8通道TOSA三温LIV测试系统的制作方法

本技术涉及光通讯领域，尤指光发射模块的三温测试。

背景技术：

1、tosa(transmitter optical subassembly、光发射次模块)在封装完成后以及在芯片成品完成可靠性验证后对芯片进行测功能验证、电参数测试，现有的测试设备只能一次测试一个产品，一种方法是通过切换测试环境的温度测试三温liv(光强-电流-电压),这样测试效率比较低，且频繁切换三温环境浪费能源，生产成本较高，另一种方法是在同一个环境下测试完一批产品，再测试另外一个三温环境，这样比较节约能源，但是这种测试方法要重复插拔光纤，容易损坏产品的端面，且重复插拔光纤会对产品的测试结果的准确性有影响，效率比较低，在高低温环境下操作不太方便，识别产品的sn号容易出错。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种高效、不损坏产品的tosa三温测试系统

2、为达成上述目的，本实用新型8通道tosa三温liv测试系统，包括高温及低温环境箱和pss liv-4测试设备，其中，还包括8通道测试板和单片机控制板，8通道测试板设有8个插座，用于插8个tosa产品，每个tosa产品的引脚分别通过连接线与单片机控制板连接。控制板通过控制继电器与pss liv-4的输入端口连接。

3、在8通道测试板左右分别设有连接到控制板的热敏电阻。

4、采用上述方案后，本实用新型通过测试板一次设置8个产品，通过开关选择需要测试的产品，不用频繁拔插产品造成产品损坏，8个产品一起放入高温或低温环境箱，也节约了能源。

技术特征：

1.8通道tosa三温liv测试系统，包括高温及低温环境箱和pss liv-4测试设备，其特征在于：还包括8通道测试板和单片机控制板，8通道测试板设有8个插座，用于插8个tosa产品，每个tosa产品的引脚分别通过连接线与单片机控制板连接；控制板通过控制继电器与pss liv-4的输入端口连接。

2.如权利要求1所述的8通道tosa三温liv测试系统，其特征在于：在8通道测试板左右分别设有连接到控制板的热敏电阻。

技术总结
本技术公开8通道TOSA三温LIV测试系统，8通道测试板设有8个插座，用于插8个TOSA产品，每个TOSA产品的引脚分别通过连接线与单片机控制板连接。控制板通过控制继电器与PSS LIV‑4的输入端口连接；采用上述方案后，本技术通过测试板一次设置8个产品，通过开关选择需要测试的产品，不用频繁拔插产品造成产品损坏，8个产品一起放入高温或低温环境箱，也节约了能源。

技术研发人员：余金文
受保护的技术使用者：厦门三优光电股份有限公司
技术研发日：20230629
技术公布日：2024/2/1