一种故障天线定位方法、装置及电子设备的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种故障天线定位方法、装置及电子设 备。
【背景技术】
[0002] 随着无线网络的逐步扩大，无线设备的问题性能问题也逐步浮现，特别是随着近 两年城市基站建设的密度加大，天线性能问题也开始引起运营商越来越大的关注。特别是 由于天线设备逐步老化、集采天线的振子或馈电线路工艺不达标从而造成天线增益严重下 降，大大影响网络覆盖深度及客户感知。
[0003] 针对此问题，目前一般采用以下方法排查和优化：
[0004] 一是通过第三方权威机构，对现网天线拆卸后送到实验室进行分析。该方法测试 数据准确，但是投入的费用较大且周期长，最大问题是由于天线拆卸有可能对现网稳定性 造成影响。
[0005] 二是通过定点扫频方式进行。
[0006] 使用测试系统，结合通话+扫频的模式，其中MSI采用通话与锁频通话模式，目的 是发现载波的隐性故障；MS2采用扫频模式，目的是通过扫目标基站全部小区的BCCHN0,还 原目标的场强图。通过同点不同方位的天线之间的信号强弱关系进行对比(相对关系)推算 增益等指标是否正常。如图1A和图1B所示，对应合格的天线波瓣，一个共站小区三个天线 最强辐射方向应该在自己主覆盖方向上，沿着旁瓣辐射强度慢慢下降，直到背瓣辐射强度 最少；对应不合格的天线波瓣，上述辐射特征并不明显。
[0007] 上述方法直观、简单，且由于接近基站端，采用相对场强进行判断，准确率较高。但 是由于该方法只适用于单站测试，如果需要区域性覆盖分析或者全网覆盖分析，该方法人 力成本及时间成本将十分巨大，时效性差。
[0008] 三是采用路测的方式反向推算小区天线发射增益。如图2所示，通过终端接收场 强，以及天线发射功率和路损，计算理论接收场强。
[0009] 假定参考值：
[0010]1、机架顶输出功率为X，且小区配置参数中BSPWRB/BSPWRT为固定的小区 最大值；天馈线损耗取以下参考值：900M:7/8"馈线约为5dB/100m;5/4"馈线约为 3dB/100ml800M:7/8"馈线约为 6dB/100m;5/4"馈线约为 4dB/100m。
[0011] 2、到达终端信号强度为Y，且Y为经过软件计算的平均信号强度滤波值；如网络开 启功率控制等功能，加入权重修正值Y1 ;
[0012] 3、理想无线环境下信号损耗为Z，需要定义各种无线环境传播模型分别代表为 Zl，Z2,Z3 等等。
[0013] 信号强度Y=输出功率X-天馈线损耗+天线增益G-信号损耗Z。
[0014] 反推天线增益为：
[0015] 天线增益G=信号强度Y-输出功率X+天馈线损耗+信号损耗Z。
[0016] 从而判断天线增益是否正常。
[0017] 由于信号的空间传播受传播无线链路环境影响较大，在城区建筑楼宇密集区域， 无线环境十分复杂，对于以上公式推算出的天线增益G误差较大，而且受上下行功控影响， 准确率较低。也就是说，通过天线增益计算判断天线故障是不准确的。
【发明内容】
[0018] 有鉴于此，本发明实施例的目的是提供一种故障天线定位方法、装置及电子设备， 以避免通过天线增益计算判断天线故障的不准确问题。
[0019] 为解决上述技术问题，本发明实施例提供方案如下：
[0020] 本发明实施例提供一种故障天线定位方法，包括：
[0021] 获取小区天线的至少一个水平辐射角度区间中每个区间对应的赋形重建参数；
[0022] 根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐 射异常条件是否满足，获取一判断结果；
[0023] 当所述判断结果为是时，确定所述天线发生故障。
[0024] 优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时主瓣所在角度 区间的第一子集；
[0025] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一子集的采样点数 目与所述多个采样点数目的第一比值、位于所述第一子集的采样点对应的场强的第一平均 值、和位于所述第一子集的采样点对应的与所述小区的通信距离的第二平均值；
[0026] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0027] 判断所述第一比值不小于第一门限值、所述第一平均值小于第二门限值和所述第 二平均值不大于第三门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。
[0028] 优选地，所述第一子集为[-30度，30度]角度区间，所述第一门限值大于或等于 20%，所述第二门限值小于或等于90dBm，所述第三门限值小于或等于500米。
[0029] 优选地，所述故障为天线增益故障。
[0030] 优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第 一角度区间；
[0031] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第二比值；
[0032] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0033] 判断所述第二比值是否不小于一第四门限值，如果是，则所述判断结果为是。
[0034] 优选地，所述第一角度区间为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间，所 述第四门限值大于或等于80%。
[0035] 优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第 二角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第二子集；
[0036] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第二角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第三比值、位于所述第二子集的采样点数目与所述多个采 样点数目的第四比值、位于所述第二角度区间的采样点中对应场强最强的第一设定数目个 采样点对应的场强的第三平均值、和位于所述第二子集的采样点中对应场强最强的第一设 定数目个采样点对应的场强的第四平均值；
[0037] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0038] 判断所述第三比值小于第五门限值、所述第三比值不小于第六门限值、所述第四 比值不小于第七门限值和所述第三平均值大于所述第四平均值是否均成立，如果是，则所 述判断结果为是。
[0039] 优选地，所述第二角度区间为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间，所 述第二子集为[-30度，30度]角度区间，所述第五门限值小于或等于80%，所述第六门限值 大于或等于50%，所述第七门限值大于或等于10%，所述第一设定数目为30。
[0040] 优选地，所述故障为天线旁瓣变形或天线旁瓣过覆盖。
[0041] 优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第 三角度区间；
[0042] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第三角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第五比值；
[0043] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0044] 判断所述第五比值是否不小于一第八门限值，如果是，则所述判断结果为是。
[0045] 优选地，所述第三角度区间为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间， 所述第八门限值大于或等于30%。
[0046] 优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第 四角度区间；
[0047] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第四角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第六比值和位于所述第四角度区间的采样点对应的与所 述小区的通信距离的第五平均值；
[0048] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0049] 判断所述第六比值小于一第九门限值、所述第六比值不小于一第十门限值和所述 第五平均值不小于一第十一门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。
[0050] 优选地，所述第四角度区间为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间， 所述第九门限值小于或等于30%，所述第十门限值大于或等于3%，所述第十一门限值大于 或等于500米。
[0051] 优选地，所述故障为天线后瓣覆盖。
[0052] 优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第 五角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第三子集；
[0053] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第五角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第七比值、位于所述第五角度区间的采样点对应的与所述 小区的通信距离的第六平均值、位于所述第三子集的采样点数目与所述多个采样点数目的 第八比值、位于所述第五角度区间的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应 的场强的第七平均值、和位于所述第三子集的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采 样点对应的场强的第