专利名称：应用于软性显示器的像素布局结构的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种像素布局结构，特别是有关于一种应用在软性显示器的可挠式基板上，以多种不同的布局方式，使得可挠式基板上像素的可靠度有效提升的像素布局结构。
背景技术：
近年来，平面显示器不断朝着轻薄短小的趋势发展，然而现阶段的显示器在携带的便利性与信息显示的丰富性并无法达到两全其美。为了兼顾随身携带的便利性与信息显示的丰富性，发展可挠式或是可卷曲式的软性显示器便显得相当重要。然而，软性显示器的可挠式基板在制程中常会因为热膨胀而发生图案位置对准偏移；或是软性显示器的面板于使用中挠曲时，像素中的组件结构容易发生断裂。上述两种情况皆会造成像素不良而致影像无法正常显示。
传统显示器的像素布局，通常一像素结构中只包含一薄膜晶体管，而此像素是否正常显示需视该薄膜晶体管是否可正常工作。请参阅图1A，在已知主动式薄膜晶体管数组基板100上，每一像素结构借助一数据线110与一扫描线120进行驱动，且包含一薄膜晶体管130，其中该薄膜晶体管130以两电极132、氧化物134、硅材料136由下至上组成。然而，如图1B及图1C所示，该像素结构在制程中因为热膨胀而发生图案位置对准发生左右偏移或面板于使用中挠曲而使像素中的组件结构发生变形或断裂时，将使得该薄膜晶体管130无法正常工作，致使该像素无法正常显示。已知技术对于上述问题的解决手段，多着重在解决金属线与电容断裂的问题，而针对面板上组件断裂的问题并无解决，更未从像素布局设计的观点来揭示任何解决图案位置对准发生左右偏移或像素结构变形的手段。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是通过改进像素内的布局方式，减少制造过程对位不良或基板挠曲造成像素不良的机会，以提高可挠式基板上像素的可靠度。
本发明的次要目的是利用多种像素内的布局方式，在不增加制程的复杂度下，确保像素结构中至少有一薄膜晶体管在制程对位不良或基板挠曲时仍可正常工作，以达成像素正常显示的功能。
为达到上述目的，本发明提出了一种应用于软性显示器的像素布局结构，适于配置于一可挠式基板上，并借助一数据线与一扫描线进行驱动，其中所述像素布局结构包含多个薄膜晶体管，各薄膜晶体管包括一闸极、一通道及一源极/汲极，其中所述像素布局结构内以一布局方式连结该等多个薄膜晶体管。
上述的像素布局结构，其中所述布局方式将两个薄膜晶体管设置于所述数据线的两侧且所述两个薄膜晶体管的信道各与所述数据线平行。
上述的像素布局结构，其中所述布局方式将两个薄膜晶体管设置于所述数据线的一侧且所述两个薄膜晶体管的信道各与所述数据线平行。
上述的像素布局结构，其中所述布局方式将至少三个薄膜晶体管设置于所述数据线的一侧且所述薄膜晶体管的信道各与所述扫描线平行。
上述的像素布局结构，其中所述布局方式将两个薄膜晶体管设置于所述数据线的一侧并互相垂直成L型，且所述两个薄膜晶体管的信道各与所述数据线及所述扫描线平行。
上述的像素布局结构，其中所述布局方式将四个薄膜晶体管设置于所述数据线的两侧，所述数据线的每一侧各有所述两薄膜晶体管互相垂直且每一侧的所述两薄膜晶体管的信道各与所述数据线及所述扫描线平行，且所述薄膜晶体管连结成ㄇ型。
上述的像素布局结构，其中所述可挠式基板为一塑料基板。
上述的像素布局结构，其中所述可挠式基板为一金属箔基板。
上述的像素布局结构，其中所述薄膜晶体管中的硅材料可为非晶硅材料。
上述的像素布局结构，其中所述薄膜晶体管中的硅材料可为多晶硅材料。
上述的像素布局结构，其中所述软性显示器为TFT LCD。
上述的像素布局结构，其中所述软性显示器为AMOLED。
上述的像素布局结构，其中所述薄膜晶体管为PMOS晶体管。
上述的像素布局结构，其中所述薄膜晶体管为NMOS晶体管。
总之，本发明提出一种应用于可挠式基板上的像素布局结构，其像素结构不同于传统像素而包含多个薄膜晶体管，并以多种布局方式将该等多个薄膜晶体管相互连结，且每个薄膜晶体管的驱动电流皆足以推动该像素所负载电阻及电容，故即使制程对位不良或基板挠曲变形，只要其中有一个晶体管可以正常工作，便可以确保该像素可以正常显示，进而有效提升可挠式基板上像素的可靠度。
图1A为已知显示器的基板上像素布局结构示意图；图1B为已知显示器的像素结构在制程中发生图案位置对准向右偏移示意图；图1C为已知显示器的像素结构在制程中发生图案位置对准向左偏移示意图；图2A为本发明应用于可挠式基板上的像素布局结构的第1实施例示意图；图2B为本发明第1实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准向左右偏移示意图；图2C为本发明第1实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准向上下偏移示意图；图3A为本发明应用于可挠式基板上的像素布局结构的第2实施例示意图；图3B为本发明第2实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准向左偏移示意图；图3C为本发明第2实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准向右偏移示意图；图4A为本发明应用于可挠式基板上的像素布局结构的第3实施例示意图；图4B为本发明第3实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准向上偏移示意图；图4C为本发明第3实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准向下偏移示意图；图5A为本发明应用于可挠式基板上的像素布局结构的第4实施例示意图；图5B为本发明第4实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准左右偏移示意图；图5C为本发明第4实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准上下偏移示意图；图5D为本发明第4实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准斜向偏移示意图；图6A为本发明应用于可挠式基板上的像素布局结构的第5实施例示意图；图6B为本发明第5实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准左右偏移示意图；图6C为本发明第5实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准上下偏移示意图；图6D为本发明第5实施例的像素结构在制程中发生图案位置对准斜向偏移示意图。
其中，附图标记100～数组基板110～数据线120～扫描线132～电极134～氧化物136～硅材料200、300、400、500、600～可挠式基板210、310、410、510、610～数据线220、320、420、520、620～扫描线230、330、430、530、630～薄膜晶体管232、332、432、532、632～电极236、336、436、536、636～硅材料
240、340、440、540、640～薄膜晶体管242、342、542、642～电极246、346、446、546、646～硅材料450、650～薄膜晶体管456、656～硅材料652～电极660～薄膜晶体管666～硅材料具体实施方式
为能对本发明的特征、目的及功能有更进一步的认知与了解，配合附图详细说明如下图2A所示为本发明像素布局结构的第1实施例，该像素结构适于配置于一可挠式基板200上，并借助一数据线210与一扫描线220进行驱动，该像素布局结构包含两个薄膜晶体管230及240，该两薄膜晶体管以主动区硅材料236及246简单表示，电极232、242用以提供电性连接，其中该两薄膜晶体管230及240的布局为设置于该数据线210的两侧且该两薄膜晶体管的信道各与该数据线210平行。借助此布局方式，即使制程中图案对准发生略微左右偏移，如图2B所示，在一定偏移范围内至少有一晶体管可以正常工作；甚至制程中图案对准发生略微上下偏移，如图2C所示，在一定偏移范围内亦至少有一晶体管可以正常工作。由于每个晶体管的驱动电流皆足以推动该像素所负载的电阻及电容，故只要有一个晶体管可以正常工作，便可以确保该像素可以正常显示，亦即虽在制程对位不良，该像素仍可达成正常显示的功效。
其中该可挠式基板200可为一塑料基板或一金属箔基板，该等晶体管中的硅材料可为非晶硅材料或多晶硅材料，可应用本发明的软性显示器包括TFTLCD或AMOLED，该等薄膜晶体管视需求而定，可选择为PMOS晶体管或NMOS晶体管。
图3A所示为本发明像素布局结构的第2实施例，该像素结构适于配置于一可挠式基板300上，并借助一数据线310与一扫描线320进行驱动，该像素布局结构包含两个薄膜晶体管330及340，该两薄膜晶体管以主动区硅材料336及346简单表示，电极332、342用以提供电性连接，其中该两薄膜晶体管330及340的布局为设置于该数据线310的一侧且该两薄膜晶体管的信道各与该数据线310平行。借助此布局方式，即使制程中图案对准发生略微向左偏移，如图3B所示，在一定偏移范围内至少有一晶体管可以正常工作；或是制程中图案对准发生略微向右偏移，如图3C所示，在一定偏移范围内亦至少有一晶体管可以正常工作。由于每个晶体管的驱动电流皆足以推动该像素所负载的电阻及电容，故只要有一个晶体管可以正常工作，便可以确保该像素可以正常显示，亦即虽在制程对位不良，该像素仍可达成正常显示的功效。
图4A所示为本发明像素布局结构的第3实施例，该像素结构适于配置于一可挠式基板400上，并借助一数据线410与一扫描线420进行驱动，该像素布局结构包含多个薄膜晶体管430、440及450，该等薄膜晶体管以主动区硅材料436、446及456简单表示，电极432用以提供电性连接，其中该等多个薄膜晶体管的布局为设置于该数据线410的一侧且该等多个薄膜晶体管的信道各与该扫描线420平行。借助此布局方式，即使制程中图案对准发生略微向上偏移，如图4B所示，在一定偏移范围内至少有一晶体管可以正常工作；或是制程中图案对准发生略微向下偏移，如图4C所示，在一定偏移范围内亦至少有一晶体管可以正常工作。由于每个晶体管的驱动电流皆足以推动该像素所负载的电阻及电容，故只要有一个晶体管可以正常工作，便可以确保该像素可以正常显示，亦即虽在制程对位不良，该像素仍可达成正常显示的功效。
图5A所示为本发明像素布局结构的第4实施例，该像素结构适于配置于一可挠式基板500上，并借助一数据线510与一扫描线520进行驱动，该像素布局结构包含两个薄膜晶体管530及540，该两薄膜晶体管以主动区硅材料536及546简单表示，电极532、542用以提供电性连接，其中该两薄膜晶体管的布局为设置于该数据线510的一侧并互相垂直成L型，且该两薄膜晶体管530及540的信道各与该数据线510及该扫描线520平行。借助此布局方式，即使制程中图案对准发生略微左右偏移，如图5B所示，在一定偏移范围内至少有一晶体管可以正常工作；或是制程中图案对准发生略微上下偏移，如图5C所示，在一定偏移范围内亦至少有一晶体管可以正常工作；甚至制程中图案对准发生略微斜向偏移，如图5D所示，在一定偏移范围内亦至少有一晶体管可以正常工作。由于每个晶体管的驱动电流皆足以推动该像素所负载的电阻及电容，故只要有一个晶体管可以正常工作，便可以确保该像素可以正常显示，亦即虽在制程对位不良，该像素仍可达成正常显示的功效。
图6A所示为本发明像素布局结构的第5实施例，该像素结构适于配置于一可挠式基板600上，并借助一数据线610与一扫描线620进行驱动，该像素布局结构包含四个薄膜晶体管630、640、650及660，该四薄膜晶体管以主动区硅材料636、646、656及666简单表示，电极632、642及652用以提供电性连接，其中该四薄膜晶体管的布局为设置于该数据线610两侧各有两薄膜晶体管互相垂直且各与数据线610及扫描线620平行并连结成ㄇ型，其中薄膜晶体管636、666及646、656的信道各与该数据线610及该扫描线620平行。借助此布局方式，即使制程中图案对准发生略微左右偏移，如图6B所示，在一定偏移范围内至少有一晶体管可以正常工作；或是制程中图案对准发生略微上下偏移，如图6C所示，在一定偏移范围内亦至少有一晶体管可以正常工作；甚至制程中图案对准发生略微斜向偏移，如图6D所示，在一定偏移范围内亦至少有一晶体管可以正常工作。由于每个晶体管的驱动电流皆足以推动该像素所负载的电阻及电容，故只要有一个晶体管可以正常工作，便可以确保该像素可以正常显示，亦即虽在制程对位不良，该像素仍可达成正常显示的功效。
当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种应用于软性显示器的像素布局结构，适于配置于一可挠式基板上，并借助一数据线与一扫描线进行驱动，其特征在于，所述像素布局结构包含多个薄膜晶体管，各薄膜晶体管包括一闸极、一通道及一源极/汲极，其中所述像素布局结构内以一布局方式连结该多个薄膜晶体管。
2.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述布局方式将两个薄膜晶体管设置于所述数据线的两侧且所述两个薄膜晶体管的信道各与所述数据线平行。
3.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述布局方式将两个薄膜晶体管设置于所述数据线的一侧且所述两个薄膜晶体管的信道各与所述数据线平行。
4.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述布局方式将至少三个薄膜晶体管设置于所述数据线的一侧且所述薄膜晶体管的信道各与所述扫描线平行。
5.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述布局方式将两个薄膜晶体管设置于所述数据线的一侧并互相垂直成L型，且所述两个薄膜晶体管的信道各与所述数据线及所述扫描线平行。
6.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述布局方式将四个薄膜晶体管设置于所述数据线的两侧，所述数据线的每一侧各有所述两薄膜晶体管互相垂直且每一侧的所述两薄膜晶体管的信道各与所述数据线及所述扫描线平行，且所述薄膜晶体管连结成ㄇ型。
7.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述可挠式基板为一塑料基板。
8.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述可挠式基板为一金属箔基板。
9.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述薄膜晶体管中的硅材料可为非晶硅材料。
10.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述薄膜晶体管中的硅材料可为多晶硅材料。
11.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述软性显示器为TFT LCD。
12.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述软性显示器为AMOLED。
13.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述薄膜晶体管为PMOS晶体管。
14.根据权利要求1所述的像素布局结构，其特征在于，所述薄膜晶体管为NMOS晶体管。
全文摘要
一种应用于软性显示器的像素布局结构，适于配置于一可挠式基板上，并借助一数据线与一扫描线进行驱动，其特征在于该像素布局结构包含多个薄膜晶体管，该像素布局结构以多种不同的布局方式连结该等多个薄膜晶体管，使得该可挠式基板在制程中对准偏移或使用中面板挠曲时，可有效解决像素中常因只有单一晶体管而无法正常工作的问题，进而提升可挠式基板上像素的可靠度。
文档编号G09F9/30GK1920903SQ20051009290
公开日2007年2月28日 申请日期2005年8月24日 优先权日2005年8月24日
发明者黄怡硕, 赖志明, 叶永辉 申请人:财团法人工业技术研究院