技术特征：
技术总结
诊断性电化学阻抗谱(EIS)程序用于测量一个或多于一个检测电极的阻抗相关参数的数值。所述参数可包括实阻抗、虚阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相关参数的测量值随后用于进行传感器诊断，基于来自多个冗余检测电极的信号计算高可靠性的融合传感器葡萄糖值，校正传感器，检测一个或多于一个检测电极的附近的干扰物，以及测试电镀电极的表面特性。有利地是，阻抗相关参数可被定义成在特定的频率范围内基本独立于葡萄糖。专用集成电路(ASIC)能够执行基于EIS的诊断、融合算法和其他基于EIS参数的测量值的过程。
技术研发人员：杨宁;拉加万得赫尔·戈特姆;布拉德利·C·良;拉吉夫·什哈;凯瑟琳·M·希曼;迈克尔·E·米勒;王振汉;李亦文;韦恩·A·摩根;帕里斯·郑;罗伯特·C·穆契奇;热尼瓦尔·D·德巴罗斯;卡洛斯·A·卡利乔斯;曼朱纳斯·斯里吉里;约瑟夫·保罗·布林森
受保护的技术使用者：美敦力迷你迈德公司
技术研发日：2013.05.24
技术公布日：2018.05.22