用于监测承载构件的温度补偿的制作方法

文档序号:8069693阅读:218来源:国知局
用于监测承载构件的温度补偿的制作方法
【专利摘要】一种示例性系统包括可移动的质量块。承载构件包括至少一个导电张紧构件,所述张紧构件支撑与所述质量块的移动相关联的载荷。导电构件沿所述承载构件的移动路径的选定部分定位。所述导电构件不承受所述张紧构件上的载荷。处理器被配置用于测定所述张紧构件的电阻以作为所述张紧构件的状态的指示器。所述处理器被配置用于测定所述导电构件的电阻。所述处理器使用所测定的所述导电构件的电阻来补偿所测定的所述张紧构件的电阻经受的任何环境影响。
【专利说明】用于监测承载构件的温度补偿

【背景技术】
[0001] 本公开涉及用于承载构件的监测系统,并且更具体地,涉及用于监测承载构件 (诸如用于电梯系统的绕绳配置)的温度补偿。
[0002] 许多电梯系统包括电梯轿厢和通过绕绳配置悬挂的配重。绕绳配置支撑电梯轿厢 的载荷并促进轿厢的移动。牵引绳轮导致绕绳配置的移动,从而导致所需的电梯轿厢的移 动。
[0003] 电梯绕绳配置已包括圆钢绳索。监测圆钢绳索的状态通常涉及手动的目视检验。 最近,已将其它类型的承载构件包括在绕绳配置中,诸如平皮带。在平皮带和其它现代承载 构件的情况下,张紧构件可至少部分地包裹在由诸如聚氨酯的材料制成的护套中。该护套 引入了对不同检验技术的需要。
[0004] 曾有建议使用基于电阻的检验技术来监测电梯承载组件中的张紧构件的状态。利 用此类技术,将电阻的变化解释为张紧构件的强度或承载特性的变化。使用基于电阻的监 测技术的一个方面是电阻可能会受电梯井道内的条件影响。例如,温度变化可能会导致井 道内的张紧构件的表观电阻的变化。美国专利第6, 633, 159号中提到了一种用于解决诸如 温度的因素的技术。该文献描述了这样一种技术:其中将平皮带内的一个张紧构件的电阻 与另一个张紧构件的电阻进行比较。这种方法的可能缺点是,进行比较所涉及的任何张紧 构件均处于与电梯轿厢的载荷相关联的张力下,并且与由温度导致的变化相比,并不总是 能够辨别出由装载和使用导致的电阻变化。 发明概要
[0005] -种示例性系统包括可移动的质量块。承载构件包括至少一个导电张紧构件,该 张紧构件支撑与质量块的移动相关联的载荷。导电构件沿承载构件的移动路径的选定部分 定位。导电构件不承受张紧构件上的载荷。处理器被配置用于测定张紧构件的电阻以作为 该张紧构件的状态的指示器。处理器被配置用于测定导电构件的电阻。处理器使用所测定 的导电构件的电阻来补偿所测定的张紧构件的电阻经受的任何环境影响。
[0006] 在具有前面段落所述的系统的一个或多个特征的示例性实施例中,处理器被配置 用于:监测在选定时间内导电构件的电阻;测定受监测电阻在选定时间期间经受的任何环 境影响;并且补偿所测定的张紧构件的电阻在选定时间期间经受的所测定影响。
[0007] 在具有任一前面段落所述的系统的一个或多个特征的示例性实施例中,处理器被 配置用于:测定在第一测量周期期间导电构件的基准电阻;确定导电构件的所述电阻是否 不同于第二测量周期期间的基准电阻;测定所述电阻在第二测量周期期间经受的温度影 响;测定在第二测量周期期间张紧构件的电阻;并且基于在第二测量周期期间所测定的张 紧构件的电阻和在第二测量周期期间所测定的温度影响来测定张紧构件在第二测量周期 期间的状态。
[0008] 在具有任一前面段落所述的系统的一个或多个特征的示例性实施例中,导电构件 沿井道的壁定位。
[0009] 在具有任一前面段落所述的系统的一个或多个特征的示例性实施例中,导电构件 至少部分地固定到导轨。
[0010] 在具有任一前面段落所述的系统的一个或多个特征的示例性实施例中,导电构件 被支撑在承载构件上或其中。
[0011] 在具有任一前面段落所述的系统的一个或多个特征的示例性实施例中,承载构件 包括护套并且导电构件收容在该护套内。
[0012] 在具有任一前面段落所述的系统的一个或多个特征的示例性实施例中,承载构件 包括护套内的多个张紧构件,并且导电构件比这些张紧构件中的任何一个都更接近护套的 边缘。
[0013] 在具有任一前面段落所述的系统的一个或多个特征的示例性实施例中,张紧构件 具有第一刚性并且导电构件具有第二较小的刚性。
[0014] -种监测包括至少一个导电张紧构件的承载构件的状态的示例性方法包括:将导 电构件沿承载构件的路径的所需长度定位,以使得导电构件不承受张紧构件上的载荷。测 定张紧构件的电阻以作为该张紧构件的状态的指示器。还测定导电构件的电阻。使用所测 定的导电构件的电阻来补偿所测定的张紧构件的电阻经受的任何环境影响。
[0015] 具有前面段落所述的方法的一个或多个特征的示例性实施例包括:监测在选定时 间内导电构件的电阻;测定受监测电阻在选定时间期间经受的任何环境影响;并且补偿所 测定的张紧构件的电阻在选定时间期间经受的所测定影响。
[0016] 具有任一前面段落所述的方法的一个或多个特征的示例性实施例包括:测定导电 构件在第一测量周期期间的基准电阻;确定导电构件的所述电阻是否不同于第二测量周期 期间的基准电阻;测定所述电阻在第二测量周期期间经受的温度影响;测定在第二测量周 期期间张紧构件的电阻;并且基于在第二测量周期期间所测定的张紧构件的电阻和在第二 测量周期期间所测定的温度影响来测定张紧构件在第二测量周期期间的状态。
[0017] 在具有任一前面段落所述的方法的一个或多个特征的示例性实施例中,所述定位 包括使导电构件沿电梯井道的壁放置。
[0018] 在具有任一前面段落所述的方法的一个或多个特征的示例性实施例中,所述定位 包括使导电构件至少部分地固定到电梯井道中的导轨。
[0019] 在具有任一前面段落所述的方法的一个或多个特征的示例性实施例中,所述定位 包括使导电构件包括在承载构件上或其中。
[0020] 在具有任一前面段落所述的方法的一个或多个特征的示例性实施例中,承载构件 包括护套并且导电构件收容在该护套内。
[0021] 在具有任一前面段落所述的方法的一个或多个特征的示例性实施例中,承载构件 包括位于护套内的多个张紧构件,并且导电构件比这些张紧构件中的任何一个都更接近护 套的边缘。
[0022] 在具有任一前面段落所述的方法的一个或多个特征的示例性实施例中,张紧构件 具有第一刚性并且导电构件具有第二较小的刚性。
[0023] -种用于监测承载构件的状态的示例性组件包括导电构件,该导电构件的长度允 许该导电构件沿承载构件的路径的所需部分定位。连接器被配置用于实现与承载构件中的 至少一个张紧构件的导电连接。处理器被配置用于测定张紧构件的电阻以作为该张紧构件 的状态的指示器。处理器被配置用于测定导电构件的电阻。处理器使用所测定的导电构件 的电阻来补偿所测定的张紧构件的电阻经受的任何环境影响。
[0024] 在具有前面段落所述的组件的一个或多个特征的示例性实施例中,处理器被配置 用于:监测在选定时间内导电构件的电阻;测定受监测电阻在选定时间期间经受的任何环 境影响;并且补偿所测定的张紧构件的电阻在选定时间期间经受的所测定温度影响。
[0025] 根据以下【具体实施方式】,本领域的技术人员将容易理解本发明所公开的示例性实 施例的各种特征和优点。伴随【具体实施方式】的附图可简述如下。
[0026] 附图简述
[0027] 图1示意性地示出一种示例性电梯系统的选定部分。
[0028] 图2示出示例性承载构件配置。
[0029] 图3示出导电构件的示例性放置。

【具体实施方式】
[0030] 图1示意性地示出系统的可以利用本发明的选定部分,即电梯系统20。在该实例 中,电梯轿厢22和配重24以通常已知的方式定位在井道26内。一个或多个承载构件30 支撑电梯轿厢22的载荷并促进电梯轿厢22的移动,从而提供所需的电梯服务。出于讨论 的目的,示出单个承载构件30。本领域的技术人员将认识到,绕绳配置可包括多个承载构件 以使电梯轿厢在系统中悬挂并移动,如图1中示意性地所示。
[0031] 图2中示出示例性承载构件30。该实例包括具有至少部分地包裹在护套34内的 多个张紧构件32的皮带。尽管在图2中被示出为大体上平面的,但所述皮带可具有其它配 置,诸如聚V构型。在该实例中,张紧构件32可以导电。在一个实例中,张紧构件32包括 金属,诸如钢丝绳。护套34可以不导电。在一个实例中,护套34包括诸如聚氨酯的材料。 本发明的实施例并不一定限于任何特定型式的承载构件。
[0032] 至少一个连接器40可促进到任何一个或所有张紧构件32的导电连接,以便监测 承载构件30的状态。如图1中所示,处理器42例如通过测定至少一个张紧构件32的电阻 来测定承载构件30的状态。在一些实例中,处理器42被编程或被配置为使用多种已知的 基于电阻的监测技术之一,通过这些监测技术,所测量的电梯承载构件中的张紧构件的电 阻可提供该承载构件的状态的指示。
[0033] 如图1中所示,导电构件(ECM) 50被提供来基于承载构件30的一个或多个张紧构 件32的电阻而促进关于承载构件30的状态的更准确测定。ECM 50具有促进其能够沿电 梯轿厢22的坚直路径的一部分或沿井道26的高度的一部分定位的长度。在一个实例中, ECM50是沿井道26的高度的至少顶部三分之一定位。在一些实例中,ECM50是沿井道26的 顶部三分之二定位。导电构件50是沿井道26的暴露于环境条件的部分定位,所述环境条 件可能会影响所测量的张紧构件32的电阻。例如,井道26的上部通常比该井道的下部经 历更高的温度。更高的温度可与张紧构件32的所检测电阻的变化相关联。ECM50向处理 器42提供允许处理器42补偿所检测或所测量的张紧构件32的电阻经受的任何环境影响 的信息。
[0034] 在一些实例中,ECM 50的放置提供针对包括承载构件的选定长度或部分的区或区 域的温度信息。为了测定图1中的示例性承载构件30的平均位置,基于每个区段的长度和 每个区段的中心位置来使用单独区段的加权平均值。这示出如下:

【权利要求】
1. 一种系统,其包括: 可移动的质量块; 承载构件,所述承载构件包括支撑与移动所述质量块相关联的载荷的至少一个导电张 紧构件; 导电构件,所述导电构件沿所述张紧构件的路径的选定部分定位以使得所述导电构件 不承受所述张紧构件上的载荷;以及 处理器,所述处理器被配置用于 测定所述张紧构件的电阻以作为所述张紧构件的状态的指示器, 测定所述导电构件的电阻,并且 使用所测定的所述导电构件的电阻来补偿所测定的所述张紧构件的电阻经受的任何 环境影响。
2. 如权利要求1所述的系统,其中所述处理器被配置用于 监测在选定时间内所述导电构件的电阻; 测定受监测电阻在所述选定时间期间经受的任何环境影响;并且 补偿所测定的所述张紧构件的电阻在所述选定时间期间所经受的所测定影响。
3. 如权利要求2所述的系统,其中所述处理器被配置用于 测定在第一测量周期期间所述导电构件的基准电阻; 确定所述导电构件的所述电阻是否不同于第二测量周期期间的基准电阻; 测定在所述第二测量周期期间所述电阻经受的温度影响; 测定在所述第二测量周期期间所述张紧构件的电阻;并且 基于在所述第二测量周期期间所测定的所述张紧构件的电阻和在所述第二测量周期 期间所测定的温度影响来测定所述张紧构件在所述第二测量周期期间的状态。
4. 如权利要求1所述的系统,其中所述导电构件是沿井道的壁定位。
5. 如权利要求1所述的系统,其中所述导电构件至少部分地固定到导轨。
6. 如权利要求1所述的系统,其中所述导电构件被支撑在所述承载构件上或其中。
7. 如权利要求6所述的系统,其中所述承载构件包括护套并且所述导电构件被收容在 所述护套内。
8. 如权利要求7所述的系统,其中所述承载构件包括位于所述护套内的多个张紧构 件,并且所述导电构件比所述张紧构件中的任何一个都更接近所述护套的边缘。
9. 如权利要求6所述的系统,其中所述张紧构件具有第一刚性并且所述导电构件具有 第二较小的刚性。
10. -种监测系统中的承载构件的状态的方法,所述承载构件包括至少一个导电张紧 构件,所述方法包括以下步骤: 使导电构件沿所述承载构件的路径的所需长度定位,以使得所述导电构件不承受所述 张紧构件上的载荷; 测定所述张紧构件的电阻以作为所述张紧构件的状态的指示器; 测定所述导电构件的电阻;以及 使用所测定的所述导电构件的电阻来补偿所测定的所述张紧构件的电阻经受的任何 环境影响。
11. 如权利要求10所述的方法,其包括 监测在选定时间内所述导电构件的电阻; 测定所述受监测电阻在所述选定时间期间经受的任何环境影响;以及 补偿所测定的所述张紧构件的电阻在所述选定时间期间经受的所测定影响。
12. 如权利要求11所述的方法,其包括 测定在第一测量周期期间所述导电构件的基准电阻; 确定所述导电构件的所述电阻是否不同于第二测量周期期间的基准电阻; 测定所述电阻在所述第二测量周期期间经受的温度影响; 测定在所述第二测量周期期间所述张紧构件的电阻;以及 基于在所述第二测量周期期间所测定的所述张紧构件的电阻和在所述第二测量周期 期间所测定的温度影响来测定所述张紧构件在所述第二测量周期期间的状态。
13. 如权利要求10所述的方法,其中所述定位包括使所述导电构件沿电梯井道的壁放 置。
14. 如权利要求10所述的方法,其中所述定位包括使所述导电构件至少部分地固定到 电梯井道中的导轨。
15. 如权利要求10所述的方法,其中所述定位包括使所述导电构件包括在所述承载构 件上或其中。
16. 如权利要求15所述的方法,其中所述承载构件包括护套并且所述导电构件被收容 在所述护套内。
17. 如权利要求16所述的方法,其中所述承载构件包括位于所述护套内的多个张紧构 件,并且所述导电构件比所述张紧构件中的任何一个都更接近所述护套的边缘。
18. 如权利要求15所述的方法,其中所述张紧构件具有第一刚性并且所述导电构件具 有第二较小的刚性。
19. 一种用于监测承载构件的状态的组件,所述组件包括: 导电构件,所述导电构件的长度允许所述导电构件沿所述承载构件的路径的所需部分 定位; 连接器,所述连接器被配置用于实现与所述承载构件中的至少一个张紧构件的导电连 接;以及 处理器,所述处理器被配置用于 测定所述张紧构件的电阻以作为所述张紧构件的状态的指示器, 测定所述导电构件的电阻,并且 使用所测定的所述导电构件的电阻来补偿所测定的所述张紧构件的电阻经受的任何 环境影响。
20. 如权利要求19所述的组件,其中所述处理器被配置用于 监测在选定时间内所述导电构件的电阻; 测定所述受监测电阻在所述选定时间期间经受的任何环境影响;并且 补偿所测定的所述张紧构件的电阻在所述选定时间期间经受的所测定温度影响。
【文档编号】B66B13/24GK104428233SQ201280074448
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2012年7月3日 优先权日:2012年7月3日
【发明者】M.贾芬克尔, P.克约, P.利亚斯卡斯 申请人:奥的斯电梯公司
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