专利名称：减小产生的对象图像中放射硬化伪影的方法
技术领域：
本发明涉及一种用于对于X射线装置减小所产生的对象图像中的放射硬化伪影的方法，其中由X射线放射器产生X射线，并通过由多个检测器元件构成的检测器从不同投影方向采集取决于X射线穿过该对象的衰减的测量值。本发明还涉及一种具有执行该方法的装置的计算机断层造影设备。
背景技术：
由X射线装置的X射线放射器产生的透射对象的X射线不是单频的，而是具有取决于所设置的管电压的能量谱。对于X射线在穿过物质时的被吸收程度，由于吸收系数取决于能量而使得能量少的X射线较之能量高的X射线被吸收得更多。这种被称为放射硬化的效应主要取决于被透视物质的平均核电荷数和X射线的频谱分布。从量化的角度，该效应随着物质的核电荷数的增长以及随着X射线-质子能量的下降而升高。
由X射线透视的对象通常由不同成分组成，这些成分的一些部分具有完全不同的吸收系数。此外这些成分也不是绕X射线装置的旋转中心旋转对称地分布的，从而这些成分是在拍摄系统的不同设置的投影角下以不同的顺序被透视的。由于放射硬化，在透视厚度和按照单频放射的衰减法则的信号衰减之间不存在理想的指数关系。
检测器采集的不是穿过对象触及的X射线的频谱分布，而只是X射线质子的总能量或总量子数，从而出现系统的测量值不一致，该不一致在由这些测量值产生的图像中以典型的放射硬化伪影的形式表达出来。这种不一致通过沿着经历巨大硬化效应的射线的伪影而显示出来。
图像伪影例如在检查患者头部时出现。在相应的断层图像中，可以看见在厚骨骼层之间的软组织中、尤其是在头颅基骨的区域中会对诊断引起强烈干扰的黑色条纹。
由于这个原因需要校正图像的措施以便能尽可能消除放射硬化伪影。
已建立的用于在计算机断层造影中消除具有多种成分的对象的断层图像中的放射硬化伪影的方法迭代地工作，并需要很高的计算开销。在第一方法步骤中，根据从不同投影方向中获得的对象的测量值来再现出临时断层图像。接着在该临时断层图像中利用对断层的像素图像进行分割来识别出不同的成分，如骨骼部分和组织部分，从而在对成分图像进行重新投影之后可以对测量值进行校正。接着根据这样校正后的测量值又再现出一幅断层图像，在这幅图像中放射伪影只以微弱的形式存在。为了从该断层图像中足够好地去掉放射硬化伪影，必须在特定的方法中重复分割、重投影、校正和再现断层图像的过程直至收敛。
用于校正放射硬化伪影的公知方法的仅一个迭代步骤本身与简单的再现断层图像相比上述计算开销就已经变成了三倍，由此不能总是执行这样的校正。此外，X射线穿过对象的放射变化越复杂，用于消除放射硬化伪影的迭代算法的可应用性就越差。在3D反向投影的领域中，还需要3D前向投影或相应的射线跟踪以计算放射变化过程，这同样带来了很高的计算开销。
DE10356116公开了另一种减小计算机断层造影中放射硬化伪影的方法。该方法包括针对两种不同频谱的X射线放射从不同的投影方向采集对象的测量数据，再现至少一幅第一临时能量图像和一幅第二临时能量图像，将第二临时能量图像转换为第一转换能量图像，将第一临时能量图像与第一转换能量图像组合以产生组合的第一能量图像，在该图像中减小了放射硬化效应。就是这种方法也只能以很大的计算开销来执行。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种用于X射线装置或者说计算机断层造影设备方法，可以有效地减小所产生的对象图像中的放射硬化伪影。
本发明人基于以下认识，当X射线装置的检测器的每个检测元件在每个投影方向上至少采集到对应于X射线放射的至少两个不同能量区域的两个测量值时，就可以无需采用迭代过程且无需计算临时能量图像来校正X射线装置的测量值，以减小放射硬化伪影。在这种情况下，例如可以通过从至少一个查找表中读取校正值来确定对每个测量值的校正，其中该校正值对应于一个伪单频测量值，该测量值考虑了在X射线放射穿透对象时针对至少两种成分的放射硬化。
根据本发明的方法，其中产生X射线并通过由检测器元件构成的检测器采集来自不同投影方向的取决于穿过对象的X射线放射的衰减的测量值，该方法包括步骤a)对每个检测器元件在每个投影方向上采集对于X射线的N个不同能量区域的N个测量值，其中N＞＝2，b)对每个检测器元件从采集的N个测量值中分别确定一个伪单频测量值，c)根据这样确定的检测器元件的伪单频测量值再现图像，其中基本上抑制了放射硬化伪影。
因此，放射硬化伪影的校正在没有高计算开销的迭代过程和不计算临时能量图像的情况下直接基于由检测器元件采集的测量值进行，无需再现临时图像，尤其是断层图像。该校正因此可以在对对象扫描期间实时进行。
对应于X射线的N个不同能量区域的N个测量值可以简单的方式通过N个不同设置的X射线的频谱来采集。在本发明的另一个优选变形中，同样可以考虑在X射线的频谱不变时、但在能量分辨的检测器的不同能量窗中采集这些测量值。
优选从N个测量值中确定伪单频测量值包括确定N个不同成分的N个透视厚度，其中该N个不同成分由于不同的平均核电荷数或密度而具有不同的吸收特性。
对每个测量值可以简单方式与X射线以什么顺序透视各成分无关地确定对象的N个不同成分的透视厚度。确定透视厚度尤其是提供了这样的优点，即所导出的测量参数不受放射硬化效应的影响。
伪单频测量值优选根据N个不同成分的分别用加权系数加权的N个透视厚度的和来计算。加权系数在此优选为各成分对应的X射线的吸收系数。
在本发明的优选变形中，N个不同成分的N个透视厚度从分别具有N个输入值和一个输出值的N个查找表中确定，其中该N个输入值是对应于X射线的N个频谱分量的N个测量值，输出值是相应成分的透视厚度。从N维查找表中读取一个值只需要很少的计算时间，从而可以随着扫描实时地确定N个成分的N个透视厚度。
另外，还可以分别采用一个适用于根据N个测量值来确定N个成分的透视厚度的多项式来代替查找表。
优选以简单方式这样确定该N个查找表，即模拟对应于X射线的不同能量区域的N个测量值并以N维矩阵的形式存储起来，其中在模拟期间改变N个不同成分的透视厚度，然后将这样确定的N维矩阵转换为修正矩阵，该修正矩阵属于通过N维矩阵定义的、从N个测量值到N个透视厚度的映射的反映射。在此，由N个修正矩阵中的每一个矩阵来构成N个查找表之一。
除了用于确定对象的N个成分的N个透视厚度以便从中确定与放射硬化无关的伪单频测量值的N个查找表之外，同样还优选直接从唯一的一个具有N个输入值和一个输出值的查找表中确定伪单频测量值，其中该N个输入值是X射线的N个不同频谱的N个测量值，该输出值是该伪单频测量值。
在本发明的优选实施方式中，输出值可以由对相应查找表的项进行插值得到，在这种情况下，不需要在产生查找表时考虑将所有可能的近似连续的测量值作为输入值。而是可以由辅助输出值插值出那些由与该测量值相比查找表中最近的更大输入值和最近的更小输入值来确定的输入值、与测量值匹配的输出值和匹配的伪单频测量值。
特别合适的是，通过对辅助输出值的N维多线性插值来确定对应于测量值的输出值的插值。
优选通过多项式来表示相应的查找表，该多项式描述查找表的输入值和输出值之间的数学关系。在更小的存储需求下考虑对象的大量不同成分时，可以将多项式而非查找表用于确定透视厚度。
优选由X射线管形式的X射线放射器产生X射线放射。在本发明的优选实施方式中，X射线的不同频谱在这种情况下通过不同设置的X射线管电压来产生。
对于N等于2且待检查对象基本上只具有两种成分、即骨骼和水的情况，优选产生X射线的第一频谱，用于在管电压设置为80kV时采集第一测量值，产生X射线的第二频谱，用于在管电压设置为140kV时采集第二测量值。
下面在不限制一般性情况下从X射线装置是计算机断层造影设备出发。原理上该方法还可用于其它类型的X射线装置，其中从不同的投影方向采集穿过对象的X射线的多个测量值，从而基于这样采集的测量值来产生图像。
本发明的实施例以及其它优选实施方式在附图中示出。其中图1以部分结构框图、部分透视图的形式示出用于执行本发明方法的X射线装置；
图2以草图形式示出对伪单频测量值的确定，以例如校正采集的检测器元件的两个测量值的放射硬化伪影；图3示出X射线的第一频谱的模拟测量值的等势线作为两种成分的透视厚度的函数；图4示出X射线的第二频谱的模拟测量值的等势线作为两种成分的透视厚度的函数；图5示出作为测量值与X射线的第一和第二频谱分量的函数的第一种成分的透视厚度；图6示出作为测量值与X射线的第一和第二频谱分量的函数的第二种成分的透视厚度。
具体实施例方式
在图1中以部分框图、部分透视图的形式示出X射线装置，在此是计算机断层造影设备。计算机断层造影设备的支撑装置包括可移动卧榻17，利用该卧榻可将诸如患者的待检查对象16移动通过计算机断层造影设备外壳内的一个开口而进入与该计算机断层造影设备对应的拍摄系统1、2的测量区域25中。对象16和拍摄系统1、2的测量区域25可通过这种方式相对移动。
拍摄系统1、2具有诸如X射线管的X射线放射器1和设置在该X射线放射器对面的检测器2，该检测器包括多个排列成行和列的检测器元件3。X射线放射器1产生扇形的X射线束。该X射线束穿过定位在拍摄系统1、2的测量区域25中的对象16，并落在检测器2的检测器元件3上。每个检测器元件3分别产生一个取决于穿过测量区域25的X射线衰减的衰减值，下面将其称为测量值。X射线到测量值的转换例如通过与闪烁器光耦合的光电二极管或通过直接转换的半导体进行。针对X射线放射器相对于对象16的一个特殊位置拍摄的一组检测器2的测量值称为“投影”。
在计算机断层造影设备的内部具有未示出的支架，上面设置拍摄系统1、2。利用未示出的驱动单元使支架以很高的旋转速度围绕计算机断层造影设备的系统轴18旋转。通过这种方式可以从不同投影方向对对象16进行多次投影。通过旋转支架的同时连续在系统轴18方向移动对象16可以扫描对象16的检查区，该检查区大于由拍摄系统1、2构成的测量区25。在螺旋形扫描19时从不同投影方向中获得的对象16的测量值可以被计算成断层或立体图像，并为操作人员可视地显示在显示单元22上。
计算机断层造影设备还可以其它不同于螺旋形扫描19的形式运行。例如可以想到在卧榻17没有移动的情况下只通过拍摄系统1、2的旋转来扫描对象16。这种扫描类型例如在检查心脏的周期运动过程的心脏病检查中采用。扫描需要的运行参数可以利用操作单元23由操作人员预先输入，其中操作单元23与计算单元20连接。
待检查的对象16通常具有不同材料的成分，这些材料成分部分地具有完全不同的吸收系数。由X射线放射器1产生的穿过对象16的X射线不是单频的，而是具有取决于管电压的频谱。低能量的X射线在穿过材料或者说穿过对象时比高能量的X射线具有更强的衰减。由于X射线对同一对象16的不同衰减取决于以何种顺序来透视该材料，因此在所产生的结果图像中形成放射硬化伪影。由此产生的测量值不一致导致放射硬化伪影。
当用每个检测器元件3针对每个投影方向采集X射线的不同能量区域的多个测量值时就可以校正放射硬化伪影。原理上可以根据针对不同能量区域采集的N个测量值来补偿被透视对象16的N个成分的放射硬化效应。
针对X射线的不同能量区域采集测量值可以不同方式进行。这样，例如可以想到对于一个固定设置的X射线的频谱在图1所示的检测器2的N个不同能量窗中采集测量值，其中检测器2可以采集X射线的至少两个不同能量区域的测量值。除了采用这种由能量触发的检测器2之外，还可以简单方式通过采用X射线的N个不同频谱来采集对应于该X射线的不同能量区域的测量值。对于本方法来说用何种方式来产生频谱完全没有关系。例如可以想到计算机断层造影设备为此具有多个X射线放射器。在该非限制性的实施例中，通过以不同设置的管电压来运行X射线管1，可以产生不同的频谱。
下面从诸如患者的对象16基本上具有N＝2种成分、也就是骨骼和水出发。因此为了消除这两种成分的放射硬化伪影，对每个投影方向和每个检测器元件都需要针对X射线的两个不同设置的频谱进行两次测量。
通常对象的任意多种不同成分都可以在校正放射硬化伪影的过程中考虑到。原理上考虑的对象成分越多，放射硬化伪影的针对性校正就越有效。
为了对所产生的图像、如断层图像中的放射硬化伪影进行这样的校正，计算机断层造影设备具有对应于支架和X射线放射器1的控制单元24。通过控制单元24可以预先给定不同的管电压，从而可以用不同设置的X射线的频谱来透视对象。
管电压的设置与投影角位置和/或拍摄系统的旋转有关，从而对每个检测器元件在每个投影方向上针对X射线的N个不同能量区采集N个测量值，其中将N选择为大于等于2。由检测器元件3采集的测量值在此利用采集单元20读取，接着传送给计算单元21作进一步处理。
在这里实施的例子中，对象基本上包括两种成分一骨骼和水，在X射线的第一频谱和与之不同的第二频谱下采集测量值，其中第一频谱在管电压设置为80kV时产生，第二频谱在管电压设置为140kV时产生。
计算单元21用于如图2所示由两个测量值4、5分别确定一个伪单频测量值8。伪单频测量值8是一个虚构的测量值，其是针对对象16在X射线假定为单频时可以测量到的，这样在产生的图像、如断层造影的断层图像中不会产生放射硬化伪影。
图2以草图形式示出单频测量值8的确定，以例如校正检测器元件3针对不同X射线频谱采集的两个测量值4、5的放射硬化伪影。
为了确定伪单频测量值8，为此首先根据相应的针对X射线的不同频谱采集的两个测量值4、5来确定两种成分骨骼和水的两个透视厚度6、7。透视厚度6、7可以特别有效的方式通过两个查找表9、10确定，其中从每个查找表9、10中可以确定一种成份的透视厚度6、7。查找表9、10的输入值是两个测量值4、5，输出值是相应成分的透视厚度6或7。
然后基于这样确定的透视厚度6、7通过下面的加权和来合成伪单频值8C(m1，m2)＝μ1*D1(m1，m2)+μ2*D2(m1，m2)其中，C(m1，m2)是伪单频测量值8，D1(m1，m2)是第一种成分即水的第一透视厚度6，D2(m1，m2)是第二种成分即骨骼的第一透视厚度7，m1是在X射线的第一设置频谱下的第一测量值4，m2是在X射线的第二设置频谱下的第二测量值5，μ1是第一种成分的吸收系数，μ2是第二种成分的吸收系数。
原理上可以通过选择吸收系数来任意设置伪单频测量值8。合适的是，第一种成分的吸收系数对应于水的吸收系数，第二种成分的吸收系数对应于骨骼的吸收系数。
图2中以虚线形式示出针对N个不同频谱采集N个测量值的一般情况。根据这N个测量值从对应的N维查找表中读取N种成分的N个透视厚度，从而可以用这N个透视厚度的加权和合成出伪单频值8。出于存储容量的原因还可以通过对应的、描述查找表的输入值和输出值之间的数学关系的多项式来描述查找表。
N个查找表9、10是这样来确定的，首先针对X射线的N个可调节频谱的每一个分别模拟出穿过具有N种成分的对象的X射线的测量值4、5，并以N维矩阵的形式存储起来。
在具有两种成分、即水和骨骼的对象的具体例子中，对测量值的模拟例如需要可以针对在测量时设置的不同管电压数字地产生频谱。为此例如在模拟之前利用分光计测量和存储在对应设置的管电压下的X射线的频谱，从而可以在模拟期间调用X射线频谱。同样还可以想到在模拟期间以参数化的形式调用X射线频谱。不同的频谱例如可以通过n阶的多项式来表示，其中作为参数预先给定的管电压的改变会引起X射线频谱的移动。在X射线穿过材料或者说穿过对象成分过程中吸收X射线的随机过程例如可以借助蒙特卡洛模拟来执行，其中相应成分的透视厚度在模拟测量值时是一个参数值。从模拟中获得的、对应于X射线不同频谱的测量值以矩阵的形式来采集。
图3和图4示出X射线的第一和第二频谱的模拟测量值的等势线作为对象中存在的两种成分的透视厚度的函数，其中在所显示的x轴方向上记录第一种成分的透视厚度值，在y轴方向上记录第二种成分的透视厚度值。在图3和图4显示的等势线上的测量值分别具有相同的值。
如图3所示，根据第一种成分的透视厚度6和第二种成分的透视厚度7可以确定第一测量值4，该第一测量值在所设置的第一管电压或者说X射线的第一设置频谱下由相应的检测器元件3产生。按照同样的方式，根据第一种成分的透视厚度6和第二种成分的透视厚度7可以确定第二测量值5，如图4所示，该第二测量值在所设置的第二管电压或者说X射线的第二设置频谱下由相应的检测器元件3产生。
可这样确定的测量值4、5分别作为元素记录到一个矩阵中，其中该矩阵中的测量值这样排列，在所示行方向14上的测量值对应于第一种成分的透视厚度6的上升的值，在所示列方向15上的测量值对应于第二种成分的上升的透视厚度7。
第一矩阵描述了第一和第二种成份的透视厚度6、7根据X射线的第一频谱映射为穿过对象的X射线的测量值4。第二矩阵相应地描述了第一和第二种成份的透视厚度6、7根据X射线的第二频谱映射为穿过对象的X射线的测量值5。
然后可以根据数值方法将通过矩阵定义的映射颠倒。在第一方法步骤中，根据第一矩阵的映射构成第一辅助映射，其中第一种成分的透视厚度6和取决于第一频谱的测量值4被映射为第二种成分的透视厚度7。对应的，根据第二矩阵的映射构成第二辅助映射，其中第一种成分的透视厚度6和取决于第二频谱的测量值5同样被映射为第二种成分的透视厚度7。这些辅助映射在此通过读取相应的值三角形(Werttripel)来产生，该值三角形是a)第一种成分的透视厚度6，b)第二种成分的透视厚度7，c)取决于X射线的第一或第二频谱的测量值4或5。在两个辅助矩阵中可以给出第二种成分的透视厚度7具有相同值的等势线。用图像描述的话辅助映射可以相互叠加，从而第二种成分的透视厚度7针对两个值a)第一种成分的透视厚度6和b)X射线的第一或第二频谱的测量值4或5的特定组合的等势线相交。基于在该等势线的相交点的第一种和第二种成分的透视厚度值6、7以及X射线频谱的第一和第二频谱的测量值4、5，可以构成给出穿过对象的X射线取决于第一和第二频谱的测量值4、5以及两种成分的透视厚度6、7之间的关系的反映射，每个这样的映射都可以用修正矩阵的形式表示。第一修正矩阵描述穿过对象的X射线对应于该X射线的第一和第二频谱的测量值4、5到第一种成分的透视厚度6的映射。第二修正矩阵对应地描述穿过对象的X射线对应于该X射线的第一和第二频谱的测量值4、5到第二种成分的透视厚度7的映射。
最后将修正矩阵的元素传送到查找表9、10中，其中对应于X射线的两个不同频谱的两个测量值4、5是输入值，而从查找表9或10中读取的值分别对应于一种成份的透视厚度6或7。
在图5和图6中示出第一种成分的第一透视厚度6或第二种成分的第二透视厚度7作为对应于X射线第一频谱的第一测量值4和对应于X射线第二频谱的第二测量值5的函数，其中在x轴12的方向上记录第一测量值，在y轴15的方向上记录第二测量值。为概略起见在图5和图6中分别只设置了具有一个标记的一个第一测量值4和一个第二测量值5。
如图5所示，根据第一测量值4和第二测量值5确定第一种成分的第一透视厚度6。按照同样的方式根据第一测量值4和第二测量值5确定第二种成分的第二透视厚度7，如图6所示。
原则上为了节省存储空间，合适的是在产生查找表时不将所有可能的近似连续的测量值计算为输入值。在这种情况下，对查找表来说可以有一个测量值不作为输入值。如果通过查找表没有找到一个测量值，则在这种情况下为该测量值确定在该查找表中存在的离得最近的更大输入值和离得最近的更小输入值。接着从这样确定的输入值中读取所属的伪单频测量值。最后通过插值确定对应于所查找的测量值的伪单频测量值。该插值优选通过多线性的、例如通过双线性的插值来实现。但还可以采用其它插值，例如样条差值，其中不只分别采用一个相邻的查找表项，而是采用多个查找表项。
除了用于确定对象的N种成分的N个透视成分以便从中确定不依赖于放射硬化的伪单频测量值的N个查找表之外，还可以直接从唯一的一个具有N个输入值和一个输出值的查找表中确定伪单频测量值，其中该唯一的查找表由N个查找表通过从针对所有可能的测量值的全部伪单频测量值中以已被描述的方式合成并传送到该唯一的查找表中来产生。
权利要求
1.一种用于X射线装置的减小所产生的对象(16)图像中的放射硬化伪影的方法，其中，产生X射线并通过由多个检测器元件(3)构成的检测器(2)来采集来自不同投影方向、取决于穿过对象(16)的X射线的衰减的测量值(4，5)，其中a)针对每个检测器元件(3)在每个投影方向上都对X射线的N个不同能量区域采集N个测量值(4，5)，其中，N＞＝2，b)针对每个检测器元件(3)从所采集的N个测量值(4，5)中分别确定一个伪单频测量值(8)，c)根据这样确定的检测器元件(3)的伪单频测量值再现图像，其中基本上抑制了放射硬化伪影。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对于X射线的N个不同能量区域的N个测量值(4，5)从N个不同设置的X射线频谱中产生。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，通过能量分辨的检测器在N个不同的能量窗中采集所述对于N个不同能量区域的N个测量值(4，5)。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，从N个测量值(4，5)中确定所述伪单频测量值(8)包括确定N个不同成分的N个透视厚度(6，7)，其中该N个不同成分具有不同的、与能量有关的吸收系数。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述伪单频测量值(8)根据N个不同成分的分别用加权系数加权的N个透视厚度(6，7)的和(11)来计算。
6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述透视厚度(6，7)的加权系数是各成分对X射线放射的吸收系数。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的方法，其中，所述N个透视厚度(6，7)分别从具有N个输入值和一个输出值的N个查找表(9，10)中确定，其中该N个输入值是所述N个测量值(4，5)，输出值是相应成分的透视厚度(6，7)。
8.根据权利要求7所述的方法，其中，这样确定所述N个查找表(9，10)，模拟所述对于N个不同能量区域的N个测量值(4，5)并以N维矩阵的形式存储起来，其中在模拟期间改变N个不同成分的透视厚度(6，7)，然后将这样确定的N维矩阵转换为修正矩阵，修正矩阵属于通过N维矩阵定义的、从N个测量值(4，5)到N个透视厚度(6，7)的映射的反映射，其中由N个修正矩阵中的每一个矩阵来构成N个查找表(9，10)之一。
9.根据权利要求1所述的方法，其中，直接从一个具有N个输入值和一个输出值的查找表中确定所述伪单频测量值(8)，其中该N个输入值是所述N个测量值(4，5)，该输出值是该伪单频测量值(8)。
10.根据权利要求7至9中任一项所述的方法，其中，所述伪单频测量值(8)由对相应查找表(9，10)的项进行插值得到。
11.根据权利要求10所述的方法，其中，对所述伪单频测量值(8)的插值是多线性插值。
12.根据权利要求7至11中任一项所述的方法，其中，所述各查找表(9，10)通过多项式来表示，该多项式描述查找表(9，10)的输入值和输出值之间的数学关系。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的方法，其中，由X射线管形式的X射线放射器(1)产生X射线放射。
14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述对于X射线的N个不同能量区域的N个测量值(4，5)通过不同设置的X射线管电压产生。
15.根据权利要求14所述的方法，其中N＝2，并且产生X射线的第一频谱，用于在管电压设置为80kV时采集第一测量值(4)，产生X射线的第二频谱，用于在管电压设置为140kV时采集第二测量值(5)。
16.一种计算机断层造影设备，具有用于执行根据权利要求1至15中任一项所述的能减小对象图像中的放射硬化伪影的方法的装置。
全文摘要
本发明涉及一种用于X射线装置的减小所产生的对象(16)图像、如患者的断层图像中的放射硬化伪影的方法，其中对于X射线的N个不同能量区域采集N个测量值(4，5)，从采集的N个测量值中分别确定一个伪单频测量值(8)，从而根据这样计算的不同投影方向的伪单频测量值产生其中基本上抑制了放射硬化伪影的图像。
文档编号H05G1/00GK1823685SQ20061005494
公开日2006年8月30日 申请日期2006年2月27日 优先权日2005年2月25日
发明者雷纳·劳帕克 申请人:西门子公司