一种射频测试装置以及测试方法与流程

文档序号:37272551发布日期:2024-03-12 21:03阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种射频测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的射频测试装置,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的射频测试装置,其特征在于:

4.根据权利要求1所述的射频测试装置,其特征在于:

5.根据权利要求4所述的射频测试装置,其特征在于:

6.根据权利要求4所述的射频测试装置,其特征在于:

7.根据权利要求1所述的射频测试装置,其特征在于:

8.根据权利要求7所述的射频测试装置,其特征在于:

9.根据权利要求1所述的射频测试装置,其特征在于:

10.根据权利要求9所述的射频测试装置,其特征在于:

11.根据权利要求1所述的射频测试装置,其特征在于:

12.一种如权利要求1~11中任意一项所述的射频测试装置的射频测试方法,其特征在于,包括以下步骤:


技术总结
本发明提供了一种射频测试装置以及射频测试方法,该装置包括:测试机构以及屏蔽箱,测试机构设置在屏蔽箱内,其中,屏蔽箱包括底盒和上盖,测试机构包括下载板组件、下压测试组件、至少一组射频针运动组件、机构底板组件、以及动力组件,机构底板组件设置在底盒上,下载板组件与机构底板组件活动连接,位于机构底板组件的上方,下压测试组件与下载板组件活动连接,射频针运动组件设置在下压测试组件上,射频针运动组件上设置有射频针,下载板组件上摆放有待测产品,射频针与待检测产品接触,动力组件分别与下载板组件、下压测试组件、射频针运动组件连接,驱动下载板组件、下压测试组件、射频针运动组件运动,解决了在射频复测时的效率问题。

技术研发人员:何志伟,胡江波,杜军红,葛振纲
受保护的技术使用者:上海龙旗科技股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/3/11
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