制备碳化硼和碳化硼元件的工艺和方法

文档序号:1841845阅读:415来源:国知局
专利名称:制备碳化硼和碳化硼元件的工艺和方法
技术领域
本公开主要涉及碳化硼,更具体而言,本公开涉及制备高密度产品和制备由碳化硼制成的产品的方法。
背景技术
碳化硼(B4C)是一种共价键固体,具有高熔点(2427℃)、极高硬度(维氏硬度2400kg/mm2)、低密度(2.52g/cm3)和高中子吸收截面。它是具有碳含量为8.8-20.0mol%的固溶体。碳化硼已经用于轻质陶瓷装甲、耐磨元件(比如喷嘴和砂轮)和核反应堆中的控制棒。
已经证明将纯的碳化硼烧结到高密度是困难的。已经应用特殊的添加剂(烧结助剂,比如碳、Al2O3和TiB2)或者热压来获得接近理论密度。一般在30-40MPa单向压力下、在大约2100℃热压B4C粉末以获得致密零件。

发明内容
本发明公开了高密度元件和产品以及制备高密度元件和产品的方法。其中的一种示例性方法包括提供具有至少60%相对生坯密度(RD)且不含有烧结添加剂的碳化硼粉末;将该碳化硼粉末成型为一元件;加热炉子至大约1100~1400℃,保温大约30~120分钟,其中该炉子包括所述成型元件以及H2/He混合气体;在大约1100~1400℃的温度下用大约120~480分钟对炉子进行真空净化;通过以大约50~150℃/分钟的速度将该炉子加热到大约2300~2400℃,在没有烧结添加剂的情况下,利用无压烧结来充分烧结该元件;和形成具有至少93%的相对密度和大约至少2000kg/mm2的维氏硬度的烧结元件。
其中的一种示例性的元件包括由均一的碳化硼粉末构成的碳化硼元件。该元件具有至少93%的相对生坯密度(RD)和至少2000kg/mm2的维氏硬度。
在研究下面的附图和详细说明的基础上,对本领域的技术人员来说,本公开的其它工艺、元件、产品、方法、特征和优点会变得或变得显而易见。旨在所有这些附加的方法、特征和优点都包括在本说明中,处于本公开的范围内,且受到附加的权利要求的保护。


参照下面的附图可以更好地理解本公开的各个方面。
图1是说明一种用于制备由碳化硼粉末制成的元件的方法的实施方式的功能流程图。
图2是说明一种应用热等静压系统来处理碳化硼粉末烧结元件的方法的实施方式的功能流程图。
图3是说明一种应用热等静压系统来处理烧结元件的方法的具体实施方式
的功能流程图。
图4是一曲线图,示出了在流动氦气下,在以50℃/分钟的速度加热到1800℃并且之后以5℃/分钟的速度加热B4C压制坯件时,在各个温度其重量的变化。在各零件关闭的情况下,样品在流动氦气下在炉中冷却。在从炉中取出样品后立即进行测试,并且在室内空气下暴露一天后再次进行测试。
图5是一曲线图,示出了在以5℃/分钟的速度将B4C样品加热到特定的最高温度并且在未保温冷却之后,B4C样品在收缩、热膨胀系数(CTE)、颗粒/晶粒大小和重量变化各方面的趋势。
图6是示出了压制的B4C坯件的烧结密度逐步增加的示意图。
具体实施例方式
此处描述了制备碳化硼组分(粉末)以及制备由碳化硼粉末制成的元件的工艺和方法。总体上描述了在不添加烧结添加剂的情况下,无压烧结均一的碳化硼粉末以制备相对生坯密度(RD)大于93%且维氏硬度大于2000kg/mm2的元件的方法。此外,可以通过热等静压压制无压烧结元件(此后称为“烧结元件”)来进一步加工烧结元件,以制备相对生坯密度(RD)大于93%且维氏硬度大于2000kg/mm2的热等静压元件(此后称为“HIP”元件)。在一些实施方式中,HIP元件具有大于99%的相对生坯密度(RD)和大于2500kg/mm2的维氏硬度。成型的元件(例如烧结元件和HIP元件)涵盖的范围从简单的、基本上平的板(例如,用于军事和公安部门的地面、空中和海上交通工具的弹道装甲板)到复杂的轮廓结构(例如,使其轮廓为人体外形的整体结构,比如使其轮廓为人的头部形状的头盔)。
利用无压烧结系统来加工碳化硼粉末(B4C固溶体)(H.Lee和R.F.Speyer,“无压烧结B4C的硬度和断裂韧度”(“Hardness andFracture Toughness of Pressureless-s intered B4C”),J.Am.Ceram.Soc.,85[5]1291-93(2002);H.Lee,W.S.Hackenberger和R.F.Speyer,“用氢气热处理碳化硼的烧结”(“Sintering of BoronCarbide Heat-treated with Hydrogen”),J.Am.Ceram.Soc.,85[8]2131-33(2002);H.Lee和R.F.Speyer,“碳化硼的无压烧结”(“Pressureless Sintering of Boron Carbide”),J.Am.Ceram.Soc.,86[9]1468-73(2003),这些都合并于此作为参考)。碳化硼粉末是单一的粉末(例如,没有烧结添加剂)。将碳化硼粉末压制或浇铸成紧密的高生坯密度压坯元件。将该紧密的高生坯密度压坯元件放置(布置)在无压烧结系统的一个加热炉中,并且使该加热炉在H2/He混合气体下升温至1100~1400℃,保温约30~120分钟。然后,在真空中或者He气氛中用大约120~240分钟净化该加热炉,从而充分除去残留的H2。接着,以100℃/分钟的加热速度,在没有烧结添加剂的情况下,在大约2300~2400℃下无压烧结碳化硼粉末。尽管理论上并无限制,但是仍将加热速度设置为避免在大约2000~2150℃的温度范围内同时发生颗粒长大,否则会降低烧结驱动力。烧结元件具有至少93%的相对生坯密度和大于2000kg/mm2的维氏硬度。
可以利用热等静压来进一步处理该烧结元件(例如,在310MPa氩气、2150℃下处理125分钟),以制备具有大于93%的相对生坯密度和大于2000kg/mm2的维氏硬度的热等静压结构,特别是制备具有大于99%的相对生坯密度和大于2500kg/mm2的维氏硬度的热等静压结构。在下面的文献中已经讨论了热等静压H.V.Atkinson和B.A.Rickinson,Hot Isostatic Processing,A.Hilger,B,布里斯托尔(Bristol),英国,1991;R.J.Schaefer和M.Linzer,HotIsotatic PressingTheory and Applications,ASMInternational,Materials Park,PA,1991,它们都合并于此作为参考。应该注意,热等静压在提高具有闭孔的元件(例如,具有至少大约93%相对密度的烧结元件)的相对生坯密度方面是有效的。
一般地,可以应用传统的陶瓷成型技术来形成该元件(例如烧结元件和/或热等静压产品)。在这一点上,所形成的元件和/或产品仅仅受到陶瓷成型技术的限制。因此,可以应用陶瓷成型技术来形成的其它元件和/或产品包括在本公开的范围内。
该元件可以为单块的,或者可以为形成一复合产品的多块元件,此处多个不同的元件形成一个复合产品。该元件可以与其它多个元件组合使用或者可以涂覆其它化合物或者材料,从而增加或者增强最终的单块或者复合产品的一个或者多个特性。
该元件可以是具有恒定或者变化尺寸(例如,长度、宽度和厚度)的简单形状(例如,多边形、圆形和不对称形状)。此外,本公开的各实施方式提供了形成具有复杂形状的元件和/或具有恒定或者变化尺寸的二维和三维结构(例如复杂单块元件或者复合产品)的元件的工艺和方法。
例如,该元件可以包括(但并不限制于此)基本上平的元件、基本上弯曲的元件、具有多个弯曲的元件、凹入的元件、凸出的元件、多孔元件、其中具有一个或者多个空隙的元件以及它们的组合。这些类型的元件可以用作地面、空中和海上交通工具的装甲(例如单块元件和/或复合产品),尤其是用于军事或者公安交通工具的装甲。此外,这些元件可以用作身体盔甲或者用在盾牌中(例如,单块和/或复合结构)。在一些实施方式中,有利的是覆盖身体大部分(例如头和胸)的盔甲,该盔甲是单块的,以将弱点限制在盔甲中。
在另一个实施例中,该元件可以是具有多种弯曲、尺寸、轮廓、结构特征(例如,法兰盘、锥形孔、固定结构等)等的复杂结构。例如,可以使该元件的轮廓成型为人身体各个部分(例如,头、躯体、背、腹股沟、臂、腿、肩、臀等)的外形,该元件还可以用作整块盔甲(例如,头盔、躯干、肩等)或者用在复合盔甲(例如防护衣)中。特别地,该元件可以成型为人的头、肩、躯干等的形状。而且,该元件可以成型为一个具体的人的轮廓(例如,男性/女性,小巧/大的体形等)。
此外,该元件可以包括(但并不限制于此)需要高密度、高硬度、高抗冲击、高磨损、高耐磨、核吸收、轻质性能以及这些性能组合的元件。该元件可以包括(但并不限制于此)轴承、齿轮、喷嘴、喷水喷嘴、核零件(例如棒)、叶片等。此外,该元件可以用作陆地、空中和海上运载工具的结构和/或功能元件,而不是加装在交通工具上的简单装甲。
图1是说明用于制备烧结元件的方法10的一种实施方式的功能流程图。如图1所示,该方法可以构成为从模块12开始,此时提供一种均一的碳化硼粉末。该均一的碳化硼粉末不包括烧结添加剂,烧结添加剂可能对所要形成的烧结组织的一个或多个性能产生不利影响。将该碳化硼粉末压制成具有至少大约60%相对密度的碳化硼压制生坯。在模块14中,可以将该碳化硼压坯放置(布置)在加热炉中。在将碳化硼粉末放在加热炉之前或者放在加热炉中时,可以应用传统的陶瓷技术(J.S.Reed,Principles of Ceramic Processing,第2版,John Wiley and Sons Inc.,纽约,1995;G.Y.Onoda,Jr.,和L.L.Hench,Ceramic Processing Before Firing,John Wileyand Sons,纽约,1978;T.A.Ring,Fundamentals of CeramicProcessing,Academic Press,圣地亚哥,加利福尼亚,1996,它们都合并于此作为参考)使其形成合适的元件。该加热炉是无压烧结系统的一部分。该加热炉加热到大约1100~1400℃,1150~1300℃或者大约1200℃。使碳化硼粉末在这个温度保温大约30~400分钟,30~120分钟或者大约30分钟。此外,该加热炉含有压力大约为760托压力的H2/He混合气体(流动的混合物)。H2/He混合气体的比例大约为10~90或者40~60。
在模块16中,包含该元件的加热炉用大约120~480分钟,120~240分钟或者120分钟的时间排除氢气。该净化过程在大约1100~1400℃,1150~1300℃或者大约1200℃的温度下进行。在一种实施方式中,该加热炉在大约0.01~20KPa,0.01~10KPa和10KPa的真空中净化。在另一种实施方式中,该加热炉在压力大约为760托的He流动气氛中进行净化。应该注意,该净化过程应该除去残留的H2,因此可以调节一个或者多个参数(例如,时间)来彻底地除去氢气。在这一点上,只要该净化过程设计成除去足量的H2,从而可以获得合适的相对密度和维氏硬度,就可以在模块14描述的加热步骤中应用各种H2/He混合气体的比例。
在模块18中,在不加入烧结添加剂的情况下,利用无压烧结来充分烧结该元件。以大约50~150℃/分钟,75~125℃/分钟和大约100℃/分钟的速度将该加热炉加热到约2300~2400℃(利用红外高温计来测量该温度)。在该加热炉中的压力是大约1ATM(760托)的流动氦气。该元件在加热炉中高温保温一段时间,直到收缩率小于0.05%/分钟(H.Lee和R.F.Speyer,“Pressureless Sintering ofBoron Carbide”,J.Am.Ceram.Soc.,86[9]1468-73(2003))。在模块20中,形成具有至少93%、94%、94.7%、95%、96%、96.6%、97%的相对密度的烧结组织结构。此外,该烧结组织具有大约至少2000Kg/mm2、2200Kg/mm2、2250Kg/mm2、2300Kg/mm2、2400Kg/mm2的维氏硬度,该维氏硬度通过在H.Lee和R.F.Speyer,“Hardness and FractureToughness of Pressureless-sintered B4C”,J.Am.Ceram.Soc.,85[5]1291-93(2002)中描述的技术来测量。
图2是说明应用热等静压系统来处理烧结碳化硼组织的方法30的一种实施方式的功能流程图。要利用热等静压来进行处理,该烧结组织结构需要具有至少93%、94%、95%、96%和97%的相对密度。应该注意,可以应用上述实施方式来制造的元件并不受热压系统中形状的限制。因此,在热等静压系统中可以处理具有复杂形状的元件。如图2所示,该方法可以设计成从模块32开始,此时应用热等静压来热处理该烧结组织。在模块34中,形成具有至少99%、99.1%、99.5%、99.6%、99.7%、99.8%相对密度的热等静压组织。该热等静压组织具有至少大约2500Kg/mm2的维氏硬度以及至少大约3MPa·m1/2、3.7MPa·m1/2、3.9MPa·m1/2的断裂韧性(基于450MPa的文献弹性模量)。
图3是说明利用热等静压系统来处理烧结组织的方法40的一种具体实施方式
的功能流程图。如图3所示,该方法可以设计成从模块42开始,此时,在压力大约为200~500MPa、大约300~400MPa和大约310MPa的惰性气体(例如氩气和/或氦气)中,将热等静压炉加热到大约2000~2300℃、大约2100~2200℃和大约2150℃。加热该热等静压炉的速率大约为10~100℃/分钟、15~50℃/分钟和大约20℃/分钟。在模块44中,该烧结组织在热等静压炉中高温保温大约60~400分钟、60~240分钟和大约125分钟。在模块46中,该热等静压炉以大约10~50℃/分钟、大约15~30℃/分钟和大约20℃/分钟的速度冷却到大约室温的温度。应该注意,该冷却速度受到所制造元件具体形状的耐热震性能的限制(例如,用于较大HIP产品的冷却速率会比较低)。
实施例颗粒长大机制利用一种特殊的高温差示热膨胀仪,来观察与烧结相竞争的颗粒长大过程(H.Lee,W.S.Hackenberger和R.F.Speyer,“Sinteringof Boron Carbide Heat-treated with Hydrogen”,J.Am.Ceram.Soc.,85[8]2131-33(2002);H.Lee和R.F.Speyer,“PressurelessSintering of Boron Carbide”,J.Am.Ceram.Soc.,86[9]1468-73(2003))。颗粒长大降低了用于烧结的以表面能为基础的驱动力,导致较低的可获得最终密度。
市售的B4C粉末(HS级,H.C.Starck,柏林,德国)以其所得到的状态应用。表1示出了以制造商的数据为基础的粉末特性。粉末在钢模中在大约200MPa的压力下单向压制成压坯(高为大约5mm,直径大约为6.4mm)。
表1 B4C粉末特性

图4表示在B4C颗粒上存在B2O3涂层。加热到大约1200℃的压坯开始重量损失,但是在氧化物涂层被室内空气水合后(例如,形成原硼酸,H3BO3),随着时间过去会再获得更重的重量。在加热到大约1200~1600℃之间后,B2O3的蒸气压力变得非常大,因此重量损失是相当大的而且是持续的。在温度超过2010℃之后,相应于B4C或者它的分子亚组的挥发,重量又开始损失。
图5说明了加热到具体的温度并且之后炉冷却的未掺杂样品在致密化、颗粒/晶粒大小和重量损失方面的变化。在B4C颗粒上的B2O3涂层的蒸发允许B4C-B4C的直接接触和在1870~2010℃之间致密化的骤然增加。在这个温度范围的早期阶段(即1870~1950℃),同时发生的颗粒长大有利于迅速放出的氧化物气体(例如,BO和CO[S.L.Dole,S.Prochazka和R.H.Doremus,“Microstructural CoarseningDuring Sintering of Boron Carbide”,J.Am.Ceram.Soc.,72[6]958-66(1989)])的蒸发和凝聚(从小颗粒变成大颗粒)。重量损失和颗粒/晶粒长大在大约1960~2010℃停止,之后又重新开始。颗粒长大和重量损失随着变慢的致密化一起发生,直到大约2140℃。这与B4C的蒸发和凝聚,尤其是这种共价键固体的粗化机制相对应[R.M德国,Sintering Theory and Practice,John Wiley and Sons,纽约,(1996)]。蒸发的气体类型是否是分子B4C或者该分子的片断还不清楚。
在大约2140℃之上,致密化显著加速。在这个温度或者以上可能已形成杂质引起的晶界液体。更加可能的是,B4C的非化学计量的挥发将C留下(由X-射线衍射结果显示),通过增强的硼的晶界扩散和碳活化的烧结(R.M德国,Sintering Theory and Practice,JohnWiley and Sons,纽约,(1996))来促进烧结,抑制晶粒成长,保持相对短的扩散距离。
用于减弱粗化过程而研究的方法在快速加热下经过1870-1950℃的范围,B2O3的析出速度加速,为发生有利于氧化物的颗粒长大留下更少的时间,并在快速加热下经过2010-2140℃的范围,使通过B4C的蒸发和凝聚而发生粗化的这段时间最短。快速加热使相对较小、高表面能的颗粒到达一个高温范围,在这个温度范围,液相烧结或者活化烧结比晶粒长大速度更快。
在流动的He-H2中在大约1350℃下高温保温(随后加热到约2230℃并保温)的样品,由于通过反应而析出B2O3涂层,而显示出在密度上的显著增加。在继续加热之前需要将氢气从炉室中充分排除掉,否则氢气进入B4C颗粒的间隙位置会有利于增加B4C的蒸发/凝聚粗化,因此会相应降低最终密度。在大约1350℃用真空替代氢气的热处理允许在最终的密度中保留更多的晶粒,因此不用氢填充晶格间隙,真空在充分析出B2O3方面是有效的。
图6概括了这些增加,应用市售等级粉末获得的无压烧结B4C的密度高到理论密度的至少97.1%。
表2提供了本公开的各具体实施方式
的说明性实施例。
表2

应该注意,本发明公开的上述实施方式只是为了清楚地理解本发明的原则而列出的可以实现的实施例。在未实际背离本发明的精神和原则的情况下,可以对上述各实施方式作许多改变和改进。所有这些改进和改变都旨在包括在本公开的范围内且受到下面权利要求的保护。
权利要求
1.一种用于制备高密度元件的方法,包括提供具有至少60%相对生坯密度(RD)且不含有烧结添加剂的碳化硼粉末;将该碳化硼粉末成型为一元件;加热炉子至大约1100~1400℃,保温大约30~120分钟,其中该炉子包括所述的成型元件以及H2/He混合气体;在大约1100~1400℃的温度下用大约120~480分钟对炉子进行真空净化;通过以大约50~150℃/分钟的速度将该炉子加热到大约2300~2400℃,在没有烧结添加剂的情况下,利用无压烧结来充分烧结该元件;和形成具有至少93%的相对密度和大约至少2000kg/mm2的维氏硬度的烧结元件。
2.如权利要求1所述的方法,还包括应用热等静压处理所述烧结元件;和形成具有至少99%的相对密度和至少大约2500kg/mm2的维氏硬度的热等静压产品。
3.如权利要求2所述的方法,其中所述热等静压产品具有至少99.8%的相对密度。
4.如权利要求2所述的方法,其中应用热等静压对所述元件的处理包括在大约200~500托压力的惰性气体中,以大约10~100℃/分钟的速度将热等静压炉加热到大约2000~2300℃,其中所述烧结元件放置在该热等静压炉中;在该热等静压炉中高温保温所述烧结元件大约60~400分钟;和以大约10~50℃/分钟的速度使所述热等静压炉冷却到大约室温的温度。
5.如权利要求1所述的方法,其中加热炉子还包括比例大约为10~90的H2/He混合气体。
6.如权利要求1所述的方法,其中净化还包括在0.01~20KPa压力的He气氛中净化所述炉子。
7.如权利要求1所述的方法,其中充分烧结包括通过以大约100℃/分钟的速度加热所述炉子,在没有烧结添加剂的情况下,通过无压烧结来充分烧结所述碳化硼粉末。
8.如权利要求1所述的方法,其中所述元件具有至少94.7%的相对密度和大约至少2300kg/mm2的维氏硬度。
9.如权利要求1所述的方法,其中所述元件具有至少96.6%的相对密度和大约至少2110kg/mm2的维氏硬度。
10.如权利要求1所述的方法,其中所述元件具有至少97.1%的相对密度和大约至少2300kg/mm2的维氏硬度。
11.利用权利要求1的方法形成的元件。
12.利用权利要求2的方法形成的产品。
13.利用权利要求3的方法形成的产品。
14.利用权利要求4的方法形成的产品。
15.一种元件,包括由均一的碳化硼粉末构成的碳化硼元件,其中该元件具有至少93%的相对生坯密度(RD)和至少2000kg/mm2的维氏硬度。
16.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少94.7%的相对密度。
17.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少96.6%的相对密度。
18.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少97.1%的相对密度。
19.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少99.1%的相对密度。
20.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少99.8%的相对密度。
21.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少2200kg/mm2的维氏硬度。
22.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少2300kg/mm2的维氏硬度。
23.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少2400kg/mm2的维氏硬度。
24.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少2500kg/mm2的维氏硬度。
25.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少99.8%的相对密度和至少2500kg/mm2的维氏硬度。
26.如权利要求15所述的元件,其中该元件具有至少94.7%的相对密度和至少2300kg/mm2的维氏硬度。
27.如权利要求15所述的元件,其中该元件主要由碳化硼构成。
28.如权利要求15所述的元件,其中该元件由碳化硼构成。
29.如权利要求15所述的元件,其中该元件选自基本上平的元件、基本上弯曲的元件、凹入的元件、凸出的元件和人体轮廓元件。
30.如权利要求16的元件,其中该元件应用选自陆上交通工具、飞行器和海上交通工具的交通工具上。
全文摘要
本发明公开了高密度元件和产品以及用于制备高密度元件和产品的方法。其中的一种示例性元件包括由均一的碳化硼粉末构成的碳化硼元件。该元件具有至少93%的相对密度(RD)和至少2000kg/mm
文档编号C04B35/64GK1829668SQ200480016202
公开日2006年9月6日 申请日期2004年6月14日 优先权日2003年6月12日
发明者罗伯特·F.·斯派尔, 李赫才, 鲍知浩 申请人:佐治亚技术研究公司
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