一种专用测试一体式卡托的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开一种专用测试一体式卡托，包括用于安装SMT卡或T卡的卡托架，卡托架外露在手机外的一端设有一限位挡板，限位挡板的一端延伸出一卡臂，卡臂上安装有一个取卡针开关。本实用新型采用具有弹性的取卡针开关，取卡针开关与卡托架一体连接，对手机测试时，本产品携带SMT卡或T卡插入手机内，该取卡针开关的取卡针的一端伸出在手机外可以看到，测试完成后，按压取卡针，打开卡托架锁紧开关，可以将本产品取出。解决了漏取卡、刮伤手机或卡托架和取卡步骤多等问题。减少用手拿取取卡针的动作；从外观可识别测试卡托，从而达到SIM卡/T卡遗漏到包装造成质量风险；减少取卡时对手机外观的刮伤。
【专利说明】
一种专用测试一体式卡托
技术领域
[0001]本实用新型涉及手机性能测试工具，特别涉及一种专用测试一体式卡托。
【背景技术】
[0002]目前，带有一体式卡托的手机在组装段需要装S頂卡/T卡测试，完后再用取卡针取出卡，如果漏拔卡则在包装段无法从卡托外观上识别，需要多增加取卡托的检查，同时在用取卡针取卡托时有戳伤的外观风险。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是针对现有技术的上述缺陷，提供一种结构简单、使用方便、可以防止漏拔卡的专用测试一体式卡托。
[0004]为解决现有技术的上述缺陷，本实用新型提供的技术方案是:一种专用测试一体式卡托，包括用于安装SMT卡或T卡的卡托架，所述卡托架外露在手机外的一端设有一限位挡板，所述限位挡板的一端延伸出一卡臂，所述卡臂上安装有一个取卡针开关。
[0005]作为本实用新型专用测试一体式卡托的一种改进，所述取卡针开关包括安装所述卡托架一侧的取卡针定位座，所述取卡针定位座上穿入一根取卡针，所述取卡针的上端从所述卡臂穿出，所述取卡针的上端设有一按压块，所述取卡针位于所述取卡针定位座与所述卡臂之间的针杆上设有弹簧和弹簧挡片。
[0006]作为本实用新型专用测试一体式卡托的一种改进，所述取卡针定位座的高度与所述卡臂的伸出长度相同。
[0007]作为本实用新型专用测试一体式卡托的一种改进，所述取卡针的下端从所述取卡针定位座的通孔中穿出，并伸出一定的长度。
[0008]作为本实用新型专用测试一体式卡托的一种改进，按压所述取卡针向下继续伸长时，所述取卡针的底部触碰所述卡托架开关。
[0009]作为本实用新型专用测试一体式卡托的一种改进，所述取卡针定位座为金属构件，所述取卡针定位座与所述卡托架焊接。
[0010]作为本实用新型专用测试一体式卡托的一种改进，所述取卡针定位座与所述卡托架一体成型。
[0011]作为本实用新型专用测试一体式卡托的一种改进，所述取卡针定位座的长度为3mm ?8mm ο
[0012]与现有技术相比，本实用新型的优点是:本实用新型采用具有弹性的取卡针开关，取卡针开关与卡托架一体连接，对手机测试时，本产品携带SMT卡或T卡插入手机内，该取卡针开关的取卡针的一端伸出在手机外可以看到，测试完成后，按压取卡针，打开卡托架锁紧开关，可以将本产品取出。本产品减少用手拿取取卡针的动作;从外观可识别测试卡托，从而达到SIM卡/T卡遗漏到包装造成质量风险;减少取卡时对手机外观的刮伤。本产品的这种一体式卡托的设计，可以有效解决以下问题:
[0013]1、解决取卡针在测试后取卡托架时会造成卡托架及手机中框的刮伤问题；
[0014]2、防止测试完后漏拔卡流入市场所造成的质量风险；
[0015]3、消除用取卡针取卡的动作浪费，节约取卡和测试的时间，提高测试效率。
【附图说明】
[0016]下面就根据附图和【具体实施方式】对本实用新型及其有益的技术效果作进一步详细的描述，其中:
[0017]图1是本实用新型立体结构图。
[0018]附图标记名称:1、卡托架2、限位挡板3、卡臂4、取卡针开关41、取卡针定位座42、取卡针43、按压块44、弹簧45、弹簧挡片。
【具体实施方式】
[0019]下面就根据附图和具体实施例对本实用新型作进一步描述，但本实用新型的实施方式不局限于此。
[0020]如图1所示，一种专用测试一体式卡托，包括用于安装SMT卡或T卡的卡托架I，卡托架I夕卜露在手机外的一端设有一限位挡板2，限位挡板2的一端延伸出—^臂3，卡臂3上安装有一个取卡针开关4。
[0021]优选的，取卡针开关4包括安装卡托架I一侧的取卡针定位座41，取卡针定位座41上穿入一根取卡针42，取卡针42的上端从卡臂3穿出，取卡针42的上端设有一按压块43，取卡针42位于取卡针定位座41与卡臂3之间的针杆上设有弹簧44和弹簧挡片45。
[0022]优选的，取卡针定位座41的高度与卡臂3的伸出长度相同。确保卡托架I能够准确插入手机卡的位置，并且不会干扰SMT卡或T卡的使用。
[0023]优选的，取卡针42的下端从取卡针定位座41的通孔中穿出，并伸出一定的长度。取卡针42向下延伸，具有一定的长度触碰到卡托架I的锁定开关。
[0024]优选的，按压取卡针42向下继续伸长时，取卡针42的底部触碰卡托架开关。
[0025]优选的，取卡针定位座41为金属构件，取卡针定位座42与卡托架I焊接。
[0026]优选的，取卡针定位座41与卡托架I一体成型。
[0027]优选的，取卡针定位座41的长度为3mm?8mm。
[0028]本实用新型的优点是:本实用新型采用具有弹性的取卡针开关4，取卡针开关4与卡托架I一体连接，对手机测试时，本产品携带SMT卡或T卡插入手机内，该取卡针开关的取卡针的一端伸出在手机外可以看到，测试完成后，按压取卡针42，打开卡托架锁紧开关，可以将本产品取出。本产品的这种一体式卡托的设计，可以有效解决以下问题:
[0029]1、解决取卡针在测试后取卡托架时会造成卡托架及手机中框的刮伤问题；
[0030]2、防止测试完后漏拔卡流入市场所造成的质量风险；
[0031]3、消除用取卡针取卡的动作浪费，节约取卡和测试的时间，提高测试效率。
[0032]尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和结构的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同范围限定。
【主权项】
1.一种专用测试一体式卡托，包括用于安装SMT卡或T卡的卡托架，其特征在于，所述卡托架外露在手机外的一端设有一限位挡板，所述限位挡板的一端延伸出--^臂，所述卡臂上安装有一个取卡针开关。2.根据权利要求1所述的专用测试一体式卡托，其特征在于，所述取卡针开关包括安装所述卡托架一侧的取卡针定位座，所述取卡针定位座上穿入一根取卡针，所述取卡针的上端从所述卡臂穿出，所述取卡针的上端设有一按压块，所述取卡针位于所述取卡针定位座与所述卡臂之间的针杆上设有弹簧和弹簧挡片。3.根据权利要求2所述的专用测试一体式卡托，其特征在于，所述取卡针定位座的高度与所述卡臂的伸出长度相同。4.根据权利要求3所述的专用测试一体式卡托，其特征在于，所述取卡针的下端从所述取卡针定位座的通孔中穿出，并伸出一定的长度。5.根据权利要求4所述的专用测试一体式卡托，其特征在于，按压所述取卡针向下继续伸长时，所述取卡针的底部触碰所述卡托架开关。6.根据权利要求5所述的专用测试一体式卡托，其特征在于，所述取卡针定位座为金属构件，所述取卡针定位座与所述卡托架焊接。7.根据权利要求6所述的专用测试一体式卡托，其特征在于，所述取卡针定位座与所述卡托架一体成型。8.根据权利要求7所述的专用测试一体式卡托，其特征在于，所述取卡针定位座的长度为3mm?8mm0
【文档编号】H04M1/24GK205681518SQ201620618783
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年6月18日 公开号201620618783.4, CN 201620618783, CN 205681518 U, CN 205681518U, CN-U-205681518, CN201620618783, CN201620618783.4, CN205681518 U, CN205681518U
【发明人】何敏凡
【申请人】东莞华贝电子科技有限公司