，其中所述用于读取的装置包括用于在每个曝光周期 结束之前读取象素值的装置。
16. 根据权利要求12所述的系统，其中在曝光周期期间读取的所述帖的数量是整数。
17. 根据权利要求12所述的X射线系统，还包括用于计算每个帖的增益和偏移校正的 装置，和用于根据所述准直仪的形状、速度和位置计算每个帖的规一化因子的装置。
18. 根据权利要求16所述的系统，还被配置为通过校正和累加在曝光周期内所有的帖 来产生曝光图象。
19. 根据权利要求17所述的系统，还被配置为通过在读取每个帖之后校正和累加最后 读取的N个帖来产生曝光图象。
20. 根据权利要求16所述的系统，还被配置为通过校正和累加在曝光周期内读取的帖 中所有的曝光象素来产生曝光图象。
21. 根据权利要求17所述的系统，还被配置为通过在读取每个帖之后校正和累加最后 读取的N个帖中所有的曝光象素来产生曝光图象。
22. 根据权利要求17所述的X射线系统，其中所述用于计算每个帖的规一化因子的装 置包括用于将象素值乘W补偿DPP差异的理论因子的装置。
23. 根据权利要求17所述的X射线系统，其中所述用于计算每个帖的规一化因子的装 置包括用于获得校准帖的装置和用于根据所述校准帖计算每个象素的校准因子的装置。
24. 根据权利要求23所述的系统，其中所述校准帖包括多个帖的平均值。
25. 根据权利要求23所述的系统，其中所述校准帖包括X射线放射开启时捕获的一个 帖和X射线放射关闭时捕获的一个帖。
26. 根据权利要求17所述的X射线系统，其中所述用于计算每个帖的规一化因子的装 置包括用于计算双线性校准的装置。
27. 根据权利要求17所述的X射线系统，还包括用于从所述校正的帖产生曝光图象的 装置和用于刷新所述曝光图象的装置。
28. 根据权利要求27所述的X射线系统，其中所述用于刷新的装置包括对于所述图象 的不同区域使用不同的刷新速率的装置。
29. 根据权利要求12所述的X射线系统，其中所述用于读取的装置包括用于顺序地访 问所述检测器和从其读取整个帖的装置。
30. 根据权利要求12所述的X射线系统，其中所述透射区域是与所述准直仪中屯、同屯、 的圆形孔和与所述准直仪旋转中屯、同屯、并跨一定角度的圆形的一部分的形状的孔的结合。
31. 根据权利要求30所述的X射线系统，其中所述准直仪还包括平衡配重。
32. 根据权利要求30所述的X射线系统，其中所述帖包括接收了第一剂X射线放射的 所述圆形孔的象素和接收了第二剂X射线放射的所述圆形孔周围的准直仪区域的象素，所 述第二剂包括所述第一剂的一部分，所述一部分与扇形角度和360度的比值成正比。
33. 根据权利要求32所述的X射线系统，其中所述用于读取的装置包括用于随机地访 问所述检测器和从其读取象素的装置。
34. 根据权利要求33所述的X射线系统，其中所述用于读取的装置被配置为从与当前 曝光的扇区相邻的第一完全曝光的扇区读取象素值，并在读取之后重置所述象素。
35. 根据权利要求34所述的X射线系统，其中所述第一扇区的角度跨度被选择为使得 读取和重置所述第一扇区内的象素所需的时间不超过所述准直仪旋转相同角度距离所需 的时间。
36. 根据权利要求34所述的X射线系统，还被配置为重置将要曝光的第二扇区内的象 素值，所述第二扇区与当前曝光的扇区相邻。
37. 根据权利要求12所述的X射线系统，其中所述准直仪还包括用于将所述检测器与 所述准直仪的旋转同步的同步装置。
38. 根据权利要求37所述的系统，其中所述同步装置包括构造于所述准直仪上通过光 传感器的突出部。
39. 根据权利要求37所述的系统，其中所述同步装置包括编码器。
40. 根据权利要求11所述的X射线系统，其中所述用于旋转准直仪的装置包括在准直 仪同屯、位置位置装配于准直仪顶部的第一滑轮；装配于马达上的第二滑轮；将所述第一滑 轮连接至所述第二滑轮的皮带；与准直仪同屯、的V型圆形轨道；W及与所述轨道的V形槽 连接的=个轮子，所述=个轮子的旋转轴装配于固定在X射线管的参考系的环形静止部分 上。
41. 根据权利要求40所述的X射线系统，其中所述皮带从W下组中选择；扁平带、圆形 带、V型带、多槽带、有棱带、薄膜带和计时带。
42. 根据权利要求11所述的X射线系统，其中所述用于旋转所述准直仪的装置包括齿 轮传输装置。
43. 根据权利要求42所述的X射线系统，其中所述齿轮传输装置从W下组中选择；直 齿、螺旋、斜面、准双曲面齿轮、冠状和螺纹齿轮。
44. 根据权利要求11所述的X射线系统，其中所述用于旋转所述准直仪的装置包括直 接与所述准直仪的边接触的高摩擦旋转表面柱。
45. 根据权利要求11所述的X射线系统，其中所述用于旋转所述准直仪的装置包括马 达的转子W及在其周围的定子。
46. 根据权利要求11所述的X射线系统，其中所述准直仪包括固定的孔径。
47. 根据权利要求11所述的X射线系统，其中所述准直仪包括可变的孔径。
48. 根据权利要求47所述的X射线系统，包括用于装配两个同屯、的固定孔径的准直仪 的装置，和用于将所述两个准直仪中的一个相对于另一个旋转的装置。
49. 根据权利要求48所述的X射线系统，包括用于将所述两个准直仪中的每一个独立 旋转的装置。
50. 根据权利要求49所述的X射线系统，包括用于将所述两个准直仪中的每一个W不 同速度旋转的装置。
51. 根据权利要求11所述的X射线系统，包括用于将所述准直仪W可变的速度旋转的 装置。
52. 根据权利要求11所述的X射线系统，其中所述准直仪包括设计为用于在固定旋转 速度下提供两个不同的每象素放射剂量DPP的两个区域的孔径形状。
53. 根据权利要求11所述的X射线系统，其中所述准直仪包括用于提供从所述准直仪 中屯、的不同距离而不同级别的DPP的定性曝光配置。
54. 根据权利要求11所述的X射线系统，还包括眼球跟踪器，所述系统被配置为跟踪操 作者的注视，由此确定兴趣区ROI并据此控制所述准直仪。
55. -种在X射线系统中增强显示的曝光图象的方法，该系统包括X射线源、单个大体 上为圆形的准直仪、检测器、显示器和用于将所述准直仪围绕大体上垂直于所述准直仪的 平面的轴线旋转的装置；所述准直仪由大体上不透射X射线放射的区域和透射X射线的区 域构造，包括： 所述检测器从所述X射线源捕获图象； 所述检测器在所述准直仪围绕360度曝光周期旋转期间整合信号； 从所述检测器读取包括象素值的帖； 计算每个帖的增益和偏移校正. 根据准直仪的形状、速度和位置计算每个帖的规一化因子； 从所述校正的帖产生曝光图象； W及刷新所述曝光图象。
56. 根据权利要求55所述的方法，其中所述读取包括在每个曝光周期结束时读取象素 值。
57. 根据权利要求55所述的方法，其中所述读取包括在整数个曝光周期结束时读取象 素值。
58. 根据权利要求55所述的方法，其中所述读取包括在每个曝光周期结束之前读取象 素值。
59. 根据权利要求55所述的方法，其中在曝光周期期间读取的帖数量是整数。
60. 根据权利要求55所述的方法，其中所述产生曝光图象包括校正和累加在曝光周期 内所有的帖。
61. 根据权利要求55所述的方法，其中所述产生曝光图象包括在读取每个帖之后校正 和累加最后读取的N个帖。
62. 根据权利要求55所述的方法，其中所述产生曝光图象包括校正和累加在曝光周期 内读取的帖中所有的曝光象素。
63. 根据权利要求55所述的方法，其中所述产生曝光图象包括在读取每个帖之后校正 和累加最后读取的N个帖中所有的曝光象素。
64. 根据权利要求55所述的方法，其中所述计算每个帖的规一化因子包括将象素值乘 W补偿DPP差异的理论因子。
65. 根据权利要求64所述的方法，其中所述计算每个帖的规一化因子包括获得校准帖 和根据所述校准帖计算每个象素的校准因子。
66. 根据权利要求65所述的方法，其中所述校准帖包括多个帖的平均值。
67. 根据权利要求65所述的方法，其中所述校准帖包括X射线放射开启时捕获的一个 帖和X射线放射关闭时捕获的一个帖。
68. 根据权利要求64所述的方法，其中所述计算每个帖的规一化因子包括计算双线性 校准。
69. 根据权利要求55所述的方法，其中所述刷新包括对于所述图象的不同区域使用不 同的刷新速率。
70. 根据权利要求55所述的方法，其中所述读取包括顺序地访问所述检测器和从其读 取整个帖。
71. 根据权利要求55所述的方法，其中所述透射区域是与所述准直仪中屯、同屯、的圆形 孔和与所述准直仪旋转中屯、同屯、并跨一定角度的圆形的一部分的形状的孔的结合；其中所 述帖包括与接收了第一剂X射线放射的所述圆形孔的象素和接收了第二剂X射线放射的所 述圆形孔周围的准直仪区域的象素，所述第二剂包括所述第一剂的一部分，所述一部分与 扇形角度和360度的比值成正比； 所述读取包括随机地访问所述检测器和从其读取象素。
72. 根据权利要求71所述的方法，其中所述读取包括从与当前曝光的扇区相邻的第一 完全曝光的扇区读取象素值，并在读取之后重置所述象素。
73. 根据权利要求72所述的方法，其中所述第一扇区的角度跨度被选择为使得读取和 重置所述第一扇区内的象素所需的时间不超过所述准直仪旋转相同角度距离所需的时间。
74. 根据权利要求71所述的方法，还包括重置将要曝光的第二扇区内的象素值，所述 第二扇区与当前曝光的扇区相邻。
75. 根据权利要求55所述的方法，还包括跟踪操作者的注视，由此确定兴趣区ROI并据 此控制所述准直仪。
【专利摘要】一种X射线系统，包括X射线源、单个大体上为圆形的准直仪、照相机、检测器和显示器、用于将所述准直仪在大体上与所述准直仪的平面平行的平面上移动的装置；其中所述准直仪包括允许所有放射通过的中心孔径、用于根据材料和材料的厚度减少通过的放射量的外部圆环和在所述中心孔径和所述外部圆环之间的内部圆环，所述内部圆环的厚度作为距离中心的距离的函数而改变，厚度开始于中心孔径侧的零，并结束于外部圆环侧的外部圆环的厚度。
【IPC分类】A61B6-06, A61B6-00, A61B6-08
【公开号】CN104540452
【申请号】CN201380023437
【发明人】H·Z·梅尔曼
【申请人】控制辐射系统有限公司
【公开日】2015年4月22日
【申请日】2013年2月26日
【公告号】EP2822469A2, US20150023466, WO2013132387A2, WO2013132387A3, WO2013132387A4