X单元。
[0073]其中，第一 MUX单元的驱动信号端包括2个节点，第I个节点的一端与第一 MUX单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第一 MUX单元的栅极连接，另一端与MUX信号线连接。
[0074]第二 MUX单元的驱动信号端包括I个节点，该节点的一端与第二 MUX单元的栅极连接，另一端与VGH信号线连接。
[0075]第三MUX单元的驱动信号端包括I个节点，该节点的一端与第三MUX单元的栅极连接，另一端与VGL信号线连接。
[0076]同时，3个MUX单元的激励信号端均包括3个节点，分别为源极测试点、栅极测试点和漏极测试点，此处对测试点连接位置不再赘述。
[0077]结合图5所示，测试电路单元具体为像素单元，像素单元可以包括TFT和像素电容，也可以只包括TFT。
[0078]其中，第一像素单元包括TFT和像素电容，像素电容一端接Vcom。第一像素单元的驱动信号端包括2个节点，第I个节点的一端与第一像素单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第一像素单元的栅极连接，另一端与Gate信号线连接。
[0079]第二像素单元不包括像素电容，第二像素单元的驱动信号端包括2个节点，第I个节点的一端与第二像素单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第二像素单元的栅极连接，另一端与Gate信号线连接。
[0080]第三像素单元不包括像素电容，第三像素单元的驱动信号端包括I个节点，该节点的一端与第三像素单元的栅极连接，另一端与Gate信号线连接。
[0081]像素单元的激励信号端位置不再赘述。
[0082]结合图6所示，测试电路单元具体为ESD单元，ESD单元具体可以是N型ESD单元或者P型ESD单元。驱动信号线可以是VGH信号线、VGL信号线、CLK信号线、MUX信号线或Source信号线中的任一种，图6中仅以驱动信号线为Source信号线为例进行说明。
[0083]第一 ESD单元为N型ESD单元，N型ESD单元中的NMOS晶体管的栅极与源极连接。第一 ESD单元的驱动信号端包括2个节点，第I个节点的一端与第一 ESD单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第一 ESD单元的漏极连接，另一端与VGH信号线连接。
[0084]第二 ESD单元为P型ESD单元，P型ESD单元中的PMOS晶体管的栅极与源极连接。第二 ESD单元的驱动信号端包括2个节点，第I个节点的一端与第二 ESD单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第二 ESD单元的漏极连接，另一端与VGL信号线连接。
[0085]ESD单元的激励信号端位置不再赘述。
[0086]结合图7所示，测试电路单元具体为GOA电路中的反相器单元，反相器单元包括一个NMOS晶体管和一个PMOS晶体管。
[0087]反相器单元的激励信号端包括4个节点，分别为正电压测试点、负电压测试点、输入测试点和输出测试点。其中正电压测试点与正电压输入端(VDD)连接，负电压测试点与负电压输入端(VSS)连接，输入测试点和反相器单元输入端(IN)连接，输出测试点和反相器单元输出端(OUT)连接。
[0088]反相器单元的驱动信号端包括3个节点。第一个节点的一端与反相器单元的VDD连接，另一端与VGH信号线连接。第2个节点的一端与反相器单元的VSS连接，另一端与VGL信号线连接。反相器单元的两个晶体管的栅极连接，并与第3个节点的一端连接，第3个节点的另一端可以连接不同的驱动信号线，如图3所示:
[0089]第一反相器单元的第3个节点的另一端，与VGH信号线连接。
[0090]第二反相器单元的第3个节点的另一端，与VGL信号线连接。
[0091]第三反相器单元的第3个节点的另一端，与CLK信号线连接。
[0092]202、驱动液晶模块工作，在工作时间达到预设时长后，通过激光刻蚀切断测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线之间的连接。
[0093]由于测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线连接，当驱动液晶模块工作时，液晶模块内部的驱动信号就可以作为测试信号驱动测试电路单元，因此无需外接信号发生器向测试电路单元输入测试信号。在工作时间达到预设时长后，通过激光刻蚀的方式切断驱动信号端与驱动信号线之间沉积的金属线连接，测试电路单元的驱动信号端悬空。
[0094]由于测试信号完全是液晶模块内部的真实信号，相比通过由信号发生器输入模拟信号进行测试的方式，无需考虑模拟信号是否接近真实信号，也避免了测试环境对模拟信号所造成的各种干扰，因此提高了对液晶模块测试的准确性。
[0095]203、向液晶模块输入激励信号，激励信号用于测试测试电路单元的特性参数。
[0096]在驱动信号端与驱动信号线之间的连接被切断之后，就可以通过激励信号输入端向测试电路单元输入激励信号，对测试电路单元的特性参数进行测试。
[0097]204、从液晶模块接收反馈信号，反馈信号为测试电路单元对激励信号的响应信号。
[0098]205、根据激励信号和反馈信号输出测试电路单元的特性参数曲线。
[0099]结合步骤203-步骤205，对测试电路单元的特性参数进行测试的具体过程进行示例性说明。
[0100]可选的，针对图3至图5所示的测试电路单元，激励信号为栅极电压Vg和源极电压Vs，反馈信号为漏极电流Id。测试方法具体包括，在源极测试点加载电压Vs，通常为10V，在栅极测试点加载电压Vg，Vg从-15V步进直到15V，Vg每变化一次在漏极测试点测量一次漏极电流Id。测量结束后输出Id-Vg曲线。
[0101]可选的，针对图6所示的ESD单元，激励信号为漏极电压Vd和栅极源极电压Vgs，反馈信号为漏极电流Id。测试方法具体包括，在漏极测试点加载电压Vd，通常N型ESD单元的Vd为8V，P型ESD单元的Vd为-8V。ESD单元的源极测试点和栅极测试点上加载电压Vgs, Vgs从-15V步进直到15V，Vgs每变化一次在漏极测试点测量一次漏极电流Id。测量结束后输出Id-Vg曲线。
[0102]可选的，针对图7所示的反相器单元，测试方法具体包括，在正电压测试点加载电压VDD，通常为8V，在负电压测试点加载电压VSS，通常为-8V，在输入测试点加载电压Vin，Vin从-15V步进直到15V，Vin每变化一次在输出测试点测量一次输出电压Vout，和输出电流lout。测量结束后输出Vout-Vin曲线，以及1ut-Vin曲线。
[0103]将测量所得的特性参数曲线与参考特性曲线相比较，确定在经过老化测试后，测试电路单元特性参数的变化，从而进一步对液晶模块可靠性、有效工作寿命等的进行评估。
[0104]可选的，参考特性曲线可以是参考测试电路单元的特性参数曲线。具体的，待测的液晶模块还包括参考测试电路单元，参考测试电路单元的内部结构与测试电路单元的内部结构相同，参考测试电路单元的驱动信号端悬空，在老化测试中没有驱动信号输入参考测试电路单元。因此可以用参考测试电路单元的特性参数曲线，代表老化测试前测试电路单元的特性参数曲线。
[0105]本发明的实施例提供的液晶模块的测试方法，将液晶模块内部的驱动信号作为测试信号，输入测试电路单元的驱动信号端，驱动测试电路单元，因此无需外接信号发生器向测试电路单元输入测试信号。由于测试信号完全是液晶模块内部的真实信号，相比通过由信号发生器输入模拟信号进行测试的方式，无需考虑模拟信号是否接近真实信号，也避免了测试环境对模拟信号所造成的各种干扰，因此提高了对液晶模块测试的准确性。进一步地，根据测试结果对液晶模块可靠性、有效工作寿命等的评估，也更接近真实情况。
[0106]实施例三
[0107]基于上述图1即图2所对应的实施例，本发明的实施例三提供一种液