专利名称：心脏除颤器分析仪校准系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及医疗设备技术领域，特别涉及一种心脏除颤器分析仪校准系统。
背景技术：
心脏除颤器是一种应用电击来抢救和治疗心律失常病人的医疗电子设备，其具有疗效高、作用迅速、操作简便以及与药物相比较为安全等优点。用较强的脉冲电流通过心脏来消除心律失常，使之恢复窦性心律的方法，称为电击除颤，作用于心脏的是一次瞬时高能脉冲，一般持续时间是4ms 10ms，能量在40焦耳 400焦耳，因此，心脏除颤器的输出能 量大小对于病人的抢救就显得非常重要。为此，国家发布了计量校准规范《JJF1149-2006心脏除颤器和心脏除颤监护仪校准规范》，其中，心脏除颤器校准所用的主要仪器为心脏除颤器分析仪，其通过测试心脏除颤器的输出能量来对心脏除颤器进行校准。而关于心脏除颤器分析仪，国家未颁布相应的检定规程或校准规范，作为心脏除颤器分析仪的校准装置，对于心脏除颤器的能量溯源问题一直困扰着各使用单位。现在大家采用的普遍校准方法是使用一台心脏除颤器作为能量输出源，一台标准心脏除颤器分析仪作为标准器，被校心脏除颤器分析仪和标准心脏除颤器分析仪测量同一台心脏除颤器，通过标准心脏除颤器分析仪和被校心脏除颤器分析仪测得的心脏除颤器的输出能量进行比较，来对被校心脏除颤器分析仪进行校准。具体步骤如下首先，在心脏除颤器上设定好能量输出值，将标准心脏除颤器分析仪接至心脏除颤器的输出端，心脏除颤器输出能量，读取标准心脏除颤器分析仪的能量测试值El (如图Ia所示)；接着，保持心脏除颤器的能量输出值不变，将被校心脏除颤器分析仪接至心脏除颤器的输出端，心脏除颤器输出能量，读取被校心脏除颤器分析仪的能量测试值E2 (如图Ib所示)；最后，通过能量测试值E2与能量测试值El之间的差值来校准被校心脏除颤器分析仪。此方法有以下一些不足之处I、此方法没有进行正常的量值溯源，而是将能量测试值E2与能量测试值El进行能量比对；2、心脏除颤器的输出能量在到达其设定值后由于电容内部放电等诸多原因，导致心脏除颤器的能量输出值在同一个设定值下一致性较差，导致能量测试值E2与能量测试值El之间产生额外的偏差。由于上述一些不足之处，使得通过现有的方法校准心脏除颤器分析仪不够准确。此外，由于心脏除颤器分析仪的输入端的阻抗为50欧姆，并且具有ECG波形输出信号。因此，为了消除心脏除颤器输出能量一致性较差，采用将两个心脏除颤器分析仪并联接至心脏除颤器，同时测量心脏除颤器输出能量来进行心脏除颤分析仪的能量测量准确度的校准也不可行。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种心脏除颤器分析仪校准系统，以解决现有技术中对心脏除颤器分析仪的能量测量准确度的校准不够准确的问题。为解决上述技术问题，本实用新型提供一种心脏除颤器分析仪校准系统，包括心脏除颤器；与所述心脏除颤器的输出端连接的被校心脏除颤器分析仪；与所述心脏除颤器的输出端连接的电压获取装置。可选的，在所述的心脏除颤器分析仪校准系统中，所述电压获取装置包括与所述心脏除颤器的输出端连接的高压探头，及与所述高压探头连接的示波器。可选的，在所述的心脏除颤器分析仪校准系统中，所述示波器为数字实时示波器。可选的，在所述的心脏除颤器分析仪校准系统中，所述高压探头的输入阻抗为100M Ω。可选的，在所述的心脏除颤器分析仪校准系统中，所述高压探头的带宽为75MHz。可选的，在所述的心脏除颤器分析仪校准系统中，所述高压探头的衰减值为1000 I。可选的，在所述的心脏除颤器分析仪校准系统中，所述数字实时示波器的输入阻抗为IM Ω。在本实用新型提供的心脏除颤器分析仪校准系统中，当进行心脏除颤器分析仪能量测量准确度校准时，利用电压获取装置获取心脏除颤器输出的高压脉冲电压，并根据该得到的电压计算得到心脏除颤器的输出能量，根据该输出能量来校准被校心脏除颤器分析仪的能量测量准确度，由此避免了由于得到的参考能量不准确而导致对心脏除颤器分析仪的校准不够准确的问题，从而，提高了对心脏除颤器分析仪校准的准确度与可靠性。
图Ia是现有的标准心脏除颤器分析仪测量心脏除颤器输出能量的模块示意图；图Ib是现有的被校心脏除颤器分析仪测量心脏除颤器输出能量的模块示意图；图2是本实用新型实施例的心脏除颤器分析仪校准系统的模块示意图；图3是本实用新型实施例的心脏除颤器分析仪校准方法的流程示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型提供的心脏除颤器分析仪校准系统及方法作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式，仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。请参考图2，其为本实用新型实施例的心脏除颤器分析仪校准系统的模块示意图。如图2所示，所述心脏除颤器分析仪校准系统包括心脏除颤器20 ；[0031]与所述心脏除颤器20的输出端连接的被校心脏除颤器分析仪21 ；与所述心脏除颤器20的输出端连接的高压探头22，及与所述高压探头22连接的数字示波器23。在此，利用所述高压探头22及数字示波器23的目的在于获取所述心脏除颤器20的电压，因此，在本实用新型的其他实施例中，也可以利用其他电压获取装置与心脏除颤器20的输出端连接，以得到所述心脏除颤器20的电压，本申请对此不做限定。此外，为了方便电压的读取，在本实施例中，采用了数字实时示波器23，在本实用新型的其他实施例中，也可以利用其他示波器，例如模拟示波器。相应的，本实施例中还提供了一种心脏除颤器分析仪校准方法，请参考图3，其为 本实用新型实施例的心脏除颤器分析仪校准方法的流程示意图。如图3所示，所述心脏除颤器分析仪校准方法包括步骤S30 :设定心脏除颤器的输出能量值；步骤S31 :被校心脏除颤器分析仪获取心脏除颤器的第一输出能量值；步骤S32 :利用电压获取装置获取所述心脏除颤器的电压，并由此得到所述心脏除颤器的第二输出能量值；步骤S33 :通过第二输出能量值与第一输出能量值的差值来校准被校心脏除颤器分析仪的能量测量准确度。其中，利用电压获取装置获取所述心脏除颤器的电压之后，利用如下公式I得到所述心脏除颤器的第二输出能量值
nKf能量=2F(W)2 (公式 I)
IK其中，R为心脏除颤器分析仪的输入端电阻，At为采样时间间隔，V (η)为η时刻测量得到的电压。利用如上公式I能够溯源心脏除颤器的能量的原理在于已知能量为功率的时间积分，即能量与功率P (t)可通过如下公式I. I表示能量=/P (t) dt (公式 I. I)而功率又可以通过电压V及心脏除颤器分析仪的输入端电阻R得到，即其可以通过如下公式I. 2得到p(t) =(公式 I. 2)
R由公式I. I及公式I. 2可进一步得到如下公式I. 3 能量=Λ(公式 I. 3)
R而假设电压获取装置(在此为高压探头22及与所述高压探头22连接的数字示波器23)的取样时间间隔足够短，则公式I. 3可以变形为公式I nKf能量=2F(W)2 (公式 I)
IK由此，利用电压获取装置对心脏除颤器的输出电压进行采样，然后依据上述公式I便可获得心脏除颤器准确的输出能量值，即溯源心脏除颤器的能量。[0052]在本实施例中，考虑到心脏除颤器20的输出电压为脉冲电压，并且电压幅值最高将达到5千多伏，因此，利用高压探头22作为高压衰减器，将数千伏的电压分压至数伏，并且由于高压探头22的输入阻抗为高阻，从而其接入时对于电路无影响，即得到的电压值可靠。同时，采用数字实时示波器23采样心脏除颤器的输出电压，更可准确地得到不同时刻的电压值。此外，为了减少心脏除颤器分析仪校准系统的系统误差，在利用高压探头22及与所述高压探头22连接的数字示波器23获取所述心脏除颤器的电压之前，先对所述高压探头22及数字示波器23进行校准，具体的，对所述高压探头22的衰减值进行校准，得到修正系数h，对数字示波器23的垂直扫描进行校准，得到垂直电压测量的修正系数k2，因此，考虑到上述修正系数之后，公式I也相应的变为如下公式2 能量
权利要求1.一种心脏除颤器分析仪校准系统，其特征在于，包括 心脏除颤器； 与所述心脏除颤器的输出端连接的被校心脏除颤器分析仪； 与所述心脏除颤器的输出端连接的电压获取装置。
2.如权利要求I所述的心脏除颤器分析仪校准系统，其特征在于，所述电压获取装置包括与所述心脏除颤器的输出端连接的高压探头，及与所述高压探头连接的示波器。
3.如权利要求2所述的心脏除颤器分析仪校准系统，其特征在于，所述示波器为数字实时不波器。
4.如权利要求2或3所述的心脏除颤器分析仪校准系统，其特征在于，所述高压探头的输入阻抗为IOOM Ω。
5.如权利要求4所述的心脏除颤器分析仪校准系统，其特征在于，所述高压探头的带宽为75MHz。
6.如权利要求4所述的心脏除颤器分析仪校准系统，其特征在于，所述高压探头的衰减值为1000 I。
7.如权利要求3所述的心脏除颤器分析仪校准系统，其特征在于，所述数字实时示波器的输入阻抗为IM Ω。
专利摘要本实用新型提供了一种心脏除颤器分析仪校准系统，包括心脏除颤器；与所述心脏除颤器的输出端连接的被校心脏除颤器分析仪；与所述心脏除颤器的输出端连接的电压获取装置。当进行心脏除颤器分析仪能量测量准确度校准时，利用电压获取装置获取心脏除颤器输出的高压脉冲电压，并根据该得到的电压计算得到心脏除颤器的输出能量，根据该输出能量来校准被校心脏除颤器分析仪的能量测量准确度，由此避免了由于得到的参考能量不准确而导致对心脏除颤器分析仪的校准不够准确的问题，从而，提高了对心脏除颤器分析仪校准的准确度与可靠性。
文档编号A61N1/39GK202538173SQ201220087060
公开日2012年11月21日 申请日期2012年3月9日 优先权日2012年3月9日
发明者于磊, 葛振杰, 詹志强, 陆福敏 申请人:上海市计量测试技术研究院