
22.可选的,所述获取图像传感器在各预设位置采集的测试图卡图像之前,还包括:
23.获取所述图像传感器拍摄的图卡校准图像;其中,所述图卡校准图像包括测试图卡区域,所述测试图卡区域包括十字激光器投影的十字激光图像;
24.根据所述十字激光图像和所述测试图卡区域上的激光校准线,调整所述测设设备上的测试图卡的位置,以使所述测试图卡上的激光校准线与所述十字激光器投影的十字激光重合;其中,所述激光校准线包括横向校准线和纵向校准线;
25.根据获取的激光测距仪采集的距离信息,调整所述测设设备上的测试图卡与所述图像传感器的距离。
26.本发明还提供了一种图像传感器的测试位置校准装置,包括:
27.获取模块,用于获取图像传感器在各预设位置采集的测试图卡图像;其中,所述预设位置包括所述图像传感器或测试图卡的初始位置、从所述初始位置沿第一移动轴平移第一预设距离后的第一移动位置、从所述初始位置沿第二移动轴平移第二预设距离后的第二移动位置,所述第一移动轴与所述第二移动轴垂直;
28.计算模块,用于根据所述第一预设距离、所述第二预设距离和所述测试图卡图像,计算所述图像传感器的校准位置信息;其中,所述校准位置信息包括所述图像传感器或所述测试图卡在所述第一移动轴平移的第一距离信息和在所述第二移动轴平移的第二距离信息;
29.校准模块,用于控制所述图像传感器或所述测试图卡移动到所述校准位置信息对应的位置,以使所述图像传感器校准到测试位置。
30.本发明还提供了一种图像传感器的测试位置校准设备,包括:
31.存储器,用于存储计算机程序;
32.处理器,用于执行所述计算机程序时实现如上述所述的图像传感器的测试位置校准方法的步骤。
33.此外,本发明还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述所述的图像传感器的测试位置校准方法的步骤。
34.本发明所提供的一种图像传感器的测试位置校准方法,包括:获取图像传感器在各预设位置采集的测试图卡图像;其中,预设位置包括图像传感器或测试图卡的初始位置、从初始位置沿第一移动轴平移第一预设距离后的第一移动位置、从初始位置沿第二移动轴平移第二预设距离后的第二移动位置,第一移动轴与第二移动轴垂直;根据第一预设距离、第二预设距离和测试图卡图像,计算图像传感器的校准位置信息;其中,校准位置信息包括图像传感器或测试图卡在第一移动轴平移的第一距离信息和在第二移动轴平移的第二距离信息;控制图像传感器或测试图卡移动到校准位置信息对应的位置,以使图像传感器校准到测试位置;
35.可见,本发明通过根据第一预设距离、第二预设距离和测试图卡图像,计算图像传感器的校准位置信息,可以利用图像传感器或测试图卡的初始位置和沿第一移动轴与第二移动轴移动后拍摄的测试图卡图像,计算图像传感器校准到测试位置所需移动的校准位置信息;通过控制图像传感器或测试图卡移动到校准位置信息对应的位置,以校准到图像传感器的测试位置,实现了高校准精度的图像传感器测试位置的自动校准,从而方便后续的图像传感器测试。此外,本发明还提供了一种图像传感器的测试位置校准装置、设备及计算机可读存储介质,同样具有上述有益效果。
附图说明
36.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
37.图1为本发明实施例所提供的一种图像传感器的测试位置校准方法的流程图;
38.图2为本发明实施例所提供的另一种图像传感器的测试位置校准方法的初步校准的配置示意图;
39.图3为本发明实施例所提供的另一种图像传感器的测试位置校准方法的初步校准的原理示意图;
40.图4为本发明实施例所提供的一种图像传感器的测试位置校准装置的结构框图;
41.图5为本发明实施例所提供的一种图像传感器的测试位置校准设备的结构示意图;
42.图6为本发明实施例所提供的一种图像传感器的测试位置校准设备的具体结构示意图。
具体实施方式
43.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
44.请参考图1,图1为本发明实施例所提供的一种图像传感器的测试位置校准方法的流程图。该方法可以包括:
45.步骤101:获取图像传感器在各预设位置采集的测试图卡图像;其中,预设位置包括图像传感器或测试图卡的初始位置、从初始位置沿第一移动轴平移第一预设距离后的第一移动位置、从初始位置沿第二移动轴平移第二预设距离后的第二移动位置,第一移动轴与第二移动轴垂直。
46.可以理解的是,本步骤中的测试图卡图像可以为在测设设备的固定底座上安装的图像传感器在各预设位置对测设设备上的测试图卡拍摄得到的图像,即图像传感器的位置变化可以随固定底座的位置变化对应进行变化。对于本实施例中的测试图卡图像的具体内容,即各预设位置的具体位置设置,可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置,如预设位置可以包括图像传感器或测试图卡的初始位置,如利用图2所示的激光测距仪和十字激光器对图像传感器的固定底座和/或测试图卡进行初步校准后的位置;预设位置还可以包括图像传感器或测试图卡从初始位置沿第一移动轴平移第一预设距离后的第一移动位置和图像传感器或测试图卡从初始位置沿第二移动轴平移第二预设距离后的第二移动位置。
47.具体的,对于上述第一预设距离和第二预设距离的具体设置,可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置,如图像传感器的位置精度是由图像传感器的分辨率和测试距离决定的,第一预设距离和第二预设距离的取值范围可以根据图像传感器的位置精度对应进行设置,如位置精度要求为0.1mm时,第一预设距离和第二预设距离可以分别为0.1-1mm之间的数值;位置精度要求为1mm时,第一预设距离和第二预设距离可以分别为1-10mm之间的数值,本实施例对此不做任何限制。
48.对应的,对于本步骤中处理器获取图像传感器在各预设位置采集的测试图卡图像的具体方式,可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置,如处理器可以直接接收图像传感器或其他设备发送的测试图卡图像。处理器也可以控制图像传感器拍摄采集各预设位置对应的测试图卡图像后,接收图像传感器发送的测试图卡图像;例如,处理器可以控制图像传感器拍摄初始位置的测试图卡图像;控制图像传感器或测试图卡沿第一移动轴平移第一预设距离后,控制图像传感器拍摄第一移动位置的测试图卡图像;控制图像传感器或测试图卡恢复到初始位置并沿第二移动轴平移第二预设距离后,控制图像传感器拍摄第
二移动位置的测试图卡图像。也就是说,处理器可以通过控制测试设备上图像传感器或测试图卡的移动,以控制图像传感器拍摄各预设位置的测试图卡图像;例如,处理器可以通过控制测试设备上安装图像传感器的固定底座的移动,控制图像传感器拍摄图像传感器调整到各预设位置的测试图卡图像;处理器也可以通过控制测试设备上测设图卡的移动,控制图像传感器拍摄测设图卡调整到各预设位置的测试图卡图像。
49.需要说明的是,本实施例中图像传感器的光轴方向可以垂直于测设设备上的测试图卡,即图像传感器在图像传感器或测试图卡的各预设位置采集的测试图卡图像时,图像传感器的光轴方向可以垂直于测设设备上的测试图卡。相应的,本实实施例中图像传感器采集各预设位置采集的测试图卡图像之前,可以对图像传感器和/或测试图卡的位置进行初步校准,如对测设设备的固定底座和/或测试图卡的位置进行初步校准,以使固定底座上安装的图像传感器的光轴方向垂直于测试图卡。如图2和图3所示,可以使用十字激光器和激光测距仪进行初步校准;例如,十字激光器的方向可以与测试的图像传感器的光轴方向重合,激光测距仪的方向可以与图像传感器的光轴方向平行,测试人员可以首先调整测试图卡角度,使测试图卡垂直于十字激光器,再调整测试图卡的位置,使测试图卡中的上下左右的中线与十字激光线重合,即由图3中实线的十字激光线位置调整到虚线的十字激光线位置;调整测试图卡的距离使激光测距仪测出的距离为测试要求的距离,以完成图像传感器测试位置初步校准。
50.对应的,本步骤之前还可以包括获取图像传感器拍摄的图卡校准图像;其中,图卡校准图像包括测试图卡区域,测试图卡区域包括十字激光器投影的十字激光图像;根据十字激光图像和测试图卡区域上的激光校准线,调整测设设备上的测试图卡的位置,以使测试图卡上的激光校准线与十字激光器投影的十字激光重合;其中,激光校准线包括横向校准线(如图卡横向中线)和纵向校准线(如图卡纵向中线);根据获取的激光测距仪采集的距离信息,调整测设设备上的测试图卡与图像传感器的距离;也就是说,处理器可以利用测设设备上设置的方向与图像传感器的光轴方向平行的十字激光器和激光测距仪,调整测试图卡和/或图像传感器的位置,实现自动初步校准;相应的,处理器可以将初步校准完成后图像传感器的位置作为初始位置。
51.步骤102:根据第一预设距离、第二预设距离和测试图卡图像,计算图像传感器的校准位置信息;其中,校准位置信息包括图像传感器或测试图卡在第一移动轴平移的第一距离信息和在第二移动轴平移的第二距离信息。
52.可以理解的是,本步骤中处理器可以利用各预设位置采集的测试图卡图像、第一预设距离和第二预设距离,计算图像传感器校准到测试位置所需移动的固定底座或测试图卡的移动信息(即校准位置信息)。
53.具体的,对于本步骤中处理器根据第一预设距离、第二预设距离和测试图卡图像,计算图像传感器的校准位置信息的具体方式,可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置,如处理器可以根据第一预设距离、第二预设距离和各测试图卡图像中的图卡上某一预设点(如图卡中心点)的坐标,计算校准位置信息。例如,图像传感器的光轴中心点在拍摄图像中的坐标为(x0,y0);使用图像传感器在初始位置对测试图卡进行拍照,计算出图卡中心点在拍摄的测试图卡图像中的坐标为(x1,y1);在第一移动轴平移图像传感器的固定底座或测试图卡a(即第一预设距离)mm后,使用图像传感器对测试图卡进行拍照,计算出图
卡中心点在拍摄的测试图卡图像中的坐标为(x2,y2);移动回初始位置,在第二移动轴平移固定底座或测试图卡b(即第二预设距离)mm后,使用图像传感器对测试图卡进行拍照,计算出图卡中心点在拍摄的测试图卡图像中的坐标为(x3,y3);建立如下的二元一次方程:
[0054][0055]
求解得到:
[0056][0057][0058]
相应的,固定底座或测试图卡从初始位置在第一移动轴平移x,在第二移动轴平移y后,图像传感器所在的位置可以为图像传感器校准后的测试位置。
[0059]
例如,本步骤中处理器可以通过计算校准位置信息中的第一距离信息;通过计算校准位置信息中的第二距离信息;其中,第一距离信息为固定底座从初始位置沿第一移动轴平移的距离信息,第二距离信息为固定底座从初始位置沿第二移动轴平移的距离信息,a为第一预设距离,b为第二预设距离,(x0,y0)为图像传感器的光轴中心点在拍摄图像中的坐标,(x1,y1)为初始位置的测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,(x2,y2)为第一移动位置的测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,(x3,y3)为第二移动位置的测试图卡图像中的图卡中心点的坐标第二距离信息为固定底座从初始位置沿第二移动轴平移的距离信息。
[0060]
对应的,本步骤之前还可以包括对图像传感器进行标定,得到图像传感器的光轴中心点在拍摄图像中的坐标,即(x0,y0)。
[0061]
步骤103:控制图像传感器或测试图卡移动到校准位置信息对应的位置,以使图像传感器校准到测试位置。
[0062]
具体的,本步骤中处理器通过控制图像传感器或测试图卡移动到校准位置信息对应的位置,使图像传感器校准到测试位置,完成图像传感器的测试位置的校准,使得校准后测试图卡的中心点在拍摄的测试图卡图像中的坐标为光轴中心点在图像中的坐标,即(x0,y0)。例如,处理器可以控制图像传感器的固定底座从初始位置沿第一移动轴平移第一距离信息(如上述x),并沿第二移动轴平移第二距离信息(如上述y);或者,处理器也可以控制测试图卡从初始位置沿第一移动轴平移第一距离信息(如上述x),并沿第二移动轴平移第二距离信息(如上述y)。
[0063]
对应的,本步骤之后还可以包括获取图像传感器拍摄的验证图像;判断验证图像中图卡中心点的坐标是否为光轴中心点的坐标;若是,则确定测试位置校准成功;若否,则可以返回步骤101再次对测试位置进行校准。
[0064]
可以理解的是,本实施例是以测试设备上任一固定底座上安装的图像传感器的测试位置的校准为例进行的展示,对于测试设备上其它固定底座上安装的其它图像传感器的测试位置的校准,可以采用与本实施例所提供的方法相同或相似的方式实现,本实施例对此不做任何限制。
[0065]
对应的,对于本实施例中进行测试的图像传感器的具体类型,可以由设计人员自行设置,如图像传感器可以为单独定制的标准图像传感器,也可以直接采用头戴显示设备(如ar设备)中的图像传感器,本实施例对此同样不做任何限制。
[0066]
本实施例中,本发明实施例通过根据第一预设距离、第二预设距离和测试图卡图像,计算图像传感器的校准位置信息,可以利用图像传感器或测试图卡的初始位置和沿第一移动轴与第二移动轴移动后拍摄的测试图卡图像,计算图像传感器校准到测试位置所需移动的校准位置信息;通过控制图像传感器或测试图卡移动到校准位置信息对应的位置,以校准到图像传感器的测试位置,实现了高校准精度的图像传感器测试位置的自动校准,从而方便后续的图像传感器测试。
[0067]
相应于上面的方法实施例,本发明实施例还提供了一种图像传感器的测试位置校准装置,下文描述的一种图像传感器的测试位置校准装置与上文描述的一种图像传感器的测试位置校准方法可相互对应参照。
[0068]
请参考图4,图4为本发明实施例所提供的一种图像传感器的测试位置校准装置的结构框图。该装置可以包括:
[0069]
获取模块10,用于获取图像传感器在各预设位置采集的测试图卡图像;其中,预设位置包括图像传感器或测试图卡的初始位置、从初始位置沿第一移动轴平移第一预设距离后的第一移动位置、从初始位置沿第二移动轴平移第二预设距离后的第二移动位置,第一移动轴与第二移动轴垂直;
[0070]
计算模块20,用于根据第一预设距离、第二预设距离和测试图卡图像,计算图像传感器的校准位置信息;其中,校准位置信息包括图像传感器或测试图卡在第一移动轴平移的第一距离信息和在第二移动轴平移的第二距离信息;
[0071]
校准模块30,用于控制图像传感器或测试图卡移动到校准位置信息对应的位置,以使图像传感器校准到测试位置。
[0072]
可选的,计算模块20可以具体用于根据第一预设距离、第二预设距离和各测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,计算校准位置信息。
[0073]
可选的,计算模块20可以,包括:
[0074]
第一计算子模块,用于通过计算第一距离信息;其中,第一距离信息为图像传感器从初始位置沿第一移动轴平移的距离信息,a为第一预设距离,(x0,y0)为图像传感器的光轴中心点在拍摄图像中的坐标,(x1,y1)为初始位置的测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,(x2,y2)为第一移动位置的测试图卡图像中的图卡中心点的坐标,(x3,y3)为第二移动位置的测试图卡图像中的图卡中心点的坐标;
[0075]
第二计算子模块,用于通过计算第二距离
信息;其中,第二距离信息为图像传感器从初始位置沿第二移动轴平移的距离信息,b为第二预设距离。
[0076]
可选的,该装置还可以包括:
[0077]
标定模块,用于对图像传感器进行标定,得到图像传感器的光轴中心点在拍摄图像中的坐标。
[0078]
可选的,校准模块30可以具体用于控制图像传感器从初始位置沿第一移动轴平移第一距离信息,并沿第二移动轴平移第二距离信息。
[0079]
可选的,获取模块10可以包括:
[0080]
第一控制子模块,用于控制图像传感器拍摄初始位置的测试图卡图像;
[0081]
第二控制子模块,用于控制图像传感器沿第一移动轴平移第一预设距离后,控制图像传感器拍摄第一移动位置的测试图卡图像;
[0082]
第三控制子模块,用于控制图像传感器恢复到初始位置并沿第二移动轴平移第二预设距离后,控制图像传感器拍摄第二移动位置的测试图卡图像。
[0083]
可选的,该装置还可以包括:
[0084]
初校准获取模块,用于获取图像传感器拍摄的图卡校准图像;其中,图卡校准图像包括测试图卡区域,测试图卡区域包括十字激光器投影的十字激光图像;
[0085]
初校准控制模块,用于根据十字激光图像和测试图卡区域上的激光校准线,调整测设设备上的测试图卡的位置,以使测试图卡上的激光校准线与十字激光器投影的十字激光重合;其中,激光校准线包括横向校准线和纵向校准线;
[0086]
初校准距离模块,用于根据获取的激光测距仪采集的距离信息,调整测设设备上的测试图卡与图像传感器的距离。
[0087]
本实施例中,本发明实施例通过计算模块20根据第一预设距离、第二预设距离和测试图卡图像,计算图像传感器的校准位置信息,可以利用图像传感器或测试图卡的初始位置和沿第一移动轴与第二移动轴移动后拍摄的测试图卡图像,计算图像传感器校准到测试位置所需移动的校准位置信息;通过校准模块30控制图像传感器或测试图卡移动到校准位置信息对应的位置,以校准到图像传感器的测试位置,实现了高校准精度的图像传感器测试位置的自动校准,从而方便后续的图像传感器测试。
[0088]
相应于上面的方法实施例,本发明实施例还提供了一种图像传感器的测试位置校准设备,下文描述的一种图像传感器的测试位置校准设备与上文描述的一种图像传感器的测试位置校准方法可相互对应参照。
[0089]
请参考图5,图5为本发明实施例所提供的一种图像传感器的测试位置校准设备的结构示意图。该测试位置校准设备可以包括:
[0090]
存储器d1,用于存储计算机程序;
[0091]
处理器d2,用于执行计算机程序时实现上述方法实施例所提供的图像传感器的测试位置校准方法的步骤。
[0092]
具体的,请参考图6,图6为本发明实施例所提供的一种图像传感器的测试位置校准设备的具体结构示意图,该测试位置校准设备310可因配置或性能不同而产生比较大的差异,可以包括一个或一个以上处理器(central processing units,cpu)322(例如,一个或一个以上处理器)和存储器332,一个或一个以上存储应用程序342或数据344的存储介质
330(例如一个或一个以上海量存储设备)。其中,存储器332和存储介质330可以是短暂存储或持久存储。存储在存储介质330的程序可以包括一个或一个以上模块(图示没标出),每个模块可以包括对数据处理设备中的一系列指令操作。更进一步地,中央处理器322可以设置为与存储介质330通信,在测试位置校准设备310上执行存储介质330中的一系列指令操作。
[0093]
测试位置校准设备310还可以包括一个或一个以上电源326,一个或一个以上有线或无线网络接口350,一个或一个以上输入输出接口358,和/或,一个或一个以上操作系统341。例如,windows servertm,mac os xtm,unixtm,linuxtm,freebsdtm等。
[0094]
其中,测试位置校准设备310可以具体为服务器或计算机终端,如与头戴显示设备上图像传感器的测试设备连接的计算机终端(即上位机)。
[0095]
上文所描述的图像传感器的测试位置校准方法中的步骤可以由图像传感器的测试位置校准设备的结构实现。
[0096]
相应于上面的方法实施例,本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,下文描述的一种计算机可读存储介质与上文描述的一种图像传感器的测试位置校准方法可相互对应参照。
[0097]
一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例所提供的图像传感器的测试位置校准的步骤。
[0098]
该计算机可读存储介质具体可以为u盘、移动硬盘、只读存储器(read-only memory,rom)、随机存取存储器(random access memory,ram)、磁碟或者光盘等各种可存储程序代码的可读存储介质。
[0099]
说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、设备及而计算机可读存储介质言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
[0100]
以上对本发明所提供的一种图像传感器的测试位置校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以对本发明进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
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