显示面板的测试电路及显示装置的制作方法

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板的测试电路及显示装置。

背景技术：

薄膜晶体管液晶显示器(thinfilmtransistorliquidcrystaldisplay,tft-lcd)由一彩色滤光片基板(colorfilter，cf)、一薄膜晶体管阵列基板(thinfilmtransistorarraysubstrate，tftarraysubstrate)以及一配置于两基板间的液晶层(liquidcrystallayer)所构成。

tft-lcd的制备包括阵列基板工序、彩膜基板工序以及阵列基板与彩膜基板的对盒(cell)工序，一般在进行cell工序时要进行面板功能测试(celltest)。通过celltest检测面板在array、cf、cell这三个工序中出现的不良情况，把不良的产品去除。

celltest工序一般采用短路棒(shortingbar)的形式进行点灯测试，然而测试之后需要对短路棒进行激光切割，增加了tft-lcd制备的成本。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种显示面板的测试电路及显示装置，可以降低显示装置的制备成本。

本发明实施例提供一种显示面板的测试电路，包括至少一条短路棒、多条信号线以及连接所述至少一条短路棒、所述多条信号线的开关模块；

所述开关模块，在测试所述显示面板时，将所述多条信号线连接至其对应的短路棒；在结束测试所述显示面板时，断开所述多条信号线与所述至少一条短路棒的连接。

在一些实施例中，所述开关模块包括一控制信号线和多个开关管；

任一开关管的控制端与所述控制信号线连接，输出端与其对应的短路棒连接，输入端与所述短路棒对应的信号线连接；

当所述控制信号线传输第一控制信号时，全部开关管关闭，所述多条信号线与所述至少一条短路棒的连接断开；

当所述控制信号线传输第二控制信号时，全部开关管开启，所述多条信号线连接至其对应的短路棒。

在一些实施例中，所述开关管包括薄膜晶体管。

在一些实施例中，所述开关管包括三极管。

在一些实施例中，所述多条信号线包括多条r像素信号线、多条g像素信号线和多条b像素信号线，所述多个开关管包括第一开关管、第二开关管和第三开关管，所述至少一条短路棒包括第一短路棒、第二短路棒和第三短路棒；

所述第一开关管的输入端连接所述多条r像素信号线，输出端连接所述第一短路棒；

所述第二开关管的输入端连接所述多条g像素信号线，输出端连接所述第二短路棒；

所述第三开关管的输入端连接所述多条b像素信号线，输出端连接所述第三短路棒。

本发明实施例中还提供一种显示装置，包括显示面板和显示面板的测试电路；

所述显示面板的测试电路包括至少一条短路棒、多条信号线以及连接所述至少一条短路棒、所述多条信号线的开关模块；

所述开关模块，在测试所述显示面板时，将所述多条信号线连接至其对应的短路棒；在结束测试所述显示面板时，断开所述多条信号线与所述至少一条短路棒的连接。

在一些实施例中，所述开关模块包括一控制信号线和多个开关管；

任一开关管的控制端与所述控制信号线连接，输出端与其对应的短路棒连接，输入端与所述短路棒对应的信号线连接；

当所述控制信号线传输第一控制信号时，全部开关管关闭，所述多条信号线与所述至少一条短路棒的连接断开；

当所述控制信号线传输第二控制信号时，全部开关管开启，所述多条信号线连接至其对应的短路棒。

在一些实施例中，所述开关管包括薄膜晶体管。

在一些实施例中，所述开关管包括三极管。

在一些实施例中，所述多条信号线包括多条r像素信号线、多条g像素信号线和多条b像素信号线，所述多个开关管包括第一开关管、第二开关管和第三开关管，所述至少一条短路棒包括第一短路棒、第二短路棒和第三短路棒；

所述第一开关管的输入端连接所述多条r像素信号线，输出端连接所述第一短路棒；

所述第二开关管的输入端连接所述多条g像素信号线，输出端连接所述第二短路棒；

所述第三开关管的输入端连接所述多条b像素信号线，输出端连接所述第三短路棒。

本发明实施例的显示面板的测试电路及显示装置通过在短路棒和信号线之间设置开关模块，在面板测试时控制短路棒与信号线连接，在面板测试结束后断开连接，从而降低了显示装置的制备成本。

为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：

附图说明

图1为本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。

图2为本发明实施例提供的显示面板的测试电路的结构示意图。

图3为本发明实施例提供的显示面板的测试电路的另一结构示意图。

具体实施方式

以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。

在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

请参照图1，图1为本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。显示装置1包括显示面板2000和显示面板的测试电路1000。

请参照图2，图2为本发明实施例提供的显示面板的测试电路的结构示意图。显示面板的测试电路1000包括至少一条短路棒100、多条信号线200以及连接所述至少一条短路棒100、所述多条信号线200的开关模块300。

开关模块300，在测试显示面板2000时，将多条信号线200连接至其对应的短路棒100。在结束测试显示面板2000时，断开多条信号线200与至少一条短路棒100的连接。

如图2所示，椭圆框显示了一条短路棒100与两条信号线200之间的连接关系，其中虚线框部分为开关模块300的一部分。由虚线框部分可知，短路棒100与其对应的信号线200之间设有一开关，当开关处于导通状态时，短路棒200接收两路信号线200的信号，此时可以根据该信号对显示面板2000进行测试。在结束测试后，可以将开关断开，此时短路棒200不再接收信号线200的信号，即杜绝了该信号对显示面板2000的干扰。

在一些实施例中，如图3所示，开关模块300包括一控制信号线301和多个开关管302。该控制信号线301用于传输控制信号。该开关管302具有控制端、输入端和输出端，其中该控制端用于接收上述控制信号，从而在控制信号的控制下进行开启和关闭操作。

如图3所示，任一开关管302的控制端与控制信号线301连接，输出端与其对应的短路棒100连接，输入端与所述短路棒100对应的信号线200连接。

当控制信号线301传输第一控制信号时，全部开关管302关闭，所述多条信号线200与所述至少一条短路棒100的连接断开。

当控制信号线301传输第二控制信号时，全部开关管302开启，所述多条信号线200连接至其对应的短路棒100。

在一些实施例中，所述开关管302可以为薄膜晶体管。其中薄膜晶体管的栅极连接控制信号线301，源极连接多条信号线200，漏极连接一条短路棒100。当对显示面板2000进行测试时，在控制信号线301上传输高电平信号，开启薄膜晶体管，使多条信号线200连接至其对应的短路棒100。当结束对显示面板2000的测试后，在控制信号线301上传输低电平信号，关闭薄膜晶体管，避免对显示面板2000造成干扰。

在一些实施例中，所述开关管302可以为三极管。三极管的基极连接控制信号线301，集电极和发射极分别连接多条信号线200、一条短路棒100。

在一些实施例中，所述多条信号线200包括多条r像素信号线、多条g像素信号线和多条b像素信号线，所述多个开关管302包括第一开关管、第二开关管和第三开关管，所述至少一条短路棒100包括第一短路棒、第二短路棒和第三短路棒.

其中，第一开关管的输入端连接所述多条r像素信号线，输出端连接所述第一短路棒；所述第二开关管的输入端连接所述多条g像素信号线，输出端连接所述第二短路棒；所述第三开关管的输入端连接所述多条b像素信号线，输出端连接所述第三短路棒。

当进行显示面板2000检测时，控制信号线301传输第二控制信号，使像素信号线连接至其对应的短路棒。比如，r像素信号线通过第一开关管连接第一短路棒，通过第一短路棒的检测信号点输入一检测信号，可以在显示面板2000上点亮红色，在红色下检测是否存在异常像点或者亮度不均匀的现象。

在一些实施例中，所述多条信号线200还可以包括多条vss信号线等，其与开关管302、短路棒100之间的连接关系参照上述像素信号线与开关管302、短路棒100的连接关系，在此不再赘述。

综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。