赋 形重建的参数，例如，可以基于路测得到的采样点的采样数据得到。
[0119] 对于所述至少一个水平辐射角度区间中每个区间：
[0120] 该区间对应的赋形重建参数，可以根据所述小区的多个采样点中位于该区间的所 有采样点的采样数据得到。
[0121] 其中，采样数据例如：采样点的地理位置信息，采样点对应的场强等。其中，地理位 置信息可以包括经度和纬度。
[0122] 位于该区间的所有采样点可以通过如下方式选择得到：
[0123] 对于所述多个采样点中每个采样点：
[0124] 根据该采样点的地理位置信息和所述天线的地理位置信息和方向角度，确定该采 样点所在的所述天线的水平辐射角度，相对于所述天线的方向角度的偏差角度；
[0125] 根据所述偏差角度，判断该采样点是否位于该区间，如果是，则将该采样点作为选 择出的一个米样点。
[0126] 所述根据该采样点的地理位置信息和所述天线的地理位置信息和方向角度，确定 该采样点所在的所述天线的水平辐射角度，相对于所述天线的方向角度的偏差角度具体可 以包括：
[0127] 根据该采样点的经度和纬度、和所述天线的经度和纬度，确定该采样点与所述天 线之间的经度距离d_lat和纬度距离d_lon;
[0128] 将90度-arctan(d_lat/d_lon)-所述天线的方向角度的计算结果作为该偏差角 度。
[0129] 这样，当遍历所述采样点后，就选择出了位于该区间的所有采样点。
[0130] 在本发明实施例中，可以通过如下几种方式来定位天线故障问题。
[0131]〈方式一 >
[0132] 所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的 第一子集；
[0133] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一子集的采样点数 目与所述多个采样点数目的第一比值、位于所述第一子集的采样点对应的场强的第一平均 值、和位于所述第一子集的采样点对应的与所述小区的通信距离的第二平均值；
[0134] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0135] 判断所述第一比值不小于第一门限值、所述第一平均值小于第二门限值和所述第 二平均值不大于第三门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。其中，所述第一子 集可以为主瓣的半功率角波束宽度所在的角度区间，例如[-30度，30度]角度区间，相应 地，各门限值可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：
[0136] 所述第一门限值大于或等于20%，所述第二门限值小于或等于90dBm，所述第三门 限值小于或等于500米。
[0137] 所述故障具体可以为天线增益故障。
[0138] 〈方式二〉
[0139] 所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第一角度 区间；
[0140] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第二比值；
[0141] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0142] 判断所述第二比值是否不小于一第四门限值，如果是，则所述判断结果为是。
[0143] 其中，所述第一角度区间可以为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间， 相应地，门限值可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：
[0144] 所述第四门限值大于或等于80%。
[0145] 〈方式三〉
[0146] 所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第二角度 区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第二子集；
[0147] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第二角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第三比值、位于所述第二子集的采样点数目与所述多个采 样点数目的第四比值、位于所述第二角度区间的采样点中对应场强最强的第一设定数目个 采样点对应的场强的第三平均值、和位于所述第二子集的采样点中对应场强最强的第一设 定数目个采样点对应的场强的第四平均值；
[0148] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0149] 判断所述第三比值小于第五门限值、所述第三比值不小于第六门限值、所述第四 比值不小于第七门限值和所述第三平均值大于所述第四平均值是否均成立，如果是，则所 述判断结果为是。
[0150] 其中，所述第二角度区间可以为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间， 所述第二子集可以为主瓣的半功率角波束宽度所在的角度区间，例如[-30度，30度]角度 区间，相应地，门限值及设定数目可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来 得到，例如：
[0151] 所述第五门限值小于或等于80%，所述第六门限值大于或等于50%，所述第七门限 值大于或等于10%，所述第一设定数目为30。
[0152] 方式二和方式三中，所述故障具体可以为天线旁瓣变形或天线旁瓣过覆盖。
[0153] 〈方式四〉
[0154] 所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第三角度 区间；
[0155] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第三角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第五比值；
[0156] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0157] 判断所述第五比值是否不小于一第八门限值，如果是，则所述判断结果为是。
[0158] 其中，所述第三角度区间可以为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区 间，相应地，门限值可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：
[0159] 所述第八门限值大于或等于30%。
[0160] 〈方式五〉
[0161] 所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第四角度 区间；
[0162] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第四角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第六比值和位于所述第四角度区间的采样点对应的与所 述小区的通信距离的第五平均值；
[0163] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0164] 判断所述第六比值小于一第九门限值、所述第六比值不小于一第十门限值和所述 第五平均值不小于一第十一门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。
[0165] 其中，所述第四角度区间可以为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区 间，相应地，各门限值可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：
[0166] 所述第九门限值小于或等于30%，所述第十门限值大于或等于3%，所述第i^一门 限值大于或等于500米。
[0167] 方式四和方式五中，所述故障为天线后瓣覆盖。
[0168] 〈方式六〉
[0169] 所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第五角度 区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第三子集；
[0170] 所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第五角度区间的采样 点数目与所述多个采样点数目的第七比值、位于所述第五角度区间的采样点对应的与所述 小区的通信距离的第六平均值、位于所述第三子集的采样点数目与所述多个采样点数目的 第八比值、位于所述第五角度区间的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应 的场强的第七平均值、和位于所述第三子集的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采 样点对应的场强的第八平均值；
[0171] 所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内 的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：
[0172] 判断所述第七比值小于一第十二门限值、所述第七比值不小于一第十三门限值、 所述第六平均值小于一第十四门限值、所述第八比值不小于一第十五门限值、所述第八平 均值与所述第七平均值之差小于一第十六门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为 是。
[0173] 其中，所述第五角度区间可以为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间， 所述第三子集可以为主瓣的半功率角波束宽度所在的角度区间，例如[-30度，30度]角度 区间，相应地，门限值及设定数目可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来 得到，例如：
[0174] 所述第十二门限值小于或等于30%，所述第十三门限值大于或等于3%，所述第 十四门限值小于或等于500米，所述第十五门限值大于或等于10%，所述第二设定数目为5， 所述第十六门限值小于或等于10dBm。
[0175] 其中，所述故障具体可以为前后比不达标。
[0176] 所述天线具体可以为定向天线。
[0177] 需要说明的是，在工程实践中，对于上述各种方式，为保证赋形重建参数的精度