一种栅极驱动电路的输出检测电路及其方法、显示装置与流程

本发明实施例涉及显示技术领域，具体涉及一种栅极驱动电路的输出检测电路及其方法、显示装置。

背景技术：

近年来，平板显示器，如薄膜晶体管液晶显示面板(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，TFT-LCD)和有源矩阵有机发光二极管显示面板(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，AMOLED)，由于具有重量轻，厚度薄以及低功耗等优点，因而被广泛应用于电视、手机等电子产品中。

随着科技的进步，高分辨率、窄边框的显示面板成为发展的趋势，为此出现了阵列基板栅极驱动(Gate Driver on Array，GOA)技术，GOA技术是指将用于驱动栅线的GOA电路设置在显示面板中阵列基板的有效显示区域两侧的技术，其中，GOA电路中，包括多个移位寄存器。

GOA电路的输出信号是实现正常显示的关键因素。因此我们在遇到GOA电路显示不良的时候，需要测量GOA电路的输出信号。经发明人研究发现，当GOA电路显示不良时，由于GOA电路中的移位寄存器的数量过多，导致很难确定发生不良的位置。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种栅极驱动电路的输出检测电路及其方法、显示装置，用来解决当GOA电路发生不良时，由于移位寄存器的数量过多，导致很难确定发生不良的位置。

一个方面，本发明实施例提供了一种栅极驱动电路的输出检测电路，所述栅极驱动电路包括多个移位寄存器，包括：检测子电路和多个输出控制子电路；所述输出控制子电路和移位寄存器一一对应；

每个输出控制子电路，与走线和对应的移位寄存器的信号输出端连接，用于在所述信号输出端的控制下，向走线提供所述信号输出端的信号；

所述检测子电路，与所述走线连接，用于输出所有移位寄存器的信号输出端的信号。

可选地，所述输出控制子电路包括：开关晶体管；

所述开关晶体管的控制极和第一极与对应的移位寄存器的信号输出端连接，第二极与走线连接。

可选地，所述开关晶体管包括：N型薄膜晶体管或N型金属氧化物半导体场效应晶体管。

可选地，所述开关晶体管的阈值电压小于移位寄存器的信号输出端的输出信号的电位。

可选地，所述开关晶体管在移位寄存器的信号输出端的输出信号为高电平时开启，向走线提供将所述输出信号。

可选地，所述检测子电路包括电极。

另一方面，本发明实施例还提供一种显示装置，包括栅极驱动电路，以及上述栅极驱动电路的输出检测电路。

另一方面，本发明实施例还提供一种栅极驱动电路的输出检测方法，应用于上述的栅极驱动电路的输出检测电路中，包括：

在对应的移位寄存器的信号输出端的控制下，每个输出控制子电路向走线提供对应的移位寄存器的信号输出端的信号；

检测子电路输出所有移位寄存器的信号输出端的信号。

可选地，所述在对应的移位寄存器的信号输出端的控制下，每个输出控制子电路向走线提供对应的移位寄存器的信号输出端的信号包括：

每个输出控制子电路在对应的移位寄存器的信号输出端的信号为高电平时，向走线提供对应的移位寄存器的信号输出端的信号。

本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测电路及其方法、显示装置，其中，该电路包括：检测子电路和多个输出控制子电路；输出控制子电路和移位寄存器一一对应，每个输出控制子电路，与走线和对应的移位寄存器的信号输出端连接，用于在信号输出端的控制下，向走线提供信号输出端的信号；检测子电路，与走线连接，用于输出所有移位寄存器的信号输出端的信号。本发明实施例的技术方案通过输出控制子电路通过走线向检测子电路提供所有移位寄存器的信号输出端的信号，能够通过检测子电路的输出信号的波形快捷地找到当GOA电路显示不良时，发生不良的位置。

当然，实施本发明的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。本发明的其它特征和优点将在随后的说明书实施例中阐述，并且，部分地从说明书实施例中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明实施例的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明实施例技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明实施例的技术方案，并不构成对本发明实施例技术方案的限制。

图1为本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测电路的结构示意图一：

图2为本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测电路的结构示意图二；

图3为本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测电路的等效电路图；

图4为移位寄存器的工作时序图；

图5为本发明实施例提供的检测子电路的输出信号的波形的示意图；

图6为本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测方法的流程图；

图7为本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明实施例的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

除非另外定义，本发明实施例公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语一直出该词前面的元件或误检涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。

本领域技术人员可以理解，本申请所有实施例中采用的开关晶体管均可以为薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件。优选地，本发明实施例中使用的薄膜晶体管可以是氧化物半导体晶体管。由于这里采用的开关晶体管的源极、漏极是对称的，所以其源极、漏极可以互换。在本发明实施例中，为区分开关晶体管除栅极之外的两极，将其中一个电极称为第一极，另一电极称为第二极，第一极可以为源极或者漏极，第二极可以为漏极或源极。

实施例一

图1为本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测电路的结构示意图一，如图1所示，栅极驱动电路包括多个移位寄存器，该栅极驱动电路的输出检测电路包括：检测子电路和多个输出控制子电路；输出控制子电路和移位寄存器一一对应。

在本实施例中，每个输出控制子电路，与走线和对应的移位寄存器的信号输出端连接，用于在信号输出端的控制下，向走线提供信号输出端的信号。具体的，如图1所示，第N-1个输出控制子电路与第N-1级移位寄存器的信号输出端OUTPUT(N-1)连接，用于向走线提供OUTPUT(N-1)的信号；第N个输出控制子电路与第N级移位寄存器的信号输出端OUTPUT(N)连接，用于向走线提供OUTPUT(N)的信号；依次类推。

检测子电路，与走线连接，用于输出所有移位寄存器的信号输出端的信号。

可选地，每个输出控制子电路连接的走线为同一走线。

需要说明的是，图2为本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测电路的结构示意图二，栅极驱动电路的多个移位寄存器的级联方式可以如图1所示，即第N+1级移位寄存器的信号输出端OUTPUT(N+1)与第N级移位寄存器的复位信号端RESET连接，还可以为如图2所示，即第N级移位寄存器的信号输出端OUTPUT(N)与第N+1级移位寄存器的信号输入端INPUT连接，第N+1级移位寄存器的信号输出端OUTPUT(N+1)与第N级移位寄存器的复位信号端RESET连接，第一级移位寄存器的信号输入端与初始信号输入端STV连接。

在本实施例中，当栅极驱动电路逐行扫描时，当下一行打开时，上一行必然关闭，在同一时间只有一个移位寄存器的信号输出端输出信号，那么在一帧的时间里，检测子电路就会检测到从第一级移位寄存器到最后一级移位寄存器的信号输出端的信号，这些信号相互无叠加、不干扰。另外，栅极驱动电路中的移位寄存器是依次输出，因此，在正常情况下检测子电路得到的输出信号的波形是连续的。

本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测电路，包括：检测子电路和多个输出控制子电路；输出控制子电路和移位寄存器一一对应，每个输出控制子电路，与走线和对应的移位寄存器的信号输出端连接，用于在信号输出端的控制下，向走线提供信号输出端的信号；检测子电路，与走线连接，用于输出所有移位寄存器的信号输出端的信号。本发明实施例的技术方案通过输出控制子电路通过走线向检测子电路提供所有移位寄存器的信号输出端的信号，能够通过检测子电路的输出信号的波形快捷地找到当GOA电路显示不良时，发生不良的位置。

可选地，图3为本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测电路的等效电路图，如图3所示，输出控制子电路包括：开关晶体管；开关晶体管M的控制极和第一极与对应的移位寄存器的信号输出端连接，第二极与走线连接。如图3所示，第N-1个输出控制子电路中的开关晶体管M(N-1)的控制极和第一极与第N-1极移位寄存器的信号输出端OUTPUT(N-1)连接；第N个输出控制子电路中的开关晶体管M(N)的控制极和第一极与第N极移位寄存器的信号输出端OUTPUT(N)连接，依次类推。

具体的，当移位寄存器的信号输出端的信号为高电平时，开关晶体管开启，该移位寄存器的信号输出端的信号通过走线传输至检测子电路上。

可选地，开关晶体管包括：N型薄膜晶体管或N型金属氧化物半导体场效应晶体管。

可选地，开关晶体管的阈值电压小于移位寄存器的信号输出端的信号的电位。需要说明的是，为了得到较为理想的波形，开关晶体管的阈值电压应该尽可能的大而又不超过移位寄存器的信号输出端的信号的电位，若阈值电压较小，则无法滤除信号输出端的信号前后的噪声信号，而噪声会对得到的检测子电路的输出信号的波形造成影响；若其阈值电压较大，则开关晶体管无法开启，检测子电路无法得到检测子电路输出信号的波形；此外，较大的阈值电压也会防止其他信号对已关闭行的影响，避免开关晶体管的存在而导致的漏电。

可选地，检测子电路包括电极。

具体的，将连接控制子电路所连接的走线引至焊盘处设置电极。

需要了解的是，栅极驱动电路中的移位寄存器包括：第一电源端VDD、第二电源端VSS、第三电源端VGL、信号输入端INPUT、信号输出端OUTPUT、复位信号端RESET、时钟信号端CLK、输入子电路、输出子电路、复位子电路和降噪子电路。

可选地，输入子电路，与信号输入端、第一电源端和第一节点PD连接，用于在信号输入端的控制下，向第一节点提供第一电源端的信号。

可选地、输出子电路，与时钟信号端、第一节点和信号输出端连接，用于在第一节点的控制下，向信号输出端提供时钟信号端的时钟信号。

可选地、复位子电路，与复位信号端、第一节点、信号输出端、第二电源端和第三电源端连接，用于在复位信号端的控制下，向第一节点提供第二电源端的信号，向信号输出端提供第三电源端的信号；

可选地、降噪子电路，与时钟信号端、第一节点、信号输出端和第三电源端连接，用于在时钟信号端的控制下，向第一节点和信号输出端提供第三电源端的信号。

需要说明的是，上述的描述只是说明了移位寄存器的一种结构方式，本发明实施例并不限定移位寄存器的具体结构。

图4为移位寄存器的工作时序图，结合图3-4，具体说明本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测电路的工作原理。

对于第N-1级移位寄存器来说，当第N-1级移位寄存器的信号输出端OUTPUT(N-1)输出信号时，第N-1级移位寄存器的信号输出端的信号为高电平，此时开关晶体管M(N-1)打开，第N-1级移位寄存器的信号输出端的信号通过走线传输至电极；第N-1级移位寄存器输出完毕后，第N级移位寄存器的信号输出端输出信号，此时开关晶体管M(N)打开，第N级移位寄存器的信号输出端的信号通过走线传输至电极；另外，由于本级的信号输出端连接第N-1级的复位信号端RESET，使第N-1级移位寄存器的信号输出端迅速被下拉，停止输出，开关晶体管M(N-1)关闭；同样，第N级移位寄存器输出完毕后，第N+1级移位寄存器的信号输出端输出信号，此时开关晶体管M(N+1)打开，第N+1移位寄存器的信号输出端的信号通过走线传输至电极；以此类推，电极得到的是栅极驱动电路中所有移位寄存器的信号输出端的信号的整合。

图5为本发明实施例提供的检测子电路的输出信号的波形的示意图，当栅极驱动电路逐行扫描时，当下一行打开时，上一行必然关闭，在同一时间只有一个移位寄存器的信号输出端输出信号，那么在一个扫描周期内，检测子电路的输出信号的波形如图5所示，理想状态下输出信号的波形是一个平整的高电平。如果某一移位寄存器的输出信号异常，则可在输出信号的波形中体现出一个异常点，根据此异常点的位置及对应的时间，即可迅速得知发生不良的移位寄存器的位置。

另外，需要说明的是，由于电阻与电容产生之延迟的影响，实际的移位寄存器的信号输出端的信号并非是严格的方波，而是有一定的上升沿和下降沿时间，因此检测子电路得到的输出信号的波形也不是严格的高电平，其会有一定的波动。但总体而言，由于每个移位寄存器的信号输出端的信号基本一致，检测子电路得到的输出信号的波形则是一个周期性的波形，每个周期即是每个移位寄存器单元的信号输出端的信号，若存在异常，则能够通过输出信号的波形中明显发现异常点。

实施例二

基于上述实施例的发明构思，图6为本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测方法的流程图，本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测方法，应用于实施例一提供的栅极驱动电路的输出检测电路中，如图6所示，该方法具体包括以下步骤：

步骤100、在对应的移位寄存器的信号输出端的控制下，每个输出控制子电路向走线提供对应的移位寄存器的信号输出端的信号。

具体的，步骤100包括：每个输出控制子电路在对应的移位寄存器的信号输出端的信号为高电平时，向走线提供对应的移位寄存器的信号输出端的信号。

步骤200、检测子电路输出所有移位寄存器的信号输出端的信号。

具体的，当栅极驱动电路逐行扫描时，当下一行打开时，上一行必然关闭，在同一时间只有一个移位寄存器的信号输出端输出信号，那么在一个扫描周期内，检测子电路的输出信号的波形如图5所示，理想状态下输出信号的波形是一个平整的高电平。如果某一移位寄存器的输出信号异常，则可在输出信号的波形中体现出一个异常点，根据此异常点的位置及对应的时间，即可迅速得知发生不良的移位寄存器的位置。

另外，需要说明的是，由于电阻与电容产生之延迟的影响，实际的移位寄存器的信号输出端的信号并非是严格的方波，而是有一定的上升沿和下降沿时间，因此检测子电路得到的输出信号的波形也不是严格的高电平，其会有一定的波动。但总体而言，由于每个移位寄存器的信号输出端的信号基本一致，检测子电路得到的输出信号的波形则是一个周期性的波形，每个周期即是每个移位寄存器单元的信号输出端的信号，若存在异常，则能够通过输出信号的波形中明显发现异常点。

本发明实施例提供的栅极驱动电路的输出检测方法，应用在栅极驱动电路的输出检测电路中，包括：在对应的移位寄存器的信号输出端的控制下，每个输出控制子电路向走线提供对应的移位寄存器的信号输出端的信号；检测子电路输出所有移位寄存器的信号输出端的信号；本发明实施例的技术方案通过输出控制子电路通过走线向检测子电路提供所有移位寄存器的信号输出端的信号，能够通过检测子电路的输出信号的波形快捷地找到当GOA电路显示不良时，发生不良的位置。

实施例三

基于上述实施例的发明构思，图7为本发明实施例提供的显示装置的结构示意图，如图7所示，本发明实施例提供的显示装置包括：栅极驱动电路10和栅极驱动电路的输出检测电路20。

其中，本发明实施例中的栅极驱动电路的输出检测电路为实施例一提供的栅极驱动电路的输出检测电路，其实现原理和实现效果类似，在此不再赘述。

如图7所示，显示装置包括显示区域AA和非显示区域，栅极驱动该电路的输出检测电路20和栅极驱动电路10均设置在非显示区域。

优选地，该显示装置可以为：OLED面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。有以下几点需要说明：

本发明实施例附图只涉及本发明实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。

在不冲突的情况下，本发明的实施例即实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。

虽然本发明实施例所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明实施例而采用的实施方式，并非用以限定本发明实施例。任何本发明实施例所属领域内的技术人员，在不脱离本发明实施例所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明实施例的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。