射频屏蔽测试室的制作方法
【专利摘要】本发明涉及射频屏蔽测试室，其包括：测试室框架，其用来界定和围绕所述测试室的腔室空间；和室门，其通过铰链结构连接在所述测试室框架上，并且用来从所述测试室前缘边侧开启和关闭所述测试室。所述室门除包括前壁外，至少在其缘边之一上包括侧面，所述侧面在所述测试室深度方向，作为由所述测试室所包括的侧面的延伸，构成所述测试室的侧面的一部分。位于所述测试室框架和所述室门之间的铰链结构在所述测试室框架侧通过基本水平的连接结构与所述测试室框架连接，所述铰链结构被设置成引导所述室门相对于所述测试室框架上升和从其升举位置下降。
【专利说明】射频屏蔽测试室
【技术领域】
[0001] 本发明涉及射频屏蔽测试室，其包括：测试室框架，其用来界定和围绕所述测试室 的腔室空间；和室门，其通过铰链结构连接在所述测试室框架上，并且用来从所述测试室前 缘边侧开启和关闭所述测试室。
【背景技术】
[0002] 射频屏蔽测试室用在电子工业上，与产品的研发或生产有关，用来测试被设计的 原型机或已制造的产品的操作。被测设备--即DUT--可以是用于无线电网络的终端设 备，例如被用在蜂窝无线电网络中的移动电话。
[0003] 在现有技术的测试室中，门是平坦的且设置有铰链，门在所述铰链上按垂直连接 方式枢转，类似于传统家具中的门，也就是，在其开启的位置，室门延伸远离所述测试室框 架的前面，从而占用了测试室周围的不必要的巨大空间。即使门开启，也不容易从侧面方向 进出现有技术中的测试室内部，因为侧面被固定。
[0004] 因此需要开发出一种新颖的测试室来解决现有技术中所出现的问题。
【发明内容】
[0005] 本发明的目的是提供改进的测试室。这由本发明的测试室来实现，本发明的测试 室的特征在于，所述室门除包括前壁外，至少在其缘边（edge )之一上包括侧面，所述侧面在 所述测试室深度方向，作为由所述测试室所包括的侧面的延伸，构成所述测试室的侧面的 一部分；并且，位于所述测试室框架和所述室门之间的铰链结构在所述测试室框架侧通过 基本水平的连接结构与所述测试室框架连接，所述铰链结构被设置成引导所述室门相对于 所述测试室框架上升和从其升举位置下降。
[0006] 本发明的优选实施例在从属权利要求中公开。优选实施例增强了基本发明的优 点。
[0007] 本发明中的技术方案达到了在测试室位置处更加有效利用空间的技术效果，因为 室门的移动方式相对于以往技术是不同，该室门的移动方式允许前面上方的空间被利用。 另外，现在由于部分室边与室门前面一起打开，因此一旦室门被打开，就容易从横向进出接 近测试室的内部。
【专利附图】
【附图说明】
[0008] 参照下面的优选实施例和附图，本发明将被更加详细地描述，其中：
[0009] 图1是测试室在开启状态时的侧视图；
[0010] 图2示出测试室室门的内部；
[0011] 图3是测试室在其关闭状态时从其右侧看的底部对角透视图；
[0012] 图4示出处于开启状态的从图3方向看的测试室框架和室门；
[0013] 图5是从处于关闭状态的测试室右侧看的上对角后透视图。
【具体实施方式】
[0014] 下面的实施例是示例性的。虽然描述在不同的地方可能涉及到"某个"、"一个"或 "一些"实施例，但这并不必须意味着每个这样的引用是指相同实施例，或一个特征仅适用 于一个实施例。不同实施例中的单个特征也可以组合以用在其他实施例中。
[0015] 本发明提供射频屏蔽测试室10,其包括：测试室框架100,其用来界定和围绕测试 室的腔室空间10A ;和室门300,其通过铰链结构200连接到所述测试室框架100,并用来从 所述测试室10的前缘（front edge) 10B侧开启和关闭所述测试室10。所述室门300除包 括前壁302外，至少在其缘边之一包括侧面311上，在所述测试室深度方向，所述侧面311 作为所述测试室所包括的侧面101的延伸，构成所述测试室10的侧面的一部分。位于所述 测试室框架100和所述室门300之间的铰链结构200在所述测试室框架100的侧面上通过 基本水平的连接结构201、201a和201b与所述测试室框架100连接，所述铰链结构200被 设置成使得所述室门300能相对于所述测试室框架上升和从其升举位置下降。图1中示出 铰链结构200及它的连接体（joints)和臂体，然而图4没有示出所述铰链结构。
[0016] 除了上面提到的侧面101，测试室框架100包括第二侧面102,也就是相对的侧面 102。测试室框架的侧面通过底面103、顶面或顶盖104、各后壁105、以及前下壁106相互连 接。前下壁106的第一侧面106a被配置作为测试室框架100的第一侧面101的延伸，所述 第一侧面106a位于测试室框架的前端表面的下位部分，起自于测试室拐角处，并且，前下 壁106的第二侧面106b被配置作为测试室框架100的第二侧面102的延伸，第二侧面106b 位于测试室框架的前端表面的下位部分，起自于测试室的第二拐角处。测试室框架100的 前壁106被分成106a和106b两个部分，使得通过弯曲片材就能够容易地制出测试室框架 100的形状，所述片材例如是铝片，这作为起始点，同样的构造也适用于测试室框架100的 顶面104的部分104a和104b。
[0017] 除了上面提到的前壁302和侧面311外，室门300包括第二侧面312。除了室门的 前壁302和顶壁304外，在室门300的侧面311和侧面312之间设置有前上位构件315,例 如上斜壁构件315。室门300的顶壁304被分成304a和304b两个部分，使得通过弯曲片材 就可以容易地制出室门300,所述片材例如是铝片，这作为起始点，基于同样的理由，前上位 构件是独立的部分，其与室门结构的其他部分连接。
[0018] 参照图2的测试室，优选地，测试室的室门包括射频密封件320,所述射频密封件 320用来密封室门300和测试室框架100之间空隙以阻挡射频信号。所述射频密封件320 设置在室门300内表面在室门的缘边处或其附近，且基本上按照室门缘边的形状设置。射 频密封件320可以是导电性的密封件，公知为"纤维包泡棉"（Fabric over foam)的类型， 例如，在射频密封件320中，聚氨酯（urethane)或一些其他的基本材料是由导电纤维涂覆， 其中，导电性通过银、铜镍合金或锡铜合金提供。这种射频密封件的制造商是施莱格尔电子 材料公司（Schlegel Electronics Materials)。作为实例，射频密封件可以达到3CT100分 贝的阻尼衰减。
[0019] 测试室的射频屏蔽可以通过测试室框架100和室门300的材料实现，该材料是导 电性的，例如是金属，比如是铝。可替代地，射频屏蔽也可以通过导电涂层实现，例如电子导 电涂料。
[0020] 优选地，室门300在其两缘边包括侧面311和侧面312,所述侧面311和侧面312 在测试室深度方向--作为所述测试室的测试室框架所包括的侧面的延伸--构成所述 测试室侧面的一部分。也就是说，除了室门300的侧面311作为测试室框架100的侧面101 的延伸之外，室门100的第二缘边上的第二侧面312被配设作为测试室框架100的第二缘 边102的延伸。
[0021] 测试室的顶壁或顶面104也具有类似的基本结构，即室门300的顶壁或顶面304 的部分304a被配设作为测试室框架100的顶面104的部分104a的延伸，同时室门300的顶 壁304的第二部分304b被配设作为测试室框架100的顶面104的第二部分104b的延伸，
[0022] 在优选的实施例中，在测试室的深度方向上，由室门300所包括的一个侧面的长 度是测试室的侧面总长度的至少20%。这种情况下，测试室100的侧面的前部在深度方向上 至少有20%因而是敞开的，其足够一个人从横向接近来执行所期望的流程，例如将待测试 产品放置在测试室里或从测试室或取出待测试产品，待测试产品例如是被测设备（DUT)。
[0023] 在优选的实施例中，在所述测试室10的前端侧面上，由室门300所包括的侧面311 高度超过测试室总高度的50%，相应地，由室门300所包括的侧面312高度超过测试室总高 度的50%。在一优选的实施例中，该高度高达80%，以便实现图中示出的原理（principle): 测试室10的侧面的前端部分由室门的侧面311和侧面312及测试室框架的侧面101和侧 面102构成。
[0024] 优选地，在所述测试室100的前缘边侧，测试室的侧面的上位部分至少主要地或 优选全部地由室门的侧面311和侧面312构成，这样使得室门300从1A到1D之间的上升 运动更加容易。
[0025] 从附图中可以看出，在优选的实施例中，在所述测试室的前缘边侧，所述测试室的 侧面S1和S2的低位部分至少主要地或优选全部地由测试室框架100的侧面101和侧面 102组成。另外，在所述测试室的前缘边侧，在所述测试室的下位部分，位于所述测试室框 架100的侧面101和侧面102之间配设有测试室框架的前下壁104、104a和104b (代理人 注，应为106,106a，106b)，在所述室门300的关闭状态，所述前下壁位于室门300前壁302 的下方。
[0026] 特别参照图1，根据优选的实施例，位于测试室框架和室门之间的铰链结构200包 括铰接臂结构221和222,铰接臂结构221和222包括上臂体221和下臂体222。所述铰 接臂结构221和222的上臂体221和下臂体222通过连接结构201的连接体201a和201b 被铰接到在所述测试室框架100侧的支承部分1200上。同样地，铰接臂结构的臂体221和 222通过水平连接结构201的连接体201c和201d被铰接在室门300侧的部分1201。连接 体201a、201b、201c和201d -方面允许在测试室框架100和臂体221、222之间提供旋转紧 定（pivoting fastening),另一方面也允许在室门300和臂体221、臂体222之间提供旋转 紧定。臂体221、222与测试室的侧面平行，并且当室门300处于开启状态时，臂体221、222 在测试室的深度方向上延伸。带有臂体和连接体的铰链结构是内部结构，即当室门关闭时， 铰链结构位于射频屏蔽区域里面，即测试室内部。室门300是垂直的、且当其被打开和关闭 时也保持垂直取向，更具体地，室门300在其开启状态时仍然与测试室框架区域中的、被室 门打开和关闭的开口的平面平行。术语"铰接臂结构"是指枢转臂结构。
[0027] 显然的是，对于本领域技术人员而言，随着技术的进步，本发明的基本思想可以按 许多不同的方式来实现。因此本发明及其实施例不局限于上述实施例，而是可以在权利要 求的范围内变化。
【权利要求】
1. 射频屏蔽测试室（10)，其包括：测试室框架（10A)(代理人注，应为100)，其用来界定 和围绕所述测试室的腔室空间（100)(代理人注，应为10A);和室门（300)，其通过铰链结构 (200)连接到所述测试室框架，并用来从所述测试室前缘边侧开启和关闭所述测试室， 其特征在于：所述室门（300)除包括前壁（302)外，至少在其缘边之一上包括侧面 (311)，所述侧面（311)在所述测试室深度方向，作为由所述测试室（100)所包括的侧面 (101)的延伸，构成所述测试室的侧面的一部分； 并且，位于所述测试室框架（100)和所述室门（300)之间的铰链结构（200)在所述测试 室框架（100)侧通过基本水平的连接结构（201，201a，201b)与所述测试室框架（100)连接， 所述铰链结构（200 )被设置成引导所述室门（300 )相对于所述测试室框架（100 )上升和从 其升举位置下降。
2. 根据权利要求1所述的测试室，其特征在于：位于所述测试室框架（100)和所述室门 (300)之间的铰链结构（200)包括铰接臂结构（221，222)，所述铰接臂结构（221，222)具有 至少一臂体（221，222)，所述铰链臂结构通过所述水平连接结构（201，201a，201b)与所述 测试室框架（100)连接，且通过连接体（201c，201d)与所述室门（300)连接。
3. 根据权利要求1所述的测试室，其特征在于：所述室门（300)在其两缘边都包括侧面 (311，312)，其中，所述侧面（311，312)在所述测试室深度方向（D)，作为由所述测试室框架 (100)所包括的侧面（101，102)的延伸，构成所述测试室的侧面的一部分。
4. 根据权利要求1所述的射频屏蔽测试室，其特征在于：在所述测试室（100)的深度方 向（D)，由所述室门（300)所包括的侧面（311)的长度是所述测试室侧面总长度的至少20%。
5. 根据权利要求1所述的测试室，其特征在于：在所述测试室的前缘边侧，由所述室门 (300)所包括的侧面的高度超过所述测试室侧面总高度的50%。
6. 根据权利要求1或5所述的射频屏蔽测试室，其特征在于：在所述测试室的前缘边 侦牝所述测试室侧面的上位部分至少主要由所述室门（300)的侧面（311)形成。
7. 根据权利要求1或5所述的测试室，其特征在于：在所述测试室的前缘边侧，所述测 试室下位部分至少主要由所述测试室框架（100)的侧面（101，102)构成。
8. 根据权利要求7所述的测试室，其特征在于：在所述测试室的前缘边侧，在所述测 试室的下位部分，在所述测试室框架（100)的侧面（101，102)之间，配设有所述测试室框架 (100)的前下壁（104, 104a，104b)(代理人注，应为106,106a，106b)，在所述室门处于关闭状 态时，所述前下壁（104, 104a，104b)(代理人注，应为106,106a，106b)位于所述室门（300) 的前壁（302)下方。
【文档编号】H05K7/16GK104114005SQ201310200433
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2013年5月25日 优先权日:2013年4月19日
【发明者】冉嗒库帕日·塔漂, 肋巴咖日·约拿 申请人:Pkc电子有限公司